地面微波干涉测量仪IBIS-S固定安装支座[实用新型专利]

专利名称:地面微波干涉测量仪IBIS-S固定安装支座专利类型:实用新型专利
发明人:胡伍生,李植淮,华远峰,金旭辉,陈凯
申请号:CN201320882410.4
申请日:20131230
公开号:CN203687903U
公开日:
20140702
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本实用新型提供了一种地面微波干涉测量仪IBIS-S固定安装支座,包括:角度板,包括以一夹角相互连接的上板和下板,上板布置有用于连接干涉测量成像仪的仪器安装座,下板用于连接升降装置;升降装置,与下板连接,升降装置能进行升降动作来带动角度板在竖直方向移动。干涉测量成像仪通过布置于角度板上的仪器安装座与角度板连接,通过更换不同夹角的角度板或改变上板和下板之间的夹角能调整地面微波干涉测量仪IBIS-S的角度。升降装置能进行升降动作来带动角度板在竖直方向移动,从而调整地面微波干涉测量仪IBIS-S的高低。本实用新型支架的上端与升降装置固定连接,支架的下端用于埋设在预定地点,从而能有效防止地面微波干涉测量仪IBIS-S晃动。
申请人:中国路桥工程有限责任公司,东南大学
地址:100011 北京市东城区安外大街丙88号
国籍:CN
代理机构:北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙)

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标签:升降   干涉   角度   装置   地面
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