专利名称：反应力锥形貌测量方法、装置、计算机设备和系统专利类型：发明专利 发明人：任炜，毕超豪，宋长青，曾耀强，汪创，高怿，刘福来，杨文清，李子森，吴浚铭，张
申请号：CN202010663344.6
申请日：20200710
公开号：CN112017233A
公开日：
20201201
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本申请涉及一种反应力锥形貌测量方法、装置、计算机设备和系统。所述方法包括：获取反应力锥每一截面对应的各三维点数据，并生成所述截面对应的坐标矩阵；对于每一所述坐标矩阵，获取第一权重系数、所述坐标矩阵和椭圆拟合参数之间的第一乘积，以及第二权重系数、所述坐标矩阵和所述椭圆拟合参数之间的第二乘积，并根据所述第一乘积的L1范数和所述第二乘积的L2范数，得到目标椭圆拟合参数，基于所述目标椭圆拟合参数确定所述坐标矩阵对应的所述截面的截面半径；根据各所述截面的截面半径，得到所述反应力锥的半径，并基于反应力锥的半径输出反应力锥的三维形貌。本申请可提高测量结果的准确度和精度，并拓宽使用范围。 地址：510665 广东省广州市天河区天河南二路2号
国籍：CN
代理机构：广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人：周玲
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