用于测量磁场梯度张量的装置及其测量方法[发明专利]

专利名称：用于测量磁场梯度张量的装置及其测量方法专利类型：发明专利

发明人：孟立飞，刘超波，易忠，肖琦，王斌，代佳龙，陈金刚申请号：CN201410522871.X

申请日：20140930

公开号：CN104215919A

公开日：

20141217

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明公开了一种用于测量磁场梯度张量的装置，包括放置被测物体的支撑装置和用于测量被测物体磁场梯度张量的磁强计阵列单元，磁强计阵列单元与支撑装置平行设置并对准被测物体的某个平面，支撑装置包括用于使被测物体沿空间坐标三个方向移动调节空间位置的三轴位移台和通过悬梁水平设置在三轴位移台上的转台，转台用于使支撑其上的被测物体旋转来调节其与磁强计阵列的相对表面和相对位置，磁强计阵列包括若干磁强计，磁强计支架和支撑磁强计支架的支撑底座，磁强计支架为具有若干竖直支架条的框架。

申请人：北京卫星环境工程研究所

地址：100094 北京市海淀区友谊路104号

国籍：CN

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