一种用于扫描电镜观察陶瓷内部微观结构的制样方法[发明专利]

专利名称:一种用于扫描电镜观察陶瓷内部微观结构的制样方法
专利类型:发明专利
发明人:章健,刘梦玮,赵瑾,岛井骏藏,王士维,陈晗,陈鹤拓
申请号:CN202010573950.9
申请日:20200622
公开号:CN111795984B
公开日:
20220510
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明涉及一种用于扫描电镜观察陶瓷内部微观结构的制样方法,将具有亚微米级晶粒的陶瓷样品折断后得到新鲜断面,再经热腐蚀或酸腐蚀,得到待观察的陶瓷材料;所述具有亚微米级晶粒的陶瓷样品的断裂方式为完全穿晶断裂或部分穿晶断裂。
申请人:中国科学院上海硅酸盐研究所
地址:200050 上海市长宁区定西路1295号
国籍:CN

本文发布于:2024-09-22 13:43:05,感谢您对本站的认可!

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