固态硬盘的复测初始化方法、系统、电子设备及存储介质与流程

1.本发明涉及硬盘生产测试技术领域，尤其涉及固态硬盘的复测初始化方法、系统、电子设备及存储介质。

背景技术：

2.随着nvme(non-volatile memory express,是一种建立在m.2接口上的类似ahci的一种协议,是专门为闪存类存储设计的协议。)硬盘在服务器领域的广泛应用，nvme标准可以带来多方面的性能提升，而nvme硬盘作为pcie通道的ssd，其规范势必在未来慢慢取代现在的ahci标准ssd。其中pcie是pci-express，即peripheral component interconnect express的缩写，是一种高速串行计算机扩展总线标准；ssd是solid state drives的缩写，是固态硬盘，简称固盘；ahci是serial ata advanced host controllerinterface的缩写，意思是串行ata高级主控接口/高级主机控制器接口。
3.固态硬盘主要的存储单元nand block都有擦写次数的限制，当超过这个次数时，该block可能就不能用了：浮栅极充不进电子(写失败)，或者浮栅极的电子很容易就跑出来(比特翻转，0-》1)，或者浮栅极里面的电子跑不出来(擦除失败)。这个最大擦写次数按slc,mlc,tlc依次递减：slc的擦写次数可达十万次，mlc一般为几千到几万，tlc降到几百到几千。
4.针对高性能nvme固态硬盘需经历ft1工站和ft2工站测试通过后方可出货，ft1工站主要进行升级bist老化固件和盘片基本信息，并进行硬件链路检测和盘片健康状态检测，升级完bist固件后对硬盘部件nand和ddr进行老化，对nand和ddr进行筛选，对于不符合标准的nand颗粒标记为坏块，将记录的坏块信息存放在坏块表中，nand颗粒筛选老化完成后对坏块表中坏块信息进行解析和汇总；ft2工站主要进行烧录用户固件和系统测试。ft1测试产生的不良品，经过fa后，复投ft1，复投两次pass后方可流入下个工站测试；ft2测试产生的不良品，经过fa分析后，有些盘需要重新进行工厂化测试即从ft1开始，有些盘可以直接复投ft2。无论是经过ft1测试复投ft1的盘片还是经过ft2复投ft1的盘片，复投ft1之初都需要对盘片做初始化操作才能进行复投ft1测试，当前的初始化操作是由fa人员手动完成，为了增加工厂化测试自动化程度和提高工厂化测试效率，针对该问题，现提出一种固态硬盘的复测初始化方法、系统、电子设备及存储介质。

技术实现要素：

5.为了解决上述现有技术中存在的技术问题，本发明提供了一种固态硬盘的复测初始化方法、系统、电子设备及存储介质，提供增加工厂化测试自动化程度和提高工厂化测试效率，该方法用于ssd生产阶段工厂化测试ft1工站对不良盘自动化初始化，减少了人工作业手动擦除固件初始化盘片，提高了工厂化测试自动化程度和测试效率和测试成本。
6.为实现上述目的，本发明实施例提供了如下的技术方案：
7.第一方面，在本发明提供的一个实施例中，提供了固态硬盘的复测初始化方法，该
方法应用于ft1工站，该方法包括以下步骤：
8.检测盘片的设备信息，获得合格盘片，拦截设备信息不合格盘片，并进行报错；
9.对于合格盘片进行判断，判断其是否为待识别盘片或者为ft2复投不良盘，并对判断后的合格盘片进行相应的标记；
10.对于ft2复投不良盘直接进行初始化操作，对于待识别盘片进行识别，若待识别盘片为ft1复投不良盘则进行初始化操作，若待识别盘片为正常盘则略过初始化操作；
11.对于初始化完成可以正常识别的盘片按正常盘进行ft1工站测试，对于初始化后不识盘的盘片进行报错交于fa处理。
12.作为本发明的进一步方案，所述合格盘片为pcie 100e的盘片；所述不合格盘片包括pcie 8627的盘片。
13.作为本发明的进一步方案，通过读取盘片的固件版本号，如果是bist开头的版本，标记为待测盘片，否则标记为ft2复投不良盘。
14.作为本发明的进一步方案，对于所述合格盘片，通过bist-read-fw读取固件版本号。
15.作为本发明的进一步方案，所述对于待识别盘片进行识别，包括读取其bist配置信息，根据bist配置信息判断老化轮数是否大于0，若大于0则将盘片标记为ft1复投不良盘，否则为正常盘。
16.作为本发明的进一步方案，对于标记为待识别盘片，需要通过bist-read-config读取bist配置信息。
17.作为本发明的进一步方案，所述初始化操作包括如下步骤：
18.pcie-burn，复位pcie设备，等待pcie设备枚举完成；
19.eepinit进行eeprom初始化；
20.eeperasebulk擦除盘片已有固件；
21.eepwtpar对盘片写入bist初始固件；
22.初始化完成后进行断电操作，当前通过bmc控制机器进行power cycle实现自动化断电上电。
23.第二方面，在本发明提供的又一个实施例中，提供了固态硬盘的复测初始化系统，该系统包括：监测模块、判断模块、识别模块和初始化模块；
24.所述监测模块，检测盘片的设备信息，获得合格盘片，拦截设备信息不合格盘片，并进行报错；
25.所述判断模块，对于合格盘片进行判断，判断其是否为待识别盘片或者为ft2复投不良盘，并对判断后的合格盘片进行相应的标记；
26.所述识别模块，对于待识别盘片和完成初始化后的盘片进行识别，识别出待识别盘片为正常盘或ft1复投不良盘片；
27.识别出完成初始化后的盘片为正常盘片或者为不识别盘片，进行报错并将不识别盘片交于fa处理；
28.所述初始化模块，对于ft2复投不良盘和进行ft1复投不良盘片初始化操作。
29.第三方面，在本发明提供的又一个实施例中，提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器加载并执行所述计算机程序时实现固
态硬盘的复测初始化方法的步骤。
30.第四方面，在本发明提供的再一个实施例中，提供了一种存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器加载并执行时实现所述固态硬盘的复测初始化方法的步骤。
31.本发明提供的技术方案，具有如下有益效果：
32.本发明提供的固态硬盘的复测初始化方法、系统、电子设备及存储介质，ssd生产阶段工厂化测试ft1工站复测初始化的方法，可以快速处理复测不良盘进行初始化，减少了故障盘维修时间和人工参与，提高了工厂化测试自动化程度和测试效率，并节约了测试成本。
33.本发明的这些方面或其他方面在以下实施例的描述中会更加简明易懂。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。
附图说明
34.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
35.图1为本发明一个实施例的固态硬盘的复测初始化方法的流程图。
36.图2为本发明一个实施例的固态硬盘的复测初始化方法的逻辑图。
37.图3为本发明一个实施例的固态硬盘的复测初始化方法的应用测试工序流程。
38.图4为本发明一个实施例的固态硬盘的复测初始化系统中结构框图。
39.图中：监测模块-100、判断模块-200、识别模块-300、初始化模块-400。
具体实施方式
40.以下参照附图说明各种实施例及/或各形态。在以下说明中，以说明为目的公开了多个具体细节以整体上理解一个以上的形态。但是，本领域的技术人员可以理解在没有具体细节的情况下也可以实施这些形态。在以下的记载及附图中将详细说明一个以上的形态的特定例示。但是，这些形态是例示而已，可以利用各种形态的原理中各种方法中的一部分，所阐述的说明旨在包括所有形态及其等同物。具体地，在本说明书中使用的术语“实施例”、“例”、“形态”、“例示”等可以被解释为所描述的任意形态或设计可以比其他形态或设计更好或具有优点。
41.另外，各种形态及特征可通过包括一个以上的装置、终端、服务器、设备、组件及/或模块等的系统体现。应理解并认识各种系统可包括额外的多个装置、终端、服务器、设备、组件及/或模块，并且/或也可以不包括图中所示的多个装置、终端、服务器、设备、组件、模块等的全部。
42.在本说明书中使用的术语“计算机程序”、“组件”、“模块”、“系统”等可以互换使用，并且计算机-相关实体、硬件、固件、软件、软件及硬件的组合或指软件的执行。例如，组件可以是在处理器上执行的处理过程、处理器、客体、执行线程、程序及/或计算机，但不限定于此。例如，可以是在计算机装置执行的应用程序及/或计算装置所有组件。一个以上的
组件可以安装在处理器及/或执行线程内。一个组件可以在一个计算机中本地化。一个组件也可以在两个以上的计算机之间分配。
43.并且，这些组件可由在内部存储各种数据构造的各种计算机可读介质执行。这些组件，例如可根据具有一个以上的数据包的信号(例如，在本地系统、分散系统上通过与其他组件相互作用的一个组件发出的数据及信号与其他系统通过互联网等网络传输的数据)通过本地及/或远程处理通信。
44.以下，与图面符号无关，对相同或类似的构成要素赋予相同的符号，并省略对此的重复说明。并且，在说明本说明书中公开的实施例时，若判断对公知技术的具体说明会使本发明的要旨不明确，则省略对其的详细说明。并且，附图仅为了更容易理解在本说明书中公开的实施例，本说明书中公开的技术思想并不限定于附图。
45.在本说明书中使用的术语是为了说明这些实施例的，而不是限制本发明。在没有特别提及的情况下，本说明书中的单数表现包括复数表现。在说明书中使用的“包含(comprises)”及/或“包含的(comprising)”被提及的构成要素以外不排除一个以上的其他构成要素的存在或附加。
46.第一、第二等术语可用于说明多种元件或构成要素，但所述元件或构成要素并不局限于所述术语。所述术语以从其他元件或构成要素区分一个元件或构成要素而使用。因此，在以下提及的第一元件或构成要素当然也可以是本发明的技术思想内的第2元件或构成要素。
47.若没有其他定义，在本说明书中使用的所有术语(包括技术及科学术语)可以用于本发明所属领域的领域技术人员共通理解的含义。另外，在一般使用的词典上被定义的术语，若没有特别明确定义，则不应以理想性或过度解释。
48.另外，术语“或”的意思不是排他的“或”而是包含的“或”。即，除非有其他特定或文脉上不明确时“x利用a或b”意味着自然内涵的替换之一。即，x利用a或；x利用b或x利用a及b时，“x利用a或b”可以上面的任何情况。并且，应理解在本说明书中使用的“及/或”的术语指代包括在例举的相关项目中的一个以上项目可能的所有组合。
49.另外，在本说明书中使用的术语“信息”及“数据”通常可互换使用。
50.在以下说明中使用的对构成要素的后缀“模块”及“部”，只是为了方便撰写说明书而赋予或混用的，其本身并没有相互区别的含义或作用。
51.具体地，下面结合附图，对本发明实施例作进一步阐述。
52.请参阅图1-3，图1是本发明实施例提供的一种固态硬盘的复测初始化方法的流程图，图2是本发明实施例提供的一种固态硬盘的复测初始化方法的逻辑图，图3是本发明实施例提供的一种固态硬盘的复测初始化方法的应用测试工序流程；如图1所示，该固态硬盘的复测初始化方法包括步骤s10至步骤s40，该方法应用于ft1工站。
53.s10、检测盘片的设备信息，获得合格盘片，拦截设备信息不合格盘片，并进行报错。
54.在本发明的实施例中，具体的，所述合格盘片为pcie 100e的盘片；所述不合格盘片包括pcie 8627的盘片，所述pcie 8627的盘片为没有进行离线烧录的盘片。
55.s20、对于合格盘片进行判断，判断其是否为待识别盘片或者为ft2复投不良盘，并对判断后的合格盘片进行相应的标记。
56.具体的，通过读取盘片的固件版本号，如果是bist开头的版本，标记为待测盘片，否则标记为ft2复投不良盘。
57.所述待识别盘片包括正常盘或ft1复投不良盘片。
58.在本发明的实施例中，对于合格盘片，通过bist-read-fw读取固件版本号。
59.s30、对于ft2复投不良盘直接进行初始化操作，对于待识别盘片进行识别，若待识别盘片为ft1复投不良盘则进行初始化操作，若待识别盘片为正常盘则略过初始化操作。
60.所述对于待识别盘片进行识别，包括读取其bist配置信息，根据bist配置信息判断老化轮数是否大于0，若大于0则将盘片标记为ft1复投不良盘，否则为正常盘。
61.由于盘片经过ft1测试的盘片会烧录bist老化参数，如老化轮数等。
62.在本发明的实施例中，对于标记为待识别盘片，需要通过bist-read-config读取bist配置信息。
63.在本发明的实施例中，所述初始化操作包括如下步骤：
64.pcie-burn，复位pcie设备，等待pcie设备枚举完成；
65.eepinit进行eeprom初始化；
66.eeperasebulk擦除盘片已有固件；
67.eepwtpar对盘片写入bist初始固件。
68.初始化完成后进行断电操作，当前通过bmc控制机器进行power cycle实现自动化断电上电。
69.s40、对于初始化完成可以正常识别的盘片按正常盘进行ft1工站测试，对于初始化后不识盘的盘片进行报错交于fa处理。
70.本发明ssd生产阶段工厂化测试ft1工站复测初始化的方法，分析判断盘片是正常盘还是不良盘，不良盘是来自哪个测试工站的盘片，对于来自不同工站的不良盘片进行相应的初始化动作；减少了故障盘维修时间和人工参与，提高了工厂化测试自动化程度和测试效率，并节约了测试成本。
71.应该理解的是，上述虽然是按照某一顺序描述的，但是这些步骤并不是必然按照上述顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，本实施例的一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
72.在一个实施例中，参见图4所示，在本发明的实施例中还提供了固态硬盘的复测初始化系统，该系统包括监测模块100、判断模块200、识别模块300和初始化模块400。
73.所述监测模块100，检测盘片的设备信息，获得合格盘片，拦截设备信息不合格盘片，并进行报错。
74.在本发明的实施例中，所述合格盘片为pcie 100e的盘片；所述不合格盘片包括pcie 8627的盘片，所述pcie 8627的盘片为没有进行离线烧录的盘片。
75.所述判断模块200，对于合格盘片进行判断，判断其是否为待识别盘片或者为ft2复投不良盘，并对判断后的合格盘片进行相应的标记。
76.具体的，所述判断模块200通过读取盘片的固件版本号，如果是bist开头的版本，
标记为待测盘片，否则标记为ft2复投不良盘。
77.所述待识别盘片包括正常盘或ft1复投不良盘片。
78.在本发明的实施例中，所述判断模块200对于合格盘片，通过bist-read-fw读取固件版本号。
79.所述识别模块300，对于待识别盘片和完成初始化后的盘片进行识别，识别出待识别盘片为正常盘或ft1复投不良盘片；
80.识别出完成初始化后的盘片为正常盘片或者为不识别盘片，进行报错并将不识别盘片交于fa处理。
81.所述对于待识别盘片进行识别，包括读取其bist配置信息，根据bist配置信息判断老化轮数是否大于0，若大于0则将盘片标记为ft1复投不良盘，否则为正常盘。
82.由于盘片经过ft1测试的盘片会烧录bist老化参数，如老化轮数等。
83.在本发明的实施例中，对于标记为待识别盘片，需要通过bist-read-config读取bist配置信息。
84.所述初始化模块400，对于ft2复投不良盘和进行ft1复投不良盘片初始化操作。
85.在本发明的实施例中，所述初始化模块400操作包括如下步骤：
86.pcie-burn，复位pcie设备，等待pcie设备枚举完成；
87.eepinit进行eeprom初始化；
88.eeperasebulk擦除盘片已有固件；
89.eepwtpar对盘片写入bist初始固件。
90.初始化完成后进行断电操作，当前通过bmc控制机器进行power cycle实现自动化断电上电。
91.本发明ssd生产阶段工厂化测试ft1工站复测初始化的方法，分析判断盘片是正常盘还是不良盘，不良盘是来自哪个测试工站的盘片，对于来自不同工站的不良盘片进行相应的初始化动作；减少了故障盘维修时间和人工参与，提高了工厂化测试自动化程度和测试效率，并节约了测试成本。
92.在一个实施例中，在本发明的实施例中还提供了一种电子设备，包括至少一个处理器，以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行所述的固态硬盘的复测初始化方法，该处理器执行指令时实现上述方法实施例中的步骤：
93.s10、检测盘片的设备信息，获得合格盘片，拦截设备信息不合格盘片，并进行报错。
94.在本发明的实施例中，具体的，所述合格盘片为pcie 100e的盘片；所述不合格盘片包括pcie 8627的盘片，所述pcie 8627的盘片为没有进行离线烧录的盘片。
95.s20、对于合格盘片进行判断，判断其是否为待识别盘片或者为ft2复投不良盘，并对判断后的合格盘片进行相应的标记。
96.具体的，通过读取盘片的固件版本号，如果是bist开头的版本，标记为待测盘片，否则标记为ft2复投不良盘。
97.所述待识别盘片包括正常盘或ft1复投不良盘片。
98.在本发明的实施例中，对于合格盘片，通过bist-read-fw读取固件版本号。
99.s30、对于ft2复投不良盘直接进行初始化操作，对于待识别盘片进行识别，若待识别盘片为ft1复投不良盘则进行初始化操作，若待识别盘片为正常盘则略过初始化操作。
100.所述对于待识别盘片进行识别，包括读取其bist配置信息，根据bist配置信息判断老化轮数是否大于0，若大于0则将盘片标记为ft1复投不良盘，否则为正常盘。
101.由于盘片经过ft1测试的盘片会烧录bist老化参数，如老化轮数等。
102.在本发明的实施例中，对于标记为待识别盘片，需要通过bist-read-config读取bist配置信息。
103.在本发明的实施例中，所述初始化操作包括如下步骤：
104.pcie-burn，复位pcie设备，等待pcie设备枚举完成；
105.eepinit进行eeprom初始化；
106.eeperasebulk擦除盘片已有固件；
107.eepwtpar对盘片写入bist初始固件。
108.初始化完成后进行断电操作，当前通过bmc控制机器进行power cycle实现自动化断电上电。
109.s40、对于初始化完成可以正常识别的盘片按正常盘进行ft1工站测试，对于初始化后不识盘的盘片进行报错交于fa处理。
110.本发明ssd生产阶段工厂化测试ft1工站复测初始化的方法，分析判断盘片是正常盘还是不良盘，不良盘是来自哪个测试工站的盘片，对于来自不同工站的不良盘片进行相应的初始化动作；减少了故障盘维修时间和人工参与，提高了工厂化测试自动化程度和测试效率，并节约了测试成本。
111.所述电子设备包括用户设备与网络设备。其中，所述用户设备包括但不限于电脑、智能手机、pda等；所述网络设备包括但不限于单个网络服务器、多个网络服务器组成的服务器组或基于云计算(cloud computing)的由大量计算机或网络服务器构成的云，其中，云计算是分布式计算的一种，由一松散耦合的计算机集组成的一个超级虚拟计算机。其中，所述电子设备可单独运行来实现本发明，也可接入网络并通过与网络中的其他电子设备的交互操作来实现本发明。其中，所述电子设备所处的网络包括但不限于互联网、广域网、城域网、局域网、vpn网络等。
112.还应当进理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
113.在本发明的一个实施例中还提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述方法实施例中的步骤：
114.s10、检测盘片的设备信息，获得合格盘片，拦截设备信息不合格盘片，并进行报错。
115.在本发明的实施例中，具体的，所述合格盘片为pcie 100e的盘片；所述不合格盘片包括pcie 8627的盘片，所述pcie 8627的盘片为没有进行离线烧录的盘片。
116.s20、对于合格盘片进行判断，判断其是否为待识别盘片或者为ft2复投不良盘，并对判断后的合格盘片进行相应的标记。
117.具体的，通过读取盘片的固件版本号，如果是bist开头的版本，标记为待测盘片，
否则标记为ft2复投不良盘。
118.所述待识别盘片包括正常盘或ft1复投不良盘片。
119.在本发明的实施例中，对于合格盘片，通过bist-read-fw读取固件版本号。
120.s30、对于ft2复投不良盘直接进行初始化操作，对于待识别盘片进行识别，若待识别盘片为ft1复投不良盘则进行初始化操作，若待识别盘片为正常盘则略过初始化操作。
121.所述对于待识别盘片进行识别，包括读取其bist配置信息，根据bist配置信息判断老化轮数是否大于0，若大于0则将盘片标记为ft1复投不良盘，否则为正常盘。
122.由于盘片经过ft1测试的盘片会烧录bist老化参数，如老化轮数等。
123.在本发明的实施例中，对于标记为待识别盘片，需要通过bist-read-config读取bist配置信息。
124.在本发明的实施例中，所述初始化操作包括如下步骤：
125.pcie-burn，复位pcie设备，等待pcie设备枚举完成；
126.eepinit进行eeprom初始化；
127.eeperasebulk擦除盘片已有固件；
128.eepwtpar对盘片写入bist初始固件。
129.初始化完成后进行断电操作，当前通过bmc控制机器进行power cycle实现自动化断电上电。
130.s40、对于初始化完成可以正常识别的盘片按正常盘进行ft1工站测试，对于初始化后不识盘的盘片进行报错交于fa处理。
131.本发明ssd生产阶段工厂化测试ft1工站复测初始化的方法，分析判断盘片是正常盘还是不良盘，不良盘是来自哪个测试工站的盘片，对于来自不同工站的不良盘片进行相应的初始化动作；减少了故障盘维修时间和人工参与，提高了工厂化测试自动化程度和测试效率，并节约了测试成本。
132.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述方法的实施例的流程。其中，本发明所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。
133.以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
134.以上是本发明公开的示例性实施例，但是应当注意，在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下，可以进行多种改变和修改。根据这里描述的公开实施例的方法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。此外，尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求，但除非明确限制为单数，也可以理解为多个。
135.应当理解的是，在本文中使用的，除非上下文清楚地支持例外情况，单数形式“一个”旨在也包括复数形式。还应当理解的是，在本文中使用的“和/或”是指包括一个或者一个以上相关联地列出的项目的任意和所有可能组合。上述本发明实施例公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
136.所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非
旨在暗示本发明实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明实施例的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上的本发明实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明实施例的保护范围之内。

技术特征：

1.一种固态硬盘的复测初始化方法，该方法应用于ft1工站，其特征在于，该方法包括：检测盘片的设备信息，获得合格盘片，拦截设备信息不合格盘片，并进行报错；对于所述合格盘片进行判断，判断其是否为待识别盘片或者为ft2复投不良盘，并对判断后的所述合格盘片进行相应的标记；对于所述ft2复投不良盘直接进行初始化操作，对于所述待识别盘片进行识别，若所述待识别盘片为ft1复投不良盘则进行初始化操作；若待识别盘片为正常盘则略过初始化操作；对于初始化完成可以正常识别的盘片按正常盘进行ft1工站测试，对于初始化后不识盘的盘片进行报错，并交于fa处理。2.如权利要求1所述的固态硬盘的复测初始化方法，其特征在于，所述合格盘片为pcie 100e的盘片；所述不合格盘片包括pcie 8627的盘片。3.如权利要求1所述的固态硬盘的复测初始化方法，其特征在于，通过读取盘片的固件版本号，如果是bist开头的版本，标记为待测盘片，否则标记为ft2复投不良盘。4.如权利要求3所述的固态硬盘的复测初始化方法，其特征在于，对于所述合格盘片，通过bist-read-fw读取固件版本号。5.如权利要求1所述的固态硬盘的复测初始化方法，其特征在于，所述对于待识别盘片进行识别，包括读取其bist配置信息，根据bist配置信息判断老化轮数是否大于0，若大于0则将盘片标记为ft1复投不良盘，否则为正常盘。6.如权利要求5所述的固态硬盘的复测初始化方法，其特征在于，对于标记为待识别盘片，需要通过bist-read-config读取bist配置信息。7.如权利要求1-6任一所述的固态硬盘的复测初始化方法，其特征在于，所述初始化操作包括如下步骤：pcie-burn，复位pcie设备，等待pcie设备枚举完成；eepinit进行eeprom初始化；eeperasebulk擦除盘片已有固件；eepwtpar对盘片写入bist初始固件；初始化完成后进行断电操作，当前通过bmc控制机器进行power cycle实现自动化断电上电。8.固态硬盘的复测初始化系统，其特征在于，该系统包括：监测模块100、判断模块、识别模块和初始化模块；所述监测模块，检测盘片的设备信息，获得合格盘片，拦截设备信息不合格盘片，并进行报错；所述判断模块，对于合格盘片进行判断，判断其是否为待识别盘片或者为ft2复投不良盘，并对判断后的合格盘片进行相应的标记；所述识别模块，对于待识别盘片和完成初始化后的盘片进行识别，识别出待识别盘片为正常盘或ft1复投不良盘片；识别出完成初始化后的盘片为正常盘片或者为不识别盘片，进行报错并将不识别盘片交于fa处理；所述初始化模块，对于ft2复投不良盘和进行ft1复投不良盘片初始化操作。
9.一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器加载并执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任一项所述的固态硬盘的复测初始化方法的步骤。10.一种存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器加载并执行时实现如权利要求1-7任一项所述的固态硬盘的复测初始化方法的步骤。

技术总结

本发明涉及硬盘生产测试技术领域，具体涉及固态硬盘的复测初始化方法、系统、电子设备及存储介质。该方法检测盘片的设备信息，获得合格盘片，拦截设备信息不合格盘片，并进行报错；对于合格盘片进行判断，判断其是否为待识别盘片或者为FT2复投不良盘，并对判断后的合格盘片进行相应的标记；对于FT2复投不良盘直接进行初始化操作，对于待识别盘片进行识别，若待识别盘片为FT1复投不良盘则进行初始化操作，若待识别盘片为正常盘则略过初始化操作；对于初始化完成可以正常识别的盘片按正常盘进行FT1工站测试，对于初始化后不识盘的盘片进行报错交于FA处理。本发明可以快速处理复测不良盘进行初始化，减少了故障盘维修时间和人工参与。工参与。工参与。