(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 202111676888.7
(22)申请日 2021.12.31
(71)申请人 加特兰微电子科技（上海）有限公司
地址 201210 上海市自由贸易试验区盛夏
路666号、银冬路122号5幢地下1层，1_
10层901室
(72)发明人 庄凯杰 陈哲凡 李珊 黄雪娟
王典
(74)专利代理机构 北京同立钧成知识产权代理
有限公司 11205
代理人 孙静 黄健
(51)Int.Cl.
G06F 30/23(2020.01)
G06F 30/20(2020.01)
H01Q 1/42(2006.01)
G06V 20/64(2022.01)
(54)发明名称天线罩模型生成方法、天线罩、存储介质及无线电器件(57)摘要本申请提供一种天线罩模型生成方法、天线罩、存储介质及无线电器件。天线罩模型包括内表面和外表面，天线罩模型的内 表面围成空腔，以将辐射源收容于空腔内。方法包括：获取包括目标增益和/或目标波束宽度的目标辐射参数，包括预设波束宽度和/或预设增益的辐射源的辐射参数，以及，用作天线罩的介电材料的材料参数；根据辐射参数，获取内表面三维数据；根据内表面三维数据、目标辐射参数，辐射源的辐射参数，以及，材料参数，获取外表面三维数据；外表面三维数据构成的天线罩的外表面使得辐射源信号穿过天线罩后达到目标辐射参数；根据内表面三维数据，以及，外表面三维数据，得到天线罩模型。通过上述方法可以实现拓宽辐射源的波 束。权利要求书2页 说明书15页 附图5页CN 114398811 A 2022.04.26
C N 114398811
A
1.一种天线罩模型生成方法，其特征在于，所述天线罩模型包括内表面和外表面，所述天线罩模型的内表面围成空腔，以将辐射源收容于所述空腔内，所述方法包括：获取目标辐射参数，所述辐射源的辐射参数，以及，用作所述天线罩的介电材料的材料参数；所述辐射源的辐射参数包括：预设波束宽度和/或预设增益；目标辐射参数包括目标增益和/或目标波束宽度；
根据所述辐射参数，获取所述天线罩模型的内表面三维数据；
根据所述内表面三维数据、所述目标辐射参数，所述辐射源的辐射参数，以及，所述材料参数，获取所述天线罩模型的外表面三维数据；所述天线罩模型的外表面三维数据构成的天线罩的外表面使得所述辐射源信号穿过所述天线罩模型的外表面后达到所述目标辐射参数；
根据所述天线罩模型的内表面三维数据，以及，所述天线罩模型的外表面三维数据，得到天线罩模型。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述天线罩模型的内表面三维数据围成空腔的一截面形状为圆弧状。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述天线罩模型的内表面三维数据包括基于所述天线罩模型的内表面上的各第一采样点与所述辐射源之间的距离而确定的三维数据；所述天线罩的外表面三维数据包括基于各第一采样点与对应的第二采样点之间的目标距离而确定的三维数据。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述内表面三维数据、所述预设辐射参数、目标辐射参数，以及，所述材料参数，获取所述天线罩模型的外表面三维数据，包括：
利用所述内表面三维数据、目标辐射参数，以及，所述材料参数、所设置的各波束宽度采样点，模拟得到所述辐射源信号穿过所述天线罩后在各波束宽度采样点的采样辐射参数；各所述波束宽度采样点是基于所述目标辐射参数而设置的空间范围而设置的；
当所模拟的辐射源信号穿过所述天线罩后在各波束宽度采样点的增益符合基于目标辐射参数而设置的约束条件时，确定所述天线罩模型的内表面和外表面之间分布的目标距离；
利用所分布的目标距离和所述内表面三维数据，生成所述天线罩模型的外表面三维数据。成都华信电子设备厂
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述当所模拟的辐射源信号穿过所述天线罩后在各波束宽度采样点的采样辐射参数符合基于目标辐射参数而设置的约束条件时，确定所述天线罩模型的内表面和外表面之间分布的目标距离，包括：
石墨钢选取所述天线罩模型的内表面上的多个第一采样点，并初始化对应各第一采样点的各候选距离；
将各第一采样点及其候选距离，输入预设目标函数，在所述约束条件约束下，获取各波束宽度采样点对应的预设目标函数的值的和；所述约束条件为：针对任一波束宽度采样点处增益的分段约束；
在所述约束条件约束下，调整至少一候选距离，以使得所述各波束宽度采样点对应的预设目标函数的值的和最大；并据此确定所述天线罩模型的内表面和外表面之间分布的目
标距离。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述当所模拟的辐射源信号穿过所述天线罩后在各波束宽
度采样点的增益符合基于目标辐射参数而设置的约束条件时，确定所述天线罩模型的内表面和外表面之间分布的目标距离，包括：
针对任一波束宽度采样点的增益，将该波束宽度采样点的增益，除以，所述各波束宽度采样点的增益中的最大增益，得到该波束宽度采样点的归一化增益；
根据所述辐射源信号穿过所述天线罩后在各波束宽度采样点的归一化增益，以及，所述约束条件，获取各第一采样点与对应的第二采样点之间的目标距离。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述材料参数包括以下至少之一：所述介电材料对所述辐射源信号的插入损耗，所述辐射源信号穿过所述天线罩后的插入相位。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标波束宽度大于辐射源的预设波束宽度；和/或，所述目标增益抑制或补偿辐射源的预设增益。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有根据如权利要求1‑8任一项所述的天线罩模型生成方法得到的天线罩模型；或者，所述计算机可读存储介质上存储有计算机执行指令，当所述计算机执行指令被处理器执行时，实现权利要求1‑8任一项所述的方法。
10.一种天线罩，其特征在于，所述天线罩采用介电材料制备而成，所述天线罩包括天线罩的内表面和
外表面，所述天线罩的内表面围成空腔，以将辐射源收容于所述空腔内；
所述天线罩的内表面与所述辐射源之间分布的预设距离；所分布的预设距离是基于预设波束宽度确定的；
所述天线罩的外表面的形状是基于所分布的预设距离、预设增益、目标辐射参数，以及，所述介电材料的材料参数确定的；所述天线罩的外表面使得所述辐射源信号穿过所述天线罩的外表面后达到所述目标辐射参数。
11.根据权利要求10所述的天线罩，其特征在于，所述天线罩的内表面围成空腔的一截面形状为圆弧状。
12.根据权利要求10所述的天线罩，其特征在于，所述目标辐射参数中的目标波束宽度大于辐射源的预设波束宽度；和/或，所述目标辐射参数中的目标增益抑制或补偿辐射源的预设增益。
13.一种无线电器件，其特征在于，包括：
如权利要求10‑12中任一所述的天线罩；
辐射源，所述辐射源收容于所述天线罩的内表面围成的空腔内；
信号发射器，用于向所述辐射源提供变化电流信号，以使所述辐射源辐射电磁波。
14.根据权利要求13所述的无线电器件，其特征在于，所述无线电器件为雷达传感器。
15.一种设备，其特征在于，包括：
设备本体；以及
设置于所述设备本体上的如权利要求13或14任一项所述的无线电器件；
其中，所述无线电器件用于目标检测和/或通信，用于为所述设备本体的运行提供参考信息。
天线罩模型生成方法、天线罩、存储介质及无线电器件
磁力搅拌罐技术领域
[0001]本申请涉及天线技术，尤其涉及一种天线罩模型生成方法、天线罩、存储介质及无线电器件。
背景技术
[0002]以车辆的自动泊车功能为例，车辆可以通过雷达等传感器探测车辆的可行驶范围，进而根据该
可行驶范围进行自动泊车。通常，自动泊车等场景要求雷达有较宽的探测范围。当雷达的天线的波束越宽时，雷达的探测范围越宽。也就是说，可以通过拓宽天线的波束，来增大雷达的探测范围。
[0003]然而，如何改变天线的波束宽度，是一个亟待解决的问题。
发明内容
[0004]本申请提供一种天线罩模型生成方法、天线罩、存储介质及无线电器件，以解决如何改变天线的波束的问题。
[0005]第一方面，本申请提供一种天线罩模型生成方法，所述天线罩模型包括内表面和外表面，所述天线罩模型的内表面围成空腔，以将辐射源收容于所述空腔内，所述方法包括：
[0006]获取目标辐射参数，所述辐射源的辐射参数，以及，用作所述天线罩的介电材料的材料参数；所述辐射源的辐射参数包括：预设波束宽度和/或预设增益；目标辐射参数包括目标增益和/或目标波束宽度；
[0007]根据所述辐射参数，获取所述天线罩模型的内表面三维数据；
[0008]根据所述内表面三维数据、所述目标辐射参数，所述辐射源的辐射参数，以及，所述材料参数，
获取所述天线罩模型的外表面三维数据；所述天线罩模型的外表面三维数据构成的天线罩的外表面使得所述辐射源信号穿过所述天线罩模型的外表面后达到所述目标辐射参数；
[0009]根据所述天线罩模型的内表面三维数据，以及，所述天线罩模型的外表面三维数据，得到天线罩模型。
[0010]可选的，所述天线罩模型的内表面三维数据围成空腔的一截面形状为圆弧状。[0011]可选的，所述天线罩模型的内表面三维数据包括基于所述天线罩模型的内表面上的各第一采样点与所述辐射源之间的距离而确定的三维数据；所述天线罩的外表面三维数据包括基于各第一采样点与对应的第二采样点之间的目标距离而确定的三维数据。[0012]可选的，所述根据所述内表面三维数据、所述预设辐射参数、目标辐射参数，以及，所述材料参数，获取所述天线罩模型的外表面三维数据，包括：
[0013]利用所述内表面三维数据、目标辐射参数，以及，所述材料参数、所设置的各波束宽度采样点，模拟得到所述辐射源信号穿过所述天线罩后在各波束宽度采样点的采样辐射参数；各所述波束宽度采样点是基于所述目标辐射参数而设置的空间范围而设置的；
[0014]当所模拟的辐射源信号穿过所述天线罩后在各波束宽度采样点的增益符合基于目标辐射参数而设置的约束条件时，确定所述天线罩模型的内表面和外表面之间分布的目标距离；
[0015]利用所分布的目标距离和所述内表面三维数据，生成所述天线罩模型的外表面三维数据。
高纯三氧化钼[0016]可选的，所述当所模拟的辐射源信号穿过所述天线罩后在各波束宽度采样点的采样辐射参数符合基于目标辐射参数而设置的约束条件时，确定所述天线罩模型的内表面和外表面之间分布的目标距离，包括：
[0017]选取所述天线罩模型的内表面上的多个第一采样点，并初始化对应各第一采样点的各候选距离；
[0018]将各第一采样点及其候选距离，输入预设目标函数，在所述约束条件约束下，获取各波束宽度采样点对应的预设目标函数的值的和；所述约束条件为：针对任一波束宽度采样点处增益的分段约束；
[0019]在所述约束条件约束下，调整至少一候选距离，以使得所述各波束宽度采样点对应的预设目标函数的值的和最大；并据此确定所述天线罩模型的内表面和外表面之间分布的目标距离。
[0020]可选的，所述当所模拟的辐射源信号穿过所述天线罩后在各波束宽度采样点的增益符合基于目标辐射参数而设置的约束条件时，确定所述天线罩模型的内表面和外表面之间分布的目标距离，包括：自动喷香机
[0021]针对任一波束宽度采样点的增益，将该波束宽度采样点的增益，除以，所述各波束宽度采样点的增益中的最大增益，得到该波束宽度采样点的归一化增益；
[0022]根据所述辐射源信号穿过所述天线罩后在各波束宽度采样点的归一化增益，以及，所述约束条件，获取所述各第一采样点与对应的第二采样点之间的目标距离。[0023]可选的，所述材料参数包括以下至少之一：所述介电材料对所述辐射源信号的插入损耗，所述辐射源信号穿过所述天线罩后的插入相位。
[0024]可选的，所述目标波束宽度大于辐射源的预设波束宽度；和/或，所述目标增益抑制或补偿辐射源的预设增益。
[0025]第二方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有根据如第一方面任一项所述的天线罩模型生成方法得到的天线罩模型；或者，所述计算机可读存储介质上存储有计算机执行指令，当所述计算机执行指令被处理器执行时，实现第一方面任一项所述的方法。
[0026]第三方面，本申请提供一种天线罩，所述天线罩采用介电材料制备而成，所述天线罩包括天线罩的内表面和外表面，所述天线罩的内表面围成空腔，以将辐射源收容于所述空腔内。
[0027]所述天线罩的内表面与所述辐射源之间分布的预设距离；所分布的预设距离是基于预设波束宽度确定的；
[0028]所述天线罩的外表面的形状是基于所分布的预设距离、预设增益、目标辐射参数，以及，所述
单眼3d介电材料的材料参数确定的；所述天线罩的外表面使得所述辐射源信号穿过所述天线罩的外表面后达到所述目标辐射参数。
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