一种显示面板及电子设备的制作方法

1.本公开涉及显示领域，特别涉及一种显示面板及电子设备。

背景技术：

2.取向技术是利用物理或化学的方法，使取向膜具有让液晶分子以一定的预倾角沿同一方向排列，即让取向膜对液晶分子形成各向异性排列的能力。根据液晶显示模式不同或选用的pi液分子结构不同，液晶分子的取向技术常见的有两种，即摩擦取向技术和光控取向技术。
3.使液晶分子实现取向有物理方法和化学方法。摩擦取向属于物理方法，它是利用滚筒外侧的经过特殊处理的摩擦布，在取向层表面摩擦出一定深度、有方向性的沟槽，根据pi膜和对液晶分子的锚定力，实现液晶分子的取向。
4.摩擦取向工艺是用外表面包裹了一层特殊处理的摩擦布的高速旋转辊，与水平传递来的玻璃基板表面进行机械接触和摩擦，把基板上的pi膜表面划出一道道有方向性沟槽的过程。
5.摩擦工艺带来的不良，主要是取向均一性差。如果段差太大，则在段差附近，会出现局部摩擦不良。因此，在设计摩擦工艺时，需要特别注意摩擦方向上的所有图形布线情况，尽量避免段差引起的不良。
6.液晶盒检测(cell test)是将barecell在线进行的电学驱动液晶显示屏的人机结合测试，通过自动或人工检测方式按判级标准进行等级判定。短路环测试方式是常用的液晶盒测试施加电信号之一。现有方式会把数据信号或扫描信号线分成几组，并分别用短路环把他们连接到bonding区(绑定区) 周边并引出测试衬垫(cell test pad)。测试时，电信号通过测试pad区给液晶屏施加驱动信号点亮。这种测试方式的测试治具简易，而且不同产品型号的测试治具可以共用，降低了运营成本。测试完成后，需要用激光把 bonding区的短路环线熔化去除。由于受ct针精度的限制，因此ct pad需要采用较大面积的区域以应对扎针检测需求。由于对应不同信号的需求，因此需要设置多个测试pad。
7.由于现有ct pad区域段差差异较大(即ct pad布线镀膜层层级数量不同导致高度差较大)，因此在测试时，各款产品中常常会出现由于ct pad干涉导致的l0垂直黑线、v-block现象、垂直线mura(不均匀)等一系列不良问题，降低了良率和可出货率，增加了降级率和废品率，造成了显示面板的资源浪费。

技术实现要素：

8.有鉴于此，本公开实施例提出了一种显示面板及电子设备，用以解决现有技术的如下问题：ct pad干涉导致的l0垂直黑线、v-block现象、垂直线 mura(不均匀)等一系列不良问题，降低了良率和可出货率，增加了降级率和废品率，造成了显示面板的资源浪费。
9.一方面，本公开实施例提出了一种显示面板，包括：多个液晶盒检测区域，所述液晶盒检测区域包括多个测试衬垫区；所述测试衬垫区至少包括：导电层和金属层；所述导电
绝缘层。
具体实施方式
30.为了使得本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
31.除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
32.为了保持本公开实施例的以下说明清楚且简明，本公开省略了已知功能和已知部件的详细说明。
33.如图1所示，ct pad测试区域(即下文中的液晶盒检测区域)位于相邻两个cof(覆晶薄膜)之间，因此必然处于aa区域(显示区域)对应的rubbing (摩擦)方向上，无法将ct pad测试区域移至非aa区对应的rubbing方向上。因此，本公开实施例致力于提供一种解决ct pad测试区域段差较大的问题。
34.现有ct pad测试区域的设计如图2所示(由于金属层与导电层面积一样大，因此斜线区域表示的金属层面积较大)，其中每个ct pad(即下文中的测试衬垫区)的布线结构示意如图3所示(图中方形区域为过孔，用于插入 ct针)；图中各个ct pad之间仅包括两层布线，然而，各个ct pad为四层布线，四层中还包括一层厚度较厚的金属层，进而导致ct pad与周边的两层区域段差较大，对辊上rubbing布的(损伤)影响不同，rubbing布摩擦到显示区pi膜的时候，pi膜被摩擦后表面沟槽的方向性就会存在差异，导致这个区域对液晶、锚定作用存在差异，施加电压时，液晶分子的偏转角度就会有差异，导致透过率存在差异，从而形成亮暗相间的block或mura。
35.如果各个区域段差对rubbing布的影响调整至相当时，则对pi膜摩擦取向后对液晶的锚定力相当，进而液晶分子偏转角度相当，则光透过率相当，对应的则亮暗差异减小，显示面板就不容易看出差异，因此，如果可以将各个区域的液晶偏转角度的偏差调整至几乎一致的效果，则可以极大的改善l0 垂直黑线、v-block现象、垂直线mura(不均匀)等问题。
36.基于上述考虑，本公开实施例对ct pad测试区域的设计进行了改进。
37.本公开实施例提供了一种显示面板，其中液晶盒检测区域的结构示意如图4所示，包括：
38.多个液晶盒检测区域1，液晶盒检测区域包括多个测试衬垫区2；测试衬垫区包括：
导电层3和金属层4(由于被导电层覆盖在下层，因此用斜线表示)；导电层位于测试衬垫区的顶层，用于接收测试电压；金属层设置在导电层的覆盖范围内，金属层按照预定图案设置，金属层的覆盖面积小于导电层的覆盖面积，以使得测试衬垫区内存在未被金属层覆盖的区域，其中，预定图案用于使得液晶偏转对应的偏差控制在预定范围内。
39.上述测试衬垫区通过与金属层同层的金属引线6连接至预定信号线，例如数据信号线、扫描信号线等，进而在接收到来自ct针的测试电压后，能够通过导电层将电压传至金属层，进而供给至不同的测试线，来提前检测显示面板存在的不良，将判级ng的屏报废处理，避免ng屏流到模组后段，造成资材的浪费。上述金属引线与金属层同层，因此，与金属层采用相同材料。
40.上述金属层设置在玻璃基板上，金属层与导电层之间设置有绝缘层，金属层与导电层通过过孔5连接。如图5所示，为部分剖面结构示意图，图中，金属层4为栅极层，导电层3为像素电极层，例如氧化铟锡(ito)，对于绝缘层，根据工艺的不同，绝缘层7可以有一层或多层，对于图中的两层绝缘层，由于它们的成膜速率功率等不同，所以出来的膜质不尽相同，同时它们的膜厚有时也会不同，图中仅为一种示例，此处不构成限定；对于过孔，其大小、数量和位置也仅为一种示意，只要满足导通电阻需求即可。
41.上述图4中示出的金属层的预定图案以回字形为例，对于预定图案，其还可以是凸字形、口字形、回字形、一字形、多个一字按照预定间隔在横向或纵向上排布对应的图形等任何金属覆盖面积小于导电层覆盖面积的图案，如图6所示的凹字形预定图案，只要能够减小膜层间段差差异，尽可能的保证液晶偏转对应的偏差控制在预定范围内即可，当然，图形越规整，液晶偏转对应的偏差就越一致。
42.在预定图案为多个一字按照预定间隔在横向或纵向上排布对应的图形时，例如图7所示的预定图案，各个一字上设置的过孔按照预定规则排布，以使得图案更加规整，利于实现液晶偏转对应的偏差的均一性。例如液晶偏转对应的偏差所在预定范围为3度-5度，则在图案更加规整后，偏差都可以控制在3度、4度或5度某一个值上，当然，该数值较为极端，真正实现在显示面板上只要能够避免l0垂直黑线、v-block现象、垂直线mura等问题即可，其在某一个偏差度数上上下浮动零点几度显示面板看到的仍然是没有问题的状态。
43.本公开实施例的显示面板还包括设置在覆晶薄膜区域和液晶盒检测区域之外的显示区域、与液晶盒检测区域相邻设置的覆晶薄膜区域，相邻的覆晶薄膜区域之间设置有液晶盒检测区域，根据液晶盒检测区域所在位置不同，每个液晶盒检测区域1包括的测试衬垫区的数量也可以不同。
44.本公开实施例将液晶盒检测区域的各个测试衬垫区进行了调整，将测试衬垫区中金属层的覆盖面积变小，且将金属层按照预定图案设置，使得整个液晶盒检测区域中的段差变低，液晶偏转对应的偏差均控制在预定范围内，虽然还是会存在偏差，但在偏差值较为一致的情况下，就会改善l0垂直黑线、 v-block现象、垂直线mura等问题，增加了良率和可出货率，降低了降级率和废品率。
45.本公开实施例还提供了一种电子设备，其包括本公开上述实施例中的显示面板，该显示面板包括：
46.多个液晶盒检测区域1，液晶盒检测区域包括多个测试衬垫区2；测试衬垫区包括：导电层3和金属层4；导电层位于测试衬垫区的顶层，用于接收测试电压；金属层设置在导电
层的覆盖范围内，金属层按照预定图案设置，金属层的覆盖面积小于导电层的覆盖面积，以使得测试衬垫区内存在未被金属层覆盖的区域，其中，预定图案用于使得液晶偏转对应的偏差控制在预定范围内。
47.上述测试衬垫区通过与金属层同层的金属引线6连接至预定信号线，例如数据信号线、扫描信号线等，进而在接收到来自ct针的测试电压后，能够通过导电层将电压传至金属层，进而供给至不同的测试线，来检测显示面板是否为无瑕疵的显示面板。上述金属引线与金属层同层，因此，与金属层采用相同材料。
48.上述金属层设置在玻璃基板上，金属层与导电层之间设置有绝缘层，金属层与导电层通过过孔5连接。上述金属层4为栅极层，导电层3为像素电极层，例如氧化铟锡(ito)，对于绝缘层，根据工艺的不同，绝缘层可以有一层或多层，此处不构成限定；对于过孔，其大小和数量也仅为一种示意，只要满足导通电阻需求即可。
49.对于预定图案，其还可以是凸字形、口字形、回字形、一字形、多个一字按照预定间隔在横向或纵向上排布对应的图形等任何金属覆盖面积小于导电层覆盖面积的图案，只要能够尽可能的保证液晶偏转对应的偏差控制在预定范围内即可，当然，图形越规整，液晶偏转对应的偏差就越一致。
50.在预定图案为多个一字按照预定间隔在横向或纵向上排布对应的图形时，各个一字上设置的过孔按照预定规则排布，以使得图案更加规整，利于实现液晶偏转对应的偏差的均一性。例如液晶偏转对应的偏差所在预定范围为3 度-5度，则在图案更加规整后，偏差都可以控制在3度、4度或5度某一个值上，当然，该数值较为极端，真正实现在显示面板上只要能够避免l0垂直黑线、v-block现象、垂直线mura等问题即可，其在某一个偏差度数上上下浮动零点几度显示面板看到的仍然是没有问题的状态。
51.本公开实施例的显示面板还包括设置在覆晶薄膜区域和液晶盒检测区域之外的显示区域、与液晶盒检测区域1相邻设置的覆晶薄膜区域，相邻的覆晶薄膜区域之间设置有液晶盒检测区域，根据液晶盒检测区域所在位置不同，每个液晶盒检测区域包括的测试衬垫区的数量也可以不同。
52.对于显示面板，其显示区域还可以包括显示像素层、驱动电路层等，显示像素层包括像素界定层，驱动电路层用于设置显示像素层，驱动电路层可以包括栅极、源极、漏极、数据信号线、扫描信号线等布线，具体显示面板结构可以根据实际需求进行设置，此处不进行赘述。
53.本公开实施例将液晶盒检测区域的各个测试衬垫区进行了调整，将测试衬垫区中金属层的覆盖面积变小，且将金属层按照预定图案设置，使得整个液晶盒检测区域中的段差变低，液晶偏转对应的偏差均控制在预定范围内，虽然还是会存在偏差，但在偏差值较为一致的情况下，就会改善l0垂直黑线、v-block现象、垂直线mura等问题，增加了良率和可出货率，降低了降级率和废品率。
54.此外，尽管已经在本文中描述了示例性实施例，其范围包括任何和所有基于本公开的具有等同元件、修改、省略、组合(例如，各种实施例交叉的方案)、改编或改变的实施例。权利要求书中的元件将被基于权利要求中采用的语言宽泛地解释，并不限于在本说明书中或本技术的实施期间所描述的示例，其示例将被解释为非排他性的。因此，本说明书和示例旨在仅被认为是示例，真正的范围和精神由以下权利要求以及其等同物的全部范围所
指示。
55.以上描述旨在是说明性的而不是限制性的。例如，上述示例(或其一个或更多方案)可以彼此组合使用。例如本领域普通技术人员在阅读上述描述时可以使用其它实施例。另外，在上述具体实施方式中，各种特征可以被分组在一起以简单化本公开。这不应解释为一种不要求保护的公开的特征对于任一权利要求是必要的意图。相反，本公开的主题可以少于特定的公开的实施例的全部特征。从而，以下权利要求书作为示例或实施例在此并入具体实施方式中，其中每个权利要求独立地作为单独的实施例，并且考虑这些实施例可以以各种组合或排列彼此组合。本公开的范围应参照所附权利要求以及这些权利要求赋权的等同形式的全部范围来确定。
56.以上对本公开多个实施例进行了详细说明，但本公开不限于这些具体的实施例，本领域技术人员在本公开构思的基础上，能够做出多种变型和修改实施例，这些变型和修改都应落入本公开所要求保护的范围之内。

技术特征：

1.一种显示面板，其特征在于，包括：多个液晶盒检测区域，所述液晶盒检测区域包括多个测试衬垫区；所述测试衬垫区至少包括：导电层和金属层；所述导电层位于所述测试衬垫区的顶层，用于接收测试电压；所述金属层设置在所述导电层的覆盖范围内，所述金属层按照预定图案设置，所述金属层的覆盖面积小于所述导电层的覆盖面积，以使得所述测试衬垫区内存在未被金属层覆盖的区域，其中，所述预定图案用于使得液晶偏转对应的偏差控制在预定范围内。2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述金属层设置在玻璃基板上，所述金属层与所述导电层之间设置有绝缘层，所述金属层与所述导电层通过过孔连接。3.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述预定图案至少包括以下之一：凹字形、凸字形、口字形、回字形、一字形、多个一字按照预定间隔在横向或纵向上排布对应的图形。4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，在所述预定图案为多个一字按照预定间隔在横向或纵向上排布对应的图形时，各个所述一字上设置的过孔按照预定规则排布。5.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述金属层为栅极层，所述导电层为像素电极层。6.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述测试衬垫区通过与所述金属层同层的金属引线连接至预定信号线。7.如权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述预定信号线包括：数据信号线、扫描信号线。8.如权利要求1至7中任一项所述的显示面板，其特征在于，还包括：与液晶盒检测区域相邻设置的覆晶薄膜区域。9.如权利要求8所述的显示面板，其特征在于，还包括：设置在所述覆晶薄膜区域和所述液晶盒检测区域之外的显示区域。10.一种电子设备，其特征在于，包括：权利要求1至9中任一项所述的显示面板。

技术总结

本公开实施例提供了一种显示面板及电子设备，显示面板包括：多个液晶盒检测区域，液晶盒检测区域包括多个测试衬垫区；测试衬垫区至少包括：导电层和金属层；导电层位于测试衬垫区的顶层，用于接收测试电压；金属层设置在导电层的覆盖范围内，金属层按照预定图案设置，金属层的覆盖面积小于导电层的覆盖面积，以使得测试衬垫区内存在未被金属层覆盖的区域，其中，预定图案用于使得液晶偏转对应的偏差控制在预定范围内。本公开实施例将液晶盒检测区域的各个测试衬垫区进行了调整，将测试衬垫区中金属层的覆盖面积变小，且将金属层按照预定图案设置，使得整个液晶盒检测区域中的段差变低，增加了良率和可出货率，降低了降级率和废品率。品率。品率。