AM—OLED驱动控制芯片的测试电路设计

AM—OLED驱动控制芯片测试电路设计
作者:高艳丽 郭锐
来源:《电脑知识与技术》2017年第16期
        摘要:文章从分析AM-OLED驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该驱动芯片的测试电路设计方案。该方案采用对芯片内的多个功能模块进行隔离,保证了各个模块有较高的测试独立性。考虑到内置SKAM的特殊性,采用FPGA可编程测试,提高了测试的灵活性,大大提高了Source Driver测试的可控性,减少了测试管脚数目,节约了测试成本。发泡技术
        关键词:AM-OLED:驱动芯片:FPGA
        1概述
网络取书
        AM-OLED显示驱动芯片是AM-OLED平板显示屏的关重件,具有重要经济价值。显示驱动芯片内部集成了行列驱动电路、图像SRAM、电荷泵、LDO、伽马校正和多种输入输出接
橡胶衬套
曝气头口。内置图像SRAM最高可支持到WVGA分辨率,可显示16.77兆的显示屏;片内的低功耗电源管理技术增强了手持设备的电池续航能力。该芯片具有高集成度、低成本、低功耗的特点,可运用于中小尺寸AM-OLED显示屏模块,包括智能手机、数码相机等电子产品。
运维巡检系统        本文通过分析AM-OLED驱动控制芯片的测试需求,并结合该芯片的多功能模块结构特点,提出了一种AM-OLED驱动芯片的测试电路设计方案。该方案对AM-OLED驱动控制芯片的各项指标测试非常有效。该文的研究成果已经应用于我们研发的AM-OLED驱动控制芯片彩屏手机中。
        2需求分析
        图1所示为AM-OLED驱动控制芯片的组成框图。GateDriver行驱动、Source Driver列驱动分别用来驱动AM-OLED的行和列。电源模块由三个电荷泵、两个LDO以及一个上电检测电源组成,用来向伽马校正、行驱动、列驱动以及SRAM模块提供所需要的驱动电压。内置SRAM用来存储需要显示的图像数据。OSC振荡器主要是作为片内时钟源,可以通过倍频、分频、调整占空比等方式,结合各需求模块的具体需求,产生高精度的时钟频率。数字控制模块由Command decoder和TCON模块组成,主要实现1)不同分辨率显示,
2)不同显示模式显示,3)低功耗模式控制,4)不同控制和数据接口兼容5)行列驱动电路控制以及伽马校正,6)接口译码功能。使各模块能协调按序工作。

本文发布于:2024-09-25 14:35:53,感谢您对本站的认可!

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标签:驱动   芯片   测试
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