用磁性方法测量涂层厚度的标准试验方法：磁性金属上的非磁性涂层 （等同采用ASTM B499-09(R2014)）（中文翻译版） |
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1. 目的Purpose
本标准试验方法涵盖了使用磁性仪器对黑金属或其他磁性基底金属上的非磁性涂层厚度进行无损测量。 2. 范围Scope
本测量方法适用于含有非磁性涂层的黑金属或其他磁性基底金属。还适用于规范验收试验和SPC/SQC应用。
磷含量大于8%的自催化沉积镍磷合金无足够磁性，只要在任何热处理之前进行测量，就可通过本试验方法进行测量。
背景音乐播放系统这些仪器无法区分各层的厚度，只能测量探针下到基底金属的所有层的累积厚度。
本试验方法不应用于测定钢上电沉积镍镀层的厚度。
3. 职责Responsibility
程序执行：实验室授权制样人员
程序监督：实验室技术负责人及相关责任人
4. 原理Principle
4.1磁力拉拔仪采用吸引原理和恒定磁场。这些机械仪器测量将永磁体从涂层磁性金属基底上拉出所需的力。对涂层下面的基底的吸引力由弹簧或线圈抵消。对弹簧/线圈施加张力，直到克服对磁性基底的磁引力。仪器必须直接放置在涂层表面上才能进行测量。将永磁体固定在磁性底座上的力与磁体和磁性底座之间的涂层厚度成反比。例如，应用于铁基片的薄涂层需要比厚涂层更大的弹簧张力才能将磁铁拉出，因为磁铁更接近具有较薄涂层的铁基片。这种逆关系反映在非线性仪器刻度上。
4.2电子仪器测量探头内磁通密度的变化，以进行涂层厚度测量。必须将仪器探头直接（垂直位置）放置在涂层表面上，以获得测量值。这些仪器确定由于接近基底而对探针产生的磁场的影响。
4.3涂层厚度通常对其性能至关重要。对于大多数钢上的有金属涂层，磁性法是无损测量涂层厚度的可靠方法。
5. 术语及定义Terms and Definition
5.1精度，n—测量结果与被测物品真实厚度之间误差大小的测量。
运维流程管理5.2调整，n—将仪器的厚度读数与已知厚度样品的厚度读数对齐（消除偏差）的物理行为，以提高仪器在特定表面或其测量范围特定部分内的精度。调整将影响后续读数的结果。
5.3校准，n—在仪器的整个工作范围内获得可追踪校准标准测量值，然后进行必要的仪器调整（如要求）以纠正任何超出公差条件的高级、受控和文件化过程。
5.3.1讨论涂层厚度仪器的校准由设备制造商、授权代理或授权的、经过培训的校准实验室在受控环境下使用记录的过程进行。校准过程的结果是恢复/重新校准仪器，以达到/超过制造商规定的精度。
5.4参考标准，n—用于验证涂层厚度测量仪器精度的已知厚度试样。
5.5准确度验证，n—在仪器使用前获得参考标准的测量值，以确定涂层厚度仪器产生可靠值的能力，与组合仪器制造商的规定准确度和参考标准的规定准确度相比。
6. 影响精度的因素Factors Affecting Accuracy
6.1涂层厚度—试验方法固有的涂层厚度是一个测量不确定度，对于薄涂层而言，该测量不确定度是恒定的，且与涂层厚度无关。测量不确定度的大小主要是试样表面光洁度的函数（见8.6表面粗糙度）。对于厚度大于约25μm（1 mil）的涂层，此不确定度与涂层厚度成正比。
6.2基底金属的磁性—磁性厚度的测量受基础金属的磁性影响。（出于实际目的，低碳钢中的磁变化通常被认为是微不足道的。为避免进行严重或局部热处理和冷加工的影响，应使用具有与测试样品相同的磁性的贱金属的参考标准物对仪器进行调节，或者最好在可能的情况下涂层前要测试的零件与被测样品一起使用。）
6.3基底金属厚度—对于每个仪器，基底金属有一个临界厚度，在该厚度以上，测量不会受到基底金属厚度增加的影响。由于它取决于仪器探头和母材的性质，如果制造商不提供，则应通过实验确定其值。
注：在本方法中，“仪器探头”也包括“磁铁”一词
6.4边缘效应—该方法对试样表面轮廓的突然变化敏感。因此，在边缘或内角附近进行的测量将无效，除非仪器专门针对此类测量进行校准。根据仪器的不同，这种影响可能从不连续处延伸到约20 mm（0.8in.）。
6.5曲率—测量值受试样曲率的影响。曲率的影响随仪器的品牌和类型而有很大的变化，但随着曲率半径的减小，这种影响总是变得更加明显。如果电极在平行于或垂直于柱面轴线的平面上对齐，带有两极探针的仪器也可能产生不同的读数。如果尖端磨损不均匀，单极探针也会产生类似的效果。
6.6表面粗糙度—测量受基底金属和涂层表面形貌的影响。当粗糙度大于涂层厚度的10%时，表面粗糙度变得显著，导致测量中的散射增加。因此，有必要在粗糙或划伤的表面上，在不同位置进行更多的测量，以获得代表平均涂层厚度的平均值。如果基底金属粗糙，可能还需要检查并在必要时调整仪表在未涂层粗糙基底金属部分的几个位置上的零点。
6.7基础金属的机械加工方向—具有两极探头或磨损不均的单极探头的仪器所进行的测量可能会受到磁性基础金属进行机械加工（例如轧制）的方向的影响，读数会随着表面上探针
方向的变化而变化。
6.8剩磁—基底金属中的剩磁影响使用固定磁场的仪器进行的测量。它对使用交变磁场的仪器进行测量的影响要小得多。
6.9杂散磁场—各种电气设备产生的强杂散磁场会严重干扰以磁原理为基础的仪器工作。
6.10异物—所有类型的磁性仪器必须与试验表面进行物理接触，因此对防止探头与涂层表面紧密接触的异物敏感。试验表面和仪器探头应无异物。
6.11涂层电导率—使用高于200 Hz的交变磁场工作频率的磁性仪器可能会在厚的高导电涂层中产生涡流，这可能会干扰读数。
6.12压力—仪表读数对探头施加在试样上的压力敏感。探头的应用不应使涂层变形。桩基泥浆比重
6.13探头方向—磁力拉脱仪可能对磁铁相对于地球重力场的定向敏感。因此，在水平或倒置位置操作仪器可能需要校正系数，或者可能不可能。
7. 校准和标准化Calibration and Standardization
7.1涂层厚度仪器的校准由设备制造商、授权代理或授权的、经过培训的校准实验室在受控环境下使用记录的过程进行。可签发显示国家计量机构可追溯性的校准证书。没有重新校准的标准时间间隔，也不是绝对需要的时间间隔，但可以根据经验和工作环境建立校准间隔。一年校准间隔是许多仪器制造商建议的典型频率。
7.2使用前，应按照制造商的说明，采用合适的厚度标准，验证每台仪器的校准精度，如有必要，应纠正发现的任何缺陷。
7.3在使用过程中，应经常验证校准精度，至少每天一次。应注意第8节中列出的因素和第9节中描述的程序。
7.4已知厚度的涂层厚度标准可用作垫片或箔或涂层试样。
7.4.1箔材：
注：在以下段落中，“箔”一词的使用将意味着非磁性金属或非金属箔或垫片。
7.4.1.1由于难以确保充分接触，通常不建议使用箔材来校准、验证准确度和调整磁性拉脱
仪，但在某些情况下，只要采取必要的预防措施，箔材是适用的。它们通常可以与其他类型的仪器一起使用。
7.4.1.2箔材有利于弯曲表面，比涂层标准更容易获得。为了防止测量误差，有必要确保箔材和基板之间建立紧密的接触。应避免弹性箔，以防止压痕误差。厚度小于15μm（0.6 mil）时，只能使用有金属箔。箔容易磨损和压痕，因此应经常更换。不得使用磨损的箔。
7.4.2涂层标准-这些校准标准包括已知的、均匀厚度的非导电涂层，永久粘结到基材上。
7.4.3所用标准的涂层厚度应包含用户最高和最低的涂层厚度测量要求。适用于许多试验方法应用的标准可以在市场上买到，并且可以使用，前提是认证值可追溯到国家计量机构。
7.5在某些情况下，应通过将探头旋转90°来检查仪器的校准（见8.8和8.9）。
7.6如果未超过8.3中规定的临界厚度，则试验和校准调整的基底金属厚度应相同。通常可以用足够厚度的类似材料来支撑标准或试样的基底金属，使读数独立于基底金属厚度。
7.7如果待测涂层的曲率妨碍在平坦表面上进行校准调整，则涂层标准或放置箔材的基板的曲率应相同。
8. 程序Procedure
8.1按照制造商的说明操作每个仪器，适当注意第6节中列出的因素。
8.2每次仪表投入使用时，应在试验现场和使用过程中的频繁间隔验证仪表的准确性，以确保性能正常。
8.3许多仪器可进行调整，以提高其在特定表面或其测量范围特定部分内的精度。在大多数情况下，只需检查未涂层基板上的零点并开始测量。然而，由于基底性质（成分、磁性、形状、粗糙度、边缘效应）和涂层性质（成分、质量、表面粗糙度）以及环境和表面温度的影响，可能需要对仪器进行调整。遵循制造商的说明。
8.4遵守以下预防措施：
8.4.1母材厚度—检查母材厚度是否超过临界厚度。如果没有，则使用7.6中提到的备用方法，或确保校准调整是在与试样具有相同厚度和磁性的参考标准上进行的。
8.4.2边缘效应—不会使读数接近试样的边缘、孔、内角等，除非已证明此类测量的校准调整的有效性。
8.4.3曲率—除非已经证明校准校准对于这种测量的有效性，否则请勿在样品的曲面上读数。
8.4.4读数次数—由于正常的仪器可变性，并且为了最大程度地减少表面粗糙度影响，测量值应为多个读数的平均值。
8.4.4.1每次测量，至少读取3次读数，每次读数后取下探头，取平均值。如果任何两个读数之间的差异超过平均读数的5%或2μm（0.08 mil），以较大者为准，则应丢弃并重复测量。
8.4.4.2基材或涂层，或两者都太粗糙，无法满足本标准。在这种情况下，可以通过平均多个读数来获得有效的测量值。
8.4.4.3磁力拉拔仪对振动敏感，明显错误的读数应予以拒绝。
8.4.5机械加工方向—如果机械加工方向对读数有明显影响，则使用与校准期间使用的探针方向相同的探针对试样进行测量。如果这是不可能的，通过以90°为增量旋转探头在不同方向上进行四次测量。
8.4.6剩磁—当基底金属中存在剩磁时，当使用两极仪器时，采用固定磁场，在两个方向上进行测量，不同方向相差180°。对于采用固定磁场的单极仪器，可能需要对试样进行退磁以获得有效结果，对于双极仪器，这也可能是可取的。
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