一种过载检测保护方法、装置、电路及电子设备与流程



1.本发明涉及计算机技术领域,尤其涉及一种一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法、装置、电路及电子设备。


背景技术:



2.efuse芯片是一种一次性可编程存储器,该芯片中的电路运行效率非常高,广泛应用于对处理效率要求较高的应用场景下,例如:服务器大型主机处理器、游戏机的微处理器以及手机和图像处理设备。
3.但是,目前在使用efuse芯片时,通常只检测负载线路上电流。如图1所示的使用efuse芯片的实现方案示意图中,只能检测通过负载电阻r
out
的负载电流,并根据负载电流确定是否过载,若过载则直接瞬间切断线路,如此,极易引起数据丢失和部件损坏等问题。


技术实现要素:



4.本发明实施例提供一种一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法、装置、电路及电子设备。
5.根据本发明第一方面,提供了一种一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法,所述方法包括:检测电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流;在所述输出电流大于第一设定电流的情况下,发出芯片异常预警信息;其中,所述第一设定电流根据所述一次性可编程存储芯片的工作电流阈值和熔断电流确定。
6.根据本发明一实施方式,所述检测电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流,包括:采集所述一次性可编程存储芯片的输出电压;获取所述一次性可编程存储芯片的外部输出电阻的阻值;根据所述输出电压和所述外部输出电阻的阻值确定所述一次性可编程存储芯片的输出电流,所述输出电流与所述一次性可编程存储芯片的负载电流具有确定的关联关系。
7.根据本发明一实施方式,在所述输出电流大于第一设定电流的情况下,发出一次性可编程存储芯片异常预警信息,包括:在所述输出电流大于第一设定电流的情况下,执行以下操作至少之一:发送一次性可编程存储芯片异常信息至所述电子设备的bios或os;保存所述电子设备的内存和缓存设备的数据;发送用于通知cpu关机的信息至所述电子设备的cpu,以通知所述cpu关机。
8.根据本发明一实施方式,保存所述电子设备的内存和缓存设备的数据,包括:将cache和内存的数据通过快速保存机制复制至所述电子设备的硬盘。
9.根据本发明一实施方式,发送用于通知cpu关机的信息至所述电子设备的cpu,包括:发送不可屏蔽中断请求信号nmi至所述cpu。
10.根据本发明一实施方式,所述一次性可编程存储芯片为efuse芯片。
11.根据本发明一实施方式,所述方法基于所述电子设备的bmc实现;并且,通过所述bmc的adc实现对所述电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流的检测。
12.根据本发明第二方面,又提供了一种一次性可编程存储芯片的过载检测保护装置,所述装置包括:检测模块,用于检测一次性可编程芯片的负载电流;预警保护模块,在所述负载电流大于第一设定电流的情况下,发出芯片异常预警信息;其中,所述第一设定电流大于所述一次性可编程存储芯片的正常工作电流阈值并且小于所述一次性可编程存储芯片的门限电流。
13.根据本发明第三方面,又提供了一种一次性可编程存储芯片的过载检测保护电路,所述过载检测保护电路用于检测芯片的负载电流,包括:芯片输出电流采集支路,包括:模数转换器,配置于电子设备的管理模块中,与一次性可编程芯片的模拟输入输出引脚连接,用于采集所述一次性可编程存储芯片的外部输出电阻两端的输出电压;电流确定单元,配置于电子设备的管理模块中,用于获取所述一次性可编程存储芯片的负载电流,并根据所述输出电压和所述外部输出电阻的阻值确定所述一次性可编程存储芯片的输出电流;滤波支路,连接于所述模拟输入输出引脚与芯片负载电流采集支路之间,用于对所述输出电压进行滤波。
14.根据本发明第四方面,又提供了一种电子设备,所述电子设备包括如上所述的过载检测保护电路。
15.本发明实施提供一种一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法、装置、电路及电子设备,该方法首先检测电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流,并在输出电流大于第一设定电流的情况下,发出芯片异常预警信息,其中,第一设定电流大于一次性可编程存储芯片的工作电流阈值并且小于一次性可编程存储芯片的熔断电流。由此,相对于只能在输出电流超过熔断电流的情况下直接关机的一次性可编程存储芯片,本方案能够在一次性可编程存储芯片的输出电流达到熔断电流之前,有效识别超限的电流异常问题,实现了提前对一次性可编程存储芯片进行预警,以使得应用该一次性可编程存储芯片数据的系统提前做好数据保护等功能。
16.需要理解的是,本发明的教导并不需要实现上面所述的全部有益效果,而是特定的技术方案可以实现特定的技术效果,并且本发明的其他实施方式还能够实现上面未提到的有益效果。
附图说明
17.通过参考附图阅读下文的详细描述,本发明示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中,以示例性而非限制性的方式示出了本发明的若干实施方式,其中:
18.在附图中,相同或对应的标号表示相同或对应的部分。
19.图1示出了现有技术中使用efuse芯片的实现方案示意图;
20.图2示出了本发明实施例一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法的应用场景示意图;
21.图3示出了本发明实施例一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法的实现流程示意图;
22.图4示出了本发明实施例中一次性可编程存储芯片的输出电阻与负载电流的关系示意图;
23.图5示出了本发明实施例中一次性可编程存储芯片处于不同状态下的负载电流与时间的关系示意图;
24.图6示出了本发明实施例中一次性可编程存储芯片的过载检测保护装置的组成结构示意图。
具体实施方式
25.下面将参考若干示例性实施方式来描述本发明的原理和精神。应当理解,给出这些实施方式仅仅是为使本领域技术人员能够更好地理解进而实现本发明,而并非以任何方式限制本发明的范围。相反,提供这些实施方式是为使本发明更加透彻和完整,并能够将本发明的范围完整地传达给本领域的技术人员。
26.下面结合附图和具体实施例对本发明的技术方案进一步详细阐述。
27.图2示出了本发明实施例一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法的应用场景示意图。
28.如图2所示,电子设备的bmc(baseboard manager controller,管理模块)通过配置在bmc上的adc(模数转换器)与efuse芯片的模拟输入输出引脚ilm连接,能够采集efuse芯片的外部输出电阻r
ilm
两端的输出电压,即为bmc的adc pin引脚的电压。并且r
ilm
的阻值是固定的,这里可以直接获取efuse芯片的外部输出电阻r
ilm
的阻值,并根据输出电压和r
ilm
的阻值确定流经r
ilm
的输出电流。r
ilm
的一端与efuse芯片的ilm引脚连接,另一端与接地端连接,所以adc可以采集r
ilm
两端的电压。此外,流经r
ilm
的输出电流i
ilm
与流经负载电路中负载电阻r
out
的电流i
out
之间的具有确定的关联关系,可以在efuse芯片正常工作情况下,通过反复检测得到,或经过多种理论计算确定。由此,在确定efuse芯片的输出电流的情况下,可以根据i
ilm
与i
out
之间的确定的关联关系,确定i
out

29.进一步的,在bmc与r
ilm
之间还配置了滤波支路,滤波支路包括滤波电容cap和复位电阻res,复位电阻res连接在bmc的adc引脚与芯片efuse的模拟输入输出引脚ilm之间,滤波电容cap的一端连接在复位电阻res和bmc的adc引脚之间,另一端与接地端连接。
30.bmc能够根据流经r
ilm
的输出电流i
ilm
与流经负载电阻r
out
的电流i
out
之间的具有确定的关联关系,设定需要发出efuse芯片异常预警信息的第一设定电流。举例说明,若i
ilm
=i
out
×
276
×
106,并且当r
ilm
=487ω时,i
out
的熔断电流为1a,则i
ilm
=276微安的情况下,efuse芯片的负载电流将达到熔断电流,efuse芯片将自动关断。在i
out
≤0.75a的情况下,efuse芯片能够正常工作,则可以将0.75a为设定为efuse芯片的工作电流阈值,在i
out
=0.75a时,i
ilm
=207微安。由此,可以将第一设定电流配置为207微安。在输出电流大于或等于207微安的情况下,发出预警信息,以通过电子设备的bmc做好电子设备的数据保护。
31.图3示出了本发明实施例一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法的实现流程示意图参考图3,本发明实施例一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法,至少包括如下操作流程:操作301,检测电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流;操作302,在输出电流大于第一设定电流的情况下,发出芯片异常预警信息;其中,第一设定电流根据一次性可编程存储芯片的工作电流阈值和熔断电流确定。
32.在操作301中,检测电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流。
33.在本发明这一实施方式中,一次性可编程存储芯片为efuse芯片。基于电子设备的
bmc实现一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法,并且,通过bmc的adc实现对电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流的检测。
34.在本发明这一实施方式中,可以直接采集一次性可编程存储芯片的输出电压,并获取一次性可编程存储芯片的外部输出电阻的阻值,从而根据输出电压和外部输出电阻的阻值,确定一次性可编程存储芯片的输出电流。其中,输出电流与一次性可编程存储芯片的负载电流具有确定的关联关系。
35.返回参考图2举例说明,输出电压指输出电阻r
ilm
两端的电压,输出电阻r
ilm
的其中一端接地,另一端与efuse芯片的ilm管脚连接,u
ilm
可以通过bmc的adc直接采集,输出电阻r
ilm
的阻值为预先确定的。由此,根据输出电阻r
ilm
和输出电压u
ilm
确定输出电流i
ilm

36.在操作302中,在输出电流大于第一设定电流的情况下,发出芯片异常预警信息;其中,第一设定电流根据一次性可编程存储芯片的工作电流阈值和熔断电流确定。
37.在本发明这一实施方式中,第一设定电流根据一次性可编程存储芯片的工作电流阈值和熔断电流确定。
38.举例说明,一次性可编程存储芯片为efuse芯片。由于efuse芯片的输出电流i
ilm
与负载电流i
out
具有确定的关联关系,并且efuse芯片在其负载电流达到熔断电流的情况下efuse芯片自身将自动关断,对efuse芯片进行保护。因此,可以根据efuse芯片工作电流阈值和熔断电流确定第一设定阈值。例如,可以首先根据efuse芯片的输出电流i
ilm
与负载电流i
out
具有确定的关联关系,确定efuse芯片的负载电流达到工作电流阈值时,输出电流i
ilm
的第一电流值,并将该至设定为第一设定阈值。同样的,还可以适当提高第一设定电流阈值,以减少误报警。具体的,可以根据efuse芯片的输出电流i
ilm
与负载电流i
out
具有确定的关联关系,确定efuse芯片的负载电流达到熔断电流时,输出电流i
ilm
的第二电流值,并将第一设定阈值设置为大于第一电流值小于第二电流值的某一个值,这里可以让第一设定值更接近于第一电流值。在根据操作301确定输出电流i
ilm
之后,可以根据输出电流i
ilm
是否大于第一设定阈值,判断efuse芯片的负载电流是否达到工作电流阈值。
39.图4示出了本发明实施例中一次性可编程存储芯片的输出电阻与负载电流的关系示意图。
40.参考图4,r
ilm
=487ω的情况下,负载电流i
out
的熔断电流的值为4.17a;
41.r
ilm
=1780ω的情况下,负载电流i
out
的熔断电流的值为1.17a;
42.r
ilm
=4420ω的情况下,负载电流i
out
的熔断电流的值为0.49a;
43.r
ilm
出现单点故障,电阻趋于无穷大的情况下,负载电流i
out
的熔断电流的值为0。
44.同理,通过反复实验或多种方法理论仿真计算可以确定输出电阻为不同电阻值的情况下,负载电流i
out
的工作电流阈值。
45.例如:r
ilm
=487ω的情况下,负载电流i
out
的熔断电流的值为3.75a;
46.r
ilm
=1780ω的情况下,负载电流i
out
的熔断电流的值为1.0a;
47.r
ilm
=4420ω的情况下,负载电流i
out
的熔断电流的值为0.36a。
48.进一步,i
ilm
=i
out
×
276
×
106,i
ilm
的电流可以由i
out
换算得到,具体的:
49.u
ilm
=r
ilm
×iilm
,u
ilm
可以通过bmc的adc管脚直接采集得到。
50.由此,u
ilm
=r
ilm
×iilm
=r
ilm
×iout
×
276
×
106。
51.若r
ilm
=487ω,则当i
out
=1a时,i
ilm
=i
out
×
276
×
106=276ua,u
ilm
=r
ilm
×iilm

487ω
×
276ua=134mv。
52.更进一步,根据r
ilm
的值和相应的负载电流i
out
的熔断电流的值,可以确定i
out
达到熔断电流的情况下i
ilm
的值,并将此时i
ilm
的值作为第一设定电流。
53.参考图5所示的本发明实施例中一次性可编程存储芯片处于不同状态下的负载电流与时间的关系示意图。
54.efuse芯片的负载电流i
ilm
小于或等于工作电流阈值的情况下,efuse芯片、bmc和电子设备均能够处于正常工作状态。efuse芯片的负载电流i
ilm
大于工作电流阈值但是小于熔断电流的情况下,efuse芯片实质上是处于持续低电流漏电状态的,此时bmc和电子设备均存在丢失数据的风险。
55.由此,在本发明这一实施方式中,在输出电流大于第一设定电流的情况下,执行以下操作至少之一:1、发送一次性可编程存储芯片异常信息至电子设备的bios或os;2、保存电子设备的内存和缓存设备的数据;3、发送用于通知cpu关机的信息至电子设备的cpu,以通知cpu关机。
56.举例说明,可以发送一次性可编程存储芯片异常信息至电子设备的bios或os,以使得系统保存临时数据,结束正在执行的进程。
57.可以通过将cache和内存的数据通过快速保存机制复制至电子设备的硬盘的方式,保存电子设备的内存和缓存设备的数据。
58.cache存储器,是电子设备中的一种高速缓冲存储器,位于cpu和主存储器dram(dynamic random access memory)之间,规模较小,但速度很高的存储器,通常由sram(static random access memory静态存储器)组成。它是位于cpu与内存间的一种容量较小但速度很高的存储器。cpu的速度远高于内存,当cpu直接从内存中存取数据时要等待一定时间周期,而cache则可以保存cpu刚用过或循环使用的一部分数据,如果cpu需要再次使用该部分数据时可从cache中直接调用,这样就避免了重复存取数据,减少了cpu的等待时间,因而提高了系统的效率。
59.在本发明这一实施方式中,还可以发送nmi(non maskable interrupt,不可屏蔽中断请求信号)至cpu,以通知cpu关机的信息至电子设备的cpu。
60.不可屏蔽中断请求信号nmi用来通知cpu当前电子设备发生了“灾难性”的事件,如电源掉电、存储器读写出错、总线奇偶位出错等。nmi线上中断请求是不可屏蔽的、而且立即被cpu锁存。在cpu响应nmi时,不必由中断源提供中断类型码。
61.由此,通过bmc可以执行上述一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法,检测到一次性可编程芯片的持续的低电流漏电的情况,及时上报故障报警。从而提前做好保护措施,避免丢失数据或部件损坏。
62.本发明实施提供的一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法、装置、电路及电子设备,该方法首先检测电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流,并在输出电流大于第一设定电流的情况下,发出芯片异常预警信息,其中,第一设定电流大于一次性可编程存储芯片的工作电流阈值并且小于一次性可编程存储芯片的熔断电流。由此,相对于只能在输出电流超过熔断电流的情况下直接关机的一次性可编程存储芯片,本方案能够在一次性可编程存储芯片的输出电流达到熔断电流之前,有效识别超限的电流异常问题,实现了提前对一次性可编程存储芯片进行预警,以使得应用该一次性可编程存储芯片数据的系统
提前做好数据保护等功能。
63.同理,基于上文一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法,本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质存储有程序,当程序被处理器执行时,使得处理器至少执行如下的操作步骤:操作301,检测电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流;操作302,在输出电流大于第一设定电流的情况下,发出芯片异常预警信息;其中,第一设定电流根据一次性可编程存储芯片的工作电流阈值和熔断电流确定。
64.进一步,基于如上文一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法,本发明实施例还提供一种一次性可编程存储芯片的过载检测保护装置,如图6所示,装置60包括:检测模块601,用于检测芯片的负载电流;预警保护模块602,在负载电流大于第一设定电流的情况下,发出芯片异常预警信息;其中,第一设定电流大于芯片的正常工作电流阈值并且小于芯片的门限电流。
65.更进一步,基于如上文一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法,本发明实施例还提供一种过载检测保护电路,过载检测保护电路用于检测芯片的负载电流,包括:所述过载检测保护电路用于检测芯片的负载电流,包括:芯片输出电流采集支路,包括:模数转换器,配置于电子设备的管理模块中,与一次性可编程芯片的模拟输入输出引脚连接,用于采集所述一次性可编程存储芯片的外部输出电阻两端的输出电压;电流确定单元,配置于电子设备的管理模块中,用于获取所述一次性可编程存储芯片的负载电流,并根据所述输出电压和所述外部输出电阻的阻值确定所述一次性可编程存储芯片的输出电流;滤波支路,连接于所述模拟输入输出引脚与芯片负载电流采集支路之间,用于对所述输出电压进行滤波。
66.更进一步,基于如上文一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法,本发明实施例还提供一种电子设备,电子设备包括如上的过载检测保护电路。
67.这里需要指出的是:以上对针对一次性可编程存储芯片的过载检测保护装置、电路及设备实施例的描述,与前述图2至5所示的方法实施例的描述是类似的,具有同前述图2至5所示的方法实施例相似的有益效果,因此不做赘述。对于本发明一次性可编程存储芯片的过载检测保护装置、电路及设备实施例中未披露的技术细节,请参照本发明前述图2至5所示的方法实施例的描述而理解,为节约篇幅,因此不再赘述。
68.需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个
……”
限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
69.在本技术所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的设备和方法,可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的,例如,单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,如:多个单元或组件可以结合,或可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另外,所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口,设备或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性的、机械的或其它形式的。
70.上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的,作为单元显
示的部件可以是、或也可以不是物理单元;既可以位于一个地方,也可以分布到多个网络单元上;可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。
71.另外,在本发明各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中,也可以是各单元分别单独作为一个单元,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中;上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
72.本领域普通技术人员可以理解:实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成,前述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,执行包括上述方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:移动存储设备、只读存储器(read only memory,rom)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
73.或者,本发明上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行本发明各个实施例方法的全部或部分。而前述的存储介质包括:移动存储设备、rom、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
74.以上,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

技术特征:


1.一种一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法,所述方法包括:检测电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流;在所述输出电流大于第一设定电流的情况下,发出芯片异常预警信息;其中,所述第一设定电流根据所述一次性可编程存储芯片的工作电流阈值和熔断电流确定。2.根据权利要求1所述的方法,所述检测电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流,包括:采集所述一次性可编程存储芯片的输出电压;获取所述一次性可编程存储芯片的外部输出电阻的阻值;根据所述输出电压和所述外部输出电阻的阻值确定所述一次性可编程存储芯片的输出电流,所述输出电流与所述一次性可编程存储芯片的负载电流具有确定的关联关系。3.根据权利要求1所述的方法,在所述输出电流大于第一设定电流的情况下,发出一次性可编程存储芯片异常预警信息,包括:在所述输出电流大于第一设定电流的情况下,执行以下操作至少之一:发送一次性可编程存储芯片异常信息至所述电子设备的bios或os;保存所述电子设备的内存和缓存设备的数据;发送用于通知cpu关机的信息至所述电子设备的cpu,以通知所述cpu关机。4.根据权利要求3所述的方法,保存所述电子设备的内存和缓存设备的数据,包括:将cache和内存的数据通过快速保存机制复制至所述电子设备的硬盘。5.根据权利要求3所述的方法,发送用于通知cpu关机的信息至所述电子设备的cpu,包括:发送不可屏蔽中断请求信号nmi至所述cpu。6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法,所述一次性可编程存储芯片为efuse芯片。7.根据权利要求1-5中任一项所述的方法,所述方法基于所述电子设备的bmc实现;并且,通过所述bmc的adc实现对所述电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流的检测。8.一种一次性可编程存储芯片的过载检测保护装置,所述装置包括:检测模块,用于检测一次性可编程芯片的负载电流;预警保护模块,在所述负载电流大于第一设定电流的情况下,发出芯片异常预警信息;其中,所述第一设定电流大于所述一次性可编程存储芯片的正常工作电流阈值并且小于所述一次性可编程存储芯片的门限电流。9.一种一次性可编程存储芯片的过载检测保护电路,所述过载检测保护电路用于检测一次性可编程芯片的负载电流,包括:芯片输出电流采集支路,包括:模数转换器,配置于电子设备的管理模块中,与一次性可编程存储芯片的模拟输入输出引脚连接,用于采集所述一次性可编程存储芯片的输出电压;电流确定单元,配置于电子设备的管理模块中,用于获取所述一次性可编程存储芯片的外部输出电阻的阻值,并根据所述输出电压和所述外部输出电阻的阻值确定所述一次性可编程存储芯片的输出电流;
滤波支路,连接于所述模拟输入输出引脚与芯片负载电流采集支路之间,用于对所述输出电压进行滤波。10.一种电子设备,所述电子设备包括权利要求9所述的过载检测保护电路。

技术总结


本发明公开了一种一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法、装置、电路及电子设备,该方法首先检测电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流,并在输出电流大于第一设定电流的情况下,发出芯片异常预警信息,其中,第一设定电流大于一次性可编程存储芯片的工作电流阈值并且小于一次性可编程存储芯片的熔断电流。由此,相对于只能在输出电流超过熔断电流的情况下直接关机的一次性可编程存储芯片,本方案能够在一次性可编程存储芯片的输出电流达到熔断电流之前,有效识别超限的电流异常问题,实现了提前对一次性可编程存储芯片进行预警,以使得应用该一次性可编程存储芯片数据的系统提前做好数据保护等功能。系统提前做好数据保护等功能。系统提前做好数据保护等功能。


技术研发人员:

高游

受保护的技术使用者:

联想(北京)有限公司

技术研发日:

2021.12.31

技术公布日:

2022/5/17

本文发布于:2024-09-23 20:10:18,感谢您对本站的认可!

本文链接:https://www.17tex.com/tex/3/25184.html

版权声明:本站内容均来自互联网,仅供演示用,请勿用于商业和其他非法用途。如果侵犯了您的权益请与我们联系,我们将在24小时内删除。

标签:可编程   电流   芯片   所述
留言与评论(共有 0 条评论)
   
验证码:
Copyright ©2019-2024 Comsenz Inc.Powered by © 易纺专利技术学习网 豫ICP备2022007602号 豫公网安备41160202000603 站长QQ:729038198 关于我们 投诉建议