实验21 电光调制

实验21  电光调制
风速辅助一、实验目的
1、掌握晶体电光调制的原理和实验方法;
2、观察电光调制实验现象,并测量电光晶体的各参数;
3、实现模拟光通讯。
二、实验内容
1、观察电光调制现象;
2、计算电光晶体的消光比,透过率,测量晶体的半波电压;
3、进行电光调制与光通讯实验演示。
三、实验原理
铌酸锂晶体具有优良的压电、电光、声光、非线性等性能。本实验仪中采用的是LN电光晶体. 它的工作原理如下:
LN晶体是三方晶体=,折射率椭球为以z轴为对称轴的旋转椭球,垂直于z轴的截面为圆,如图1。
其电光系数为:
没有加电场之前,LN的折射率椭球为
加上电场之后,其折射率椭球变为:
在本实验中,我们采用的是y轴通光,z轴加电场,如图2,也就是说,,那么上式就可以变为
    式中没有出现交叉项,说明新的折射率椭球的主轴与旧折射率椭球的主轴完全重合.所以新的主轴折射率为
沿着三个主轴方向上的双折射率为
         
上式表明,LN晶体沿z轴方向加电场之后,可以产生横向电光效应,但是不能够产生纵向电光效应.
经过晶体后,o光和e光产生的相位差为:
          其中,  称为有效电光系数。
入射光经起偏振片后变为振动方向平行于x轴的线偏振光,它在晶体的感应轴x′和y′轴上的投影的振幅和相位均相等,设分别为
或用复振幅的表示方法,将位于晶体表面(z=0)的光波表示为
所以,入射光的强度是
当光通过长为l的电光晶体后,x′和y′两分量之间就产生相位差δ,即   
层压机硅胶板
通过检偏振片出射的光,是该两分量在y轴上的投影之和
其对应的输出光强It可写成
所以光强透过率T
                                  (1)
  将代入上式,就可以发现,透过率与加在晶体两端的电压是上面的函数关系.也就是说,电信号调制了光强度,这就是电光调制的原理.
改变信号源各参数对输出特性的影响如下:
①当Um<<时,将工作点选定在线性工作区的中心处,如图3(a)所示,此时,可获得较高效率的线性调制,把代入(1)式,得
                            (2)
由于Um<<时   
即                                            (3)
这时,调制器输出的信号和调制信号虽然振幅不同,但是两者的频率却是相同的,输出信号不失真,我们称为线性调制。
②当U龙芯3bm<<塑料制品加工设备时,如图3(b)所示,把代入(1)式
 
即                                            (4)
从(4)式可以看出,输出信号的频率是调制信号频率的二倍,即产生“倍频”失真。若把代入(1)式,经类似的推导,可得         
                (5)
T∝cos2ωt机控网,输出信号仍是“倍频”失真的信号。
③直流偏压U0在0伏附近或在附近变化时,由于工作点不在线性工作区,输出波形将失真。
但不满足小信号调制的要求,(2)式不能写成(3)式的形式。因此,工作点虽然选定在了线性区,输出波形仍然是失真的。
图3  晶体调制曲线
四、实验步骤
1. 实验系统简介组合屋
按照系统连接方法将激光器,电光调制器,光电探测器等部件连接到位。系统连接方法如图4,其中电光调制器的滑动座是二维移动平台,与其他的滑动座有所不同。
图4 系统连接方法
图5 信号源面板
其中,信号源面板如图5。在信号源面板上,“波形切换”开关用于选择输出正弦波或是方波,“信号输出”口用于输出晶体调制电压,若“高压输出开关”拨向上为打开,拨向下为关闭。如果拨向上那么输出的调制电压上就会叠加一个直流偏压,用于改变晶体的调制曲线,“音频选择”开关用于选择调制信号为正弦波还是外接音频信号,“探测信号”口接光电探测器的输出,对探测器输入的微弱信号进行处理后通过“解调信号”口输出,连接至有源扬声器上。
在具体的连接中,“信号输出”的CH1与CH2输出的信号完全一样,将一个输出连接示波器,另一个输出连接电光调制器。在观察电光调制现象时,需要使用一个带衰减的探头,连接时,探头的黑鳄鱼夹连接至前面两根线的黑鳄鱼夹,探针接红鳄鱼夹(在测量时,探头应10倍衰减)。硅光电探测器通过一根两端都是BNC头的连接线连接至示波器上。在进行音频实验时,则不需要示波器,且硅光电探测器连接至信号源“探测信号”口,“解调信号”接至有源音箱。“音频输入”接外加音频信号。
2. 光路准直
打开激光器电源,调节光路,保证光线沿光轴通过。在光路调节过程中,先将波片,起偏
器和检偏器移走,调整激光管,电光晶体和探测器三者的相对位置,使激光能够从晶体光轴通过;调整好之后,再将波片,起偏器和检偏器放回原位,再调节它们的高度,因为它们的通光孔很大,调节相对容易。调节完毕后,锁紧滑动座和固定各部件。
3. 1/4波片对调制的影响
将信号源输出的正弦波信号加在晶体上,并将探测器输出的信号接到示波器上,调节波片,观察输出信号的变化,记下调节最佳时输出信号的幅值;改变信号源输出信号的幅值与频率,观察探测器输出信号的变化;去掉1/4波片,加上直流偏压,改变其大小,观察输出信号的变化,并与加波片的情况进行比较。
4. 静态特性曲线测量
测量晶体的半波电压采用极值法,即晶体上只加直流电压,不加交流信号,把直流电压从小到大逐渐改变,输出的光强将会出现极大极小值,相邻极大极小值之间对应的直流电压之差就是半波电压。
具体步骤是:去掉1/4波片,调节检偏器使输出光强最小,然后将信号源中正弦波的输出幅度调节至零,打开高压开关,每隔10V逐渐增加直流偏压V,同时读出示波器上硅光电探测器输出的电压值PV(相对光强),作V—Pv曲线,求出LN晶体半波电压
5.动态调制曲线测量
正弦波信号电压Um=0.2,分别测量直流偏压时的调制曲线,绘制输入信号和调制后曲线。
    6.电光调制与光通讯实验演示

本文发布于:2024-09-24 16:24:58,感谢您对本站的认可!

本文链接:https://www.17tex.com/tex/4/205482.html

版权声明:本站内容均来自互联网,仅供演示用,请勿用于商业和其他非法用途。如果侵犯了您的权益请与我们联系,我们将在24小时内删除。

标签:输出   信号   晶体   调制
留言与评论(共有 0 条评论)
   
验证码:
Copyright ©2019-2024 Comsenz Inc.Powered by © 易纺专利技术学习网 豫ICP备2022007602号 豫公网安备41160202000603 站长QQ:729038198 关于我们 投诉建议