专利名称：一种用于探测半导体材料X射线性能的装置专利类型：发明专利 发明人：王殳凹，陈兰花，梁城瑜，翟富万，程丽葳，王亚星申请号：CN201910468119.4
申请日：20190531
公开号：CN110057842A
公开日：pe导电母粒
20190726
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选器
石材背栓
摘要：本发明公开了一种用于探测半导体材料X射线性能的装置，该装置包括暗箱和静电计，暗箱内设有电磁屏蔽盒，电磁屏蔽盒上方设有开口，开口上方设有X射线光源，电磁屏蔽盒内设有PCB 板，PCB板上设有第一导电胶、第二导电胶、第一针脚和第二针脚，第一导电胶和第二导电胶用于分别与样品的上下表面粘合，第一导电胶与第一针脚电连接，第二导电胶与第二针脚电连接，第一针脚与静电计的高压输入口连接，第二针脚与静电计的信号输入口连接。本发明结构简单，操作方便，能够很好地实现静电屏蔽，减少外界环境对探测的干扰，大大降低了测试成本。同时，各部件之间连接稳定，能够准确测量到样品的弱电流，进而得到样品的X射线性能。 申请人：苏州大学
地址：215168 江苏省苏州市吴中区石湖西路188号
国籍：CN
代理机构：苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：杨慧林
音箱架
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