TEM透射电镜分析技术对样品厚度、导电性、磁性等有着严格的要求。制样的好坏也影响着测试结果，所以对不同的材料应考虑其特性并采⽤合适的制备⽅法。今天为⼤家介绍透射电镜中样品制备⽅法。 ⼀、透射电镜样品制备注意事项
1，粉体、液体、可测试，薄膜或块状样品不能直接拍摄，需另⾏制样（如离⼦减薄、包埋切⽚、FIB等）
2，样品的厚度不超过100nm，如果颗粒稍⼤⼀点，可适当研磨⾄100nm以下（可先拍SEM判定颗粒⼤⼩）； 3，⼀般制样选微栅铜⽹即可，如果颗粒直径⼩于10nm⽤超薄碳膜制样；样品含Cu，需要拍EDS能谱和mapping可选镍⽹或者钼⽹等； 管式直线电机
4，样品是否是磁性.
⼆、透射电镜样品要求：
1. 样品要求：粉体需5mg左右，需要是纳⽶级颗粒，粒径较⼤的可提前研磨寄送；液体1ml以上，如是分散的液体，尽量浓度稍⼤⼀些
三、TEM制样⽅法分类介绍
粉末样品：直接⽤分散剂超声分散滴在载⽹上进⾏观察；或进⾏树脂包埋，超薄切⽚后，转移铜⽹上进⾏制样； 复型技术：常⽤复型材料为⾮晶碳膜和各种塑料薄膜，对样品没有损坏；
化学减薄/双喷减薄：对于⼤部分⾦属样品，可以进⾏化学减薄或双喷减薄；
无卡轴旋切机离⼦减薄：对于陶瓷或⾦属合⾦合物，⽆法电解腐蚀，只能⽤离⼦减薄；
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聚焦离⼦束FIB：与电解双喷和离⼦减薄相⽐，可通过SEM在线观察下进⾏定点制样，获得更⾼质量的TEM样品；
四、TEM制样时载⽹的分类，如何选择？
载⽹由⾦属⽹、⽀持膜和导电膜组成。
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⾦属裸⽹材质有铜、镍、钼、⾦、铝等；铜⽹较为常见，如果能谱分析铜元素时，则应该选择其他材质载⽹；
⽀持膜包括：
1）⽅华膜（聚⼄烯醇缩甲醛）：纯有机膜，导电性差，电⼦束下不耐⾼温或发⽣电荷积累⽽产⽣样品漂移，多⽤于低电压电镜或⽣物样品；
2）碳⽀持膜：⽅华膜和碳膜组成，最为常⽤，碳膜的存在增加了导热和导电性，但由于碳颗粒本⾝的衬度问题，在观察样品⾼分辨形貌时则不合适；
3）微栅膜：在碳⽀持膜上制作些微孔，解决了⾼分辨观察样品时的背底衬度问题；
4）超薄碳膜：使⽤微栅膜时，棒状或⽚材可搭载在孔边缘，但纳⽶级颗粒由于尺⼨⼩于微栅孔，⽆法搭载，但是碳⽀持膜衬度⼜差，在微栅膜上再增加⼀层超薄碳膜，可使纳⽶颗粒负载在超薄碳膜上的同时也提⾼了图像衬度；
5）纯碳膜：部分分散剂（氯仿等）会溶解⽅华膜，则可去除⽅华膜，即为纯碳膜；耐老化测试
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