镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。
检测方法有 1. 金相法 2. 库仑法 3. X-ray 方法。
各方法适用范围 Scope
1. 金相法：
hcpl2630
采用金相显微镜检测横断面，以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。一般厚度检测需要大于1um，才能保证测量结果在误差范围之内；厚度越大，误差越小。2. 库仑法：
适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法，包括测量多层体系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。
3. X-ray 方法：
横向线性马达适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。
本测量方法可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度
1.金相法：
利用金相显微镜原理，对镀层厚度进行放大，以便准确的观测及测量。
2.库仑法：
利用适当的电解液阳极溶解精确限定面积的覆盖层，电解池电压的急剧变化表明覆盖层实质上完全溶解，经过所耗的电量计算出覆盖层的厚度。因阳极溶解的方法不同，被测量覆盖层的厚度所耗的电量也不同。用恒定电流密度溶解时，可由试验开始到试验终止的时间计算；用非恒定电流密度溶解时，由累积所耗电量计算，累积所耗电量由电量计累计显示。
3. X-ray 方法：
X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖连杆机会
1. 金相法：
镀层照片
由于金相法测样品的厚度为局部厚度，对于一些厚度不一致的样品，需要客户指定具体部位。如没有特殊要求，我们将自行取一个较均匀的部位进行测量。
2. 库仑法：
钢结构轻型楼板目前我们只能测平面的镀层厚度，样品需要至少一个5mm²平面。
3.X-ray 方法：
其面积至少大于0.05×0.25mm
参考文件Reference
1. GB/T 6462-2005金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法
2. ASTM B487-85(2007) Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of
a Cross Section
3. ASTM B764-04 Standard Test Method for Simultaneous Thickness and Electrode Potential
Determination of Individual Layers in Multilayer Nickel Deposit (STEP Test)
4. GB/T4955-1997金属覆盖层覆盖层厚度测量segg
5. GB/T16921-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱方法频偏
6. ASTM B568-98(2004) Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-Ray Spectrometry
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