化学机械抛光系统[发明专利]

专利名称:化学机械抛光系统
专利类型:发明专利
发明人:许振杰,陈祥玉,王剑,庞伶伶,沈攀,王国栋,裴召辉,陈映松,赵德文,王同庆,李昆,路新春
申请号:CN201780003705.0
申请日:20170913
公开号:CN108698193A
公开日:
20181023
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:一种化学机械抛光系统,包括:前端模块(101),所述前端模块用于存储和/或检测晶圆;多个抛光单元(102,103,104,105),多个所述抛光单元并排设置,且至少一个邻近所述前端模块;抛光机械手(107,109),所述抛光机械手设在多个所述抛光单元之间用以传递晶圆;后清洗单元(108,110),所述后清洗单元与所述抛光单元和所述前端模块均相连,且设置为清洗时晶圆纵置;中转机械手(408),所述中转机械手用于将晶圆在所述抛光单元与所述后清洗单元之间顺次传递。化学机械抛光系统生产效率高,工艺流程更加灵活,清洗效果更好,且后清洗单元的体积小,结构紧凑。
申请人:清华大学,天津华海清科机电科技有限公司
地址:100084 北京市海淀区清华园
国籍:CN
代理机构:北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人:黄德海

本文发布于:2024-09-22 17:19:27,感谢您对本站的认可!

本文链接:https://www.17tex.com/tex/3/434212.html

版权声明:本站内容均来自互联网,仅供演示用,请勿用于商业和其他非法用途。如果侵犯了您的权益请与我们联系,我们将在24小时内删除。

标签:单元   抛光   清洗   化学   知识产权   系统
留言与评论(共有 0 条评论)
   
验证码:
Copyright ©2019-2024 Comsenz Inc.Powered by © 易纺专利技术学习网 豫ICP备2022007602号 豫公网安备41160202000603 站长QQ:729038198 关于我们 投诉建议