发明人:王勃,林坚,叶新艳,石红,郭欣申请号:CN200910312136.5
申请日:20091223
公开号:CN101752106A
公开日:
20100623
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明是一种陶瓷电容失效的防护方法,涉及电子设备中陶瓷电容领域,其包括电容筛选、电装加工、三防处理、环境试验,所述的电容筛选过程包括:(1)外观初查;(2)温度循环:将所述合格电容先后置于-55℃和85℃的高低温箱内,分别保持30min,交替循环五次;(3)高温老化:将上述(2)步骤中温度循环过的电容置于85℃的高低温箱内保持48h,通过实时检测电容的漏电流值,判断出电容是否存在裂纹;(4)常温终测:常温下检测电容的漏电流值、耐压值、容值;(5)外观复查。它解决了现有技术中存在的陶瓷电容失效的问题,主要应用于电子设备中陶瓷电容的防护。
申请人:中国航空工业集团公司第六三一研究所
地址:710068 陕西省西安市太白北路156号
国籍:CN
代理机构:西安智邦专利商标代理有限公司
代理人:康凯