程序编辑和调试 ICT的软件操作随生产厂家的不同而略有差异,大体上是类似的。一般地说,测试软件存于电脑主机D盘中,测试软件一般分为测试统计资料、开短路测试、元件数值测试等。测试统计资料是ICT在测试产品中的产品质量统计表,会显示测试产品总数、不合格数、合格数、产品合格率及问题最多的几个元件等等,提供给品质检测人员分析。元件数值测试表是需要产品技术人员填写和编辑调试的。各元件数值测试时测试表的栏目如下图: Bs | % | meas羟基自由基 | learn | T+ | T- | T | Pt name | Lc | Ideal | Pin1 | Pin2 | w | Rg | -- | dms | s100无人机Ima | fre | G | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
各项标识意义如下: B-S:测试序号 %:测试误差 Meas:实际测试值 Learn:学习值 T+:正误差范围 T-:负误差范围 T: 元器件类型 Part name:元件图号 LC:元件所在位置 Ideal:元件标称值 燃气吹灰器Pin1:测试高电位端针号 Pin2:测试低电位端针号 W:测试方式 Rg:测试量程 -:测试值取平均值 Dms:设定延时时间 Ima:设定测试电流 Freq:设定测试频率 Offset:设定调零值 G:功能调节 G1/4~G5:隔离点填写框 下面介绍各类元件的编程及调试方法。
1) 电阻测试 电阻元件编程在“T”处输入“R”,“part name”处输入元件图号,如R1。“Ideal”处输入标称值,如R1是10KΩ。在“Pin1”、“Pin2”输入其引脚相对应的针号。“%”、“T+”、“T-”处输入该电阻的误差范围,“W”处输入“I”测试方法(普通测试方法)。如果电阻在电路中与一个电解电容并联,则因“I”测试方法测试时间很快,电容充电需要一定时间,将会出现测试误差,只要将“W”栏中的“I”改为“V”,再加一定的延时时间“Dms”,如20ms,则测试结果就与实际值相同了。 图7.1 电阻测试图
电阻测量时,有时因为电路关系,需加一隔离点。如图所示,
图7.2 加隔离点测试
电阻R1和R2、R3并联,当在1、2针位测试R1的阻值时,测试结果不是1KΩ,而是500Ω。这是由于由1号针位流入的电流I有一部分流入了R2、R3支路了。要解决这一问题,我们选择3号位增加一针号“3”,使“3”号针位的电位和1号针位的电位相等。那么R2、R3支路就不会使1号针位的电流分流了,测试结果也就准确了。“3”号针位就叫隔离点,编程对地“G”处填入“Y”,表示启动隔离功能。在“G1/4~G5”处填入“3”,表示“3”是隔离点。 2) 电容测试 电容类元件的测试两种方法。前面已经介绍小容量(100nf以下)的电容,用交流AC测试。在“T”处填入“C”,“Part name”处填入元件图号,“Ideal”填入标称容量,在“Pin1”、“Pin2”处填入引脚的对应测试针号,“W”处填入“A”,即AC测试方法,“Freq”处填入测试频率,默认为30KHz,“%”、“T+”、“T-”填入相应的误差值,其他按默认值。 大容量的电容,如电解电容在“W”处填入“D”,即DC测试方法,“Dms”处填入适当的延时时间,如30,表示延时30ms。 3) 二极管测试 二极管是测试其正向压降和反向电压。正向测试时,“T”填入“D(二极管)”,“Part name”填入图号,“Ideal”填入压降,正向“0.07V”,反向“2.0V(设置的测试电压)”。“Pin1”填入高电位的测试针号,“Pin2”填入低电位的测试针号。正向测试后可以反向测试一次。 4) 三极管测试 前面已经讲过,三极管是测试其be、bc电极之间的正向压降,然后再测试其放大作用。正向压降的测试方法和二极管相同,不再重复。测试放大作用时,“Part name”填入Q-CE,“Ideal”填入“2.0V(用2V电压测试)”,“Pin1”填入C极的针号(NPN管),“Part2”填入e极的针号(NPN管),“G1/4”填入“1”,即“1”号针做输入基极电流用,“T”填入“T”。 5) 电感类测试 测试电感用交流(AC)测试方法,在“T”处填入“L”,“part name”填入元件图号,在“Ideal”填入标称电感量,在“Part1”、“Part2”填入相应的针号,“Dms”处填入延时时间,“—”处填入“Y”,启动平均功能,如果测试值误差太大,调整频率“Freq”(默认值是10KHz),可以得到满意的结果。
图7.3 光电耦合器
光电耦合器的原理是在发光二极管一边输入一定的正向电流时,发光二极管使光敏三极管导通。发光二极管发光程度决定了光敏三极管的导通程度。测试时在“T”处输入“O”,表示光电器件,“Part name”输入图位号,“Pin1”、“Pin2”分别输入光敏三三极管的“c”极、“e”极针号,在“G1/4”、“G2/4”处分别输入发光二极管的正极针号和负极针号,在“Ima”处调整发光三极管的正向电流,以获得较好的测试准确性。 其他元器件的编程在此不一一列举了。 程序先经单个元件调试后,再将整个产品的程度调试正确。 因电路设计的缘故,有些元件在电路中是不便测试的,例如下面几种:
理疗环 图7.4 不能测试的部分元件
(1)是两个阻值不同的电阻并联,只能测出其并联后的阻值,不能分别测出各自的阻值。 (2)一个小电容和一个大电容(电解电容)并联,不能测出小电容的容量。 (3)一个电感和一个电阻并联,不能测出电阻的阻值 (4)一个电容和一个电感并联,无法测试电感和电容的数值。 以上情况我们要根据具体情况具体分析。
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