一、实验目的
1．理解光纤散的概念；
2．理解光纤损耗的概念；
3．了解并掌握相移法测量单模光纤散的方法；
4．了解并掌握插入法测量光纤损耗这一常用方法；
5．通过本实验，对光纤通信有一定的了解。
二、实验原理
光信号经光纤传输后要产生损耗和畸变（失真），因而使得输出信号和输入信号不同。对于脉冲信号，不仅幅度要减小，而且波形要展宽。产生信号畸变的主要原因就是光纤中存在散和损耗。散限制系统的传输容量，损耗则限制系统的传输距离。本实验讨论光纤的散和损耗特性并对单模光纤的散和损耗进行测试。 第一部分：光纤的散
一、散概述
散（Dispersion）是光纤最重要的传输特性之一。散是在光纤中传输的光信号由于不同成分的光的时间延迟不同而产生的一种物理效应。散一般包括模式散、材料散和波导散。模式散又称模间散，只存在于多模光纤中，它是由于不同模式的时间延迟不同而产生的，每一种模式到达光纤终端的时间先后不同，造成了脉冲的展宽，从而出现散现象，它取决于光纤的折射率分布，并和光纤的材料折射率的波长特性有关；材料散取决于光纤材料折射率的波长特性和光源的谱线宽度；波导散又称结构散，它取决于波导尺寸和纤芯与包层的相对折射率差。
散对光纤传输系统的影响，在时域和频域的表示方法不同。如果信号是模拟调制的，散限制带宽（Bandwidth）；如果信号是数字脉冲，散产生脉冲展宽（Pulse broadening）。散一般用3dB光带宽【注】（即为半高峰处的带宽）或者脉冲展宽σ来表示。
用脉冲展宽表示时，光纤散σ可以写为：
， （1）
（1）式中、、分别为模式散、材料散和波导散所引起的脉冲展宽的均方根值。
二、多模光纤的散
由多模光纤折射率分布的普遍公式，假设每个传输模式具有相同的功率，经过计算，可以得到长度为L的多模光纤的脉冲展宽为：
， （2）
1. （2）式中为模式散产生的脉冲展宽。
对于突变型多模光纤：； （3）
对于渐变型多模光纤：， （4）
可见渐变型多模光纤的脉冲展宽比突变型多模光纤减小Δ/2倍。三排键
上式中，Δ＝(n1- n2)/n1为相对折射率差， c为光速， g为折射率分布指数，， 电玉粉
2. （2）式中为模内散产生的脉冲展宽，对于一般的多模光纤，主要为材料散，可以简化为：
（5）
上式中，为光源功率谱的谱线宽度。
三、单模光纤的散
模内散系数：理想圆对称单模光纤的散由于不存在模畸变（只有一个基模，不存在高阶模，忽略偏振态的改变），传导光脉冲的展宽完全是由波导散和材料散决定，人们常把这种基模的一个模内的散定义为模内散，有时为了和其他散进行区分，也称度散(Chromatic Dispersion)，表明是和光的“彩”（波长）有关。常简称为散，它是时间延迟随波长变化的结果。模内散系数的定义是：单位光源光谱宽度、单位光纤长度
所对应的光脉冲的展宽（延时差）[ps/(nm·km)]：
对所有类型的单模光纤，该系数是可以根据测定不同波长的光通过一定长度的光纤的相对时差（延时）来确定的。
偏振模散：在理想完善的单模光纤中，单模光纤只能传输一种基模的光。基模实际上是由两个偏振方向相互正交的模场HE11x和HE11y简并组成。但实际的单模光纤不可避免存在一定的缺陷，如纤芯不圆度、微弯力、内部残余应力等，HE11x和HE11y存在相位差，则合成光场是一个方向和瞬时幅度随时间变化的非线性偏振，就会产生双折射现象，即x和y方向的折射率不同。因传播速度不等，模场的偏振方向将沿光纤的传播方向随机变化，从而会在光纤的输出端产生偏振模散（Polarization-Mode Dispersion，即PMD）或双折射散。在高速光纤通信系统（如10Gbit/s和40Gbit/s甚至更高）中，光纤的PMD对整个通信系统性能的影响不能被忽视。生产单模光纤的各种技术中，PCVD工艺生产出的单模光纤具有较低的偏振模散。
第二部分：光纤的损耗
由于损耗的存在，在光纤中传输的光信号，不管是模拟信号还是数字脉冲信号，其幅度都要减小。光纤的损耗在很大程度上决定了光纤通信系统的传输距离。目前光纤损耗已经降到低于0.2dB/km (在1550 nm处)，低损耗光纤的问世导致了光纤通信技术领域的革命，开创了光纤通信的时代。目前，正在开展研究并蓬勃发展的光纤通信新技术有超大容量的波分复用光纤通信和超长距离的光孤子通信系统等。
在最一般的情况下，光纤内传输的光功率P随传输距离z的变化，可以用下式表示：
上式中，a是损耗系数。假设长度为L（km）的光纤，输入光功率为Pi，根据上式输出光功率应为：
习惯上a的单位用dB/km，很容易得知损耗系数为：
（dB/km）
光纤损耗的机理
图1即为单模光纤的损耗谱示意图。光纤的损耗主要由材料的吸收损耗以及散射损耗组成，各部分具体描述如下：
1、材料吸收损耗
主要由SiO2材料引起的固有吸收和由杂质引起的吸收产生。由SiO2材料电子跃迁引起的吸收带发生在紫外（UV）区（），由分子振动引起的吸收带发生在红外（IR）区（），由于SiO2是非晶块状材料，两种吸收带从不同方向伸展到可见光区。由SiO2材料产生的固有吸收很小，在0.8~1.3μm波段，小于0.1dB/km，在1.3~1.6μm波段，小于0.03dB/km。由氢氧根离子产生的吸收峰出现在0.95μm、1.24μm和1.39μm波长处，其中以1.39μm波长处吸收峰的影响最为严重。正是由于光纤通信波段内这一系列吸收峰的存在，使得峰之间的低损耗区构成了光纤通信的三个传输窗口。目前氢氧根离子的含量已经降低到固定顶尖10－9以下，从而1.39μm波长处的吸收峰损耗也降低到0.5dB/km以下。这种减低吸收峰的光纤被称为全波光纤（AllWavelength Fiber）。
2、散射损耗
光纤的散射损耗主要由材料微观密度不均匀性引起的瑞利（Rayleigh）散射和由光纤结构缺陷（如气泡）引起的散射产生的。结构缺陷散射产生的损耗与波长无关。瑞利散射损耗aR与波长四次方成反比，可用经验公式表示为，瑞利散射系数A取决于纤芯与包层折射率差Δ。当Δ分别为0.2%和0.5%时，A分别为0.86和1.02。瑞利散射是一种基本损耗机理，它是由于光纤在制造过程中沉积到熔石英中的随机密度变化引起折射率本身的起伏，从而导致光向各个方向散射所产生。瑞利散射损耗对光纤来说是其本身固有的，因而它确定了光纤损耗的最终极限。例如在1.55μm波段，光纤瑞利散射引起的损耗最低理论极限约为1.149 dB/km。
根据以上分析和经验，光纤总损耗a与波长的关系可以表示为：
上式中，A为瑞利散射系数，B为结构缺陷散射产生的损耗，CW、IR和UV分别为杂质吸收、红外吸收和紫外吸收产生的损耗。
根据以上分析和经验，光纤总损耗a与波长的关系可以表示为：
上式中，A为瑞利散射系数，B为结构缺陷散射产生的损耗，CW、IR和UV分别为杂质吸收、红外吸收和紫外吸收产生的损耗。
3、单模光纤散和损耗的测量
（1）散的测量
单模光纤散的测量方法很多，例如相移法（频域法）、脉冲法（时域法）、干涉法等等，这里我们仅介绍由ITU－T（国际电信联盟－电信标准化机构）和IEC（国际电工委员会）等国际标准组织推荐的“相位移方法”（PHASE-SHIFT METHOD）。根据国际标准ITU和IEC等的规定，测量单位光纤长度乘波长的延时数据，宜用Sellmeier三项表达式来拟合。
实验原理示意图如下：
图2. 相移法测量单模光纤散的实验原理示意图
系统由光源、波长选择器、信号发生器、包层模滤出器、光探测器、时延发生器、鉴相器以及计算机处理部分等组成，测量时波长选择器选择波长λ1，λ2……λN，并且选择信号发生器调制合适的调制频率，使得所有波长的相位延时Φi满足2Nπ<Φi<(2N+2)π，于是当波长差别很小的时候，不同波长的时延τi有下面的关系：
即可得到不同波长的散值。
（2）损耗的测量
测量光纤损耗的常用方法包括插入法和剪断法两种，这里只简单介绍一下原理，有兴趣的同学可以查阅相关技术标准（如ITU－T G.650～G.655，扫地机器人方案IEC60793-1-4（1995），GB8401-87，GB/T 9771-200X等）。蒸汽消毒锅
插入法的原理很简单，即先使用一根短的标准跳线连接光源和功率计之间，记录功率值P0，再用待测光纤代替短跳线，测量这种情况下的功率计P1，用这两个功率的差（p1-p0）除以待测光纤的长度(L)，即可得到待测光纤单位长度的损耗值（dB/km）。 需要注意的是尽可能保持其它条件不变，光纤位置、弯曲程度、连接头等都尽量保持不变，并且保证光纤中的模式受到均匀的激励。表示如下：
剪断法的基本原理是将待测光纤接入光源和功率机之间，然后纪录这个时刻的功率值P1，再将光纤在离光源耦合端保留大约20cm，测量此时的光功率值P0，然后再利用上式计算光纤的损耗值。剪断法所用仪器简单，测量结果准确，因而被确定为测量光纤损耗的基准方法，但这种方法是破坏性的，不利于多次重复测量，所以在实际应用中，多采用插入法。
此外，由于瑞利散射光功率与传输光功率成比例。还可以利用与传输光相反方向的瑞利散射光功率来确定光纤损耗，这种方法称为后向散射法，所用的仪器为光时域反射仪（OTDR），这种仪器采用单端输入和输出，不破坏光纤，使用非常方便，OTDR不仅可以测量光纤损耗系数和光纤长度，还可以测量连接器和接头的损耗，观察光纤沿线的均匀性和确定故障点的位置，是光纤通信系统工程现场不可缺少的工具之一，但其价格也十分昂贵。
本实验采用插入法来测量G.652单模光纤的损耗值。
四、实验内容与步骤
（一）散测量
我们实验中，使用的测量散的方法，和前面的原理相同，本实验装置示意图如下：
如图所示，如果siro-19671535nm和1310nm经过待测光纤后相位相差为2Nπ+Φ1，(-π<Φ1<π)，不改变信号源频率使得1310nm/1555nm经过待测光纤后的相位差为2Nπ+Φ2，(-π<Φ2<π)，我们可以得到1535nm/1555nm两个信号光经过待测光纤后相位差为Φ1-Φ2，那么相对应的散值为：
（ps/nm/km）
式中：f为信号源调制频率，L为待测光纤长度。
注：由于鉴相器只能给出两个数据的相位差的绝对值，所以试验中当Φ1和Φ2不同号时，利用上式会出现数值明显错误，这个时候要把两个相位差的绝对值相加，而不是相减。
1．打开光纤光源、散测试仪的电源（各仪表电源开关在仪器后面板），并预热5分钟；
2．用波分复用器（WDM）将光纤光源和散测试仪部分相连接：按照实际实验装置示意图图3中实线的接法，光源部分先连接1310nm和1535nm，即将WDM的短跳线分别把光纤
光源的1310nm和1535nm DFB激光输出口接成单芯同向的WDM传输模式，其输出端通过一个法兰盘与另外一个WDM连接，并将另外一个WDM的1310nm和1535nm/1550nm DFB输出分别同光纤散测试仪的相应输入口连接，记录此时的相位差为初始相位差Φ10；（注意所有光纤连接时，都应该保持端面清洁或者擦拭干净）
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