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击穿电压的测试结构[实用新型专利]

专利名称：击穿电压的测试结构专利类型：实用新型专利

发明人：周华阳，宋永梁

申请号：CN201420611821.4申请日：20141021

蛋托

磨头公开号：CN204241624U粉底原料

公开日：

20150401

专利内容由知识产权出版社提供

si69

摘要：本实用新型提供了一种击穿电压的测试结构，包括需要测试击穿电压的测试样品，与所述测试样品串联的保险丝元件以及电流单向导通元件，所述保险丝元件与电流单向导通元件并联设置；采用斜坡电压法测量击穿电压时，当测试样品上的绝缘层被击穿，瞬时产生的大电流会烧断保险丝元件，防止测试用的探针卡的探针被瞬时大电流烧坏，从而节省了测量的费用；并且由于电流单向导通元件的存在，保险丝单元被烧断之后电路仍然可以导通从而测量出击穿电压等电学参数。

申请人：中芯国际集成电路制造(北京)有限公司

地址：100176 北京市大兴区北京经济技术开发区(亦庄)文昌大道18号

国籍：CN

代理机构：上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)

牵引头

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本文发布于:2024-09-24 09:25:51，感谢您对本站的认可！

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