陶瓷柱栅阵列器件引脚去氧化技巧

陶瓷柱栅阵列器件引脚氧化技巧
摘要:随着电子产品不断小型化、集成化、高可靠性方向发展,已经有越来越多的陶瓷柱栅阵列封装( Ceramic Column Grid Array , CCGA )器件,应用于高可靠性电子产品中。然而此类高端器件大都从国外进口,运输及存放周期较长,器件引脚表面易出现氧化现象,导致其辉端可悍性下降。本文主要从操作角度讲述了该类器件的去除氧化层方法及技巧,以提高焊接可靠性。
关键词: CCGA 引脚保护罩去除氧化
1.概述
      随着电子产品不断小型化、集成化、高可靠性方向发展,已经有越来越多的陶瓷柱栅阵列封装( Ceramic Column Grid Array , COGA )器件,应用于高可靠性电子产品中 CCGA 器件简介:结构特征
 CCGA 器件由基板、芯片、导热胶和焊柱组成。基板的主要材料是多层氧化铝陶瓷,适用高温和化学处理。信号层、电源层和地层分别设置在单独的层上,经过打孔和丝印形成高温印
制线和连接孔,叠加后在高温下烧结成型。 CCGA 基板的层数一般为7~40层,厚度为1.40~5.75 mm 。。 CCGA 基板的层数一般为7~40层,厚度为1.40~5.75 mm 。氧化铝陶瓷的热膨胀系数 CTE ( coefficient of thermal expansion )为6.5x10-6/℃,硅芯片的 CTE 为3.0~4.1x10-6/°℃,两者较为接近。因此,芯片可以采用倒装在基板上的安装形式,这种形式缩短了信号通路,降低了寄生效应,使信号速度和品质得到提高。更重要的是,芯片正下方可以连接焊柱,实现了全阵列和引脚数量的提高,使得电性能得到提升。环氧填充胶主要用于芯片底部填充,以进一步提高芯片连接的可靠性,导热脂主要用于将芯片耗散热量传递到金属顶盖上。焊柱直径约0.5 mm ,高度为1.27 mm 或2.2 mm 。根据材料不同,焊柱材料是90Pb10Sn,另一种焊柱材料是80Pb20S并在焊柱外螺旋包裹了一层铜箔。
  CCGA 器件由于引脚密度非常高,导致其焊接难度很大,在以前的生产过程中曾经出现过焊接端润湿不够良好的现象。
      经过仔细的检查发现,有部分 COGA 器件焊柱表面存在白的斑点,而在组装完成后,这部分器件的焊点不够饱满光亮,甚至未形成合格焊点,大大影响了产品的可靠性。
经多次讨论并进行试验验证,大家一致认为,这种白斑现象是由于器件引脚上形成了氧化层,焊端可焊性下降,最终导致了焊端润湿不够良好的现象。
      本文根据 CCGA 器件的结构特点,提出了一种去除 CCGA 器件焊接端面氧化膜的方法,同时为保护 CCGA 器件引脚,设计了去氧化保护工装,在应用于生产中后,起到了良好的效果。
2.一些焊接不良的案例
      某产品中CG717封装的器件焊接后,出现了引脚偏出焊盘并形成虚焊点的问题,根据 ESSC - Q -70-38C的要求:栅阵列器件引脚偏出焊盘15%为不合格焊点。在后续观察过程中,发现该器件引脚表面存在大量的白斑现象,经分析认为,这些白斑点状物质为焊柱表面被氧化而产生的氧化膜。正是由于氧化膜的存在,导致器件焊端可焊性变差,最终导致焊点不合格。
      某产品中 COGA 器件焊接后,引脚发生严重歪斜,其大半部分偏移出对应的焊盘,对焊点外观进行仔细观察,并进行分析后认为,焊柱表面发生氧化是导致焊点缺陷的主要原因。高效节能蒸汽锅炉
3.焊柱去氧化方法与工装设计
3.1焊柱去氧化思路
      由于 CCGA 器件焊柱表面形成的氧化膜,覆盖在焊柱表面,与焊柱结合良好,经多次尝试无法使用酒精等溶剂擦除。在清洗工具包中发现一种带有软质金属丝的毛刷,由于金展丝直径非常细小,柔软而带有韧性,因此决定尝试用该金属毛刷去轻轻刮擦 CCGA 器件的焊端,通过此方法将焊柱表面的氧化膜破坏掉,以实现去氧化的目的。
        但是由于 CCGA 器件的焊柱直径小,但长度较长,导致焊柱整体的刚度较低。在使用金属毛刷刮擦焊柱的过程中,易折弯焊柱,因此决定设计一种去氧化辅助工装,以加固焊柱,使其在去氧化过程中不被折弯。
3.2辅助工装的设计
      由于 CCGA 器件具有阵列式的引脚,引脚分布非常规则,因此计划设计一种薄片状工装,在其上加工与焊柱分布特征相同的通孔,在去氧化操作前,将该工装套在 CCGA 引脚上,仅仅露出最终需要与焊锡润湿的部分,该部分长度约为0.5mm.
        经过查器件手册,发现CG717器件外形尺寸为35x35mm,共有27x27行引脚,引脚中心间距为1.27mm。每根焊柱长度为2.21mm,直径为0.51mm。据此设计薄片状工装的厚度为1.2mm,在工装上的圆孔直径为0.7mm,为方便讲器件引脚插入通孔内,在工装一侧加工倒角。
3.3去氧化操作方法
      去氧化方法:
1)  将器件放在防静电工作台上,打开离子风机吹离子风。
挤压爆破2)    清洁器件去氧化保护罩,显微镜下检查器件保护罩孔壁无毛刺,孔距、孔位一致。
3)  将器件保护罩对位无误后套入引脚内部,套入过程注意引脚不能碰歪。若有偏斜及时调整。采用防静电金属刷擦拭焊柱氧化层,进行 X 方向和 Y 方向分别依次擦拭处理氧化层。在擦拭过程中用左手固定住器件,在固定过程中只能接触器件本体陶瓷,不能接触器件引脚,防止器件引脚歪斜。右手拿住防静电金属刷顺 X 方向或 Y 方向匀速直线擦拭,在擦拭过程中力度要适中,用力过猛容易造成引脚歪斜和损伤器件引脚,用力太轻氧化层去
除不干净。防静电金属刷在器件引脚上沿直线运动,这样不容易造成器件引脚歪斜。引脚擦拭完成后在显微镜下检查引脚焊接面是否擦拭干净,如若有引脚未擦拭干净,则按照上述方法在擦拭一遍。
4)  用防静电金属刷 X 方向和 Y 方向分别依次擦拭处理氧化层,整面引脚擦拭完成后,90度旋转器件再次擦拭器件,直至四面引脚均擦拭处理氧化层。切记不可来回擦拭,以免焊柱变形、受力。
5)所有引脚擦拭干净以后用防静电刷子清理干净上器件多余残渣。
6)引脚效正,在45倍显微镜下观察引脚偏斜情况。若焊柱有变形用保护的单面刀片校正引脚,确保引脚位于孔的中心位置。
7)  校正完成后,将工装从器件引脚上垂直拆卸。
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      去完氧化的CCGA器件焊柱焊接面表面光滑、明亮、无发黑现象,焊柱无歪斜、焊柱之间无多余物。
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3.5焊接
      焊接后的器件引脚与焊盘有良好的润湿角,焊点光滑、明亮、大小一致。
4.总结
      去氧化保护罩的设计与推广使用,不仅保证了引脚不再歪斜,同时有效提高了器件引胸去氧化的效果。焊接前加强了对器件引脚氧化层的去除,严格了对焊盘的检验和清洁工作,增加了各工序最终状态留照片的步骤,做到了步步有据可查,对操作过程起到了督导作用。杜绝了因焊点润湿不够良好而造成虚焊的隐患,大大提高器件焊接的可靠性。眼镜清洗剂

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