一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

(19)中华人民共和国国家知识产权局

	(12)发明专利说明书
		(10)申请公布号 CN 113554649 A (43)申请公布日 2021.10.26

(21)申请号 CN202111104013.X

(22)申请日 2021.09.22

(71)申请人中科慧远视觉技术(北京)有限公司;中科慧远视觉技术(洛阳)有限公司

地址 100088 北京市海淀区中关村南一条甲1号ECO中科爱克大厦801室

(72)发明人张武杰

(74)专利代理机构

代理人

(51)Int.CI

G06T7/00(20170101)

G06T7/13(20170101)

G06T5/00(20060101)

G06K9/62(20060101)

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

(57)摘要

本申请提供了一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法包括：对边缘轮廓点进行等间距降采样，得到多个边缘轮廓点采样组；根据多个边缘轮廓点采样组，通过非均匀有理B样条曲线拟合，得到基准曲线；计算每个边缘轮廓点到基准曲线的最小距离，并基于最小距离和边缘轮廓点的序号建立边缘函数；计算边缘函数的一阶导函数和二阶导函数，并根据边缘函数的一阶导函数和二阶导函数，确定实际边缘轮廓上的异常起始点和异常终止点；根据异常起始点和异常终止点，从实际边缘轮廓中提取异常轮廓。本申请不需要借助于标准的模板图像，也不需要提前根据曲线的模型进行计算，同时具有较高的检测精度，且能够对缺陷类型进行识别。

法律状态