针对集成电路电流双向失真的磁芯损耗确定方法及装置

(19)中华人民共和国国家知识产权局

	(12)发明专利说明书
		(10)申请公布号 CN 113933597 A (43)申请公布日 2022.01.14

(21)申请号 CN202111212578.X

(22)申请日 2021.10.19

(71)申请人北京智芯仿真科技有限公司

地址 100084 北京市海淀区农大南路1号院5号楼306室

(72)发明人王芬

(74)专利代理机构 11952 北京星通盈泰知识产权代理有限公司

代理人李筱

(51)Int.CI

G01R27/26(20060101)

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

针对集成电路电流双向失真的磁芯损耗确定方法及装置

(57)摘要

本申请提供了一种针对集成电路电流双向失真的磁芯损耗确定方法，可包括：向用于集成电路电源系统的电感元件的磁芯中施加具有饱和失真波形的电流，其中电流呈周期性变化。在电流的作用下，采集磁芯的磁滞回线的多个特征点，其中磁滞回线表示作用于磁芯的磁场强度和磁芯产生的磁感应强度的变化关系。根据多个特征点，确定用于拟合磁滞回线的S曲线的参数，以获得磁滞回线的方程。根据磁滞回线的方程，并基于磁芯损耗的定义，对磁滞回线进行积分，以确定磁芯的平均功率损耗。本申请可避免现有技术中在直流偏置的情况下，难以准确获得磁芯损耗的问题，为确定电感元件的磁芯损耗提供了便捷且精确的方式。

法律状态

法律状态公告日	法律状态信息	法律状态
2022-02-01	实质审查的生效	实质审查的生效
2022-01-14	公开	公开
2022-06-14	授权	发明专利权授予