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用于暗室满天星测试系统的链路插损快速标定方法[发明专利]

专利名称：用于暗室满天星测试系统的链路插损快速标定方法专利类型：发明专利

发明人：张勇虎，刘思慧，伍俊，姜果平，李中林，徐兰霞

申请号：CN202010043843.5

申请日：20200115

公开号：CN111208463A

公开日：

20200529

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明涉及一种用于暗室满天星测试系统的链路插损快速标定方法，属于微波暗室室内天线阵抗干扰测试系统技术领域。通过频分方式同时标定所有链路，也即所有干扰源同时仿真一个导航频段内不同频率的频分单载波信号，并通过发射天线同时发射；最后通过频谱仪一次性读取所有的频分信号功率值，省去设置干扰源的时间和转动转台的时间，实现链路插损快速标定。本发明的有益效果在于，由于所有干扰源同时并行标定，所以标定时间大大缩短，N个干扰源，时间缩短为原来的1/N，效率提高了N倍。

申请人：湖南卫导信息科技有限公司

地址：410006 湖南省长沙市高新开发区尖山路39号长沙中电软件园一期6栋N单元5层501-503号房

国籍：CN

代理机构：长沙新裕知识产权代理有限公司

代理人：梁小林

本文发布于:2024-09-22 07:31:33，感谢您对本站的认可！

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