Ag-ITO纳米颗粒复合薄膜的制备及其光电性质

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第47卷第1期
带电清洗剂
2021年1月
科技发展中,不同功能的显示器件被广泛应用在各行业中,其作为被动发光型显示器,需要利用同时具有优异光电性能的导电薄膜,维持显示界面的清晰度。在此背景下,研究人员提出在现有的ITO 薄膜的基础上,应用Ag 材料,联合制备Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜,从而借助该薄膜,强化各类显示器件的功能架构。
1 Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜概述
Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜中的Ag 是指某种金属材料,其在可见光范围内反射率较高,光电性能优异,可作为可见光波段中应用价值较高的反射材料。不仅如此,Ag 电阻率通常为10-6Ω·cm ,导电性能突出,可同时作为电极材料。ITO 薄膜属于光电材料,即具有导电性、透光性的薄膜,主要材料为氧化铟锡,电阻率为10-4Ω·cm ,多用于除霜玻璃、等离子显示、热辐射反射镜、LCD 液晶显示器上。但由于ITO 薄膜电导率较低,容易产生较大功耗,为此,相关人员利用Ag 材料与ITO 薄膜共同研制新型薄膜,即Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜,继而在Ag 组分作用下,提升ITO 薄膜导电特性,控制各类显示器件的功耗。同时使该薄膜在确保显示器件透光率的前提下,改善薄膜在高强光环境下的反射能力,强化显示界面的对比度、画面的整体亮度。
2 Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜的制备流程
2.1 清洗基片
选择规格为20mm ×20mm ×1.2mm 的载玻片,并采用超声清洗方法,具体方式如下:
止动环
(1)将载玻片放置在丙酮内超声清洗9~10min 。
植物水(2)将其依次转移至离子水、乙醇中,超声清洗10min 。(3)将载玻片清洗干净后取出,置于恒温
50℃的温度条件下烘干处理。
2.2 制备ITO 薄膜
联合使用型号为JGP560的多功能磁控溅射仪,以及直流磁控溅射工艺完成ITO 薄膜的制备工作。
(1)制备ITO 薄膜时,需确保靶材纯度不低于99.99%,所用ITO 靶为WT.10%SnO 2+WT.90%In 2O 3。
(2)抽取真空室内的氧气,将其调整为本底真空度,随后放入高纯度氩气,关闭挡板,使真空室进行预溅射。
(3)预溅射时间通常为10min ,之后可将挡板移开,正式开始溅射生成ITO 薄膜。在此过程中,提前准备的载玻片无须加热,待溅射、沉积150s 后,对薄膜展开退火处理,退火过程中的温度分别为200℃、300℃、500℃。退火60分钟后,方可取出ITO 薄膜样品,将其冷却,薄膜温度与室温相同后可将其取出。
2.3 合成Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜
制备Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜时,同样采用溅射工艺,实验设备是型号为JGP560的多功能磁控溅射
仪。基本溅射时间、步骤、退火时间均与制备ITO 薄膜相同。但是需要在“贴片法”的应用中,将Ag-ITO 作为靶材,并利用银浆将ITO 、Ag 靶对称的贴合,所用ITO 、Ag 靶其纯度均为99.99%。
Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜合成完毕后,通过公式(1)、(2)计算该薄膜样品中Ag 材料的实际含量。其中QM 表示Ag 在Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜中的含量,m M 、ρM 、ρD 、m D 分别表示薄膜中Ag 的摩尔质量、密度,以及ITO 的摩尔质量与密度。S MD 、x 为ITO 和Ag 的溅射比例、暴露面积。
(1)(2)
3 Ag-ITO 3.1 反射光谱分析
基于Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜的制备实验,使用分光光度计,分别测量Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜、ITO 薄膜的反射光谱,对比分析该复合薄膜的光性质,具体分析结果如下:(1)在可见光范围内,分析退火温度不同时,薄膜的平
摘 要:结合Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜的基本概念,对Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜的制备流程展开分析。利用反射光谱、透射光谱、电阻测量等,对Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜的光电性质表征进行简单的研究,继而通过该复合薄膜光电特性的明确,突出Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜的研发及应用价值。
远程遥控关键词:Ag-ITO ;复合薄膜;光电性质;制备中图分类号:TB383.2  文献标志码:A   文章编号:1
003–6490(2021)01–0042–02
Preparation of Ag-ITO Nanoparticle Composite Film and Its Photoelectric
Properties
Xia Qi-ping ,Wang Ke
Abstract :Combining the basic concepts of Ag-ITO nanoparticle composite film ,analyze the preparation process of Ag-ITO nanoparticle composite film.At the same time ,using reflection spectroscopy ,transmission spectroscopy ,resistance measurement and other methods ,simple research on the photoelectric properties of Ag-ITO nanoparticle composite films ,and then through the clari fication of the photoelectric properties of the composite film ,highlighting the research and development of Ag-ITO nanoparticle composite films And application value.
Key words :Ag-ITO ;composite film ;photoelectric properties ;preparation Ag-ITO纳米颗粒复合薄膜的制备及其光电性质
夏齐萍,王 轲
(安徽农业大学 经济技术学院,安徽合肥 230000)
收稿日期:2020–11–16基金项目:
2018年安徽省教育厅省级科研项目(自然科学重点项目)“ITO-Ag 复合薄膜的制备及光电特性研究”(KJ2018A0654)。
作者简介: 夏齐萍(1983—),女,安徽马鞍山人,讲师,主要研究
方向为材料物理与化学。
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均反射率。实验表明,Ag 材料的实际含量,直接影响Ag-ITO 薄膜的平均反射率,但从整体来看,Ag-ITO 薄膜反射率明显高于未融合Ag 材料的ITO 薄膜。
(2)在百分比含量为0.6%时,Ag-ITO 薄膜在可见光范围内,其平均反射率却低于ITO 薄膜,且总体反射率均小于27%。由此可见,低含量的Ag-ITO 薄膜,Ag 金属材料会通过透射形式与薄膜进行交互,若增加Ag 含量,则会导致Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜制备时,其纳米颗粒空间分布产生较大变化,最终造成薄膜粗糙问题,影响复合薄膜的反射性能。(3)退火温度作用于Ag-ITO 薄膜平均反射率时,退火温度高时,Ag 材料中含有的剩余应力会被释放,提升Ag 金属材料结晶度,减少薄膜中的空隙、缺陷等问题,从而降低光传输过程中显示器的能量损耗,保障复合薄膜的光放射强度。(4)退火温度持续升高时,薄膜颗粒尺寸会明显增加,薄膜表层结构中颗粒尺寸随之增大,最终使得微结构光散射问题突出,显示器件功耗多,薄膜光反射强度下降。因此,复合薄膜的光平均反射率在不同退火温度条件下,其反射结果会有较大差异性,在制备复合薄膜时,应严格按照Ag-ITO 薄膜的溅射工艺,控制薄膜退火温度。
3.2 透射光谱分析
利用透射光谱分析Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜光性质时,
同样需要使用可见分光光度计,对比测量Ag-ITO 复合薄膜、ITO 薄膜处于可见光光段内时的透射光谱。
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(1)退火温度升高时,透射光谱中Ag-ITO 复合薄膜的透射率呈上升趋势。此种光学特性表征,主要是针对Ag 含量较低的复合薄膜,比如Ag 材料小于1%时所制备的Ag-ITO 薄膜。
(2)退火温度持续提高时,ITO 薄膜基片中含有的Sn 2+会通过氧化反应转换为Sn 4+,继而使Ag-ITO 复合薄膜的透射率提高,薄膜致密度同样会因此而增加。因此,在透射光谱中,可见光范围内退火温度升高时,Ag-ITO 复合薄膜可通过自身结晶度的增加,控制光散射时出现的损失,增加薄膜本身的透射率。在此期间,ITO 薄膜会在退火温度超过300℃时,透过率明显下降,究其原因在于氧原子的大量堆砌。
(3)由退火温度、Ag 用量不同时,可见光范围内Ag-ITO 复合薄膜透射光谱变化可知,Ag 含量增加时,因纳米Ag 颗粒会逐渐吸收可见光,所以Ag-ITO 薄膜平均反射率会对应的下降,使得该复合薄膜的平均反射率低于ITO 薄膜。同时随着Ag 含量的持续增加,其纳米颗粒尺寸空间更大,对可见光的吸收更多,继而使得Ag-ITO 薄膜透射光谱中的透射率下降。4 Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜的电性质
分析Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜的电性质时,通常需要测量薄膜电阻值,计算其电阻率来评估该复合薄膜的电性能。具体来说,使用“四探针测量法”,分别测量Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜、ITO 薄膜的面电阻,所测的电流量程为100μA ,
电压量程为20mV 。
除此之外,根据不同退火温度下薄膜样品的面电阻可知,Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜、ITO 薄膜的面电阻在退火温度影响下,二者变化趋势基本一致。因此,可直接按照退火温度对Ag-ITO 复合薄膜样品面电阻本身造成的影响,分析其电学特性。
1)退火温度高时,Ag-ITO 复合薄膜会明显下降,原因在于退火时,薄膜中沉积的Sn 2+会氧化,从而导致复合薄膜中自由电子含量增加、面电阻下降。
2)退火温度持续升高时,且温度大于300℃时,Ag-ITO 复合薄膜会呈上升趋势,这是由于Sn 2+在氧化为Sn 4+后,高浓度的Sn 4+离子会与周围Sn 2+结合,产生复合缺陷,且该复合缺陷的带电量为+3,而载流子浓度不会因此而提升。
3)在退火过程中,氧原子不断堆砌后,退火温度的上升会使Ag-ITO 复合薄膜面电阻上升,但是相对于ITO 薄膜,Ag-ITO 复合薄膜的导电性能良好。在室温沉积下,Ag-ITO 复合薄膜中含有的Sn 3O 4、SnO 等锡氧化物,可形成电子陷阱将电子捕获,以降低薄膜中载流子的实际浓度,并对面电阻产生影响。另外,Ag-ITO 复合薄膜中In 2O 3进行热分解反应时,薄膜样品中氧含量较低,内部载流子浓度、载流子迁移率会产生变化,继而使得Ag-ITO 复合薄膜面电阻降低。5 结束语
综上所述,Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜在显示器件功能设计中有着不可替代的价值,其光电性质、制备流程的优化效果直接关系着显示器功能的完善。因此,应结合Ag 金属材料、ITO 薄膜的应用优势,将
高纯度的Ag 、ITO 靶材对称贴合,制备复合型的纳米颗粒复合薄膜。同时通过Ag-ITO 纳米颗粒复合薄膜的光电特性分析,完善该薄膜制备流程,满足光电复合材料的性能要求。
参考文献
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