电容检验标准

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电容检验标准
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使用状态
文件编号
版 本
A / 0
审 核
拟 定
目  的
确保本公司电子元器件---电容品质符合客户要求
范  围
适应于电子元器件---电容进料入库检验。
抽样标准
MIL-STD-105E单次Ⅱ级正常检验;CR=0;MA=1.0;MI=2.5。
检验环境
在正常光源条件下,距离30cm远检验,以及适宜的角度检验产品。
参照标准
1、GB / T2828.1-2003逐批检查计数抽样及抽样表。
序号
检验
项目
接  收  标  准
检验
方法及工具
缺  陷  描  述
缺 陷 等 级
光模块安装
致命(CR)
严重(MA)
轻微(MI)
1
包装
包装必须有标识,外标识与实物一致。
目视
外标识与实物不一致。
包装箱不能有破损、脏污现象
包装箱有破损、脏污现象。
同一个规格型号不能有混料现象。
同一个规格型号混有其它规格型号。
2
外观
主体规格,极性丝印清晰可辨认。
目视
无法辨认。
引脚不能有弯曲成螺旋状、折痕现象。
引脚有弯曲成螺旋状、折痕现象。
引脚无断裂现象。
引脚有断裂现象。
主体划伤、碰痕现象。
主体有划伤、碰痕现象。
引脚不能有脱落现象。
引脚有松动、脱落现象。
主体不能有封装不良,表面不平现象。
主体有封装不良、表面不平。
引脚无发黑氧化、吃锡良好。
引脚有氧化、吃锡不良。
电容本体不能有破裂,表面涂覆层脱落、露芯现象。
电容本体破裂,表面涂覆层脱落、露芯现象。
张力控制
3
结构
主体直径、长度、脚径符合设计要求。
卡尺
试装
主体直径、长度、脚径不符合设计要求。
电容脚长、脚径尺寸正确。
与PCB试装符合要求。
不符合要求。
前继√
4
可焊性
炉温在250-270℃状态下,浸锡时间:1.5~3S,观察引脚吃锡率>95%以上。
浸锡
经浸锡试验后,吃锡不良(吃锡率小于95%)。
电容检验标准
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电容检验标准
文件编号
页 码
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版 本
A / 0
序号
检验
项目
接  收  标  准
检验工具及
方法
缺  陷  描  述
缺 陷 等 级
致命(CR)
严重(MA)
轻微(MI)
5
电气
特性
电容量:在1KHZ条件下测试,容量在规定偏差范围内。
LCR电桥测试仪
不符合要求。
损耗角正切值:在1KHZ条件下测试损耗角正切值符合设计要求。
不符合要求。
耐压:电容器在室温下承受施加于引脚间的,其值为2UR(额定电压),时间:60S的直流电压,漏电流设定1mA,无击穿现象。
耐压测试仪
有击穿现象。
6
高温储存试验
将未通电的电容器放置于烘箱,在100℃±5℃状态下恒温烘烤96小时,恢复16小时,测试:
1)损耗角正切值不大于原规定值2倍;金属防护罩
2)容量变化不超过20%。
电烤箱
LCR电桥测试仪
漏电流测试仪
不符合要求。
7
耐久性
将未通电的电容器放置于烘箱,在100数控分度头℃±5℃状态下恒温烘烤1000小时,满足:
手术台
1)损耗角正切值不大于原规定值2倍;
2)容量变化不超过30%。
不符合要求。
8
密封和加热试验
将未通电的电容器放置于烘箱(需分散),在85℃状态下恒温烘烤1小时,观察试验期间,电容不得出现浸渍剂或填充料泄漏现象,电容器也不得成为开路,试验后重新测试电容器的容量、损耗角正切值符合原规定要求。
不符合要求。
备  注
1、本检验标准未尽项目,需检验时可参照行业标准、国标或工程技术文件要求。当检验标准的检验项目在技术要求中未作规定时,可不作检验要求。
2、高温储存试验、耐久性、密封和加热试验,按5批次作一次抽取实验(数量:3-5pcs)。

本文发布于:2024-09-21 23:34:58,感谢您对本站的认可!

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