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基于微波光子学的宽范围高精度微波频率测量方法及装置[发明专利]

正交相移键控专利名称：基于微波光子学的宽范围高精度微波频率测量方法及装置

专利类型：发明专利

发明人：董玮，王迪，张歆东

申请号：CN201911015580.0

申请日：20191024

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公开号：CN110736876A免火再煮锅

公开日：

20200131

专利内容由知识产权出版社提供白术提取物

摘要：一种基于微波光子学的宽范围高精度微波频率测量方法及装置，属于微波光子学技术领域。由可调激光器、耦合器、相位调制器、强度调制器1、强度调制器2、滤波器、矢量网络分析仪、隔离器、单模光纤1、单模光纤2、环形器1、环形器2、微波信号源1、微波信号源2、直流稳压电源1、直流稳压电源2、光电转换器组成。由矢量网络分析仪测量出幅频特性曲线与相频特性曲线，进而实现未知信号频率的粗略测量和精确测量。本发明采用两个泵浦光，实现增益谱损耗谱抵消，增加多频测量范围；本发明基于布里渊散射相频特性构建相移‑频率函数曲线，通过相移‑频率函数曲线得到待测微波信号的频率值，提高了测量的精度。

申请人：吉林大学第一语音

地址：130012 吉林省长春市前进大街2699号

国籍：CN

代理机构：长春吉大专利代理有限责任公司

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本文发布于:2024-09-24 10:24:03，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://www.17tex.com/tex/4/200338.html

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