专利构成元件组合之关联度筛选系统及其方法

技术领域

本发明涉及一种图形信息比对之方法，且特别涉及一种将待鉴定对象 之元件组合信息与专利构成元件之组合信息进行比对处理之方式及其相 应之系统。

背景技术

在产业技术密集的现在环境中，各个公司或是制造商都大量的申请专 利，此举除了可以保护自己研发的成果外，还可以利用专利的排他权，对 疑似侵害专利权的公司或是制造商进行侵害排除。更有进者，有些公司甚 至已经放弃生产线而仅保留研发人员，继续进行该公司或是制造商所专精 的技术开发，同时继续不断的申请专利，这些公司包括美国的Tessera Technologies Inc.以及日本的Semiconductor Energy Laboratory(SEL)等，他 们都拥有相当数量的专利。若为了要确定是否有其它公司可能侵害他们公 司的专利时，就需要花费相当的人力去一件一件的进行专利侵害的评估工 作，当专利愈多时，这个工作就愈沉重。此外，在技术的密集度高的产业， 例如半导体制造或是半导体的封装或是数字系统等，与这些技术有关的专 利，多的有上万件专利，少的也有好几千件专利，当一家半导体公司要申 请一件专利时，其必须要经过前案检索以及特征比对，因此也会对这些想 要申请专利的公司造成困扰。

以上所述的问题及实施状况，至今仍然没有一个很简便的方法或装置 可以解决。鉴于上述，本发明即在提出一种可以将待鉴定对象之元件组合 信息与专利构成元件之组合信息进行比对处理之方式及其相应之系统。

发明内容

依据上述之问题，本发明主要之目的在提供一种可以将待鉴定对象之 元件组合信息与专利构成元件之组合信息经过一个统一的代码定义程序 后，将经过定义后的待鉴定对象之元件组合之代码信息与专利构成元件组 合之代码信息进行比对处理之方法及系统。

本发明主要之另一主要目的在提供一种可以将待鉴定对象之元件组 合信息与专利构成元件之组合信息进行比对处理之方式及其相应之系统， 用来迅速的比对疑似侵权物品与专利之比对结果。

依据上述之目的，本发明首先提供一种待验对象组合与专利构成元件 组合之关联度筛选系统，包括：将多个元件以标准元件代码进行定义及储 存，接着将专利构成元件依据标准元件储存装置中相应之标准元件之代码 进行定义，以形成专利构成元件组合信息并储存，然后以输入装置将待验 对象构成元件组合也依据标准元件之代码进行元件组合之定义，再接着， 输入装置所输入之元件组合信息与每一个专利构成元件组合信息进行比 对处理，再将比对结果以关联度高或低进行排序，然后显示关联度排序结 果。

本发明进一步提供一种待验对象组合与专利构成元件组合之关联度 筛选系统，包括：将多个元件以标准元件代码进行定义及储存，接着将专利 构成元件依据标准元件储存装置中相应之标准元件之代码进行定义，以形 成专利构成元件组合信息并储存，然后以输入装置将待验对象构成元件组 合也依据标准元件之代码进行元件组合之定义，再接着，输入装置所输入 之元件组合信息与每一个专利构成元件组合信息进行比对处理，再将比对 结果以关联度高或低进行排序，并通过筛选装置来显示关联度排序结果。

本发明接着再提供一种将待验对象转换成代码的方法，包括：提供包 含有多个标准元件的数据库，然后提供待验对象并且辨认待验对象所包含 之标准元件，再依标准元件数据库所定义之辨认代码来定义该待验对象以 形成代表待验对象之待验代码集合。

本发明进一步提供一种待验对象与专利组合之关联度筛选方法，主要 包括下列步骤：首先提供包含有多个标准元件的数据库，其中各标准元件 具有其唯一对应之辨认代码，接着再提供第一专利数据库，其由多件专利 形成并依序针对其中之每一件专利进行元件解析，使第一专利数据库之内 容由经过解析该每一件专利所包含之元件所组成，接着，再依该标准元件 数据库定义之辨认代码进一步定义第一专利数据库所包含之元件，以形成 代码集合，使得每一件专利具有其对应之代码集合，由此，第一专利数据 库之所有专利经该标准元件数据库定义成各自对应之代码集合后转化为 第二专利数据库；然后，将待验对象包含之元件依该标准元件数据库定义 之辨认代码定义该待验对象之组成元件，以形成待验代码集合；接着，以 比对程序将待验代码集合与该第二专利数据库内各专利之代码集合进行 比对，并将比对结果以关联度高低形成之关联度数据库；紧接着，通过评 比程序将关联度数据库之数据依关联度之高或低，依排序列成评比数据 库，并经可设定特定关联度之筛选条件来将评比数据库中之关联度依筛选 条件分类并将筛选结果输出。

附图说明

图1：本发明之编码案例之示意图；

图2：本发明之一种专利组合关联度筛选方法之流程图；

图3：本发明之一种具有评比功能之专利组合关联度筛选方法之流程 图；

图4：本发明之一种具有筛选功能之专利组合关联度筛选方法之流程 图；

图5：本发明之专利组合关联度筛选方法之另一实施例之流程图

图6：本发明之具有评比功能之专利组合关联度筛选方法之另一实施 例之流程图；

图7：本发明之具有筛选功能之专利组合关联度筛选方法之另一实施 例之流程图；

图8：本发明之一种待验对象转换成代码的方法；

图9：本发明之具有筛选功能之专利组合关联度筛选方法之再一实施 例之流程图；及

图10：本发明之具有筛选功能之专利组合关联度筛选之系统方块示意 图。

主要元件标记说明

10标准元件储存装置

20专利构成元件储存装置

30待验对象输入装置

40比对处理装置

50排序装置

60筛选装置

70显示装置

100标准元件数据库

200第一专利数据库

201～202专利

300待验对象

301待验对象集合

400第二专利数据库

401～402专利

500比对程序

550关联度数据库

600评比程序

601评比数据库

700筛选条件

800筛选程序

900输出程序

具体实施方式

由于本发明披露一种待验对象与专利组合之关联度筛选方法及其系 统，其中所利用到的公知技术包括数据库、储存装置、比对程序以及编码 方式等，并不作完整描述。而且下述内文中之附图，其作用仅在表达与本 发明特征有关之示意图。

在开始说明本发明之实施例之前，先以一个技术案例来说明，请参照 图1，为一种球数组BGA封装结构1(Ball Grid Array package)示意图，此 BGA封装结构之元件包括基板A(Substrate)、芯片B(chip)、黏着层 C(adhesive layer)、芯片上的金属接点D(terminal)、基板上的金属垫E(pad)、 金线F(wire bonding)、胶膜G(molding compound)、锡球H(Solder ball)以及 位于基板中央的开孔I(opening)等。同时，为考虑各种不同之实施方式， 例如具有中央开孔的基板以及没有开孔的基板等，因此基板A还可再以下 标方式进一步来区分基板的态样，例如Ax，其中x为整数(x＝1，2，3...)， 故可将中央开孔的基板设为A1而没有开孔的基板设为A2，其它形式的基 板则可依此进行编号；另外，在芯片上的编号也可依此方式编号，例如， 属于覆晶(flip chip)则可编为B1，而非覆晶的芯片则可编为B2，然在实际 的实施例中，为配合基板的配置，则芯片上的金属接点D1则可配置在中 央区域以相对中央开孔的基板A1，或是芯片上的金属接点D2配置在芯片 的周围区域的基板A2；或是黏着层C是使用一种热固性的黏着材料C1， 故可依黏着层之材料或是形成黏着的方式来进行编号等等，其余构成BGA 的各元件也依此原则进行标准元件的编号，以使每一标准元件均有一个且 唯一的标准元件编号，然后将此标准元件编号储存于标准元件数据库100 中，因此，标准元件数据库100中所储存的数据形式为各标准元件的编号。

接着，请参照图2，为本发明之专利组合之关联度筛选方法之流程图， 并依据流程图之顺序逐项说明步骤如下。如图2所示，首先，形成一个标 准元件数据库100，此数据库100包含有多个标准元件之编号，其中各标 准元件依上述之方式进行编号，使得每一个标准元件具有其唯一对应之辨 认代码Xi，其中X＝A，B，C，D...(i＝整数)；然后，建立一个第一专利数据库 200，此专利数据库200可以是各家公司自己所拥有的多件专利，也可以 是与某一技术有关之多件专利形成。当此第一专利数据库200建立完成后， 即可将第一专利数据库200中的每一件专利进行权利要求的定义(claim construction)，也就是将每一件专利201进行元件解析，故第一专利数据库 200之实际储存内容由经过解析后的每一件专利所包含之元件(Yi)所组成； 例如：201＝A1+B2+C1，此201对照成上述之编号后，其实施代表一个基 板为中央开口(A1)且芯片与基板使用热固形黏着层(C1)连接所形成之非覆 晶形式(B2)之BGA封装结构。接着，再依标准元件数据库100定义之辨认 代码Xi进一步定义第一专利数据库所包含之元件，以形成代码集合401， 使得每一件专利201具有其对应之代码集合401，由此，第一专利数据库 200之所有专利经标准元件数据库100定义成各自对应之代码集合后转化 为第二专利数据库400。

再接着，提供一个待验对象300，此待验对象300基于实际上的需求， 其可以是一个疑似侵权物、一件想要回避设计的专利等，因此，待验对象 可以是一个具有实体之疑似侵权物品、一个具有实体之疑似侵权物品之照 片、一个疑似侵权物品之示意图、一个设计构想图及一份专利文件，故待 验对象300可以由上述组中择一或组合而成。接着，进行辨认待验对象 所包含之元件Zi，其中Zi的组合方式与Yi相同，然后将Zi的每一组成 元件依标准元件数据库100定义之辨认代码Xi定义待验对象300之组成 元件，以形成待验代码集合301。

当完成了第一专利数据库200中每一件专利所对应之代码集合401以 及待验代码集合301之后，由于代码集合401以及待验代码集合301都是 经过了标准元件数据库100之辨认代码Xi定义，因此，当两者间具有相 同之元件时，此相同的元件是具有相同的辨认代码Xi，故可以进行比较。 再接着，提供比对程序500，此程序将待验代码集合301与第二专利数据 库400内各专利之代码集合401进行比对，比对结果储存在一个由关联度 501高低所组成之关联度数据库550，其中，当第二专利数据库400内之 专利之代码集合401与待验代码集合301两者相同之辨认代码Xi较多时， 则称两者之关联度较高，当第二专利数据库400内之专利之代码集合401 与待验代码集合301两者相同之辨认代码Xi较少时，则称两者之关联度 较低；然后，可以提供一个输出程序900，将关联度数据库550输出；因 此，某公司中的工程主管人员或是专利工程师即可依据得到待验对象300 与专利组合200之关联度比对结果，进行侵害鉴定(Infringement Certification)以及排除。

在上述实施例的说明中，可以进一步的加入一个评比程序600，如图 3所示，其目的在对关联度数据库550的关联度进行排序，其可从关联度 高的专利往下排序，当然也可以反过来实施；在完成关联度数据库550的 关联度501进行排序后，就可以形成一个评比数据库601。此外，本发明 的实施例中，可以再进一步的设定一些特定关联度的筛选条件700，以使 评比数据库601可以输出筛选结果，如图4所示。在本实施例中，例如将 筛选条件700设定为至少有三个元件相同，因此，通过筛选条件700的有 效设定，使得储存于评比数据库601中的关联度501结果经过一个筛选程 序800(即将筛选条件与关联度数据库的关联度比对)后，使得专利数量仅 输出大于筛选条件700者，故可以进一步减少需要确认或是鉴定的专利量； 最后，在本发明的实施例中，还可以再提供输出程序900，将符合筛选条 件之结果输出。故，通过上述的详细说明，可以得到待验对象300与专利 组合200依某一特定关联度为基准之筛选结果。

本发明之另一具体实施例，如图5所示，其与前一实施例之间的差异 在于其中的待验对象为由多件专利形成的组合，有别于前面的实施例仅有 一个待验对象之方式。如图5所示在本实施例中，首先形成一个标准元件 数据库100，其包含有多个标准元件，其中各标准元件依上述之方式进行 代码编号，使得每一个标准元件具有其唯一对应之辨认代码Xi，其中 X＝A，B，C，D...(i＝整数)；然后，建立一个第一专利数据库200，此专利数据 库可以是各家公司自己所拥有的多件专利，也可以是与某一技术有关之多 件专利，当此第一专利数据库200建立完成后，即可将第一专利数据库200 中的每一件专利进行权利要求的定义(claim construction)，也就是将每一件 专利201进行元件解析，故第一专利数据库之内容由经过解析每一件专利 所包含之元件(Yi)组成；接着，再依标准元件数据库100定义之辨认代码 (Xi)进一步定义第一专利数据库所包含之元件，以形成代码集合401，使 得每一件专利201具有其对应之代码集合401，由此，第一专利数据库200 之所有专利经标准元件数据库100定义成各自对应之代码集合后转化为第 二专利数据库400。

再接着，提供一个第一待验对象组合350，其包含有多个待验对象(351， 352，...)，接着依序辨认其中各待验对象351所包含之标准元件(Zi)，并依 标准元件数据库100定义之辨认代码(Xi)定义每一个该待验对象351，以 形成待验代码集合361，第一待验对象组合350之各个代验对象经辨认代 码(Xi)定义后形成第二待验对象组合360，因此第二待验对象组合360由 经过转换后的待验代码集合(361，362，363...)组合而成；同样的，这些待验 对象300基于实际上的需求，例如一组想要回避设计的专利等，因此，待 验对象可以是一个具有实体之疑似侵权物品、一个具有实体之疑似侵权物 品之照片、一个疑似侵权物品之示意图、一个设计构想图及一份专利文件， 故待验对象组合360可以由上述组中择一或组合而成。

接着，当完成代码集合401以及待验代码集合361的标准元件代码转 换之后，由于代码集合401以及待验代码集合361都是经过了标准元件数 据库100之辨认代码(Xi)定义，因此，两者间具有相同之元件时，此相同 的元件是具有相同的辨认代码(Xi)，故可以进行比较。

再接着，提供一个比对程序500，将第二待验对象组合360中的待验 代码集合361与该第二专利数据库400内各专利之代码集合401进行比对， 比对结果形成以关联度501高低所组成之关联度550数据库，其中，当该 第二专利数据库400内之专利之代码集合401与待验代码集合361两者相 同之辨认代码(Xi)较多时，则称两者之关联度较高，当该第二专利数据库 400内之专利之代码集合401与待验代码集合361两者相同之辨认代码(Xi) 较少时，则称两者之关联度较低；然后，可以提供一个输出程序900，将 关联度数据库550输出；因此，公司中的工程主管人员或是专利工程师即 可依据得到待验对象组合350与专利组合200之关联度比对结果，以便能 进行侵害鉴定(Inffingement Certification)以及回避设计(Design Around)。

在上述实施例的说明中，可以进一步的加入一个评比程序600，如图 6所示，其目的在对关联度数据库550的关联度进行排序，其可从关联度 高的专利往下排序，当然也可以反过来实施；在完成关联度数据库550的 关联度进行排序后，就可以形成一个评比数据库601。此外，本发明的实 施例中，可以再进一步的设定一些特定关联度的筛选条件700，以使评比 数据库601可以输出筛选结果，如图7所示例如，将筛选条件700设定为 至少有三个元件相同，因此，通过筛选条件700的有效设定，使得储存于 评比数据库601中专利数量仅输出大于筛选条件700者，故可以进一步减 少需要确认或是鉴定的专利量；最后，在本发明的实施例中，还可以再提 供输出程序900，将筛选结果800输出。故，通过上述的详细说明，可以 得到待验对象300与专利组合200依某一特定关联度为基准之筛选结果。

由于技术的密集，如上述实施例的编码方式还可以进一步使用二维的 编码方式，例如以图1为例，基板A还可再以下标方式进一步来区分具有 中央开孔的基板以及没有开孔的基板等的方式，例如Aij，其中i，j均为整 数(1，2，3...)，故可将中央开孔的基板设为A1j而没有开孔的基板设为A2j， 其它形式的基板则可依所属的‘i’类再依‘j’类进行编号；另外，在芯 片上的编号也可依此方式编号，例如，属于覆晶(flip chip)则可编为B1j， 而非覆晶的芯片则可编为B2j；在此实施例中，芯片上的金属接点D1就可 以选择省略，而将其并入芯片的方式中，其余各构成BGA的各元件也依 此原则进行编号，以使每一个构成元件均有一个且唯一的标准元件编号， 并将此标准元件编号形成一个标准元件数据库100。因此，图8即为本发 明之待验对象300转换成代码的方法，其首先提供标准元件数据库100， 此标准元件数据库100包含有多个标准元件，且各标准元件具有唯一对应 之辨认代码(Xi or Xij)；接着提供待验对象300，此待验对象300可以是一 件专利也可以是多件专利所形成的组合；然后，进行辨认待验对象所包含 之标准元件(Zi)；然后依标准元件数据库100定义之辨认代码(Zi)定义每一 个待验对象300；最后形成代表待验对象300之待验代码集合301。很明 显地，待验对象300可以依据元件数据库100中的标准元件辨认代码是使 用一阶(Xi)或是二阶的(Xij)来定义出待验对象300之待验代码集合301为 一阶或是二阶的定义(即Zi or Zij)。

图9中的各标准元件101之辨认代码转换成Xij，其中X＝A，B，C，D...； i，j＝整数；同时，第一专利数据库之每一件专利201所包含之元件也可通 过辨认代码(Xij)转换成第二专利数据库401(Yij)；而待验对象300所包含之 元件则可通过辨认代码(Xij)转换成301(Zij)；故当进行比对程序时，因此， 两者间具有相同之元件时，此相同的元件是具有相同的辨认代码，故可将 301(Zij)与第二专利数据库401(Yij)进行比较；然后，可以进一步的加入一 个评比程序600，其目的在对关联度数据库550的关联度进行排序，其可 从关联度高的专利往下排序，当然也可以反过来实施；在完成关联度数据 库550的关联度进行排序后，就可以形成一个评比数据库601。此外，本 发明的实施例中，可以再进一步的设定一些特定关联度的筛选条件700， 以使评比数据库601可以依关联度依筛选条件700之分类，输出筛选结果， 例如将筛选条件700设定为至少有三个元件相同，且可进一步设定要包括 中央开孔的基板设为A1j之相关专利，因此，通过筛选条件700的有效设 定，使得储存于评比数据库601中专利数量仅输出大于筛选条件700者， 故可以进一步减少需要确认或是鉴定的专利量；最后，在本发明的实施例 中，还可以再提供输出程序900，将筛选结果输出。故，通过上述的详细 说明，可以得到待验对象(300，350)与专利组合200依某一特定关联度为基 准之筛选结果。

本发明进一步披露一种待验对象组合与专利构成元件组合之关联度 筛选系统，如图10所示，其包括：一个标准元件储存装置10，将多个元件 100以代码(Xi；Xij)进行定义及储存；然后再以已经定义的多个元件的多 个专利，逐一将每一件专利构成元件依据标准元件储存装置10中相应之 标准元件之代码(Xi；Xij)进行定义，并将多个专利之构成元件以组合信息 方式储存于专利构成元件储存装置20；再接着，将待验对象构成元件依据 标准元件储存装置10中之代码(Xi；Xij)进行待验对象构成元件之定义后， 再以一个输入装置30将定义后的待验对象构成元件输入至一个比对处理 装置40中；由于待验对象构成元件与专利构成元件的编码方式相同，故 可将待验对象构成元件输入装置30所输入之元件组合信息与已预先定义 多个元件之储存装置20中之每一件专利构成元件组合信息进行比对处理； 然后，再交由一个排序装置50将比对之结果以关联度高或低进行排序； 当专利构成元件之储存装置20与待验对象构成元件之输入装置30所输入 之组合信息进行比对后，若两者相同之辨认代码较多时，则称两者之关联 度较高，反之，若两者相同之辨认代码较少时，则称两者之关联度较低； 最后，再由一个显示装置70，用以显示该关联度排序结果。同样的，在本 发明的关联度筛选系统中，也可以加入一个筛选装置60，可将一个预先决 定之关联度数值输入排序装置，以输出决定关联度数值后之排序。

以上所述仅为本发明之较佳实施例而已，并非用以限定本发明之权利 要求，例如，编码方式也可采用三维方式进行，如Aijk等进行定义；又例 如比对程序，其可包括依序(sequential)或平行(parallel)比对等方式。同时 以上的描述，对于所属技术领域的技术人员应可明了及实施，因此其它未 脱离本发明所揭示之精神下所完成的等效改变或修饰，均应包含在本发明 的权利要求中。