硬盘测试坏块的解析方法、系统、终端及存储介质与流程

1.本发明属于存储技术领域，具体涉及一种硬盘测试坏块的解析方法、系统、终端及存储介质。

背景技术：

2.随着nvme(non-volatile memory express,是一种建立在m.2接口上的类似ahci的一种协议,是专门为闪存类存储设计的协议。)硬盘在服务器领域的广泛应用，nvme标准可以带来多方面的性能提升，而nvme硬盘作为pcie通道的ssd，其规范势必在未来慢慢取代现在的ahci标准ssd。其中pcie是pci-express，即peripheral component interconnect express的缩写，是一种高速串行计算机扩展总线标准；ssd是solid state drives的缩写，是固态硬盘，简称固盘；ahci是serial ata advanced host controller interface的缩写，意思是串行ata高级主控接口/高级主机控制器接口。
3.固态硬盘主要的存储单元nand block都有擦写次数的限制，当超过这个次数时，该block可能就不能用了：浮栅极充不进电子(写失败)，或者浮栅极的电子很容易就跑出来(比特翻转，0-》1)，或者浮栅极里面的电子跑不出来(擦除失败)。这个最大擦写次数按slc,mlc,tlc依次递减：slc的擦写次数可达十万次，mlc一般为几千到几万，tlc降到几百到几千。对于无效的nand颗粒需要在生产端及时做拦截和替换，以免流入市场。
4.目前第二代pciegen4自研硬盘smt后，针对高性能nvme固态硬盘需经历ft1工站和ft2工站测试通过后方可出货，ft1工站烧录完bist固件后对硬盘部件nand和ddr进行老化，对nand和ddr进行筛选，对于不符合标准的nand颗粒标记为坏块，将记录的坏块信息存放在坏块表中，nand颗粒筛选老化完成后对坏块表中坏块信息进行解析和汇总。
5.由于测试量较大，海量的测试数据由工程师逐一分析具有一定的难度，且会导致测试效率低下。

技术实现要素：

6.针对现有技术存在的测试数据处理不便的问题，本发明提供一种硬盘测试坏块的解析方法、系统、终端及存储介质，以解决上述技术问题。
7.第一方面，本发明提供一种硬盘测试坏块的解析方法，包括：
8.从硬盘坏块测试数据中导出硬盘的原厂坏块表和新增坏块表；
9.将原厂坏块表和新增坏块表的行号数据转换为标准格式；
10.预先设置第一解析规则和第二解析规则；
11.基于第一解析规则和原厂坏块表的标准格式行号数据解析原厂坏块信息，基于第二解析规则和新增坏块表的标准格式行号数据解析新增坏块信息。
12.进一步的，从硬盘坏块测试数据中导出硬盘的原厂坏块表和新增坏块表，包括：
13.监控硬盘周期性老化测试进度，并在进度为完成时，收集硬盘周期性老化测试得到的硬盘坏块测试数据。
14.进一步的，将原厂坏块表和新增坏块表的行号数据转换为标准格式，包括：
15.分别将原厂坏块表和新增坏块表的行号数据由16进制转换为二进制数，记录二进制数位为1的位偏移。
16.进一步的，预先设置第一解析规则和第二解析规则，包括：
17.设置第一解析规则，所述第一解析规则包括：若硬盘为2t硬盘，则坏块的plane为标准格式行号除以4的余数，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以4取整后再乘以4，再加上plane；若硬盘为4t硬盘，坏块的plane为标准格式行号除以8取余再除以2，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以8取整后再乘以4，再加上plane；若硬盘为8t硬盘，坏块的plane为标准格式行号除以16取余再除以4，lun为行号除以4取余再乘以2，target为偏移位置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以16取整后再乘以4，再加上plane；
18.设置第二解析规则，新增坏块信息type为新增坏块表的标准格式行号与0x3做与运算；channel为新增坏块表的标准格式行号右移2位与0xf做与运算；target为新增坏块表的标准格式行号右移6位与0x7做与运算；lun为新增坏块表的标准格式行号右移9位与0x3做与运算；plane为新增坏块表的标准格式行号右移11位与0x3做与运算；block为新增坏块表的标准格式行号右移13位与0xfff做与运算；flag为固定值0x5a。
19.进一步的，在解析出原厂坏块信息和新增坏块信息之后，所述方法还包括：
20.将原厂坏块信息和新增坏块信息保存至数据库，以使显示界面对数据库中的原厂坏块信息和新增坏块信息进行显示。
21.第二方面，本发明提供一种硬盘测试坏块的解析系统，包括：
22.数据导出单元，用于从硬盘坏块测试数据中导出硬盘的原厂坏块表和新增坏块表；
23.格式转换单元，用于将原厂坏块表和新增坏块表的行号数据转换为标准格式；
24.规则设置单元，用于预先设置第一解析规则和第二解析规则；
25.数据解析单元，用于基于第一解析规则和原厂坏块表的标准格式行号数据解析原厂坏块信息，基于第二解析规则和新增坏块表的标准格式行号数据解析新增坏块信息。
26.进一步的，所述数据导出单元包括：
27.数据收集模块，用于监控硬盘周期性老化测试进度，并在进度为完成时，收集硬盘周期性老化测试得到的硬盘坏块测试数据。
28.进一步的，所述规则设置单元包括：
29.第一设置模块，用于设置第一解析规则，所述第一解析规则包括：若硬盘为2t硬盘，则坏块的plane为标准格式行号除以4的余数，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以4取整后再乘以4，再加上plane；若硬盘为4t硬盘，坏块的plane为标准格式行号除以8取余再除以2，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以8取整后再乘以4，再加上plane；若硬盘为8t硬盘，坏块的plane为标准格式行号除以16取余再除以4，lun为行号除以4取余再乘以2，target为偏移位
置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以16取整后再乘以4，再加上plane；
30.第二设置模块，用于设置第二解析规则，新增坏块信息type为新增坏块表的标准格式行号与0x3做与运算；channel为新增坏块表的标准格式行号右移2位与0xf做与运算；target为新增坏块表的标准格式行号右移6位与0x7做与运算；lun为新增坏块表的标准格式行号右移9位与0x3做与运算；plane为新增坏块表的标准格式行号右移11位与0x3做与运算；block为新增坏块表的标准格式行号右移13位与0xfff做与运算；flag为固定值0x5a。
31.第三方面，提供一种终端，包括：
32.处理器、存储器，其中，
33.该存储器用于存储计算机程序，
34.该处理器用于从存储器中调用并运行该计算机程序，使得终端执行上述的终端的方法。
35.第四方面，提供了一种计算机存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述各方面所述的方法。
36.本发明的有益效果在于，
37.本发明提供的硬盘测试坏块的解析方法、系统、终端及存储介质，通过对测试数据进行格式转换等处理，基于设置的解析规则从测试数据中解析出测试结果，本发明可以快速定位故障颗粒位置，减少了故障盘维修时间和测试成本。
38.此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。
附图说明
39.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
40.图1是本发明一个实施例的方法的示意性流程图。
41.图2是本发明一个实施例的系统的示意性框图。
42.图3为本发明实施例提供的一种终端的结构示意图。
具体实施方式
43.为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
44.下面对本发明中出现的关键术语进行解释。
45.nvme ssd支持nvme协议的固态硬盘，闪存存储器可以分为nor型和nand型。nand颗粒。
[0046]“与”运算是计算机中一种基本的逻辑运算方式，符号表示为&，与之相对应的词是“或”，在日常口语交流和书写中一般做关联词。汉语中表示和的意思。
[0047]
图1是本发明一个实施例的方法的示意性流程图。其中，图1执行主体可以为一种硬盘测试坏块的解析系统。
[0048]
如图1所示，该方法包括：
[0049]
步骤110，从硬盘坏块测试数据中导出硬盘的原厂坏块表和新增坏块表；
[0050]
步骤120，将原厂坏块表和新增坏块表的行号数据转换为标准格式；
[0051]
步骤130，预先设置第一解析规则和第二解析规则；
[0052]
步骤140，基于第一解析规则和原厂坏块表的标准格式行号数据解析原厂坏块信息，基于第二解析规则和新增坏块表的标准格式行号数据解析新增坏块信息。
[0053]
为了便于对本发明的理解，下面以本发明硬盘测试坏块的解析方法的原理，结合实施例中对硬盘测试坏块进行解析的过程，对本发明提供的硬盘测试坏块的解析方法做进一步的描述。
[0054]
具体的，所述硬盘测试坏块的解析方法包括：
[0055]
s1、从硬盘坏块测试数据中导出硬盘的原厂坏块表和新增坏块表。
[0056]
监控硬盘周期性老化测试进度，并在进度为完成时，收集硬盘周期性老化测试得到的硬盘坏块测试数据。
[0057]
具体的，ft1测试工序中，bist老化测试(nand颗粒筛选)开始后，周期性查询bist老化进度，进度percentage＝100后方可导出坏块表进行坏块解析。分别导出硬盘原厂坏块表和新增坏块表。
[0058]
s2、将原厂坏块表和新增坏块表的行号数据转换为标准格式。
[0059]
分别将原厂坏块表和新增坏块表的行号数据由16进制转换为二进制数，记录二进制数位为1的位偏移。
[0060]
具体的，原厂坏块表和新增坏块表的行号数据均为u32数据，每一行均对应一个u32数据。u32表示无符号int基本整数类型。将读到的u32十六进制数转换为二进制数，记录二进制数位为1的偏移bitoffset(位偏移)。
[0061]
s3、预先设置第一解析规则和第二解析规则。
[0062]
设置第一解析规则，所述第一解析规则包括：若硬盘为2t硬盘，则坏块的plane为标准格式行号除以4的余数，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以4取整后再乘以4，再加上plane；若硬盘为4t硬盘，坏块的plane为标准格式行号除以8取余再除以2，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以8取整后再乘以4，再加上plane；若硬盘为8t硬盘，坏块的plane为标准格式行号除以16取余再除以4，lun为行号除以4取余再乘以2，target为偏移位置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以16取整后再乘以4，再加上plane；
[0063]
设置第二解析规则，新增坏块信息type为新增坏块表的标准格式行号与0x3做与运算；channel为新增坏块表的标准格式行号右移2位与0xf做与运算；target为新增坏块表的标准格式行号右移6位与0x7做与运算；lun为新增坏块表的标准格式行号右移9位与0x3做与运算；plane为新增坏块表的标准格式行号右移11位与0x3做与运算；block为新增坏块表的标准格式行号右移13位与0xfff做与运算；flag为固定值0x5a。
[0064]
s4、基于第一解析规则和原厂坏块表的标准格式行号数据解析原厂坏块信息，基于第二解析规则和新增坏块表的标准格式行号数据解析新增坏块信息。
[0065]
原厂坏块表解析方案如下：按行读取原厂坏块表，记录行号linenum，将读到的u32十六进制数转换为二进制数，记录二进制数位为1的偏移bitoffset(位偏移)，然后计算坏块位置信息，针对2t盘，坏块的plane为行号linenum除以4的余数，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，channel为偏移位置除以16取余，block为行号linenum除以4取整后再乘以4，再加上plane；针对4t盘，坏块的plane为行号linenum除以8取余再除以2，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为行号linenum除以8取整后再乘以4，再加上plane；；针对8t盘，坏块的plane为行号linenum除以16取余再除以4，lun为行号除以4取余再乘以2，target为偏移位置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为行号linenum除以16取整后再乘以4，再加上plane。
[0066]
新增坏块表解析方法如下：按坏块结构解析坏块，解析u32值，解析出当前坏块的channel,lun,ce,block：解析过程如下：先将十六进制u32，转换为二进制数记为a值。新增坏块信息type为a值与0x3做与运算；channel为a值右移2位与0xf做与运算；target为a值右移6位与0x7做与运算；lun为a值右移9位与0x3做与运算；plane为a值右移11位与0x3做与运算；block为a值右移13位与0xfff做与运算；flag为固定值0x5a。
[0067]
s5、将原厂坏块信息和新增坏块信息保存至数据库，以使显示界面对数据库中的原厂坏块信息和新增坏块信息进行显示。
[0068]
通过监视系统的显示界面发送查看请求，基于查看请求从数据库调取目标数据并对目标数据进行显示。
[0069]
如图2所示，该系统200包括：
[0070]
数据导出单元210，用于从硬盘坏块测试数据中导出硬盘的原厂坏块表和新增坏块表；
[0071]
格式转换单元220，用于将原厂坏块表和新增坏块表的行号数据转换为标准格式；
[0072]
规则设置单元230，用于预先设置第一解析规则和第二解析规则；
[0073]
数据解析单元240，用于基于第一解析规则和原厂坏块表的标准格式行号数据解析原厂坏块信息，基于第二解析规则和新增坏块表的标准格式行号数据解析新增坏块信息。
[0074]
可选地，作为本发明一个实施例，所述数据导出单元包括：
[0075]
数据收集模块，用于监控硬盘周期性老化测试进度，并在进度为完成时，收集硬盘周期性老化测试得到的硬盘坏块测试数据。
[0076]
可选地，作为本发明一个实施例，所述规则设置单元包括：
[0077]
第一设置模块，用于设置第一解析规则，所述第一解析规则包括：若硬盘为2t硬盘，则坏块的plane为标准格式行号除以4的余数，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以4取整后再乘以4，再加上plane；若硬盘为4t硬盘，坏块的plane为标准格式行号除以8取余再除以2，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以8取整后再乘以4，再加上plane；若硬盘为8t硬盘，坏块的
plane为标准格式行号除以16取余再除以4，lun为行号除以4取余再乘以2，target为偏移位置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以16取整后再乘以4，再加上plane；
[0078]
第二设置模块，用于设置第二解析规则，新增坏块信息type为新增坏块表的标准格式行号与0x3做与运算；channel为新增坏块表的标准格式行号右移2位与0xf做与运算；target为新增坏块表的标准格式行号右移6位与0x7做与运算；lun为新增坏块表的标准格式行号右移9位与0x3做与运算；plane为新增坏块表的标准格式行号右移11位与0x3做与运算；block为新增坏块表的标准格式行号右移13位与0xfff做与运算；flag为固定值0x5a。
[0079]
图3为本发明实施例提供的一种终端300的结构示意图，该终端300可以用于执行本发明实施例提供的硬盘测试坏块的解析方法。
[0080]
其中，该终端300可以包括：处理器310、存储器320及通信单元330。这些组件通过一条或多条总线进行通信，本领域技术人员可以理解，图中示出的服务器的结构并不构成对本发明的限定，它既可以是总线形结构，也可以是星型结构，还可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
[0081]
其中，该存储器320可以用于存储处理器310的执行指令，存储器320可以由任何类型的易失性或非易失性存储终端或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(sram)，电可擦除可编程只读存储器(eeprom)，可擦除可编程只读存储器(eprom)，可编程只读存储器(prom)，只读存储器(rom)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。当存储器320中的执行指令由处理器310执行时，使得终端300能够执行以下上述方法实施例中的部分或全部步骤。
[0082]
处理器310为存储终端的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子终端的各个部分，通过运行或执行存储在存储器320内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器内的数据，以执行电子终端的各种功能和/或处理数据。所述处理器可以由集成电路(integrated circuit，简称ic)组成，例如可以由单颗封装的ic所组成，也可以由连接多颗相同功能或不同功能的封装ic而组成。举例来说，处理器310可以仅包括中央处理器(central processing unit，简称cpu)。在本发明实施方式中，cpu可以是单运算核心，也可以包括多运算核心。
[0083]
通信单元330，用于建立通信信道，从而使所述存储终端可以与其它终端进行通信。接收其他终端发送的用户数据或者向其他终端发送用户数据。
[0084]
本发明还提供一种计算机存储介质，其中，该计算机存储介质可存储有程序，该程序执行时可包括本发明提供的各实施例中的部分或全部步骤。所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(英文：read-only memory，简称：rom)或随机存储记忆体(英文：random access memory，简称：ram)等。
[0085]
因此，本发明通过对测试数据进行格式转换等处理，基于设置的解析规则从测试数据中解析出测试结果，本发明可以快速定位故障颗粒位置，减少了故障盘维修时间和测试成本，本实施例所能达到的技术效果可以参见上文中的描述，此处不再赘述。
[0086]
本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明实施例中的技术可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本发明实施例中的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中如u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器
(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质，包括若干指令用以使得一台计算机终端(可以是个人计算机，服务器，或者第二终端、网络终端等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
[0087]
本说明书中各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。尤其，对于终端实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例中的说明即可。
[0088]
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的系统实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，系统或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
[0089]
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
[0090]
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
[0091]
尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述，但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下，本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换，而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

技术特征：

1.一种硬盘测试坏块的解析方法，其特征在于，包括：从硬盘坏块测试数据中导出硬盘的原厂坏块表和新增坏块表；将原厂坏块表和新增坏块表的行号数据转换为标准格式；预先设置第一解析规则和第二解析规则；基于第一解析规则和原厂坏块表的标准格式行号数据解析原厂坏块信息，基于第二解析规则和新增坏块表的标准格式行号数据解析新增坏块信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从硬盘坏块测试数据中导出硬盘的原厂坏块表和新增坏块表，包括：监控硬盘周期性老化测试进度，并在进度为完成时，收集硬盘周期性老化测试得到的硬盘坏块测试数据。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将原厂坏块表和新增坏块表的行号数据转换为标准格式，包括：分别将原厂坏块表和新增坏块表的行号数据由16进制转换为二进制数，记录二进制数位为1的位偏移。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，预先设置第一解析规则和第二解析规则，包括：设置第一解析规则，所述第一解析规则包括：若硬盘为2t硬盘，则坏块的plane为标准格式行号除以4的余数，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以4取整后再乘以4，再加上plane；若硬盘为4t硬盘，坏块的plane为标准格式行号除以8取余再除以2，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以8取整后再乘以4，再加上plane；若硬盘为8t硬盘，坏块的plane为标准格式行号除以16取余再除以4，lun为行号除以4取余再乘以2，target为偏移位置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以16取整后再乘以4，再加上plane；设置第二解析规则，新增坏块信息type为新增坏块表的标准格式行号与0x3做与运算；channel为新增坏块表的标准格式行号右移2位与0xf做与运算；target为新增坏块表的标准格式行号右移6位与0x7做与运算；lun为新增坏块表的标准格式行号右移9位与0x3做与运算；plane为新增坏块表的标准格式行号右移11位与0x3做与运算；block为新增坏块表的标准格式行号右移13位与0xfff做与运算；flag为固定值0x5a。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在解析出原厂坏块信息和新增坏块信息之后，所述方法还包括：将原厂坏块信息和新增坏块信息保存至数据库，以使显示界面对数据库中的原厂坏块信息和新增坏块信息进行显示。6.一种硬盘测试坏块的解析系统，其特征在于，包括：数据导出单元，用于从硬盘坏块测试数据中导出硬盘的原厂坏块表和新增坏块表；格式转换单元，用于将原厂坏块表和新增坏块表的行号数据转换为标准格式；规则设置单元，用于预先设置第一解析规则和第二解析规则；数据解析单元，用于基于第一解析规则和原厂坏块表的标准格式行号数据解析原厂坏
块信息，基于第二解析规则和新增坏块表的标准格式行号数据解析新增坏块信息。7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述数据导出单元包括：数据收集模块，用于监控硬盘周期性老化测试进度，并在进度为完成时，收集硬盘周期性老化测试得到的硬盘坏块测试数据。8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述规则设置单元包括：第一设置模块，用于设置第一解析规则，所述第一解析规则包括：若硬盘为2t硬盘，则坏块的plane为标准格式行号除以4的余数，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以4取整后再乘以4，再加上plane；若硬盘为4t硬盘，坏块的plane为标准格式行号除以8取余再除以2，lun默认为0，target为偏移位置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以8取整后再乘以4，再加上plane；若硬盘为8t硬盘，坏块的plane为标准格式行号除以16取余再除以4，lun为行号除以4取余再乘以2，target为偏移位置除以16取整，再加上行号除以2取整再乘以2，channel为偏移位置除以16取余，block为标准格式行号除以16取整后再乘以4，再加上plane；第二设置模块，用于设置第二解析规则，新增坏块信息type为新增坏块表的标准格式行号与0x3做与运算；channel为新增坏块表的标准格式行号右移2位与0xf做与运算；target为新增坏块表的标准格式行号右移6位与0x7做与运算；lun为新增坏块表的标准格式行号右移9位与0x3做与运算；plane为新增坏块表的标准格式行号右移11位与0x3做与运算；block为新增坏块表的标准格式行号右移13位与0xfff做与运算；flag为固定值0x5a。9.一种终端，其特征在于，包括：处理器；用于存储处理器的执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为执行权利要求1-5任一项所述的方法。10.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一项所述的方法。

技术总结

本发明属于存储技术领域，具体提供一种硬盘测试坏块的解析方法、系统、终端及存储介质，包括：从硬盘坏块测试数据中导出硬盘的原厂坏块表和新增坏块表；将原厂坏块表和新增坏块表的行号数据转换为标准格式；预先设置第一解析规则和第二解析规则；基于第一解析规则和原厂坏块表的标准格式行号数据解析原厂坏块信息，基于第二解析规则和新增坏块表的标准格式行号数据解析新增坏块信息。本发明通过对测试数据进行格式转换等处理，基于设置的解析规则从测试数据中解析出测试结果，本发明可以快速定位故障颗粒位置，减少了故障盘维修时间和测试成本。成本。成本。