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一种双能X射线测量地层密度测井装置和方法[发明专利]

专利名称：一种双能X射线测量地层密度测井装置和方法专利类型：发明专利

发明人：于华伟，陈翔鸿，周悦

申请号：CN201811091999.X

申请日：20180919

公开号：CN109444972A

公开日：

20190308

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明公开一种双能X射线测量地层密度测井装置和方法，具体涉及石油及天然气勘探领域。该装置采用X射线管、电子加速管、监测探测器、远近两个NaI探测器。首先，利用监测探测器确保X射线产额稳定。然后，利用X射线在地层衰减原理，建立地层电子密度与高、低能窗计数的响应关系，从而计算精确的地层电子密度，通过地层电子密度与地层密度关系进一步计算地层密度。本发明通过采用监测探测器确保X射线产额稳定等手段，同现有方法相比获得了更为准确的计算基础，从而可以计算出准确的地层密度。另外，本发明装置还克服了对化学源的使用，更加健康、安全和环保，并有效降低了对电子加速管和探测器等的工艺要求。

申请人：中国石油大学(华东)

地址：266580 山东省青岛市黄岛区经济技术开发区长江西路66号

国籍：CN

代理机构：青岛智地领创专利代理有限公司

代理人：邵朋程

本文发布于:2024-09-21 16:49:34，感谢您对本站的认可！

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