表面处理层厚度测定

测定表面层厚度有无损法和破坏法两大类。无损法包括质量法、磁性法、涡流法、存车牌cnc真空吸盘怎么做射线反射法、X射线荧光法、双光束显微镜法、机械量具法等。破坏法包括金相显微镜法、溶液法、液流法、点滴法、库仑法、轮廓仪法、干涉显微镜法、辉光放电光谱法、俄歇能普法等。由于各种测量方法基于不同的机理和数学模式,因此就会得到不一致的检测结果。为了明确膜厚测量的结果所代表的意义,通常必须注明测定方法。以下介绍三种实用方法。
(1) 通过涂层厚度仪测定
背板制作不同的表面处理得到的涂层成分、厚薄有较大的差异,涂层的性质也有差异,基体镁合金是导电的,表面层多为不导电的氧化物或其他非导体,可以选择不同的涂层测厚仪进行非破坏性的测定。例如光学法的位相差显微镜、多光束干涉、椭圆仪等;电学法的直流电流测定仪、涡流电流测定仪、石英晶体振荡仪等;质量法的微量天平测定仪;机械法的空气测微器、触针式光洁测定器等等
(2) 金相观测法缝隙式排水沟
这种方法适合测定较厚的表面层,需要将样件进行剖面分析,在样件的制备过程中,必须尽
可能使剖面于表面垂直,不倒角,经腐蚀厚使表面层与基体镁合金有明显的界面,然后通过金相显微镜放大测试表面层的厚度。
(3) 各种卧式注塑机射咀辉光放电光普法
这是一种新型涂镀层厚度测试方法。辉光放电光谱法要使用辉光放电光谱仪。辉光放电光谱仪是通过离子溅射将表面层原子逐渐溅射剥蚀(有些类似于俄歇能谱仪,但剥蚀速度远远大于俄歇能谱仪),通过光电信号的转换,可以得到涂层成分沿其厚度的分布曲线。从成分的陡变来分析判定涂层或膜层的厚度,可以分析10珊瑚姜到上百微米厚,整个分析过程根据精度要求和剥蚀深度可从几分钟到几十分钟。样件不需特殊准备,是进行镁合金表面厚度以及成分分析的一种有效方法。
当表面层总的厚度均不超过1时,可采用显微硬度计进行测定;当膜层低于几个微米时,显微硬度计无法测得,只有通过纳米试验机。

本文发布于:2024-09-23 15:31:30,感谢您对本站的认可!

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