光刻工艺基础知识

光刻工艺基础知识PHOTO
光刻工艺基础知识PHOTO (注:引用资料光刻工艺基础知识
PHOTO
 
PHOTO 流程
  答:光阻曝光显影显影后检查CD量测Overlay量测

何为光阻?其功能为何?其分为哪两种?
搭:Photoresist(光阻)。是一种感光的物质,其作用是将Pattern从光罩(Reticle)上传递到Wafer上的一种介质。其分为正光阻和负光阻。
何为正光阻
答:正光阻,是光阻的一种,这种光阻的特性是将其曝光之后,感光部分的性质会改变,并在之后的显影过程中被曝光的部分被去除。
 
    何为负光阻?
答:负光阻也是光阻的一种类型,将其曝光之后,感光部分的性质被改变,但是这种光阻的特性与正光阻的特性刚好相反,其感光部分在将来的显影过程中会被留下,而没有被感光的部分则被显影过程去除.
 
 何谓 Photo?
答:Photo=Photolithgraphy,光刻,将图形从光罩上成象到光阻上的过程.

  Photo主要流程为何
答: Photo的流程分为前处理,上光阻,Soft Bake, 曝光,干湿巾PEB,显影,Hard Bake等。

  何谓PHOTO区之前处理?
答:在Wafer上涂布光阻之前,需要先对Wafer表面进行一系列的处理工作,以使光阻能在后面的涂布过程中能够被更可靠的涂布。前处理主要包括BakeHDMS等过程。其中通过BakeWafer表面吸收的水分去除,然后进行HDMS(六甲基乙硅氮烷,以增加光阻与晶体表面附着的能力)工作,以使Wafer表面更容易与光阻结合。
何谓上光阻?
t载体答:上光阻是为了在Wafer表面得到厚度均匀的光阻薄膜。光阻通过喷嘴(Nozzle)被喷涂在高速旋转的Wafer表面,并在离心力的作用下被均匀的涂布在Wafer车载电视机的表面。
何谓Soft Bake?
答:上完光阻之后,要进行Soft Bake,其主要目的是通过Soft Bake将光阻中的溶剂蒸发,并控制光阻的敏感度和将来的线宽,同时也将光阻中的残余内应力释放。

  何谓曝光?
答:曝光是将涂布在Wafer表面的光阻感光的过程,同时将光罩上的图形传递到Wafer上的过
程.

  何谓PEB(Post Exposure Bake)?
答:PEB是在曝光结束后对光阻进行控制精密的Bake的过程.其目的在于使被曝光的光阻进行充分的化学反应,以使被曝光的图形均匀化。
纳米珍珠粉

  何谓显影
答:显影类似于洗照片,是将曝光完成的Wafer进行成象的过程,通过这个过程,成象在光阻上的图形被显现出来。

  何谓Hard Bake?
  答:Hard Bake是通过烘烤使显影完成后残留在Wafer上的显影液蒸发,并且固化显影完成之后的光阻的图形的过程。


  何为BARC?何为TARC?它们分别的作用是什幺?
  答:BARC=Bottom Anti Reflective Coating, TARC=Top Anti Reflective Coating.
BARC是被涂布在光阻下面的一层减少光的反射的物质,TARC则是被涂布在光阻上表面的一层减少光的反射的物质。他们的作用分别是减少曝光过程中光在光阻的上下表面的反射,以使曝光的大部分能量都被光阻吸收。

  何谓 I-line
  答:曝光过程中用到的光,由Mercury Lamp(汞灯)产生,其波长为365nm,其波长较长,因此曝光完成后图形的分辨率较差,可应用在次重要的层次.

  何谓 DUV
  答:曝光过程中用到的光,其波长为248nm,其波长较短,因此曝光完成后的图形分辨率较好,用于较为重要的制程中.


  I-lineDUV主要不同处为何
  答:光源不同,波长不同,因此应用的场合也不同.I—Line主要用在较落后的制程(0.35微米以上)或者较先进制程(0。35微米以下)的Non—Critical layerDUV则用在先进制程的Critical layer上。

  何为Exposure Field?
  答:曝光区域,一次曝光所能覆盖的区域

  何谓 Stepper? 其功能为何
  答:一种曝光机,其曝光动作为Step by step形式,一次曝整个exposure field,一个一个曝过去 哑光玻璃

  何谓 Scanner? 其功能为何
  答:一种曝光机,其曝光动作为Scanning and step形式, 在一个exposure field曝光时, Scan完整个field, Scan完后再移到下一个field。

  何为象差?
  答:代表透镜成象的能力,越小越好

  ScannerStepper优点为何?
  答:Exposure Field大,象差较小

  曝光最重要的两个参数是什幺?
  答:Energy(曝光量), Focus(焦距)。如果能量和焦距调整的不好,就不能得到要求的分辨率和要求大小的图形,主要表现在图形的CD值超出要求的范围。因此要求在生产时要时刻维持最佳的能量和焦距,这两个参数对于不同的产品会有不同。


  何为Reticle?
  答:Reticle也称为Mask,翻译做光掩模板或者光罩,曝光过程中的原始图形的载体,通过曝光过程,这些图形的信息将被传递到芯片上。

  何为Pellicle?
  答:偏光膜PellicleReticle上为了防止灰尘(dust)或者微尘粒子(Particle)落在光罩的图形面上的一层保护膜.

  何为OPC光罩?
  答:OPC (Optical Proximity Correction)为了增加曝光图案的真实性,做了一些修正的光罩,例如,0。18微米以下的Poly, Metal layer就是OPC光罩.

  何为PSM光罩?
  答:PSM (Phase Shift Mask)不同于Cr mask, 利用相位干涉原理成象,目前大都应用在contact layer以及较小CDCritical layer(如AAPOLYMETAL1)以增加图形的分辨率。

本文发布于:2024-09-21 19:27:44,感谢您对本站的认可!

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