突变体---哈特曼面形检测仪
前言
中国科学院光电技术研究所自适应光学实验室自1988年在国内首先开始研制，并于1989年完成第一台数字哈特曼波前检测仪，用于自适应光学系统以来，相继开发了口径从Ф4.16～Ф300、波长从紫外到红外、采样频率从静态到6500Hz数字哈特曼波前检测仪近百台（套）。它们分别被光电所、安光所、哈尔滨工业大学、武汉大学、九院等科研院所应用于自适应光学系统的波前探测、激光器的光束质量诊断、光束传输的动态变化测量、大气湍流测量、光学元件及系统的面形与像差测量。在仪器应用范围及种类方面，国内外还没有一家公司能与我们比肩。 原理
哈特曼光学波前检测仪是基于经过改进的哈特曼测试法。经典的哈特曼测试方法原来用于测量大型望远镜中光学系统的像差，在这种测试方法中，哈特曼板(Hartmann Screen)放在被测试器件之前（图1）。当平行光束照射到哈特曼板时，在待检物焦点前后的位置上（E1、E2处），形成与哈特曼板上的小孔位j型密封圈
置相对应的光斑。通过照相方法将这些光斑的位置记录下来，再把这些点的位置映射到待检物镜上。通过这些在焦点前后位置上各个不同光斑的位置信息以及哈特曼板的有关数据，就可以计算出被检物镜的像差。 图1. 经典的哈特曼测试法图2.哈特曼波前检测仪原理
干衣柜哈特曼波前检测仪通过对经典哈特曼测试法的改进，大大增强了哈特曼测试法的适应性，扩展了其应用范围。哈特曼传感器采用孔径分割和聚焦光学器件将被测孔径分割成若干子孔径并聚焦到CCD探测器上（图2），通过CCD视频信号的处理计算出聚焦光斑的重心位置，获得入射波前的波前斜率信息，再通过波前重构计算，得到全孔径上波前相位分布，同时还可通过测量各子孔径光斑的光强获得全口径内光强分布信息，从而获得被测光束的复振幅空间分布的信息。通过不同帧频的CCD信号连续测量，就可以获得动态波前误差，因而可以测量光学误差的时间——空间动态变化。
应用领域
kuse006z光学元件（平面、球面、非球面、透镜）面形检测（PV、RMS、二维、三维，曲率半径）
z光学面形动态变化测量
z光学系统像差检测（PSF、MTF等）
z光束质量诊断（M2、β、PSF、光强分布等）
特点优点
z可替代数字干涉仪和光束诊断仪
z可直接在通用车间环境下使用
z可连续动态测量、波面实时显示
无心磨床自动上料机z较低价格，高性价比
ccyv2技术指标
z测量波长:0.308μm～3.8μm
z测量精度：RMS≤λ/50，PV≤λ/10
z重复性精度：RMS≤λ/250，PV≤λ/50
z通光口径：Φ4.16～Φ300mm
z光强范围：从光子计数水平的微光到普通光
z可分析的像差模式阶数：119阶Zernike系数
z采样频率：从静态到6500Hz
软件功能
z斜率探测算法；
z圆域Zernike模式波前重构算法，给出波前的前65阶Zernike 模式系数；给出波前的等高图、三维面形图；
z区域法波前重构算法，能用于任意口径形状的入射波前，并且不限制口径上的系统遮拦方式；
z能够处理任意数量子孔径的哈特曼传感器的测试数据；
z子孔径缺失造成数据不完整时，能够对正常探测到的部分波前
进行重构；
z以实验室的标定基准计算被测波前的“绝对”相位分布； z以任意一组作为参考，分析光束质量的相对变化过程； z计算PSF和MTF；和环围能量、Strehl比等
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