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基于深度学习的印花瑕疵检测方法及系统[发明专利]

专利名称：基于深度学习的印花瑕疵检测方法及系统专利类型：发明专利

发明人：池明旻，陈锦涛，张华

申请号：CN202010530894.0

申请日：20200611

公开号：CN111784644A

公开日：

20201016

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明提供了一种基于深度学习的印花瑕疵检测方法及系统，包括：将预处理后的待检测图像和模板图像输入孪生卷积神经网络模型，非线性地计算图像特征，分别对待检测图像、模板图像进行多种不同倍率的下采样特征计算，得到不同分辨率的特征结果；将不同分辨率的特征利用双线性插值和卷积方案将特征大小调整至相同大小，将相同大小的不同特征进行融合，得到待检测图像融合特征和模板图像融合特征；将待检测图像融合特征和模板图像融合特征进行差分，通过区域感知定位与分类模型进行前景与背景分类预测，对预测结果为前景的感知区域进行印花瑕疵类别分类和确切回归定位。充分利用全部资源信息，极大地提升检测算法的检出率和降低误检率。

申请人：上海布眼人工智能科技有限公司

地址：202155 上海市崇明区城桥镇三沙洪路89号3幢201室(上海崇明供销经济开发区)

国籍：CN

代理机构：上海段和段律师事务所

本文发布于:2024-09-24 03:26:40，感谢您对本站的认可！

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