主板检测卡代码大全+常见代码维修

直接显示FF或00,CPU没有工作 ATX电源损坏,CPU脚焊点因为长时间的热胀冷缩,脱焊,CPU附近的电解电容爆裂,CPU附近的功率三极管烧毁   
代码:FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也没有表示CPU没通过   
C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示内存不过   
24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示显卡不过 某些集成显卡主板23、24、25表示可以正常点亮,某些VIA芯片组显示13则表示可以点亮,某些品牌机里的主板显示0B则表示正常,某些主板显示4E表示正常点亮,某些INTEL芯片组的主板显示26或16则表示可以正常点亮。   
C1、C6、C3、01、02这个组合循环跳变大部分是I/0坏或刷BIOS 如显示05、ED、41则直接刷BIOS
主板检测卡各指示灯说明     
BIOS灯:为BIOS运行灯、正常工作时应不停闪动      硅片清洗
CLK灯:为时钟灯、正常为常亮     
OSC灯:为基准时钟灯、正常为常亮     
RESET灯:为复位灯、正常为开机瞬间闪一下,然后熄灭     
RUN灯:为运行灯、工作时应不停闪动  +12V、-12V、+5V、+3.3V灯正常为常亮炉灶节能器
常见代码检修   
1、00、CO、CF、FF或D1      测BIOS芯片CS有无片选:(1)、有片选:换BIOS、测BIOS的OE是否有效、测PCI的AD线、测CPU复位有无1.5V--0V跳变。(2)、无片选:测PCI的FRAME、测CPU的DBSY ADS#,如不正常则北桥坏、若帧周期信号不正常则南桥坏   
2、C0      CPU插槽脏、针脚坏、接触不好、换电源、换CPU、换转接卡有时可解决问题、刷BIOS、检查BIOS座、I/O坏、北桥虚焊、南弱桥坏、PCB断线、板上粘有导电物   
3、C1、C3、C6、A7或E1 内存接触不良(用镊子划内存槽)  测内存工作电压SDRAM (3.3V),DDR(2.5和1.25V)  测时钟(CLK0~CLK3)  CPU旁排阻是否损坏  测CPU地址线和数据线  测DDR的负载排阻和数据排阻  北桥坏   
4、C1~05循环跳变  测32.768MHZ是否正常  BIOS损坏  I/O或南桥损坏   
5、C1、C3、C6  刷BIOS、检查BIOS座  换电源、换CPU,换转接卡有时可解决问题 PCB断线、板
上粘有导电物      换内存条,PC100、PC133,或速度更快更稳定的内存 换内存插槽,有些主板的内存条插槽要先插最靠里面或最靠外面的槽才可工作  目测内存槽是否有短路等机械类损坏现象  没内存的CLK0、CLK1、CLK2、CLK3、CLK4,内存主供电    打阻值检查是否有断路现象 换I/O芯片、北桥虚焊或北桥坏   
6、循环显示C1-C3或C1-C5  刷BIOS 换I/O有时可解决问题、检查I/O外围电路 PCB断线、板上粘有导电物 换电源、换CPU、换内存 南桥坏   
7、其它代码  刷BIOS  换电源、CPU、内存  检查I/O外围电路、换I/O芯片  PCB断线、板上粘有导电物、南桥坏   
8、bO代码      测内存的数据负载电压1.25V、2.5V(DDR
)  清CMOS  测北桥供电或北桥坏    9、25代码      测AGP核心供电4X(1.5V)、8X(0.8V)、2X(3.3V) 北桥供电、北桥坏   
10、走od后不亮  测PCI插槽之间电阻和排阻  外频、倍频跳线   
11、若显示Ob显示器仍不亮  换显卡,有时主板与显卡不兼容  换电源、换CPU、换内存  换显卡插槽、PCB断线、板上粘有导电物  刷BIOS  换I/O  查北桥供电或南北桥坏  查PCI、AGP槽附近的排阻
和电容     
12、显2d代码      测AGP的AD线  初始化INTR信号  北桥供电不正常或北桥坏   
13、显2d代码后不变      刷BIOS  时钟发生器不良  清除CMOS  北桥供电不正常或北桥坏   
14、显示50代码      I/O供电或I/O芯片坏  南桥供电或南桥坏  BIOS坏、北桥坏   
15、显示41      刷BIOS  A18跳线  PCB断线、板上粘有导电物  I/O坏、南桥坏 
错误代码:00(FF)代码含义:主板没有正常自检解决方法:这种故障较麻烦,原因可能是主板或CPU没有正常工作。一般遇到这种情况,可首先将电脑上除CPU外的所有部件全部取下,并检查主板电压、倍频和外频设置是否正确,然后再对CMOS进行放电处理,再开机检测故障是否排除。如故障依旧,还可将CPU从主板上的插座上取下,仔细清理插座及其周围的灰尘,然后再将CPU安装好,并加以一定的压力,保证CPU与插座接触紧密,再将散热片安装妥当,然后开机测试。如果故障依旧,则建议更换CPU测试。另外,主板BIOS损坏也可造成这种现象,必要时可刷新主板BIOS后再试。       
错误代码:01代码含义:处理器测试解决方法:说明CPU本身没有通过测试,这时应检查CPU相关设备。如对CPU进行过超频,请将CPU的频率还原至默认频率,并检查CPU电压、外频和倍频是否设置正确。如一切正常故障依旧,则可更换CPU再试。       
中草药压片机错误代码:C1至C5代码含义:内存自检解决方法:较常见的故障现象,它一般表示系统中的内存存在故障。要解决这类故障,可首先对内存实行除尘、清洁等工作再进行测试。如问题依旧,可尝试用柔软的橡皮擦清洁金手指部分,直到金手指重新出现金属光泽为止,然后清理掉内存槽里的杂物,并检查内存槽内的金属弹片是否有变形、断裂或氧化生锈现象。开机测试后如故障依旧,可更换内存再试。如有多条内存,可使用替换法查故障所在。       
错误代码:0D代码含义:视频通道测试解决方法:这也是一种较常见的故障现象,它一般表示显卡检测未通过。这时应检查显卡与主板的连接是否正常,如发现显卡松动等现象,应及时将其重新插入插槽中。如显卡与主板的接触没有问题,则可取下显卡清理其上的灰尘,并清洁显卡的金手指部份,再插
到主板上测试。如故障依旧,则可更换显卡测试。一般系统启动过0D后,就已将显示信号传输至显示器,此时显示器的指示灯变绿,然后DEBUG卡继续跳至31,显示器开始显示自检信息,这时就可通过显示器上的相关信息判断电脑故障了       
错误代码:0D至0F代码含义:CMOS停开寄存器读/写测试解决方法:检查CMOS芯片、电池及周围电路部分,可先更换CMOS电池,再用小棉球蘸无水酒精清洗CMOS的引脚及其电路部分,然后看开机检查问题是否解决。       
错误代码:12、13、2B、2C、2D、2E、2F、30、31、32、33、34、35、36、37、38、39、3A代码含义:测试显卡解决方法:该故障在AMI BIOS中较常见,可检查显卡的视频接口电路、主芯片、显存是否因灰尘过多而无法工作,必要时可更换显卡检查故障是否解决。               
错误代码:1A、1B、20、21、22代码含义:存储器测试解决方法:同Award BIOS篇内存故障的解决方法。
注意事项:如在BIOS设置中设置为不提示出错,则当遇到非致命性故障时,诊断卡不会停下来显示故障代码,解决方法是在BIOS设置中设置为提示所有错误之后再开机,然后再根据DEBUG代码 
ebeam检测卡代码大全:出现顺序不定、下面按名称排列
01、处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。CPU寄存器测试正在进行或者失败。
02、确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。CMOS写入/读出正在进行或者失灵。03、清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。ROMBIOS检查部件正在进行或失灵。
04、使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器
的测试正在进行或失灵。
05、如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。DMA初如准备正在进行或者失灵。
06、使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROMBIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或灵。
07、处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。ROMBIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。.
08、使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT命令。RAM更新检验正在进行或失灵。
09、EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第
一个64KRAM测试正在进行。
0A、使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64KRAM芯片或数据线失灵,移位。
0B、测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封【蟹】锁/解锁命令。第一个64KRAM奇/偶逻辑失灵。
0C、测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封【蟹】锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64KRAN的地址线故障。
0D1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。第一个64KRAM的奇偶性失灵0E测试CMOS停机字节。CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。初始化输入/输出端口地址。0F测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。.
10、测试DMA通道0。CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64KRAM第0位故障。
11、测试DMA通道1。CMOS状态寄存器已作初始准备,即将停用DMA和中断控制器。第一个64DKRAM第1位故障。
12、测试DMA页面寄存器。停用DMA控制器1以及中断控制器1和2;即将视频显示器并使端口B作初始准备。第一个64DKRAM第2位故障。
13、测试8741键盘控制器接口。视频显示器已停用,端口B已作初始准备;即将开始电路片初始化/存储器自动检测。第一个64DKRAM第3位故障。
14、测试存储器更新触发电路。电路片初始化/存储器处自动检测结束;8254计时器测试即将开始。第一个64DKRAM第4位故障。
15、测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半;8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DKRAM第5位故障。
16、建立8259所用的中断矢量表。第2通道计时器测试结束;8254第1通道计时器即将完成测试。第一个64DKRAM第6位故障。
17、调准视频输入/输出工作,若装有视频BIOS则启用。第1通道计时器测试结束;8254第0通道计时器即将完成测试。第一个64DKRAM第7位故障。
18、测试视频存储器,如果安装选用的视频BIOS通过,由可绕过。第0通道计时器测试结束;即将开始更新存储器。第一个64DKRAM第8位故障。大屏幕控制器
19、测试第1通道的中断控制器(8259)屏蔽位。已开始更新存储器,接着将完成存储器的更新。第一个64DKRAM第9位故障。
1A、测试第2通道的中断控制器(8259)屏蔽位。正在触发存储器更新线路,即将检查15微秒通/断时间。第一个64DKRAM第10位故障。
1B、测试CMOS电池电平。完成存储器更新时间30微秒测试;即将开始基本的64K存储器测试。第一个64DKRAM第11位故障。
1C、测试CMOS检查总和。.第一个64DKRAM第12位故障。
1D、调
定CMOS配置。.第一个64DKRAM第13位故障。
1E、测定系统存储器的大小,并且把它和CMOS值比较。.第一个64DKRAM第14位故障。
1F、测试64K存储器至最高640K。.第一个64DKRAM第15位故障。
20、测量固定的8259中断位。开始基本的64K存储器测试;即将测试地址线。从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。
21、维持不可屏蔽中断(NMI)位(奇偶性或输入/输出通道的检查)。通过地址线测试;即将触发奇偶性。主DMA寄存器测试正在进行或失灵。
22、测试8259的中断功能。结束触发奇偶性;将开始串行数据读/写测试。主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。
23、测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。基本的64K串行数据读/写测试正常;即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。
24、测定1MB以上的扩展存储器。矢量初始化之前的任何调节完成,即将开始中断矢量的初始准备。设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。
25、测试除头一个64K之后的所有存储器。完成中断矢量初始准备;将为旋转式断续开始读出8042的输入/输出端口。装入中断矢量正在进行或失灵。26、测试保护方式的例外情况。读出8042的输入/输出端口;即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。开启A20地址线;使之参入寻址。
27、确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。全1数据初始准备结束;接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。键盘控制器测试正在进行或失灵。28、确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。完成中断矢量之后的初始准备;即将调定单方式。CMOS电源故障/检查总和计算正在进行。
29、已调定单方式,即将调定彩方式。CMOS配置有效性的检查正在进行。
2A、使键盘控制器作初始准备。已调定彩方式,即将进行ROM测试前的触发奇偶性。置空64K基本内存。
2B、使磁碟驱动器和控制器作初始准备。触发奇偶性结束;即将控制任选的视频ROM检查前所需的任何调节。屏幕存储器测试正在进行或失灵。
2C、检查串行端口,并使之作初始准备。完成视频ROM控制之前的处理;即将查看任选的视频ROM并加以控制。屏幕初始准备正在进行或失灵。
2D、检测并行端口,并使之作初始准备。已完成任选的视频ROM控制,即将进行视频ROM回复控制之后任何其他处理的控制。屏幕回扫测试正在进行或失灵。
2E、使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备。从视频ROM控制之后的处理复原;如果没有发现EGA/VGA就要进行显示器存储器读/写测试。检测视频ROM正在进行。
2F、检测数学协处理器,并使之作初始准备。没发现EGA/VGA;即将开
始显示器存储器读/写测试。.
30、建立基本内存和扩展内存。通过显示器存储器读/写测试;即将进行扫描检查。认为屏幕是可以工作的。
31、检测从C800:0至EFFF:0的选用ROM,并使之作初始准备。显示器存储器读/写测试或扫描检查失败,即将进行另一种显示器存储器读/写测试。单监视器是可以工作的。
32、对主板上COM/LTP/FDD/声音设备等I/O芯片编程使之适合设置值。通过另一种显示器存储器读/写测试;却将进行另一种显示器扫描检查。彩监视器(40列)是可以工作的。
33、视频显示器检查结束;将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的关型。彩监视器(80列)是可以工作的。
34、已检验显示器适配器;接着将调定显示方式。计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。
35、完成调定显示方式;即将检查BIOSROM的数据区。停机测试正在进行或失灵。
36、已检查BIOSROM数据区;即将调定通电信息的游标。门电路中A-20失灵。
棱镜片
37、识别通电信息的游标调定已完成;即将显示通电信息。保护方式中的意外中断。
38、完成显示通电信息;即将读出新的游标位置。RAM测试正在进行或者地址故障>FFFFH。
39、已读出保存游标位置,即将显示引用信息串。.
3A、引用信息串显示结束;即将显示发现信息。间隔计时器通道2测试或失灵。
3B、用OPTI电路片(只是486)使辅助超高速缓冲存储器作初始准备。已显示发现<ESC>信息;虚拟方式,存储器测试即将开始。按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。
3C、建立允许进入CMOS设置的标志。.串行端口测试正在进行或失灵。
3D、初始化键盘/PS2鼠标/PNP设备及总内存节点。.并行端口测试正在进行或失灵。
3E、尝试打开L2高速缓存。.数学协处理器测试正在进行或失灵。
40、已开始准备虚拟方式的测试;即将从视频存储器来检验。调整CPU速度,使之与外围时钟精确匹配。
41、中断已打开,将初始化数据以便于0:0检测内存变换(中断控制器或内存不良)从视频存储器检验之后复原;即将准备描述符表。系统插件板选择失灵。
42、显示窗口进入SETUP。描述符表已准备好;即将进行虚拟方式作存储器测试。扩展CMOSRAM故障。
43、若是即插即用BIOS,则串口、并口初始化。进入虚拟方式;即将为诊断方式实现中断。
44、已实现中断(如已接通诊断开关;即将使数据作初始准备以检查存储器在0:0返转。)BIOS中断进行初始化。
45、初始化数学协处理器。数据已作初始准备;即将检查存储器在0:0返转以及出系统存储器的规模。.
46、测试存储器已返回;存储器大小计算完毕,即将写入页面来测

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