AECQ-100车规级认证静压实验
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定义:主要是针对车载应⽤,汽车零部件,汽车车载电⼦实施标准规范,建⽴质量管理控制标准,提⾼车载电⼦的稳定性和标准化。预防可能发⽣各种状况或潜在的故障状态,对每⼀个芯⽚进⾏严格的质量与可靠度确认,特别对产品功能与性能进⾏标准规范测试。 在AEC-Q100⽂件中,定义出以下⼏类不同任务的测试组::
温湿度控制系统
测试组 A: 加速环境应⼒测试(针对芯⽚产品)Accelerated Environment Stress Tests; 测试组 B: 寿命加速模拟测试 (针对芯⽚产品/IP/⼯艺库) Accelerated Lifetime Simulation Tests;
互联网情报
测试组 C: 封装完整性测试(针对芯⽚产品)Package Assembly Integrity Tests;
测试组 D: ⼯艺可靠性测试(针对Foundry⼚) Die Fabrication Reliability Tests;
测试组 E: 电⽓可靠性测试(针对芯⽚产品/IO库) Electrical Verification Tests;
测试组 F: 缺陷筛选测试(针对芯⽚产品)Defect Screening Tests;
测试组 G: 封装过程后的封装完整性测试(针对芯⽚产品)Cavity Package Integrity。
双极化天线
每⼀个测试组会再细化定义出⼏项测试项⽬,并说明这些测试项⽬的测试理论参考何项半导体业界所使⽤的认证规范(例如: JEDEC、MIL-STD883、SAE或者AEC-Q100本⾝所定义并且于附件⾥所定义的规则);每⼀个测试项⽬也同时会定义测试样品单⼀批次数量、测试批次量以及判断合格标准,若有额外的规范也会定义在每⼀项测试规范当中。
⾸先ACE-Q100对汽车零件⼯作温度等级定义如下: 探针天线 0等级:环境⼯作温度范围-40℃-150℃
1等级:环境⼯作温度范围-40℃-125℃
2等级:环境⼯作温度范围-40℃-105℃
3等级:环境⼯作温度范围-40℃-85℃
音调控制电路
4等级:环境⼯作温度范围0℃-70℃