在屏蔽室的天花板和四面墙贴上吸波材料，地面的吸波材料采用活动式铺设，即构成EMC实验室。该EMC暗室（实验室）为十米法半电波暗室，在30MHz至18GHz的频率范围内，在3米测量距离拥有2米静区，10米测量距离拥有3米或更大静区，该暗室满足FCC、CE和VCCI对十米法暗室的认证、测量规则 暗室是模拟开阔场而进行EMC测量的，并提供一个电磁背景干净、场均匀性好的一个测量场地。吸收微波只是吸波材料的特点而已。暗室使用频率一般在10KHz~40GHz左右。暗室吸波材料通常是用铁氧体加聚氨酯泡沫尖劈吸波材料组成的复合材料，铁氧体在1GHz以下，最佳在500MHz以下；聚氨酯泡沫尖劈吸波材料通常适在450MHz以上，耐高温、高场强。为满足30MHz～40GHz的归一化场地衰减规则，通常暗室需采用铁氧体片和渗碳泡沫角锥或空心角锥复合型的宽带吸波材料。民用为30M-18G，军用为9k-40GHz的频段。
根据文献报道，对于10m法暗室，为满足归一化场地衰减偏差≤±4dB规则，吸波材料在30～1000MHz垂直入射时反射系数应小于-20dB，45°入射角时小于
-15dB。对于1～40GHz频率范围，吸波材料垂直入射及45°角入射的反射系数也应不高于上述数值。
关于复合型宽带吸波材料，要注意以下两点：
a)
和铁氧体片组合的渗碳聚氨酯泡沫角锥，其含碳量不同于单独使用的角锥，对于这点，国内第一次（1995年）研制复合型吸波材料时并不清楚，而是沿用常规的角锥吸波材料的含碳量配方。
b)
复合型吸波材料和屏蔽室之间宜加一层胶合板。根据国外文献报道，增加这层电介质（胶合板）对改善反射系数是有益的。没有下面的铁氧体和胶合板的暗室一般是用来测量天线的微波暗室，这个EMC暗室不一样，EMC暗室必须要有铁氧体
1）EMC暗室模拟开阔场，也就是说五个面是没有任何障碍物，所以EMC暗室五个面要粘贴吸波材料，吸收电磁波，防止反射；而微波暗室是模拟自由空间，因此六个面都要粘贴吸波材料；
2）测量原理不一样，EMC测量接收能量是通过空间直射和地面反射叠加值，而微波暗室是直接发射接收到的值；
静区性能是微波暗室综合性能的体现，也是暗室设计的关键。影响微波暗室静区性能的因素有暗室形状、吸波材料的布局及特性、天线辐射特性3个方面。
暗室静区电平是评价暗室性能的重要指标之一，它定义为目标天线发射的电磁波经过各墙壁反射到达静区的反射波能量总和与直达波能量之比，通常结果用dB值来表示。不同用途的暗室对静区电平指标的要求不同。一般而言，暗室性能的好坏与作为暗室主体的屏蔽室反射路径损耗、暗室内壁所铺设吸波材料的吸收性能以及目标天线波束宽度等因素有关。
2
性能指标的要求
2.1
防止近场效应的需要骚扰通过辐射方式传播实质是电磁能量以场的形式向四周空间传播。场分为远场和近场。其主要区别如下：
(1)
远场的波阻抗为377Ω，测量磁场和电场的场强的测量可以方便地进行转换，但近场的波阻抗每个地方都不一样，磁场和电场需要分开测量，测量计算相当麻烦。
(2)
在远场可近似认为投射到天线上的电磁波是平面电磁波，磁场、电场和传播方向三者互相垂直，三个面的场强都一样，比较容易分析和测试，但在近场，三者无法互相确定，各个方向都存在分量。 3
辐射测试的实质是远场测试，近场场强和距离1/r3有很大的关系，位置微小的变化便会引起很大的测量误差，测量的重复性差，无法保证测试的一致性。所以
吸波实际测试中我们要防止近场效应的出现，标准GB4824-2004中7.2.3条款辐射测量(30MHz~1GHz)就提及“在3m距离测量大试品要注意频率接近30MHz时近场效
应的影响”，说明3m法暗室在低频时候的误差比较大，主要因为30MHz电磁波的波长是10m，在3m法暗室中基本上可以满足测试距离≥λ/2π划分近场和远场的要求，就是说距离大于1.6m满足远场条件时候，这样测试出来的结果有3dB的误差，如果不满足就会产生比较严重的近场效应，误差更大。而10m暗室，是以测试距离≥λ的条件划分近场和远场，而且10m刚好满足d=λ的条件，测试结果误差为0.5dB。大型医用电气设备多以系统的形式的存在，连接的附件多，体积大、占地面积大，例如：一台体积较大的医疗设备产品或系统，在3m法的半电波暗室内进行辐射测试时，会无法保证被测设备到天线的测试距离为3m(即会小于3m)，且被测设备因为转台的转动而使到暗室壁的距离也无法达到测试的要求，事实上，只要长度超过1m的被测设备，测试结果就可能因测试距离的变化以及近场效应的存在，带来较大的不确定性。特别是对一些比较大的X线机等大型设备和系统，在3m半电波暗室测试已经是不可行或不现实的了，只能选择10m半电波暗室或更大的暗室作为测试场地。
静区尺寸的限制
静区是暗室考核暗室性能的最重要指标之一。暗室 静区是指电波暗室室内受反射干扰最弱的区域,也是放置被测设备和接收天线(发射天线)的最佳位置。暗室静区范围的大小与暗室的形状、大小、结构、工作频率、所用吸波材料的电性能、静区所要求的静区静度、静区的形状等有关。目前，国内外对静区大小还没有一个成熟的方案，但可以依据电磁场的几何绕射理论、反射理论推导出暗室内不同频率下静区静度与材料性质和材料形状的关系,并依此反推一定静区静度要求下的静区范围。 一般而言3m法电波暗室最大只能设计2m(2m直 径，2m高)测试静区，更大的测试静区就必须要有更大的暗室才能实现。测试静区是要包住整个被测试件的，所以在2m直径的圆柱内，最大只能切1.5m长或宽的长方体出来，因此大于1.5m的被测试件，在3m法电波暗室中不能进行测试。再大尺寸的设备就必须在更大的电波暗室中进行
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