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一种EVA胶膜检测系统[发明专利]

专利名称：一种EVA胶膜检测系统

专利类型：发明专利

发明人：孙浩益，戴云霄，徐琼，潘英东，伊汀，楼俊卿申请号：CN201611012206.1

申请日：20161117

公开号：CN106814075A

公开日：

20170609

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明涉及平面片材表面缺陷检测技术领域，具体公开了一种EVA胶膜检测系统。本发明的EVA胶膜检测系统，工业相机的显示调整为黑白图像，线光源发出的光线通过匀光板后再照射到EVA胶膜上，使得工业相机拍摄中显示的黑膜图像被匀光板处理为白膜图像，使EVA胶膜上的黑点缺陷更为清晰；同时，光源组件和相机组件相对EVA胶膜的距离和位置均可调，以适应不同规格的EVA 胶膜表面检测，而且还可以调整检测精度；另外，自动化检测的方式与现有技术人工检测相比，检测效率和检测精度更高。

申请人：杭州利珀科技有限公司

地址：311305 浙江省杭州市临安市青山湖街道鹤亭路6号2幢

国籍：CN

代理机构：杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：乔占雄

本文发布于:2024-09-23 01:25:52，感谢您对本站的认可！

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