工业固态硬盘测试方法与流程

1.本发明涉及一种硬盘测试方法，尤其涉及一种工业固态硬盘测试方法。

背景技术：

2.工业级固态硬盘，言下之意有两个含义，第一是用在工业用途上，其次是达到工业级的标准，能够在严苛的使用环境下可靠的工作。工业用途，区别于消费级(个人)、企业(商业、数据中心)以及军工的。通常，消费级和企业级固态硬盘，达不到在工业应用场景下可靠地工作的要求。工业级的要求，通常是在恶劣工况下可靠工作，通常应用于汽车、自动化、电力、轨道交通等等场合。这些场合通常会遇到恶劣的工况，包括：高温、低温、振动、潮湿、异常掉电、电压不稳、散热不好(无风扇)等等。
3.目前在硬盘尤其是工业固态硬盘的测试方面，大部分测试方法主要通过常规市售的测试软件，针对硬盘在系统下的性能表现进行测试并读取相应的数据。但是，其忽视了硬盘本身硬件受不同环境影响下可能会出现的问题。
4.同时，现有的测试方法只是进行简单的数据层面的模拟与对比，无法实现环境模拟、开关机模拟等。并且，
5.有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种工业固态硬盘测试方法，使其更具有产业上的利用价值。

技术实现要素：

6.为解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种工业固态硬盘测试方法。
7.本发明的工业固态硬盘测试方法，其采用以下步骤：
8.步骤一，搭建测试平台，根据当前硬盘型号选配合适的操作系统；
9.步骤二，测试同一硬盘在测试平台中的读写速度，并进行初步判断；
10.步骤三，提升硬盘占用，进行若干次读写测试，对测试结果进行二次判断；
11.步骤四，提升测试平台的负载，并提升环境温度，获取当前硬盘读取硬盘主控芯片与存储颗粒表面实际温度，进行三次判断；
12.步骤五，设置极限环境，对硬盘运转状态进行判断；
13.步骤六，进行连续断电测试；
14.步骤七，生成测试报告。
15.进一步地，上述的工业固态硬盘测试方法，其中，所述步骤一中，测试平台包含携带英特尔赛扬baytrail的主板，携带英特尔酷睿i3/i5/i7 cpu的主板，携带桌面级酷睿8700cpu的主板上，所述操作系统包含win7、win10、ubuntu中的一种。
16.更进一步地，上述的工业固态硬盘测试方法，其中，所述步骤二中，通过as ssd benchmark软件，测试同一硬盘的读写速度，若测试后的数据与硬盘预设说明书存在差异，则判别当前硬盘为不合格。
17.更进一步地，上述的工业固态硬盘测试方法，其中，所述步骤三中，将硬盘容量占
用至80％，过as ssd benchmark软件，对硬盘进行10次读写测试，每次测试间隔10秒，若10次测试结果相互之间存在较大差异，则判别当前硬盘为不合格，若10次测试结果与步骤二的测试结果存在较大差异，则判别当前硬盘为不合格。
18.更进一步地，上述的工业固态硬盘测试方法，其中，所述步骤四中，将测试平台所附属的cpu进行100％负载运行，提升环境温度至50摄氏度，通过用物理探头，经由多路温度测试仪读取硬盘主控芯片与存储颗粒表面实际温度，通过crystal disk info软件获得温度数值进行对比，若表面实际温度与温度数值存在较大差异，则判别当前硬盘为不合格。
19.更进一步地，上述的工业固态硬盘测试方法，其中，所述步骤四中，通过第三发软件，设定硬盘运行温度峰值。
20.更进一步地，上述的工业固态硬盘测试方法，其中，所述步骤五中，极限环境为高温70摄氏度或是低温-20摄氏度，对硬盘关机放置96小时，再次通电进行30次开机测试，若能正常开机，则判定为合格。
21.更进一步地，上述的工业固态硬盘测试方法，其中，所述步骤六中，通过延时继电器控制通电60秒后断电5秒，重复3000次，通过累加计数器计数，通过crystal disk info软件读取通电次数与测试前比较得出软件读取的值，将软件读取的值与计数器得到的值做比较，若两者数值相同，则判别为硬盘合格。
22.再进一步地，上述的工业固态硬盘测试方法，其中，所述步骤七中，通过测试平台输出先前测试步骤的各项数据，并输出当前硬盘是否通过测试的最终结论。
23.借由上述方案，本发明至少具有以下优点：
24.1、可以模拟硬盘在各种系统、各种硬件环境下的使用状态，避免系统和硬盘的兼容性问题。
25.2、能够实现硬盘在高占用时的稳定性测试。
26.3、可以有效筛选出温度差异过大的硬盘，避免隐形瑕疵品的流出。
27.4、可以模拟极限环境温度，测试硬盘在高低温环境下能否正常工作。
28.5、可以模拟用户使用过程中非法断电对硬盘造成的影响，提高硬盘极限使用情况下的损耗模拟。
29.上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
30.图1是多路温度测试仪连接硬盘的示意图。
31.图中各附图标记的含义如下。
32.1 硬盘 2 主控芯片
33.3 存储颗粒
具体实施方式
34.下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
35.如图1的工业固态硬盘测试方法，其与众不同之处在于采用以下步骤：
36.步骤一，搭建测试平台，根据当前硬盘型号选配合适的操作系统。考虑到硬盘匹配的操作系统和平台存在差异化，为了实现最大的检测覆盖，本发明采用的测试平台包含携带英特尔赛扬baytrail的主板，携带英特尔酷睿i3/i5/i7cpu的主板，携带桌面级酷睿8700cpu的主板上。这样，可以囊括目前硬盘以及整机所涉及的主流硬件框架。同时，采用的操作系统包含win7、win10、ubuntu中的一种。这样，能够提前进行硬盘适应性预判，若存在系统兼容误差能够及时有效的排查。
37.步骤二，测试同一硬盘在测试平台中的读写速度，并进行初步判断。在此期间，通过as ssd benchmark软件，测试同一硬盘的读写速度。若测试后的数据与硬盘预设说明书存在差异，则判别当前硬盘为不合格。
38.实施期间，符合以下参数的判定为合格：硬盘采用mlc存储颗粒在sata3传输模式下，128gb及以上容量，intel 6代i3及以上cpu，ddr4代4gb及以上内存，读取速度需大于400mb/s，写入速度需大于150mb/s。采用tlc存储颗粒在sata3传输模式下，128gb及以上容量，intel 6代i3及以上cpu，ddr4代4gb及以上内存，读取速度需大于400mb/s，写入速度需大于300mb/s。
39.步骤三，提升硬盘占用，进行若干次读写测试，对测试结果进行二次判断。考虑到硬盘正常运行所涉及的占比，将将硬盘容量占用至80％，过as ssd benchmark软件，对硬盘进行10次读写测试，每次测试间隔10秒。若10次测试结果相互之间存在较大差异，则判别当前硬盘为不合格。同时，若10次测试结果与步骤二的测试结果存在较大差异，则依然判别当前硬盘为不合格。
40.实施期间，符合以下参数的判定为合格：mlc存储颗粒在sata3传输模式下，128gb及以上容量，intel 6代i3及以上cpu，ddr4代4gb及以上内存，读取速度需大于400mb/s，写入速度需大于150mb/s。tlc存储颗粒在sata3传输模式下，128gb及以上容量，intel 6代i3及以上cpu，ddr4代4gb及以上内存，读取速度需大于400mb/s，写入速度需大于300mb/s。这样，可以更好的获取极值数据，模拟测试更为拟真。
41.步骤四，提升测试平台的负载，并提升环境温度，获取当前硬盘1读取硬盘1主控芯片2与存储颗粒3表面实际温度，进行三次判断。具体来说，将测试平台所附属的cpu进行100％负载运行，提升环境温度至50摄氏度。这样，可以模拟高速运算下的自运行高温环节。之后，如图1所示，通过用物理探头，经由多路温度测试仪读取硬盘1的主控芯片2与存储颗粒3表面实际温度。然后，通过crystal disk info软件获得温度数值进行对比。若表面实际温度与温度数值存在较大差异，则判别当前硬盘1为不合格。检测时，软件获得温度数值比实际数值相差5℃左右较为正常。为此，多路温度测试仪读取硬盘1的主控芯片2表面实际温度在85℃左右与存储颗粒3表面实际温度80℃左右属于正常。并且，在实施期间，可通过诸如鲁大师等第三发软件，设定硬盘1运行温度峰值。这样，保护硬盘1不会因为高温过载而损坏。
42.步骤五，设置极限环境，对硬盘运转状态进行判断。在此期间，极限环境为高温70摄氏度或是低温-20摄氏度。模拟极端的使用环境。之后，对硬盘关机放置96小时，再次通电进行30次开机测试。模拟极端环境下的全月每日使用情况。若能正常开机，则判定为合格。这样测试的原因在于，较高的存储温度环境容易导致存储颗粒和主控颗粒内的电子件失效，无法正常工作。较低的存储温度环境容易导致存储颗粒和主控颗粒内的电子件运动活
性不够，无法正常启动。从而本方法用极限温度的方法测试硬盘所能抗住的压力值，获取及极限工作的范围。
43.步骤六，进行连续断电测试。实施期间，通过延时继电器控制通电60秒后断电5秒，重复3000次。这样，可以模拟平凡的开关机，更能模拟用户使用过程中非法断电对硬盘造成的影响。并且，通过累加计数器计数，通过crystal disk info软件读取通电次数与测试前比较得出软件读取的值。最后，将软件读取的值与计数器得到的值做比较，若两者数值相同，则判别为硬盘合格。
44.步骤七，生成测试报告。可通过测试平台输出先前测试步骤的各项数据，并输出当前硬盘是否通过测试的最终结论。这样，便于测试人员查看当前硬盘在哪个测试环节未通过，能够实现快速测试结果追溯。同时，能够便捷化的查看测试结果，便于统计后送往生产前端来进行排查，也可以导出数据进行相应的建档。
45.通过上述的文字表述并结合附图可以看出，采用本发明后，拥有如下优点：
46.1、可以模拟硬盘在各种系统、各种硬件环境下的使用状态，避免系统和硬盘的兼容性问题。
47.2、能够实现硬盘在高占用时的稳定性测试。
48.3、可以有效筛选出温度差异过大的硬盘，避免隐形瑕疵品的流出。
49.4、可以模拟极限环境温度，测试硬盘在高低温环境下能否正常工作。
50.5、可以模拟用户使用过程中非法断电对硬盘造成的影响，提高硬盘极限使用情况下的损耗模拟。
51.以上所述仅是本发明的优选实施方式，并不用于限制本发明，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。

技术特征：

1.工业固态硬盘测试方法，其特征在于采用以下步骤：步骤一，搭建测试平台，根据当前硬盘型号选配合适的操作系统；步骤二，测试同一硬盘在测试平台中的读写速度，并进行初步判断；步骤三，提升硬盘占用，进行若干次读写测试，对测试结果进行二次判断；步骤四，提升测试平台的负载，并提升环境温度，获取当前硬盘读取硬盘主控芯片与存储颗粒表面实际温度，进行三次判断；步骤五，设置极限环境，对硬盘运转状态进行判断；步骤六，进行连续断电测试；步骤七，生成测试报告。2.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤一中，测试平台包含携带英特尔赛扬baytrail的主板，携带英特尔酷睿i3/i5/i7 cpu的主板，携带桌面级酷睿8700cpu的主板上，所述操作系统包含win7、win10、ubuntu中的一种。3.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤二中，通过as ssd benchmark软件，测试同一硬盘的读写速度，若测试后的数据与硬盘预设说明书存在差异，则判别当前硬盘为不合格。4.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤三中，将硬盘容量占用至80％，过as ssd benchmark软件，对硬盘进行10次读写测试，每次测试间隔10秒，若10次测试结果相互之间存在较大差异，则判别当前硬盘为不合格，若10次测试结果与步骤二的测试结果存在较大差异，则判别当前硬盘为不合格。5.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤四中，将测试平台所附属的cpu进行100％负载运行，提升环境温度至50摄氏度，通过用物理探头，经由多路温度测试仪读取硬盘主控芯片与存储颗粒表面实际温度，通过crystal disk info软件获得温度数值进行对比，若表面实际温度与温度数值存在较大差异，则判别当前硬盘为不合格。6.根据权利要求5所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤四中，通过第三发软件，设定硬盘运行温度峰值。7.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤五中，极限环境为高温70摄氏度或是低温-20摄氏度，对硬盘关机放置96小时，再次通电进行30次开机测试，若能正常开机，则判定为合格。8.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤六中，通过延时继电器控制通电60秒后断电5秒，重复3000次，通过累加计数器计数，通过crystal disk info软件读取通电次数与测试前比较得出软件读取的值，将软件读取的值与计数器得到的值做比较，若两者数值相同，则判别为硬盘合格。9.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤七中，通过测试平台输出先前测试步骤的各项数据，并输出当前硬盘是否通过测试的最终结论。

技术总结

本发明涉及一种工业固态硬盘测试方法，其通过搭建测试平台，根据当前硬盘型号选配合适的操作系统，测试同一硬盘在测试平台中的读写速度，并进行初步判断，提升硬盘占用，进行若干次读写测试，对测试结果进行二次判断。可提升测试平台的负载，并提升环境温度，获取当前硬盘读取硬盘主控芯片与存储颗粒表面实际温度，进行三次判断。设置极限环境，对硬盘运转状态进行判断。能进行连续断电测试。由此，可以模拟硬盘在各种系统、各种硬件环境下的使用状态，避免系统和硬盘的兼容性问题。能够实现硬盘在高占用时的稳定性测试。可以有效筛选出温度差异过大的硬盘，避免隐形瑕疵品的流出。可以模拟极限环境温度，测试硬盘在高低温环境下能否正常工作。正常工作。正常工作。