首页 > 专利技术

乙酸铅染毒对TK6细胞DNA双链断裂损伤及修复的试验方法[发明专利]

专利名称：乙酸铅染毒对TK6细胞DNA双链断裂损伤及修复的试验方法

专利类型：发明专利

发明人：刘祥铨，韩银淑，夏小春，吴京颖

申请号：CN202210335290.X

申请日：20220331

公开号：CN114672534A

公开日：

20220628

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明属于生物医学技术领域，公开了一种乙酸铅染毒对TK6细胞DNA双链断裂损伤及修复的试验方法，所述试验方法包括：利用乙酸铅染毒浓度TK6细胞，构建铅诱导TK6细胞遗传损伤模型，利用免疫荧光试验、Western‑Blot检测乙酸铅染毒后γ‑H2AX蛋白焦点形成，确定诱导TK6细胞DNA双链断裂蛋白标志物γ‑H2AX表达的乙酸铅最低浓度。本发明使用westernblot和免疫荧光两种方法检测不同浓度乙酸铅染毒后TK6细胞γ‑H2AX焦点形成情况，明确了随着铅染毒浓度增高，铅诱导TK6细胞γ‑H2AX的表达升高，呈现出明显的剂量依赖效应，证实乙酸铅染毒可导致TK6细胞的遗传损伤。

申请人：厦门医学院

地址：361023 福建省厦门市集美区灌口中路1999号

国籍：CN

代理机构：重庆金橙专利代理事务所(普通合伙)

代理人：唐健玲

本文发布于:2024-09-23 09:25:57，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://www.17tex.com/tex/3/459840.html

上一篇：一种多芯片上电复位电路[实用新型专利]

下一篇：屋顶可调节宠物屋[实用新型专利]