一种NAND颗粒的坏块识别方法及相关装置与流程

一种nand颗粒的坏块识别方法及相关装置
技术领域
1.本技术涉及固态硬盘技术领域，特别涉及一种nand颗粒的坏块识别方法；还涉及一种nand颗粒的坏块识别装置、设备以及计算机可读存储介质。

背景技术：

2.存储设备作为数据存储的媒介，是计算机系统的重要组成部分。在大数据时代，对存储设备的容量、读写速度、可靠性等提出了越来越高的要求。由于ssd（solid state drives，固态硬盘）具有读写速度快、容量大、抗震防摔、体积小等优势，因此ssd正在成为主流存储设备。nand（一种闪存芯片材料）颗粒是ssd实际的物理存储媒介。nand颗粒的质量直接关乎ssd的性能。
3.当前，在ssd组装完成之后，对ssd中的nand颗粒的坏块情况进行识别。通过ssd固件筛选出存储问题的nand颗粒，然后上报给系统，通知人员更换ssd中的nand颗粒。在此情况下，往往需要人工执行拆解、清理、焊接、点胶、组装、复测这样的返工流程。如此在执行上述返工流程时不仅会对ssd的品质造成影响，而且会增加人工的工作量。
4.有鉴于此，如何提升ssd的品质，减少人工的工作量已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。

技术实现要素：

5.本技术的目的是提供一种nand颗粒的坏块识别方法，能够提升ssd的品质，减少人工的工作量。本技术的另一个目的是提供一种nand颗粒的坏块识别装置、设备以及计算机可读存储介质，均具有上述技术效果。
6.为解决上述技术问题，本技术提供了一种nand颗粒的坏块识别方法，包括：通过测试工具从nand颗粒中读取原厂标记的坏块；根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述nand颗粒进行筛选；剔除不满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒；保留满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒，并将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒中。
7.可选的，所述将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒中包括：将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息，按照预设格式保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的预设地址中。
8.可选的，还包括：根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块，对满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒进行品质分类。
9.可选的，还包括：
根据满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒所属的品质类别，对满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒进行分类存放。
10.可选的，所述测试工具具有可编程的nand颗粒读写软件。
11.可选的，还包括：调整所述预设筛选标准。
12.为解决上述技术问题，本技术还提供了一种nand颗粒的坏块识别装置，包括：测试模块，用于通过测试工具从nand颗粒中读取原厂标记的坏块；筛选模块，用于根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述nand颗粒进行筛选；剔除模块，用于剔除不满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒；保存模块，用于保留满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒，并将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒中。
13.可选的，还包括：分类模块，用于根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块，对满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒进行品质分类。
14.为解决上述技术问题，本技术还提供了一种nand颗粒的坏块识别设备，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上任一项所述的一种nand颗粒的坏块识别方法的步骤。
15.为解决上述技术问题，本技术还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任一项所述的nand颗粒的坏块识别方法的步骤。
16.本技术所提供的nand颗粒的坏块识别方法，包括：通过测试工具从nand颗粒中读取原厂标记的坏块；根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述nand颗粒进行筛选；剔除不满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒；保留满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒，并将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒中。
17.可见，本技术所提供的nand颗粒的坏块识别方法，在组装ssd之前，便对nand颗粒的坏块情况进行识别，并剔除其中不满足标准的nand颗粒，保留满足标准的nand颗粒，后续从满足标准的nand颗粒中选择所需要的nand颗粒进行ssd组装，由此可以避免ssd中nand颗粒异常导致ssd返工，不仅可以提升ssd的品质，而且减少人工的工作量。
18.本技术所提供的nand颗粒的坏块识别装置、设备以及计算机可读存储介质均具有上述技术效果。
附图说明
19.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
20.图1为本技术实施例所提供的一种nand颗粒的坏块识别方法的流程示意图；图2为本技术实施例所提供的一种nand颗粒的坏块识别装置的示意图；图3为本技术实施例所提供的一种nand颗粒的坏块识别设备的示意图。
具体实施方式
21.本技术的核心是提供一种nand颗粒的坏块识别方法，能够提升ssd的品质，减少人工的工作量。本技术的另一个核心是提供一种nand颗粒的坏块识别装置、设备以及计算机可读存储介质，均具有上述技术效果。
22.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
23.请参考图1，图1为本技术实施例所提供的一种nand颗粒的坏块识别方法的流程示意图，参考图1所示，该方法主要包括：s101：通过测试工具从nand颗粒中读取原厂标记的坏块；nand的工艺无法保证nand的memory array即存储阵列在其全生命周期中保持性能可靠，在nand的生产以及使用过程中都可能产生坏块。本技术实施例中描述的坏块指的是nand生产过程中产生的坏块。
24.为了避免ssd中nand颗粒异常导致ssd返工，本实施例在组装ssd之前，预先对nand颗粒的坏块情况进行识别。可以在nand颗粒物料到达之后，将nand颗粒放置在测试工具的夹具上，通过可调节的接触点连接nand颗粒的物理引脚到夹具。夹具通过nand读写软件对夹具上的nand颗粒进行读取操作，从nand颗粒中读取原厂标记的坏块。
25.其中，在一些实施例中，所述测试工具具有可编程的nand颗粒读写软件，从而可以使测试工具能够适应不同的nand颗粒，从各类nand颗粒中读取原厂标记的坏块。
26.另外，在一些实施例中，测试工具可以为人工操作的测试设备，也可以为自动化测试设备。
27.s102：根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述nand颗粒进行筛选；在从nand颗粒中读取原厂标记的坏块的基础上，将读取的原厂标记的坏块的信息保存，并根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述nand颗粒进行筛选，筛选出满足预设筛选标准的nand颗粒与不满足预设筛选标准的nand颗粒。
28.预设筛选标准可以为nand颗粒中的坏块的个数小于或等于某一个阈值。也就是说，如果nand颗粒中的坏块的个数小于或等于某一个阈值，那么该nand颗粒满足预设筛选标准。例如，阈值为10，如果nand颗粒中的坏块的总个数小于或等于10，那么该nand颗粒满足预设筛选标准。
29.预设筛选标准可以为nand颗粒中的坏块的占比小于或等于某一个百分比。也就是说，如果nand颗粒中的坏块的占比小于或等于某一个百分比，那么该nand颗粒满足预设筛选标准。例如，百分比为5%，如果坏块的总个数与nand颗粒中块的总个数的比值小于或等于5%，那么该nand颗粒满足预设筛选标准。
30.可以明白的是，除上述筛选标准外，还可以设置为其他筛选标准。对于预设筛选标准，本领域技术人员可以进行差异性设置。
31.s103：剔除不满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒；s104：保留满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒，并将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒中。
32.通过筛选，可以得到满足预设筛选标准的nand颗粒与不满足预设筛选标准的nand颗粒。理想情况下，nand颗粒都满足预设筛选标准。对于不满足预设筛选标准的nand颗粒，可以返回给供应商。对于满足预设筛选标准的nand颗粒，进一步将其坏块信息保存到满足预设筛选标准的nand颗粒自身。坏块信息可以包括坏块个数。后续从保留下来的nand颗粒中选择所需的nand颗粒，进行smt（surface mounted technology，表面组装）与ssd组装。
33.其中，在一些实施方式中，所述将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒中的方式为：将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息，按照预设格式保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的预设地址中。
34.本实施例预先设定了坏块信息的保存格式与保存地址。在保存坏块信息时，按照预设格式将满足预设筛选标准的nand颗粒的坏块信息保存到预设地址中。后续ssd组装完成之后，ssd固件可以从nand颗粒中的预设地址中读取保存的坏块信息，并根据保存坏块信息时所采取的预设格式，对读取的坏块信息进行解码与校验。
35.在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，还可以包括：根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块，对满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒进行品质分类。
36.本实施例在筛选出满足预设筛选标准的nand颗粒的基础上，进一步对满足预设预筛选标准的nand颗粒进行品质分类。nand颗粒的坏块个数越少，nand的品质越优。
37.可以设置多个品质类别，不同品质类别与不同的坏块个数区间对应，当nand颗粒的坏块个数落入某一个坏块个数区间时，该nand颗粒的品质即为该坏块个数区间对应的品质类别。
38.例如，设置三个品质类别，分别为品质a、品质b以及品质c。品质a对应的坏块个数区间为[0，3]，品质b对应的坏块个数区间为[4，8]，品质c对应的坏块个数区间为[9，10]。如果nand颗粒的坏块个数落入区间[0，3]，那么该nand颗粒的品质为品质a。如果nand颗粒的坏块个数落入区间[4，8]，那么该nand颗粒的品质为品质b。如果nand颗粒的坏块个数落入区间[9，10]，那么该nand颗粒的品质为品质c。
[0039]
或者，可以设置多个品质类别，不同品质类别与不同的坏块百分比区间对应，当nand颗粒的坏块个数落入某一个坏块百分比区间时，该nand颗粒的品质即为该坏块百分比区间对应的品质类别。
[0040]
例如，设置三个品质类别，分别为品质a、品质b以及品质c。品质a对应的坏块百分比区间为[0%，2%]，品质b对应的坏块百分比区间为（2%，3%]，品质c对应的坏块百分比区间为（3%，5%]。如果nand颗粒的坏块百分比落入区间[0%，2%]，那么该nand颗粒的品质为品质a。如果nand颗粒的坏块百分比落入区间（2%，3%]，那么该nand颗粒的品质为品质b。如果nand颗粒的坏块百分比落入区间（3%，5%]，那么该nand颗粒的品质为品质c。
[0041]
同样，除上述品质分类方式外，还可以采取其他的分类方式。对此，本领域技术人
员可以进行差异性设置。
[0042]
在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，还可以包括：根据满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒所属的品质类别，对满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒进行分类存放。
[0043]
本实施例旨在在对满足预设筛选标准的nand颗粒进行品质分类的基础上，进一步根据分类结果，即根据满足预设筛选标准的nand颗粒所属的品质类别，对满足预设筛选标准的nand颗粒进行分类存放，属于同一品质类别的nand颗粒可存放在一块。由此，可以更加便于后续在进行smt与ssd组装时，选取所需品质的nand颗粒。
[0044]
进一步，在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，还可以包括：调整所述预设筛选标准。
[0045]
本实施例中，预设筛选标准可调，以便更好的适应ssd对nand颗粒的质量需求变化。例如，在预设筛选标准为nand颗粒中的坏块的个数小于或等于某一个阈值的情况下，可以调整阈值的大小。在预设筛选标准为nand颗粒中的坏块的占比小于或等于某一个百分比的情况下，调整百分比的大小。
[0046]
综上所述，本技术所提供的nand颗粒的坏块识别方法，包括：通过测试工具从nand颗粒中读取原厂标记的坏块；根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述nand颗粒进行筛选；剔除不满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒；保留满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒，并将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒中。可见，本技术所提供的nand颗粒的坏块识别方法，在组装ssd之前，便对nand颗粒的坏块情况进行识别，并剔除其中不满足标准的nand颗粒，保留满足标准的nand颗粒，后续从满足标准的nand颗粒中选择所需要的nand颗粒进行ssd组装，由此可以避免ssd中nand颗粒异常导致ssd返工，不仅可以提升ssd的品质，而且减少人工的工作量。
[0047]
本技术还提供了一种nand颗粒的坏块识别装置，下文描述的该装置可以与上文描述的方法相互对应参照。请参考图2，图2为本技术实施例所提供的一种nand颗粒的坏块识别装置的示意图，结合图2所示，该装置包括：测试模块10，用于通过测试工具从nand颗粒中读取原厂标记的坏块；筛选模块20，用于根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述nand颗粒进行筛选；剔除模块30，用于剔除不满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒；保存模块40，用于保留满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒，并将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒中。
[0048]
具体而言，nand的工艺无法保证nand的memory array即存储阵列在其全生命周期中保持性能可靠，在nand的生产以及使用过程中都可能产生坏块。本技术实施例中描述的坏块指的是nand生产过程中产生的坏块。
[0049]
为了避免ssd中nand颗粒异常导致ssd返工，本实施例在组装ssd之前，预先对nand颗粒的坏块情况进行识别。可以在nand颗粒物料到达之后，由测试模块10将nand颗粒放置在测试工具的夹具上，通过可调节的接触点连接nand颗粒的物理引脚到夹具。夹具通过nand读写软件对夹具上的nand颗粒进行读取操作，从nand颗粒中读取原厂标记的坏块。
[0050]
其中，在一些实施例中，所述测试工具具有可编程的nand颗粒读写软件，从而可以使测试工具能够适应不同的nand颗粒，从各类nand颗粒中读取原厂标记的坏块。
[0051]
在从nand颗粒中读取原厂标记的坏块的基础上，由筛选模块20将读取的原厂标记的坏块的信息保存，并根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述nand颗粒进行筛选，筛选出满足预设筛选标准的nand颗粒与不满足预设筛选标准的nand颗粒。
[0052]
预设筛选标准可以为nand颗粒中的坏块的个数小于或等于某一个阈值。也就是说，如果nand颗粒中的坏块的个数小于或等于某一个阈值，那么该nand颗粒满足预设筛选标准。
[0053]
预设筛选标准还可以为nand颗粒中的坏块的占比小于或等于某一个百分比。也就是说，如果nand颗粒中的坏块的占比小于或等于某一个百分比，那么该nand颗粒满足预设筛选标准。
[0054]
当然，除上述筛选标准外，还可以设置为其他筛选标准。对于预设筛选标准，本领域技术人员可以进行差异性设置。
[0055]
通过筛选，可以得到满足预设筛选标准的nand颗粒与不满足预设筛选标准的nand颗粒。对于不满足预设筛选标准的nand颗粒，可由剔除模块30将其返回给供应商。对于满足预设筛选标准的nand颗粒，进一步可由保存模块40将nand颗粒的坏块信息保存到满足预设筛选标准的nand颗粒自身。坏块信息可以包括坏块个数。后续人工或自动化设备从保留下来的nand颗粒中选择所需的nand颗粒，进行smt（surface mounted technology，表面组装）与ssd组装。
[0056]
在上述实施例的基础上，可选的，所述保存模块40用于将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息，按照预设格式保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的预设地址中。
[0057]
具体而言，本实施例预先设定了坏块信息的保存格式与保存地址。在保存坏块信息时，保存模块40按照预设格式将满足预设筛选标准的nand颗粒的坏块信息保存到预设地址中。后续ssd组装完成之后，ssd固件可以从nand颗粒中的预设地址中读取保存的坏块信息，并根据保存坏块信息时所采取的预设格式，对读取的坏块信息进行解码与校验。
[0058]
在上述实施例的基础上，可选的，还包括：分类模块，用于根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块，对满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒进行品质分类。
[0059]
具体而言，本实施例在筛选出满足预设筛选标准的nand颗粒的基础上，进一步对满足预设预筛选标准的nand颗粒进行品质分类。nand颗粒的坏块个数越少，nand的品质越优。
[0060]
可以设置多个品质类别，不同品质类别与不同的坏块个数区间对应，当nand颗粒的坏块个数落入某一个坏块个数区间时，该nand颗粒的品质即为该坏块个数区间对应的品质类别。或者，可以设置多个品质类别，不同品质类别与不同的坏块百分比区间对应，当nand颗粒的坏块个数落入某一个坏块百分比区间时，该nand颗粒的品质即为该坏块百分比区间对应的品质类别。除上述品质分类方式外，还可以采取其他的分类方式。对此，本领域技术人员可以进行差异性设置。
[0061]
在上述实施例的基础上，可选的，还包括：存放模块，用于根据满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒所属的品质类别，对满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒进行分类存放。
[0062]
具体而言，本实施例旨在在对满足预设筛选标准的nand颗粒进行品质分类的基础上，进一步根据分类结果，即根据满足预设筛选标准的nand颗粒所属的品质类别，对满足预设筛选标准的nand颗粒进行分类存放，属于同一品质类别的nand颗粒可存放在一块。由此，可以更加便于后续在进行smt与ssd组装时，选取所需品质的nand颗粒。
[0063]
在上述实施例的基础上，可选的，所述测试工具具有可编程的nand颗粒读写软件。从而可以使测试工具能够适应不同的nand颗粒，从各类nand颗粒中读取原厂标记的坏块。
[0064]
在上述实施例的基础上，可选的，还包括：调整模块，用于调整所述预设筛选标准。
[0065]
具体而言，本实施例中，预设筛选标准可调，以便更好的适应ssd对nand颗粒的质量需求变化。例如，在预设筛选标准为nand颗粒中的坏块的个数小于或等于某一个阈值的情况下，可以调整阈值的大小。在预设筛选标准为nand颗粒中的坏块的占比小于或等于某一个百分比的情况下，调整百分比的大小。
[0066]
本技术所提供的nand颗粒的坏块识别装置，在组装ssd之前，便对nand颗粒的坏块情况进行识别，并剔除其中不满足标准的nand颗粒，保留满足标准的nand颗粒，后续从满足标准的nand颗粒中选择所需要的nand颗粒进行ssd组装，由此可以避免ssd中nand颗粒异常导致ssd返工，不仅可以提升ssd的品质，而且减少人工的工作量。
[0067]
本技术还提供了一种nand颗粒的坏块识别设备，参考图3所示，该设备包括存储器1和处理器2。
[0068]
存储器1，用于存储计算机程序；处理器2，用于执行计算机程序实现如下的步骤：通过测试工具从nand颗粒中读取原厂标记的坏块；根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述nand颗粒进行筛选；剔除不满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒；保留满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒，并将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒中。
[0069]
对于本技术所提供的设备的介绍请参照上述方法实施例，本技术在此不做赘述。
[0070]
本技术还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时可实现如下的步骤：通过测试工具从nand颗粒中读取原厂标记的坏块；根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述nand颗粒进行筛选；剔除不满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒；保留满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒，并将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒中。
[0071]
该计算机可读存储介质可以包括：u盘、移动硬盘、只读存储器（read-only memory ，rom）、随机存取存储器（random access memory ，ram）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0072]
对于本技术所提供的计算机可读存储介质的介绍请参照上述方法实施例，本技术在此不做赘述。
[0073]
说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置、设备以及计算机可读存储介质而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
[0074]
专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本技术的范围。
[0075]
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器（ram）、内存、只读存储器（rom）、电可编程rom、电可擦除可编程rom、寄存器、硬盘、可移动磁盘、cd-rom、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
[0076]
以上对本技术所提供的nand颗粒的坏块识别方法、装置、设备以及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以对本技术进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本技术权利要求的保护范围。

技术特征：

1.一种nand颗粒的坏块识别方法，其特征在于，包括：通过测试工具从nand颗粒中读取原厂标记的坏块；根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述nand颗粒进行筛选；剔除不满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒；保留满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒，并将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒中。2.根据权利要求1所述的坏块识别方法，其特征在于，所述将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒中包括：将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息，按照预设格式保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的预设地址中。3.根据权利要求1所述的坏块识别方法，其特征在于，还包括：根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块，对满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒进行品质分类。4.根据权利要求3所述的坏块识别方法，其特征在于，还包括：根据满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒所属的品质类别，对满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒进行分类存放。5.根据权利要求4所述的坏块识别方法，其特征在于，所述测试工具具有可编程的nand颗粒读写软件。6.根据权利要求1所述的坏块识别方法，其特征在于，还包括：调整所述预设筛选标准。7.一种nand颗粒的坏块识别装置，其特征在于，包括：测试模块，用于通过测试工具从nand颗粒中读取原厂标记的坏块；筛选模块，用于根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述nand颗粒进行筛选；剔除模块，用于剔除不满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒；保存模块，用于保留满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒，并将满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒中。8.根据权利要求7所述的坏块识别装置，其特征在于，还包括：分类模块，用于根据所述nand颗粒中原厂标记的坏块，对满足所述预设筛选标准的所述nand颗粒进行品质分类。9.一种nand颗粒的坏块识别设备，其特征在于，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述的一种nand颗粒的坏块识别方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的nand颗粒的坏块识别方法的步骤。

技术总结

本申请公开了一种NAND颗粒的坏块识别方法，包括：通过测试工具从NAND颗粒中读取原厂标记的坏块；根据所述NAND颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述NAND颗粒进行筛选；剔除不满足所述预设筛选标准的所述NAND颗粒；保留满足所述预设筛选标准的所述NAND颗粒，并将满足所述预设筛选标准的所述NAND颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述NAND颗粒中。该方法在组装SSD前对NAND颗粒进行坏块识别，能够避免SSD返工，提升SSD的品质，减少人工的工作量。本申请还公开了一种NAND颗粒的坏块识别装置、设备以及计算机可读存储介质，均具有上述技术效果。均具有上述技术效果。均具有上述技术效果。