(10)申请公布号 CN 102183722 A
(43)申请公布日 2011.09.14C N 102183722 A
*CN102183722A*
(21)申请号 201110047592.9
(22)申请日 2011.02.28
G01R 31/28(2006.01)
(71)申请人华为技术有限公司
地址518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为
基地总部办公楼
(72)发明人宋奇刚 黄久松 李中华
(74)专利代理机构北京三友知识产权代理有限
公司 11127
代理人
任默闻
(54)发明名称
(57)摘要
本发明公开了一种芯片，该芯片包括：PRBS
文，其中，所述PRBS 测试源模块包括：产生单元，
用于根据芯片端口数量，产生相同数量的PRBS 码
流；封装单元，用于分别对各条PRBS 码流进行封
装，获得各条PRBS 码流的封装报文；以及，发送单
元，用于发送获得的各条PRBS 码流的封装报文；
转发引擎模块，用于将所述PRBS 测试源模块发送
的各条PRBS 码流的封装报文转发至对应的芯片
端口。采用本发明能够一次性地将芯片的所有端
口和通路测试完毕，从而大幅提高芯片测试效率，
节省测试成本。(51)Int.Cl.
(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请
权利要求书 1 页 说明书 6 页 附图 3 页
1.一种芯片，其特征在于，包括：
PRBS测试源模块，用于生成和发送PRBS码流的封装报文，其中，所述PRBS测试源模块包括：产生单元，用于根据芯片端口数量，产生相同数量的PRBS码流；封装单元，用于分别对各条PRBS码流进行封装，获得各条PRBS码流的封装报文；以及，发送单元，用于发送获得的各条PRBS码流的封装报文；
转发引擎模块，用于将所述PRBS测试源模块发送的各条PRBS码流的封装报文转发至对应的芯片端口。
2.如权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述封装单元还用于在各条PRBS码流的封装报文中，添加对应的特征域，以区分各条PRBS码流。
3.如权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述封装单元还用于在各条PRBS码流的封装报文中，添加对应的流标识。
4.如权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述PRBS测试源模块还包括：
接收单元，用于接收各芯片端口环回的PRBS码流的封装报文；
校验单元，用于对接收的各条PRBS码流的封装报文进行校验。
5.如权利要求4所述的芯片，其特征在于，所述PRBS测试源模块还包括：
识别单元，用于对接收的各条PRBS码流的封装报文中的特征域进行识别；
统计单元，用于按不同的特征域，对发送和/或接收的封装报文个数、以及校验结果进行统计。
6.如权利要求5所述的芯片，其特征在于，所述识别单元具体用于：对接收的各条PRBS 码流的封装报文中的流标识进行识别；
所述统计单元具体用于：按不同的流标识，对发送和/或接收的封装报文个数、以及校验结果进行统计。
7.如权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述转发引擎模块包括：
第一接收单元，用于接收与芯片端口数量相同数量的PRBS码流的封装报文；
第一转发单元，用于将所述第一接收单元接收的各条PRBS码流的封装报文转发至对应的芯片端口。
8.如权利要求7所述的芯片，其特征在于，所述第一转发单元具体用于：
根据各条PRBS码流的封装报文中的特征域，以及预设的特征域与芯片端口的映射关系，将各条PRBS码流的封装报文转发至对应的芯片端口。
9.如权利要求8所述的芯片，其特征在于，所述第一转发单元具体用于：
根据各条PRBS码流的封装报文中的流标识，以及预设的流标识与芯片端口的映射关系，将各条PRBS码流的封装报文转发至对应的芯片端口。
10.如权利要求8所述的芯片，其特征在于，所述转发引擎模块还包括：
第二接收单元，用于接收各芯片端口环回的PRBS码流的封装报文。
芯片
技术领域
[0001] 本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及芯片。
背景技术
[0002] 在高速设计中为了测试高速串行通道传输的误码率，通常采用PRBS(Pseudo-RandomBinary Sequence，伪随机二进位序列)技术发送PRBS码流来进行测试。由于产生码型的随机性，该技术被广泛应用于各种测试和OAM(Operations，Administration andMaintenance，操作、管理、维护)技术。G
PON(Gigabit-capable Passive Optical Networks，G比特无源光网络)和EPON(Ethernet Passive Optical Networks，E比特无源光网络)是近年流行的光纤接入技术，设备主要分为局端的OLT(Optical Line Terminal，光线路终端)和终端的ONU(Optical Network Unit，光网络单元)两种，以一个ONU芯片为例，目前在芯片内部嵌入测试功能的做法，主要是采用分散的PRBS测试源，每个PRBS测试源产生对应于一个端口的一条PRBS码流，分别采用多个PRBS测试源对芯片内部的个别关键端口和模块(例如MAC和SerDes等模拟IP)进行分别测试。
[0003] 但是，目前的测试方法需要对多处分散的PRBS测试源进行使能控制，对于校验的结果也要分别进行查询，测试时并不能对芯片的主要通路进行完全覆盖，而是需借助各种测试仪器对芯片的各个端口逐一测试，测试效率较低，测试时间较长，也对测试的软硬件环节提出更高的要求，直接导致测试成本偏高。
发明内容
[0004] 本发明实施例提供一种芯片，用以提高芯片测试效率，降低芯片测试成本，该芯片包括：
[0005] PRBS测试源模块，用于生成和发送PRBS码流的封装报文，其中，所述PRBS测试源模块包括：产生单元，用于根据芯片端口数量，产生相同数量的PRBS码流；封装单元，用于分别对各条PRBS码流进行封装，获得各条PRBS码流的封装报文；以及，发送单元，用于发送获得的各条PRBS
码流的封装报文；
[0006] 转发引擎模块，用于将所述PRBS测试源模块发送的各条PRBS码流的封装报文转发至对应的芯片端口。
[0007] 本发明实施例的芯片中，PRBS测试源模块根据芯片端口数量，产生相同数量的PRBS码流；分别对各条PRBS码流进行封装，获得各条PRBS码流的封装报文；发送获得的各条PRBS码流的封装报文；与现有技术中采用分散的PRBS测试源对芯片内部的个别关键端口和模块分别进行分别测试的技术方案相比，能够提供一次性将芯片的所有端口和通路测试完毕的多条PRBS码流的封装报文，从而大幅提高芯片测试效率，节省测试成本。[0008] 本发明实施例的芯片中，转发引擎模块接收PRBS测试源模块提供的与芯片端口数量相同数量的PRBS码流的封装报文；将各条PRBS码流的封装报文转发至对应的芯片端
口；与现有技术中采用分散的PRBS测试源对芯片内部的个别关键端口和模块分别进行分别测试的技术方案相比，能够一次性将PRBS测试源模块提供的多条PRBS码流的封装报文转发至芯片对应的端口，从而将芯片的所有和通路测试完毕，可大幅提高芯片测试效率，节省测试成本。
附图说明
[0009] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
[0010] 图1为本发明实施例中芯片内嵌测试方法的处理流程图；
[0011] 图2为本发明实施例中芯片内嵌测试方法的处理流程图；
[0012] 图3为本发明实施例中芯片内嵌测试方法应用于ONU芯片的示例图；[0013] 图4为本发明实施例中PRBS测试源模块的结构示意图；
[0014] 图5为本发明实施例中图4所示的PRBS测试源模块的具体实施示意图；[0015] 图6为本发明实施例中图5所示的PRBS测试源模块的具体实施示意图；[0016] 图7为本发明实施例中转发引擎模块的结构示意图；
[0017] 图8为本发明实施例中图7所示的转发引擎模块的具体实施示意图；[0018] 图9为本发明实施例中芯片的结构示意图。
具体实施方式
[0019] 为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合附图对本发明实施例做进一步详细说明。在此，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，但并不作为对本发明的限定。
[0020] 如图1所示，本发明实施例中芯片内嵌测试方法的处理流程可以包括；[0021] 步骤101、根据芯片端口数量，产生相同数量的PRBS码流；
[0022] 步骤102、分别对各条PRBS码流进行封装，获得各条PRBS码流的封装报文；[0023] 步骤103、发送获得的各条PRBS码流的封装报文。
[0024] 图1所示流程可以由能够实现其功能的设备或模块进行实施，例如该设备或模块可以是在芯片中设置一个PRBS测试源模块来实现。本发明实施例以PRBS测试源模块为例进行说明。
[0025] 由图1所示流程可以得知，PRBS测试源模块根据芯片端口数量，产生相同数量的PRBS码流；分别对各条PRBS码流进行封装，获得各条PRBS码流的封装报文；发送获得的各条PRBS码流的封装报文；与现有技术中采用分散的PRBS测试源对芯片内部的个别关键端口和模块分别进行分别测试的技术方案相比，能够提供一次性将芯片的所有端口和通路测试完毕的多条PRBS码流的封装报文，从而大幅提高芯片测试效率，节省测试成本。[0026] 如图2所示，本发明实施例中还提供一种芯片内嵌测试方法，其处理流程可以包括；
[0027] 步骤201、接收与芯片端口数量相同数量的PRBS码流的封装报文；
[0028] 步骤202、将各条PRBS码流的封装报文转发至对应的芯片端口。
[0029] 图2所示流程可以由能够实现其功能的设备或模块进行实施，例如该设备或模块可以是在芯片中设置一个转发引擎模块来实现。本发明实施例以转发引擎模块为例进行说明。
[0030] 由图2所示流程可以得知，本发明实施例中，转发引擎模块接收PRBS测试源模块提供的与芯片端口数量相同数量的PRBS码流的封装报文；将各条PRBS码流的封装报文转发至对应的芯片端口；与现有技术中采用分散的PRBS测试源对芯片内部的个别关键端口和模块分别进行分别测试的技术方案相比，能够一次性将PRBS测试源模块提供的多条PRBS码流的封装报文转发至芯片对应的端口，从而将芯片的所有和通路测试完毕，可大幅提高芯片测试效率，节省测试成本。
[0031] 具体实施时，可以在芯片内嵌一个PRBS测试源模块，针对芯片的N(N大于1)个端口，产生N条PRBS码流，并可以根据配置为各条PRBS码流进行封装，例如可以进行ETH(Ethernet，以太网)等网络报文封装。不同的PRBS码流采用不同的具体封装形式，以区分各条PRBS码流。
[0032] 例如，在分别对各条PRBS码流进行封装，获得各条PRBS码流的封装报文的过程中，可以在各条PRBS码流的封装报文中，添加对应的特征域，以区分各条PRBS码流。其中，添加特征域可以采用
多种方式，例如，在各条PRBS码流的封装报文中，添加对应的流标识；当然实施中还可以通过添加不同的MAC(Media access control，媒质接入控制)地址、VLAN(Virtual Bridged Local Area Networks，虚拟局域网)标识等方式来添加特征域。[0033] 具体实施时，可以在芯片内部设一转发引擎模块来具体实施各条PRBS码流的封装报文至对应芯片端口的转发，例如，前述PRBS测试源模块可以将所获得的各条PRBS码流的封装报文后提供给转发引擎模块执行转发。
[0034] 具体的，可以针对不同PRBS码流的封装报文选择不同的转发决策，将各条PRBS码流的封装报文发至对应的芯片端口。选择不同转发决策的具体实现方式有多种，例如，可以在将各条PRBS码流的封装报文转发至对应的芯片端口之前，预设不同的特征域与芯片端口的映射关系；则在实施转发时，可以根据各条PRBS码流的封装报文中的特征域，以及预设的特征域与芯片端口的映射关系，将各条PRBS码流的封装报文转发至对应的芯片端口。例如，当特征域是以流标识的方式添加入各条PRBS码流的封装报文中时，可以根据各条PRBS码流的封装报文中的流标识，以及预设的流标识与芯片端口的映射关系，将各条PRBS 码流的封装报文转发至对应的芯片端口。这样，针对每个芯片端口均有对应的一条PRBS码流的封装报文发送，可同时实现对芯片所有端口和通路的测试。
[0035] 具体实施时，在将各条PRBS码流的封装报文转发至对应的芯片端口之前，还可以包括对各条PRBS码流的封装报文进行环回校验的过程，例如，由转发引擎模块接收各芯片端口环回的PRBS码流的封装报文，并转发给PRBS测试源模块；PRBS测试源模块对接收的各条PRBS码流的封装报文进行
校验。多条PRBS码流的封装报文可以被同时接收和校验，校验结果也可以同时被记录，以提升校验的实施效率和通道测试结果获得的及时性。[0036] 各芯片端口上可采用电缆环回、光纤环回、OLT环回等不同方式实现环回。这样从芯片的每个端口发送出去的PRBS码流的封装报文又可以被同样的端口环回芯片内部。环回内部的PRBS码流的封装报文，可以经前述转发引擎模块发回PRBS测试源模块进行校验。
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