实验一：集成逻辑门电路的测试
一、实验目的：
柔毛水杨梅1． 学会检测常用集成门电路的好坏的简易方法； 2． 掌握TTL 与非门逻辑功能和主要参数的测试方法； 3． 掌握TTL 门电路与CMOS 门电路的主要区别。
二、实验仪器与器件：
4． 元器件：74LS20、74LS00(TTL 门电路);4011(CMOS 门电路)；电阻、电位器若干；
5． 稳压电源、万用表、数字逻辑箱。
三、实验原理：
6． 集成逻辑门电路的管脚排列：
（1）74LS20（4输入端双与非门）：ABCD Y = V CC 2A 2B N C 2C 2D
2Y
1A 1B N C 1C 1D 1Y
GND
V CC ：表示电源正极、GND ：表示电源负极、N C ：表示空脚。
（2） 74LS00（2输入端4与非门）：AB Y =
V CC 4A 4B 4Y 3A 3B 3Y
14 13 12 11 10 9 8
1A 1B 1Y 2A 2B 2Y
GND
（3） 4011（2输入端4与非门）： AB Y
V CC 4A 4B 4Y 3Y 3B
3A
1A 1B 1Y 2Y 2B 2A
GND
集成门电路管脚的识别方法：将集成门电路的文字标注正对着自己，左下角为1，然后逆时针方向数管脚。
A ） T TL 与非门的主要参数有：
导通电源电流I CCL 、低电平输入电流I IL 、高电平输入电流I IH 、输出高电平V OH 、输出低电平V OL 、阈值电压V TH 等。
注意：不同型号的集成门电路其测试条件及规范值是不同的。 B ）检测集成门电路的好坏的简易方法：
1）在未加电源时，利用万用表的电阻档检查各管脚之间是否有短路现象；
14 13 12 11 10 9 8
14 13 12 11 10 9 8
2）加电源：利用万用表的电压档首先检查集成电路上是否有电，然后再利用门电路的逻辑功能检查电路。
例如：“与非”门逻辑功能是：“有低出高，全高出低”。
对于TTL 与非门：若将全部输入端悬空测得输出电压为0.1V 左右，将任一输入端接地测得输出电压为3V 左右，则说明该门是好的。
思考：COMS 与非门如何测试。
网络设备管理四、实验内容和步骤：
（1） 将74LS20加上+5V 电压，检查集成门电路的好坏。 （2）TTL 与非门的主要参数测试： ①导通电源电流I CCL = 。
测试条件：V CC =5V ，输入端悬空，输出空载，如图（1）。
＆
mA
+VCC=5V
↓I
CCL
＆
束身带mA
+VCC=5V
↓I
IL
封边机青岛金鼎机械图（1） 图（2）
②低电平输入电流I IL = 。
测试条件：V CC =5V ，被测输入端通过电流表接地，其余输入端悬空，输出空载，如图（2），依次测量每个输入端。 ③高电平输入电流I IH = 。
测试条件：V CC =5V ，被测输入端通过电流表接V CC ，其余输入端接地，输出空载，如图（3），每个输入端都测一下。
注意：在测试中万用表应串入电路中，档位选择应由10mA 档逐渐减小。
＆
mA
+VCC=5V
↓I
IH
＆
+VCC=5V
Vo
Vi1
Vi2
图（3） 图（4）
④ 比较TTL 门电路和CMOS 门电路的性能：
在下列情况下，用万用表电压档测量图（4）V i2端得到的电压填入表（2）：
表（2）：
在不同的V i1下 74LS00
4011
V i1接高电平（3V ） V i1接低电平（0.4V ） V i1经100Ω电阻接地 V i1经10k Ω电阻接地
思考：请回答为何结果不同？
五、实验报告要求：
（2） 记录本次实验中所得到的各种数据。根据测试数据判断所测与非门的 逻辑关系是否正确。 （3） 思考并回答下列问题：
防爆软启动柜TTL 与非门中不用的输入端可如何处理？
3600c
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