内存测试方法、系统及计算机可读存储介质与流程

1.本发明涉及内存测试技术领域，尤其涉及一种内存测试方法、系统及计算机可读存储介质。

背景技术：

2.目前，内存(内存储器)和固态硬盘广泛应用于电脑、手机、服务器、智能汽车等产品设备。内存和固态硬盘是数据处理、数据存储的关键部件，其可靠性至关重要。同时，dram(dynamic random access memory，动态随机存取存储器)、3dnandflash(nand闪存)等存储介质，是用于研发内存、固态硬盘的关键器件。这些介质在物理特性上都存在较高的离散性故障失效比例。因此，研发内存、固态硬盘产品时，都会在研发生产的测试环节中进行严格的筛选测试，以此将不符合要求的失效品筛选出来。
3.相关技术中，常将生产好的成品插入主板上，通过运行预设的测试数据来触发故障的发生，进而实现筛选的目的。然而，由于对存储介质容量、密度，降低功耗等需求的不断提高，其制作工艺也更为复杂，这样的测试方式带来越来越多的随机性和不确定性，难以筛选出深层次的故障。

技术实现要素：

4.以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
5.本发明实施例提供了一种内存测试方法、系统及计算机可读存储介质，通过对接口时序、温度以及工作电压进行联合控制，以实现对存储介质的深层次故障的检测。同时，也能够更真实地模拟在实际使用过程中可能遇到的临界情况。
6.第一方面，本发明实施例提供了一种内存测试方法，该方法包括：
7.根据预设条件调节被测内存储器的测试加速因子，所述测试加速因子包括温度、工作电压和接口时序；
8.将预设测试数据输入所述被测内存储器，所述预设测试数据用于测试所述被测内存储器的物理结构在所述测试加速因子影响下是否正常工作；
9.获得所述被测内存储器的实际测试数据；
10.当所述实际测试数据与所述预设测试数据一致，确定测试通过；
11.根据所述实际测试数据建立质量多维近似模型。
12.在一些实施例中，所述获得所述被测内存储器的实际测试数据，包括：根据预设间隔多次获取所述实时测试数据；根据多个所述实时测试数据，得到所述实际测试数据。
13.在一些实施例中，所述获得所述被测内存储器的实际测试数据，包括：根据预设时间节点单次测得所述实际测试数据。
14.在一些实施例中，所述方法还包括：当所述实际测试数据与所述预设测试数据不一致，确定测试不通过。
15.在一些实施例中，所述方法还包括：当确定测试不通过，更换所述预设测试数据并对所述被测内存储器进行测试。
16.在一些实施例中，所述方法还包括：当确定测试不通过，将所述被测内存储器标记为失效品。
17.在一些实施例中，所述方法还包括：在完成测试后，将当前的所述预设测试数据与测试结果进行存储记录。
18.在一些实施例中，在所述将当前的预设测试数据进行存储记录之后，还包括：获得所述被测内存储器的型号数据；根据所述型号数据、多个所述预设测试数据与相对应的所述测试结果，得到所述型号数据对应的最优测试数据。
19.在一些实施例中，所述方法还包括：建立所述测试加速因子、所述型号数据、所述预设测试数据以及所述最优测试数据之间的映射关系。
20.在一些实施例中，所述根据预设条件调节被测内存储器的测试加速因子，具体为：根据预设条件调节被测内存储器的测试加速因子中的一种或多种。
21.第二方面，本发明实施例提供了一种内存测试系统，包括：
22.调节模块，用于对被测内存储器的测试加速因子进行调节，所述测试加速因子包括温度、工作电压和接口时序；
23.写入模块，用于将预设测试数据输入所述被测内存储器，所述预设测试数据用于测试所述被测内存储器的物理结构在所述测试加速因子影响下是否正常工作；
24.读取模块，用于获得所述被测内存储器的实际测试数据；
25.判断模块，用于判断所述实际测试数据与所述预设测试数据是否一致，当所述实际测试数据与所述预设测试数据一致，确定测试通过；
26.建模模块，用于根据所述实际测试数据建立质量多维近似模型。
27.第三方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现如上述第一方面的内存测试方法。
28.本发明实施例包括：将温度、工作电压以及接口时序作为被测内存储器的测试加速因子，然后根据预设条件来调节被测内存储器的测试加速因子。在设置好测试加速因子后，将预设测试数据输入被测内存储器中，而在不同的测试加速因子的组合作用下，预设测试数据在实际检测过程中可能会发生改变，因此在输入预设测试数据之后并进行检测之后，需要从被测内存储器中读取实际测试数据，并将实际测试数据与预设测试数据进行比较，当判断得知实际测试数据与预设测试数据一致时，确定测试通过。根据本发明实施例提供的方案，通过改变被测内存储器的工作环境，以便在多种测试加速因子的不同组合的状态下对内存储器进行测试，从而检测被测内存储器的物理结构在当前工作环境下是否能够正常工作，最终根据实际测试数据建立质量多维近似模型。本发明中扩展了测试过程中的可调节的外部因素，更有利于激发出深层次的故障模式，为内存储器的设计提供更广泛的思路。
29.本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
30.附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。
31.图1是本发明实施例提供的内存测试方法的流程图；
32.图2是本发明实施例提供的多次获取实际测试数据的流程图；
33.图3是本发明实施例提供的单次获取实际测试数据的流程图；
34.图4是本发明实施例提供的确定最优测试数据的流程图；
35.图5是本发明实施例提供的内存测试系统的模块框图。
具体实施方式
36.为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
37.需要说明的是，虽然在模块示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于模块中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。
38.本发明实施例描述的内存测试方法以及应用场景是为了更加清楚的说明本发明实施例的技术方案，并不构成对于本发明实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着内存测试领域的演变和新应用场景的出现，本发明实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
39.如图1所示，图1是本发明实施例提供的内存测试方法的流程图。可以理解的是，本发明提出了一种内存测试方法，包括但不限于有步骤s100，步骤s200，步骤s300、步骤s400以及步骤s500。
40.步骤s100，根据预设条件调节被测内存储器的测试加速因子，测试加速因子包括温度、工作电压和接口时序。
41.步骤s200，将预设测试数据输入被测内存储器，预设测试数据用于测试被测内存储器的物理结构在测试加速因子影响下是否正常工作。
42.步骤s300，获得被测内存储器的实际测试数据。
43.步骤s400，当实际测试数据与预设测试数据一致，确定测试通过。
44.步骤s500，根据实际测试数据建立质量多维近似模型。
45.可以理解的是，本发明在对内存储器进行测试的过程中，首先需要执行步骤s100，根据预设条件来调节被测内存储器的测试加速因子，其中，测试加速因子包括但不限于有温度、工作电压以及接口时序。在设置好测试加速因子后，执行步骤s200，将预设测试数据输入被测内存储器中。而在不同的测试加速因子的组合作用下，预设测试数据在实际检测过程中可能会发生改变，因此在输入预设测试数据之后并进行检测之后，需要执行步骤s300至步骤s400，从被测内存储器中读取实际测试数据，并将实际测试数据与预设测试数据进行比较，当判断得知实际测试数据与预设测试数据一致时，才能够确定测试通过。最后执行步骤s500，根据实际测试数据建立质量多维近似模型。
46.可以理解的是，当执行完步骤s100至步骤s500之后，可以根据实际的测试需求，重
新执行步骤s100，并依次执行步骤s200至步骤s500，以对内存储器进行多次测试，本发明对此不作具体限定。
47.需要说明的是，预设测试数据的作用是用于判断被输入的地址空间的物理结构是否能够正常工作，即判定内存储器能否正常工作。在本发明提出的内存测试方法中，通过改变被测内存储器的工作环境，即，在多种测试加速因子的不同组合的状态下对内存储器进行测试，从而检测被测内存储器的物理结构在当前工作环境下是否能够正常工作。本发明中通过在测试过程中整合了多种外部的测试加速因子，扩展了测试过程中的可调节的外部因素，在测试过程中能够灵活地联合调节内存储器的工作环境，而通过施加外部的测试加速因子，也能够有效触发潜在质量缺陷问题，更有利于激发出深层次的故障模式，提高了测试效率和缺陷检出率。同时也建立了产品的质量多维近似模型，该模型可以根据多次测试结果反复迭代更新，并用于指导后续测试，以提高效率和精准度。
48.需要说明的是，内存储器的工作环境中的每一个参数，都有其能够正常工作的范围，例如工作温度的范围可能是-40℃至85℃。如果超出该范围，则内存储器在工作中可能会出现大量故障。这些故障有可能是潜在的薄弱点，也有可能是内存储器的正常性能。因此，在对内存储器进行测试的过程中，通常会将测试加速因子的设置适当超出一定的范围，从而检测出触发故障的边界条件。
49.需要说明的是，在调节被测内存储器的测试加速因子的时候，由于测试加速因子至少包括温度、工作电压和接口时序，因此在调节时，可以根据实际需求来调节多种测试加速因子中的一个或多个。
50.如图2所示，图2是本发明实施例提供的多次获取实际测试数据的流程图。可以理解的是，在步骤s300中，具体包括但不限于有步骤s310和步骤s320。
51.步骤s310，根据预设间隔多次获取实时测试数据。
52.步骤s320，根据多个实时测试数据，得到实际测试数据。
53.可以理解的是，在实际对内存储器进行测试的过程中，由于需求的不同，可以选择不同的数据获取方式，在本实施例中，根据预设间隔多次获取实施测试数据，并将多个实时测试数据进行求平均值处理，从而得到实际测试数据。这样多次获取实时测试数据并求平均值的做法，能够提高测试的容错率。
54.如图3所示，图3是本发明实施例提供的单次获取实际测试数据的流程图。可以理解的是，在步骤s300中，还包括但不限于有步骤s330。
55.步骤s330，根据预设时间节点单次测得实际测试数据。
56.可以理解的是，在除了多次获取实时测试数据并求平均值的方式以外，还可以根据实际需求直接在预设时间节点进行检测，这样的设计，能够针对在测试过程中某个特定的时间节点产生的特殊情况进行检测。需要说明的是，在实际对内存储器进行检测的过程中，获取到的实际测试数据只需能够满足对被测内存储器的物理结构在测试加速因子影响下是否正常工作这一内容进行测试即可，本发明不对实际测试数据的具体获取方式做限定。
57.需要说明的是，当在步骤s300中获取到的实际测试数据与预设测试数据不一致时，确定测试不通过。当测试不通过时，可以根据实际需求更换预设测试数据或改变测试加速因子，并对内存储器再次进行测试，或者直接将该内存储器标记为不符合要求的失效品。
通过改变内存储器的工作环境，即，改变内存储器的接口时序、温度以及工作电压等测试加速因子，能够更加真实地模拟在各种使用环境下，内存储器可能会遇到的极端情形，在这些极端情形下获取到的测试数据，也能够为内存储器的设计带来更好的思路，以及给使用者提供更灵活的使用方法，也为算法的开发提供更好的支持。
58.需要说明的是，在完成测试后，系统会将当前写入被测内存储器的预设测试数据以及相应的测试结果进行存储记录，以便管理人员调用查看。
59.如图4所示，图4是本发明实施例提供的确定最优测试数据的流程图。可以理解的是，在将当前写入被测内存储器的预设测试数据以及相应的测试结果进行存储记录之后，本方法还包括但不限于有步骤s510和步骤s520。
60.步骤s510，获得被测内存储器的型号数据。
61.步骤s520，根据型号数据、多个预设测试数据与相对应的测试结果，得到型号数据对应的最优测试数据。
62.可以理解的是，输入的预设测试数据不同，输出的结果可能也不相同；而针对不同型号的内存储器或者不同批次的内存储器，其对应的最优测试数据可能也不相同。因此，在测试之后，需要执行步骤s510和步骤s520，获得被测内存储器的型号数据，并且根据型号数据、该内存储器在测试过程中使用过的多个预设测试数据以及相应的测试结果，得到该型号批次的内存储器对应的最优测试数据。
63.需要说明的是，由于在测试加速因子的值发生改变的情况下，内存储器的测试结果也可能会发生改变，因此，还需要建立测试加速因子、型号数据、预设测试数据以及最优测试数据之间的映射关系，从而便于设计人员判断该内存储器的工作环境范围。
64.如图5所示，图5是本发明实施例提供的内存测试系统的模块框图。可以理解的是，本发明还提出了一种内存测试系统100，该内存测试系统100包括但不限于有调节模块110、写入模块120、读取模块130、判断模块140以及建模模块150。其中，调节模块110用于对被测内存储器的测试加速因子进行调节，测试加速因子包括温度、工作电压和接口时序；写入模块120，用于将预设测试数据输入被测内存储器，预设测试数据用于测试被测内存储器的物理结构在测试加速因子影响下是否正常工作；读取模块130，用于获得被测内存储器的实际测试数据；判断模块140，用于判断实际测试数据与预设测试数据是否一致，当实际测试数据与预设测试数据一致，确定测试通过；建模模块150，用于根据实际测试数据建立质量多维近似模型。在本发明提出的内存测试系统100中，在测试主板上封装有器件接口时序调节装置、工作电压调节装置和温度调节装置(即调节模块110)，并将接口时序、工作电压以及温度来作为测试加速因子，从而进行测试。本发明提出的内存测试系统100，通过改变被测内存储器的工作环境，以便在多种测试加速因子的不同组合的状态下对内存储器进行测试，从而检测被测内存储器的物理结构在当前工作环境下是否能够正常工作，最终通过建模模块150来建立质量多维近似模型。本发明中扩展了测试过程中的可调节的外部因素，更有利于激发出深层次的故障模式。
65.需要说明的是，该内存测试系统100还可以包括终端设备和http服务器。该内存测试系统100包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如上述实施例中的内存测试方法。
66.存储器作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序以及非
暂态性计算机可执行程序，如本发明上述实施例中的内存测试方法。处理器通过运行存储在存储器中的非暂态软件程序以及指令，从而实现上述本发明上述实施例中的内存测试方法。
67.存储器可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储执行上述实施例中的内存测试方法所需的数据等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。需要说明的是，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至该终端。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
68.实现上述实施例中的内存测试方法所需的非暂态软件程序以及指令存储在存储器中，当被一个或者多个处理器执行时，执行上述实施例中的内存测试方法，例如，执行以上描述的图1中的方法步骤s100至步骤s500、图2中的方法步骤s310至步骤s320、图3中的方法步骤s330、图4中的方法步骤s510至步骤s520中的至少一种。
69.本发明还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令用于使计算机执行如上述实施例中的内存测试方法，例如，执行以上描述的图1中的方法步骤s100至步骤s500、图2中的方法步骤s310至步骤s320、图3中的方法步骤s330、图4中的方法步骤s510至步骤s520中的至少一种。
70.以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
71.本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于ram、rom、eeprom、闪存或其他存储器技术、cd-rom、数字多功能盘(dvd)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
72.上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，本发明不限于上述实施例，在技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。

技术特征：

1.一种内存测试方法，其特征在于，包括：根据预设条件调节被测内存储器的测试加速因子，所述测试加速因子包括温度、工作电压和接口时序；将预设测试数据输入所述被测内存储器，所述预设测试数据用于测试所述被测内存储器的物理结构在所述测试加速因子影响下是否正常工作；获得所述被测内存储器的实际测试数据；当所述实际测试数据与所述预设测试数据一致，确定测试通过；根据所述实际测试数据建立质量多维近似模型。2.根据权利要求1所述的内存测试方法，其特征在于，所述获得所述被测内存储器的实际测试数据，包括：根据预设间隔多次获取所述实时测试数据；根据多个所述实时测试数据，得到所述实际测试数据。3.根据权利要求1所述的内存测试方法，其特征在于，所述获得所述被测内存储器的实际测试数据，包括：根据预设时间节点单次测得所述实际测试数据。4.根据权利要求1所述的内存测试方法，其特征在于，所述方法还包括：当所述实际测试数据与所述预设测试数据不一致，确定测试不通过。5.根据权利要求4所述的内存测试方法，其特征在于，所述方法还包括：当确定测试不通过，更换所述预设测试数据并对所述被测内存储器进行测试。6.根据权利要求4所述的内存测试方法，其特征在于，所述方法还包括：当确定测试不通过，将所述被测内存储器标记为失效品。7.根据权利要求5所述的内存测试方法，其特征在于，所述方法还包括：在完成测试后，将当前的所述预设测试数据与测试结果进行存储记录。8.根据权利要求7所述的内存测试方法，其特征在于，在所述将当前的预设测试数据进行存储记录之后，还包括：获得所述被测内存储器的型号数据；根据所述型号数据、多个所述预设测试数据与相对应的所述测试结果，得到所述型号数据对应的最优测试数据。9.根据权利要求8所述的内存测试方法，其特征在于，所述方法还包括：建立所述测试加速因子、所述型号数据、所述预设测试数据以及所述最优测试数据之间的映射关系。10.根据权利要求9所述的内存测试方法，其特征在于，所述根据预设条件调节被测内存储器的测试加速因子，具体为：根据预设条件调节被测内存储器的测试加速因子中的一种或多种。11.一种内存测试系统，其特征在于，包括：调节模块，用于对被测内存储器的测试加速因子进行调节，所述测试加速因子包括温度、工作电压和接口时序；写入模块，用于将预设测试数据输入所述被测内存储器，所述预设测试数据用于测试所述被测内存储器的物理结构在所述测试加速因子影响下是否正常工作；
读取模块，用于获得所述被测内存储器的实际测试数据；判断模块，用于判断所述实际测试数据与所述预设测试数据是否一致，当所述实际测试数据与所述预设测试数据一致，确定测试通过；建模模块，用于根据所述实际测试数据建立质量多维近似模型。12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1至10中任意一项所述的内存测试方法。

技术总结

本发明提供了一种内存测试方法、系统及计算机可读存储介质，方法包括：根据预设条件调节被测内存储器的测试加速因子，测试加速因子包括温度、工作电压和接口时序等；将预设测试数据输入被测内存储器，预设测试数据用于测试被测内存储器的物理结构在测试加速因子影响下是否正常工作；获得被测内存储器的实际测试数据；当实际测试数据与预设测试数据一致，确定测试通过，并由此建立产品的质量多维近似模型。本发明通过改变被测内存储器的工作环境，在测试加速因子改变的状态下对内存储器进行测试，从而检测被测内存储器的物理结构在当前工作环境下是否能够正常工作，同时也扩展了测试过程中的可调节的外部因素，更有利于激发出深层次的故障模式。深层次的故障模式。深层次的故障模式。