龙芯3b基于ATE射频CP测试的校准技术，通过辅助去嵌结构，使得在射频产品的CP测试过程中消除测试系统阻抗不匹配带来的测试误差。从而能够获得更准确的测试结果，最终提高测试良率，节约测试成本。 木薯去皮机
标签：射频技术；自动测试；校正
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众所周知，射频信号传输时需要传输线路能完好地阻抗匹配，这样才能减少信号的反射。但ATE在对CP射频产品进行测试时，由测试机发送的射频信号会经过测试转接板、探针卡传输到芯片输入端，在此过程中，测试机内部的信号源到信号输出端口、转接板以及探针卡上的走线阻抗匹配不理想、转接板与测试机信号输出端口的连接、转接板与探针卡的连接，探针与芯片引脚（pad）的接触均存在寄生的电容电感，这些必然造成射频信号不能完好的阻抗匹配，信号在传输过程中发生反射，最终到达芯片引脚的信号存在功率上的损耗，以及时序上的延迟等。同样，射频芯片输出的信号也需经过探针卡以及转接板才能送到测试机进行分 析，传输线路的阻抗不匹配也会造成我们得不到真实的输出结果。这种阻抗不匹配给我们的测试带来误差，但产品测试硬件结构一旦固定，这种误差就是可预示和可重复出现的，从而可以定量的描述，可在测试过程中通过校准消除。
2 校正方法介绍
2.1 现有方法不足
现有成品（FT）射频产品测试时通常需要使用到网络分析仪，网络分析仪使用前也需进行相应的校准，来补偿测试仪内部、线缆及转接头带来的系统误差，目前已有相应成熟的校准件和校准方法。但对于圆片级的射频产品的测试，网络分析仪没有支持到针卡探针部分的校准的方案。且网络分析仪一般用于工程测试，并不适合量产使用。
电热炉
ATE测试设备测试CP射频产品时，测试机台也能对射频资源进行校准，但也只能校准到测试机信号输出端口，对于输出端口之后到芯片管脚的传输线路则不能进行校准。对于这部分带来的误差，现有测试中，我们往往就不作处理，或者采用以FT测试的结果作为参考，直接给补偿值，但这种补偿并不准确，且射频产品均有频响特性，即在不同的频率下，其损耗的表现也不一样，这样也带来了复杂的补偿工作。
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