基于全粒度单元的物料分析方法、系统、设备及介质与流程

1.本发明涉及计算机领域，尤其涉及一种基于全粒度单元的物料分析方法、系统、设备及介质。

背景技术：

2.目前国内外针对尾矿废石处理过程中的粒度分级及监测的主要方法包括传统风选方法、磁选方法、浮选方法等方式的分级复选，或协同复选工艺监测方法。然而现有的工艺监测方法的范围小、多数处于离线监测状态，难以实现全粒度连续在线监测和数据共享，从而导致了粒度数据的时效性差，物料处理效率低。

技术实现要素：

3.本发明提供一种基于全粒度单元的物料分析方法、系统、设备及介质，旨在保证物料粒度数据时效性的同时，提高物料处理效率。
4.第一方面，本发明提供一种基于全粒度单元的物料分析方法，所述全粒度单元包括振动筛和粒度分析仪；
5.所述基于全粒度单元的物料分析方法，包括：
6.基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量；
7.基于所述粒度分析仪对所述待处理物料经过所述振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到所述物料粉料的粒度数据；
8.基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析。
9.在一个实施例中，所述基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量，包括：
10.基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值，确定所述振动筛中每一个筛层的最小粒径值；
11.将所述待处理物料中小于或者等于每一个筛层的最小粒径值的物料过滤到下一个筛层；
12.将所述待处理物料中大于每一个筛层的最小粒径值的物料保留在每一个筛层，得到所述振动筛中每一个筛层的筛余量。
13.所述基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析，包括：
14.基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和每一个筛层的最小粒径值，确定所述待处理物料的第一粒径分布，并基于所述物料粉料的粒度数据，确定所述待处理物料的第二粒径分布；
15.基于所述第一粒径分布和所述第二粒径分布，确定所述待处理物料的粒度分布曲
线。
16.所述振动筛的最小筛值是基于所述粒度分析仪确定的，具体步骤包括：
17.确定所述粒度分析仪的测量量程，并基于所述测量量程确定所述振动筛中最后一个筛层的最小筛值。
18.所述确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量的过程，还包括：
19.若所述全粒度单元为单个全粒度单元，则基于所述单个全粒度单元中的单个振动筛，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量。
20.若所述全粒度单元为联动全粒度单元，则基于所述联动全粒度单元中的所有振动筛，确定所有振动筛中同一筛层的筛余量。
21.所述基于所述联动全粒度单元中的所有振动筛，确定所有振动筛中同一筛层的筛余量，包括：
22.确定联动全粒度单元中所有振动筛的同一筛层的筛余统计量；
23.根据所有振动筛的同一筛层的筛余统计量、数据采集时间、传输中物料的密度与截面积以及物料传输速度，计算所有振动筛的同一筛层的筛余平均量；
24.将所有振动筛的同一筛层的筛余平均量，确定为联动全粒度单元中所有振动筛的同一筛层的筛余量。
25.确定所述联动全粒度单元的组合联动方式，包括：
26.基于所述数据采集时间、所述传输中物料的密度与截面积、所述物料传输速度以及所述联动全粒度单元的取样时间间隔、单元数量、单次监测时间和物料处理能力，确定所述联动全粒度单元的组合联动方式。
27.第二方面，本发明提供一种基于全粒度单元的物料分析系统，所述全粒度单元包括振动筛和粒度分析仪；
28.所述基于全粒度单元的物料分析系统，包括：
29.筛选模块，用于基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量；
30.处理模块，用于基于所述粒度分析仪对所述待处理物料经过所述振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到所述物料粉料的粒度数据；
31.分析模块，用于基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析。
32.第三方面，本发明还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现第一方面所述基于全粒度单元的物料分析方法。
33.第四方面，本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质包括计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现第一方面所述基于全粒度单元的物料分析方法。
34.第五方面，本发明还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现第一方面所述基于全粒度单元的物料分析方法。
35.本发明提供的基于全粒度单元的物料分析方法、系统、设备及介质，基于振动筛的
最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定振动筛中每一个筛层的筛余量；基于粒度分析仪对待处理物料经过振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到物料粉料的粒度数据；基于振动筛中每一个筛层的筛余量和物料粉料的粒度数据，对待处理物料进行全粒度分析。在基于全粒度单元的物料分析的过程中，通过振动筛协同粒度分析仪的全粒度单元对物料处理过程进行实时连续全粒度在线监测，从而可以随时监测物料处理过程的粒度变化，保证了物料粒度数据时效性的同时，提高了物料处理效率。
附图说明
36.为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
37.图1是本发明提供的基于全粒度单元的物料分析方法的流程图；
38.图2是本发明提供的粒度分布曲线示意图之一；
39.图3是本发明提供的粒度分布曲线示意图之二；
40.图4是本发明提供的粒度分布曲线示意图之三；
41.图5是本发明提供的基于全粒度单元的物料分析系统的结构图；
42.图6是本发明提供的电子设备的结构图。
具体实施方式
43.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
44.结合图1至图6描述本发明提供的基于全粒度单元的物料分析方法、系统、设备及介质。图1是本发明提供的基于全粒度单元的物料分析方法的流程图；图2是本发明提供的粒度分布曲线示意图之一；图3是本发明提供的粒度分布曲线示意图之二；图4是本发明提供的粒度分布曲线示意图之三；图5是本发明提供的基于全粒度单元的物料分析系统的结构图；图6是本发明提供的电子设备的结构图。
45.本发明实施例提供了基于全粒度单元的物料分析方法的实施例，需要说明的是，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些数据下，可以以不同于此处的顺序完成所示出或描述的步骤。
46.本发明实施例以物料分析系统为执行主体，但并不限制。如图1，图1是本发明提供的基于全粒度单元的物料分析方法的流程图。本发明实施例提供的基于全粒度单元的物料分析方法包括：
47.步骤101，基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量；
48.需要说明的是，本发明实施例中的全粒度单元可以理解为全粒度监测单元，全粒度监测单元中至少包括振动筛和粒度分析仪，在一实施例中，振动筛为超声波振动筛，粒度
分析仪为激光粒度分析仪。进一步地，本发明实施例中的物料分析系统中可以包括一个全粒度监测单元，也可以包括多个全粒度监测单元，多个全粒度监测单元即为监测单元联动，如二联动、三联动和多联动。
49.进一步地，本发明实施例中的待处理物料主要是针对尾矿物料或废石物料的浆料、干料或半干料，物料粒径一般控制在25mm(毫米)以下。为了方便采取待处理物料，待处理物料的取样点一般设立在续生产管线的关键部位，例如，破碎设备出口附近或磨机进料口前端和出料口后端等，取样为自动在线取样。
50.进一步地，对于单个全粒度监测单元，物料分析系统首先确定该单个全粒度监测单元中超声波振动筛的最小筛值和最大筛值，然后通过超声波振动筛的最小筛值和最大筛值自主设计多种帅选分级组合。进一步地，物料分析系统通过多种帅选分级组合的超声波振动筛对采集到的待处理物料进行筛选，得到超声波振动筛中每一个筛层的筛余量，其中，筛余量是指待处理物料经过筛选后，筛层上残留物的重量。
51.步骤102，基于所述粒度分析仪对所述待处理物料经过所述振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到所述物料粉料的粒度数据；
52.步骤103，基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析。
53.在通过超声波振动筛对待处理物料帅选的过程中，待处理物料中粒径较大的物料已经保留在了超声波振动筛的每一个筛层中，因此，待处理物料经过超声波振动筛后，得到粒径较小的物料粉料。
54.进一步地，激光粒度分析仪对待处理物料经过超声波振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到物料粉料的粒度数据，其中，粒度数据中包括了各个粒径物料的百分比。
55.进一步地，物料分析系统根据该单个全粒度监测单元中超声波振动筛中每一个筛层的筛余量，以及激光粒度分析仪分析得到的物料粉料的粒度数据，生成待处理物料的粒度分布曲线，完成对待处理物料进行全粒度分析。需要说明的是，超声波振动筛实时在线对待处理物料进行筛选，激光粒度分析仪实时在线对物料粉料进行分析，因此，通过超声波振动筛和激光粒度分析仪对物料进行实时在线监测。
56.本发明提供的基于全粒度单元的物料分析方法，基于振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定振动筛中每一个筛层的筛余量；基于粒度分析仪对待处理物料经过振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到物料粉料的粒度数据；基于振动筛中每一个筛层的筛余量和物料粉料的粒度数据，对待处理物料进行全粒度分析。
57.在基于全粒度单元的物料分析的过程中，通过振动筛协同粒度分析仪的全粒度单元对物料处理过程进行实时连续全粒度在线监测，从而可以随时监测物料处理过程的粒度变化，保证了物料粒度数据时效性的同时，提高了物料处理效率。
58.进一步地，步骤101记载的振动筛的最小筛值是基于粒度分析仪确定的，具体分析如下：
59.确定所述粒度分析仪的测量量程，并基于所述测量量程确定所述振动筛中最后一个筛层的最小筛值。
60.需要说明的是，超声波振动筛对待处理物料筛选后，筛下的物料粉料的粒径应不超过激光粒度分析仪的准确测量量程。因此，物料分析系统需要确定激光粒度分析仪的测
量量程，其中，测量量程也即激光粒度分析仪能够分析的最大粒径。进一步地，物料分析系统根据测量量程确定超声波振动筛中最后一个筛层的最小筛值。
61.在一实施例中，激光粒度分析仪的测量量程为0.3mm，则超声波振动筛中最后一个筛层的最小筛值为0.3mm，即通过超声波振动筛后，将粒径小于0.3mm的物料料粉过滤到激光粒度分析仪中。
62.本发明实施例通过粒度分析仪的测量量程准确地确定出振动筛中最后一个筛层的最小筛值，从而能够准确地对待处理物料进行筛选，保证了待处理物料全粒度分析的准确性，提高了物料处理效率。
63.进一步地，步骤101基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量，包括：
64.基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值，确定所述振动筛中每一个筛层的最小粒径值；
65.将所述待处理物料中小于或者等于每一个筛层的最小粒径值的物料过滤到下一个筛层；
66.将所述待处理物料中大于每一个筛层的最小粒径值的物料保留在每一个筛层，得到所述振动筛中每一个筛层的筛余量。
67.具体地，物料分析系统确定超声波振动筛的最小筛值和最大筛值，根据超声波振动筛的最小筛值和最大筛值设计多种帅选分级组合，即根据超声波振动筛的最小筛值和最大筛值设计筛层的层数以及每一个筛层的筛网粒径范围。
68.在一实施例中，超声波振动筛的最小筛值为0.15mm，最大筛值为4.75mm，那么可以设计超声波振动筛的筛层的层数为6层，第一层筛层的筛网粒径范围为大于4.75mm，第二层筛层的筛网粒径范围为2.36-4.75mm，第三层筛层的筛网粒径范围为1.18-2.36mm，第四层筛层的筛网粒径范围为0.6-1.18mm，第五层筛层的筛网粒径范围为0.3-0.6mm，第六层筛层的筛网粒径范围为0.15-0.3mm。
69.进一步地，物料分析系统将待处理物料中小于或者等于每一个筛层的最小粒径值的物料过滤到下一个筛层，并将待处理物料中大于每一个筛层的最小粒径值的物料保留在每一个筛层，得到超声波振动筛中每一个筛层的筛余量。在上述实施例中，第一层筛层保留粒径大于4.75mm的物料，第二层筛层保留粒径为2.36-4.75mm的物料，第三层筛层保留粒径为1.18-2.36mm的物料，第四层筛层保留粒径为0.6-1.18mm的物料，第五层筛层保留粒径为0.3-0.6mm的物料，第六层筛层保留粒径为0.15-0.3mm的物料。
70.需要说明的是，超声波振动筛的筛分效率提高明显，单次处理物料需要的时间缩短，消除了物料团聚形成的假颗粒对筛分过程的影响，确保连续监测，超声波振动筛要根据物料的比重、每小时产量、所需的分级网目进行选择。
71.本发明实施例通过振动筛中每一个筛层的最小粒径值准确地对待处理物料进行筛选，确定出振动筛中每一个筛层的筛余量，保证了待处理物料全粒度分析的准确性，提高了物料处理效率。
72.进一步地，步骤102基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析，包括：
73.基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和每一个筛层的最小粒径值，确定所述待
处理物料的第一粒径分布，并基于所述物料粉料的粒度数据，确定所述待处理物料的第二粒径分布；
74.基于所述第一粒径分布和所述第二粒径分布，确定所述待处理物料的粒度分布曲线。
75.具体地，物料分析系统根据超声波振动筛中每一个筛层的筛余量和每一个筛层的最小粒径值，确定每一个筛层中大于最小粒径值的物料的筛余量占比，其中，筛余量占比为每一个筛层的筛余量与待处理物料总量的比值，得到待处理物料的第一粒径分布。
76.进一步地，物料分析系统根据物料粉料的粒度数据，其中，粒度数据中包括了各个粒径物料的百分比，确定待处理物料的第二粒径分布。进一步地，物料分析系统根据第一粒径分布和第二粒径分布，确定待处理物料的粒度分布曲线。
77.在一实施例中，第一层筛层的最小粒径值为4.75mm，筛余量占比为3％。第二层筛层保留粒径为2.36mm，筛余量占比为18.5％。第三层筛层保留粒径为1.18mm，筛余量占比为20.6％。第四层筛层保留粒径为0.6mm，筛余量占比为26.2％。第五层筛层保留粒径为0.3mm，筛余量占比为29.6％。因此，待处理物料的第一粒径分布如表1所示，表1为待处理物料的第一粒径分布表。
78.待处理物料的第一粒径分布表
[0079] 》4.75mm4.75-2.36mm2.36-1.18mm1.18-0.6mm0.6-0.3mm筛余占比量3％18.5％20.6％26.2％29.6％
[0080]
本发明实施例通过振动筛中每一个筛层的筛余量和度分析仪分析出的物料粉料的粒度数据准确地得到确定待处理物料的粒度分布曲线，从而通过振动筛协同粒度分析仪的全粒度单元对物料处理过程进行实时连续全粒度在线监测，从而可以随时监测物料处理过程的粒度变化，保证了物料粒度数据时效性的同时，提高了物料处理效率。
[0081]
进一步地，步骤101确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量的过程，还包括：
[0082]
若所述全粒度单元为单个全粒度单元，则基于所述单个全粒度单元中的单个振动筛，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量。
[0083]
若所述全粒度单元为联动全粒度单元，则基于所述联动全粒度单元中的所有振动筛，确定所有振动筛中同一筛层的筛余量。
[0084]
具体地，超声波振动筛中每一个筛层的筛余量是根据物料分析系统中粒度监测单元的数量来确定，即根据粒度监测单元是单个单元还是联动单元来确定。因此，确定超声波振动筛中每一个筛层的筛余量的过程，需要确定粒度监测单元是单个单元还是联动单元。
[0085]
对于粒度监测单元为单个全粒度单元，单个全粒度单元直接读取超声波振动筛中每一个筛层的筛余量，并将读取到的超声波振动筛中每一个筛层的筛余量，确定为超声波振动筛中每一个筛层的筛余量。
[0086]
对于粒度监测单元为联动全粒度单元，联动全粒度单元读取联动全粒度单元中的所有超声波振动筛的同一筛层的筛余量，然后将所有超声波振动筛的同一筛层的筛余量求算术平均值，得到联动全粒度单元中同一筛层的筛余量。
[0087]
本发明实施例根据全粒度单元为单个全粒度单元还是联动全粒度单元，准确地确定出振动筛中每一个筛层的筛余量，从而通过振动筛对物料处理过程进行实时连续全粒度在线监测，保证了物料粒度数据时效性的同时，提高了物料处理效率。
[0088]
进一步地，基于所述联动全粒度单元中的所有振动筛，确定所有振动筛中同一筛层的筛余量，包括：
[0089]
确定联动全粒度单元中所有振动筛的同一筛层的筛余统计量；
[0090]
根据所有振动筛的同一筛层的筛余统计量、数据采集时间、传输中物料的密度与截面积以及物料传输速度，计算所有振动筛的同一筛层的筛余平均量；
[0091]
将所有振动筛的同一筛层的筛余平均量，确定为联动全粒度单元中所有振动筛的同一筛层的筛余量。
[0092]
具体地，物料分析系统确定联动全粒度单元中所有超声波振动筛的同一筛层的筛余统计量。进一步地，物料分析系统根据所有超声波振动筛的同一筛层的筛余统计量、数据采集时间、传输中物料的密度与截面积以及物料传输速度，计算所有超声波振动筛的同一筛层的筛余平均量。最后，物料分析系统将所有超声波振动筛的同一筛层的筛余平均量，确定为联动全粒度单元中所有超声波振动筛的同一筛层的筛余量，具体的计算公式为：
[0093][0094]
其中，ηj为超声波振动筛某一筛层的筛余量，m1、m2至mk为不同粒度监测单元中超声波振动筛该层的筛余统计量(kg千克)，δt2为数据采集时间(s秒)，ρs为传输中物料的密度与截面积(kg/m)，v0为物料传输速度(m/s)。
[0095]
本发明实施例根据全粒度单元为单个全粒度单元还是联动全粒度单元，准确地确定出振动筛中每一个筛层的筛余量，从而通过振动筛对物料处理过程进行实时连续全粒度在线监测，保证了物料粒度数据时效性的同时，提高了物料处理效率。
[0096]
进一步地，本发明开创性设计多单元组合联动循环监测方式，对生产中的物料进行全时段连续全粒度在线监测，设置合适的取样点，通过多监测单元组合联动循环的方式实现同步连续取料和在线全粒度监测，完成数据采集和处理，实时掌握物料情况，方便对物料进行模数控制、精细分离和稳质调控。
[0097]
进一步地，确定所述联动全粒度单元的组合联动方式，包括：
[0098]
基于数据采集时间、传输中物料的密度与截面积、所述物料传输速度以及所述联动全粒度单元的取样时间间隔、单元数量、单次监测时间和物料处理能力，确定所述联动全粒度单元的组合联动方式。
[0099]
具体地，物料分析系统基于数据采集时间、传输中物料的密度与截面积、物料传输速度以及联动全粒度单元的取样时间间隔、单元数量、单次监测时间和物料处理能力，确定联动全粒度单元的组合联动方式，具体的约束条件为：
[0100]
v0ρs≤km且kδt1≥δt且δt2＝nδt
[0101]
其中，k为联动方式中涉及到的单元数量，δt为联动全粒度单元的单次监测时间(s)，δt1为取样时间间隔(s)，δt2为数据采集时间(s)，ρs为传输中物料的密度与截面积(kg/m)，v0为物料传输速度(m/s)，m物料处理能力(kg/s)。
[0102]
进一步地，为了清晰阐述本发明实施例，以废石物料为待处理物料，根据实际的几种应用场景进行举例说明，具体分析如下：
[0103]
第一应用场景：废石物料处理产线的物料传输速度为1.6m/s，物料松散密度1.5t/m3，监测取样点设置在物料管线后端平稳位置，设计取样管线截面积约0.002m2，超声波振动
筛的处理量为4t/h，单次处理时间1min，采用六联法进行测试，取样间隔30s，操作流程是每隔30s同步取料至超声波振动筛协同激光粒度分析仪进行粒径分布检测。超声波振动筛分5个筛层，安装标准方孔筛筛网，筛网孔径分别为4.75mm、2.36mm、1.18mm、0.6mm和0.3mm，激光粒度分析仪收集超声波振动筛的筛下细粉(《0.3mm)进行粒径分析，实现对物料的全时段连续在线监测，得到超声波振动筛各筛层的筛余量(％)如表2所示，表2为超声波振动筛各筛层的筛余量。最后得到的粒度分布曲线如图2所示，图2是本发明提供的粒度分布曲线示意图之一。
[0104]
超声波振动筛各筛层的筛余量
[0105] 》4.75mm4.75-2.36mm2.36-1.18mm1.18-0.6mm0.6-0.3mm1min(1#)318.520.626.229.64min(单循环)3.5172225.430.110min(平均)3.4182226.130
[0106]
实施案例二：废石物料处理产线的物料传输速度为1.2m/s，物料松散密度1.4t/m3，监测取样点设置在物料管线后端平稳位置，设计取样管线截面积约0.003m2，超声波振动筛的处理量为3t/h，单次处理时间2min，采用四联法进行测试，取样间隔2min，操作流程是每隔2min同步取料至超声波振动筛协同激光粒度分析仪进行粒径分布检测。超声波振动筛设置4个筛层，安装标准方孔筛筛网，筛网孔径分别为4.75mm、2.36mm、1.18mm和0.6mm，激光粒度分析仪收集超声波振动筛的筛下细粉(《0.6mm)，对其进行粒径分析，实现对物料的全时段连续在线监测，得到超声波振动筛各筛层的筛余量(％)如表3所示，表3为超声波振动筛各筛层的筛余量。最后得到的粒度分布曲线如图3所示，图3是本发明提供的粒度分布曲线示意图之二。
[0107]
超声波振动筛各筛层的筛余量
[0108] 》4.75mm4.75-2.36mm2.36-1.18mm1.18-0.6mm2min(1#)214.548.632.98min(单循环)2.213.848.933.620min(平均)2.114.350.133.1
[0109]
实施案例三：废石物料处理产线的物料传输速度为1.0m/s，物料松散密度1.2t/m3，监测取样点设置在物料管线后端平稳位置，设计取样管线截面积约0.002m2，超声波振动筛的处理量为3t/h，单次处理时间1min，采用二联法进行测试，取样间隔30s，操作流程是每隔30s同步取料至超声波振动筛协同激光粒度分析仪进行粒径分布检测。超声波振动筛设置4个筛层，安装标准方孔筛筛网，筛网孔径分别为4.75mm、2.36mm、1.18mm和0.30mm，激光粒度分析仪收集超声波振动筛的筛下细粉(《0.3mm)，对其进行粒径分析，实现对物料的全时段连续在线监测，得到超声波振动筛各筛层的筛余量(％)如表4所示，表4为超声波振动筛各筛层的筛余量。最后得到的粒度分布曲线如图4所示，图4是本发明提供的粒度分布曲线示意图之三。
[0110]
超声波振动筛各筛层的筛余量
[0111]
筛余量》4.75mm4.75-2.36mm2.36-1.18mm1.18-0.3mm1min(1#)518.631.841.9
2min(单循环)4.919.132.541.810min(平均)4.818.932.641.5
[0112]
进一步地，下对本发明提供的基于全粒度单元的物料分析系统进行描述，基于全粒度单元的物料分析系统与基于全粒度单元的物料分析方法可相互对应参照。
[0113]
如图5所示，图5是本发明提供的基于全粒度单元的物料分析系统的结构图，基于全粒度单元的物料分析系统，全粒度单元包括振动筛和粒度分析仪；基于全粒度单元的物料分析系统，包括：
[0114]
筛选模块501，用于基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量；
[0115]
处理模块502，用于基于所述粒度分析仪对待处理物料经过所述振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到所述物料粉料的粒度数据；
[0116]
分析模块503，用于基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析。
[0117]
进一步地，筛选模块501还用于：
[0118]
基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值，确定所述振动筛中每一个筛层的最小粒径值；
[0119]
将所述待处理物料中小于或者等于每一个筛层的最小粒径值的物料过滤到下一个筛层；
[0120]
将所述待处理物料中大于每一个筛层的最小粒径值的物料保留在每一个筛层，得到所述振动筛中每一个筛层的筛余量。
[0121]
进一步地，分析模块503还用于：
[0122]
基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和每一个筛层的最小粒径值，确定所述待处理物料的第一粒径分布，并基于所述物料粉料的粒度数据，确定所述待处理物料的第二粒径分布；
[0123]
基于所述第一粒径分布和所述第二粒径分布，确定所述待处理物料的粒度分布曲线。
[0124]
进一步地，基于全粒度单元的物料分析系统，包括确定模块；
[0125]
确定模块，用于：
[0126]
确定所述粒度分析仪的测量量程，并基于所述测量量程确定所述振动筛中最后一个筛层的最小筛值。
[0127]
进一步地，筛选模块501还用于：
[0128]
若所述全粒度单元为单个全粒度单元，则基于所述单个全粒度单元中的单个振动筛，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量。
[0129]
若所述全粒度单元为联动全粒度单元，则基于所述联动全粒度单元中的所有振动筛，确定所有振动筛中同一筛层的筛余量。
[0130]
进一步地，筛选模块501还用于：
[0131]
确定联动全粒度单元中所有振动筛的同一筛层的筛余统计量；
[0132]
根据所有振动筛的同一筛层的筛余统计量、数据采集时间、传输中物料的密度与截面积以及物料传输速度，计算所有振动筛的同一筛层的筛余平均量；
[0133]
将所有振动筛的同一筛层的筛余平均量，确定为联动全粒度单元中所有振动筛的同一筛层的筛余量。
[0134]
进一步地，确定模块还用于：
[0135]
基于所述数据采集时间、所述传输中物料的密度与截面积、所述物料传输速度以及所述联动全粒度单元的取样时间间隔、单元数量、单次监测时间和物料处理能力，确定所述联动全粒度单元的组合联动方式。
[0136]
本发明提供的基于全粒度单元的物料分析系统的具体实施例与基于全粒度单元的物料分析方法各实施例基本相同，在此不作赘述。
[0137]
图6示例了一种电子设备的实体结构图，如图6所示，电子设备可以包括：处理器(processor)610、通信接口(communications interface)620、存储器(memory)630和通信总线640，其中，处理器610，通信接口620，存储器630通过通信总线640完成相互间的通信。处理器610可以调用存储器630中的逻辑指令，以执行基于全粒度单元的物料分析方法，该方法包括：
[0138]
基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量；
[0139]
基于所述粒度分析仪对所述待处理物料经过所述振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到所述物料粉料的粒度数据；
[0140]
基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析。
[0141]
此外，上述的存储器630中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0142]
另一方面，本发明还提供一种计算机程序产品，计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序，计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，计算机能够执行上述各方法所提供的基于全粒度单元的物料分析方法，该方法包括：
[0143]
基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量；
[0144]
基于所述粒度分析仪对所述待处理物料经过所述振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到所述物料粉料的粒度数据；
[0145]
基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析。
[0146]
又一方面，本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各提供的基于全粒度单元的物料分析方
法，该方法包括：
[0147]
基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量；
[0148]
基于所述粒度分析仪对所述待处理物料经过所述振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到所述物料粉料的粒度数据；
[0149]
基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析。
[0150]
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
[0151]
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如rom/ram、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
[0152]
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

技术特征：

1.一种基于全粒度单元的物料分析方法，其特征在于，所述全粒度单元包括振动筛和粒度分析仪；所述基于全粒度单元的物料分析方法，包括：基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量；基于所述粒度分析仪对所述待处理物料经过所述振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到所述物料粉料的粒度数据；基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析。2.根据权利要求1所述的基于全粒度单元的物料分析方法，其特征在于，所述基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量，包括：基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值，确定所述振动筛中每一个筛层的最小粒径值；将所述待处理物料中小于或者等于每一个筛层的最小粒径值的物料过滤到下一个筛层；将所述待处理物料中大于每一个筛层的最小粒径值的物料保留在每一个筛层，得到所述振动筛中每一个筛层的筛余量。3.根据权利要求2所述的基于全粒度单元的物料分析方法，其特征在于，所述基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析，包括：基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和每一个筛层的最小粒径值，确定所述待处理物料的第一粒径分布，并基于所述物料粉料的粒度数据，确定所述待处理物料的第二粒径分布；基于所述第一粒径分布和所述第二粒径分布，确定所述待处理物料的粒度分布曲线。4.根据权利要求1所述的基于全粒度单元的物料分析方法，其特征在于，所述振动筛的最小筛值是基于所述粒度分析仪确定的，具体步骤包括：确定所述粒度分析仪的测量量程，并基于所述测量量程确定所述振动筛中最后一个筛层的最小筛值。5.根据权利要求1至4任一项所述的基于全粒度单元的物料分析方法，其特征在于，所述确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量的过程，还包括：若所述全粒度单元为单个全粒度单元，则基于所述单个全粒度单元中的单个振动筛，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量。若所述全粒度单元为联动全粒度单元，则基于所述联动全粒度单元中的所有振动筛，确定所有振动筛中同一筛层的筛余量。6.根据权利要求5所述的基于全粒度单元的物料分析方法，其特征在于，所述基于所述联动全粒度单元中的所有振动筛，确定所有振动筛中同一筛层的筛余量，包括：确定联动全粒度单元中所有振动筛的同一筛层的筛余统计量；根据所有振动筛的同一筛层的筛余统计量、数据采集时间、传输中物料的密度与截面
积以及物料传输速度，计算所有振动筛的同一筛层的筛余平均量；将所有振动筛的同一筛层的筛余平均量，确定为联动全粒度单元中所有振动筛的同一筛层的筛余量。7.根据权利要求6所述的基于全粒度单元的物料分析方法，其特征在于，确定所述联动全粒度单元的组合联动方式，包括：基于所述数据采集时间、所述传输中物料的密度与截面积、所述物料传输速度以及所述联动全粒度单元的取样时间间隔、单元数量、单次监测时间和物料处理能力，确定所述联动全粒度单元的组合联动方式。8.一种基于全粒度单元的物料分析系统，其特征在于，所述全粒度单元包括振动筛和粒度分析仪；所述基于全粒度单元的物料分析系统，包括：筛选模块，用于基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量；处理模块，用于基于所述粒度分析仪对所述待处理物料经过所述振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到所述物料粉料的粒度数据；分析模块，用于基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析。9.一种电子设备，所述电子设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7任一项所述的基于全粒度单元的物料分析方法。10.一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7任一项所述的基于全粒度单元的物料分析方法。

技术总结

本发明涉及计算机领域，提供一种基于全粒度单元的物料分析方法、系统、设备及介质，该方法包括：基于振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定振动筛中每一个筛层的筛余量；基于粒度分析仪对待处理物料经过振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到物料粉料的粒度数据；基于振动筛中每一个筛层的筛余量和物料粉料的粒度数据，对待处理物料进行全粒度分析。本发明实施例提供的基于全粒度单元的物料分析方法通过振动筛协同粒度分析仪的全粒度单元对物料处理过程进行实时连续全粒度在线监测，从而可以随时监测物料处理过程的粒度变化，保证了物料粒度数据时效性的同时，提高了物料处理效率。了物料处理效率。了物料处理效率。