半导体芯片测试成本降低方案

-32-

/2012.06/

是三元催化器堵塞或气门、活塞顶面有积

炭。建议驾驶员进行喷油器、进气道、三元催化器免拆清洗。

经过清洗，用VAS5052测试，前氧传感器显示值和以前一样，怠速时后氧传感器显示值在0.12-0.7V之间变化，说明后氧传感器已经恢复正常。清除故障码，OBD警告灯熄灭。

四、结束语

通过以上分析我们得出造成该车故障的主要原因是三元催化器堵塞，气门、活塞顶

面积炭，进行“二清”（即免拆清洗燃油系统、燃烧室与三元催化器，手工清洗节气门与进气道）后，清除故障码，此车行车过程中OBD警告灯点亮，同时出现发动机加速无力的故障便解决了。通过排除此故障，我们得出今后再遇到行车时排气质量恶化或发动机缺火损坏三元催化器，导致OBD警告灯点亮或闪亮的情况，应利用OBD系统故障码和数据流进行诊断，对症修理，以提高维修效率并为顾客降低维修成本。

参考文献

[1]王永军.轿车车载诊断(OBD)系统核心技术研究[D].吉林大学,2007.

[2]陈鲁训，陈萍.第二代随车电脑诊断系统OBD II[J].汽车技术,1996(9):47-50.

[3]袁双宏.汽车OBD技术浅析[J].科技信息,2009(35).[4]徐建平.美国第二代及欧洲汽车微机故障诊断系统[J].汽车电器,2003(6):45-48.

[5]郭庆庆.上海大众帕萨特领驭OBD警告灯报警[J].汽车维修与保养,2012(2).

半导体芯片测试成本降低方案寰鼎集成电路（上海）有限公司李华

【摘要】随着电子产品日新月异的发展，在产品品质提高同时，产品价格的下降也越来越被消费者重

视。为了降低电子产品的价格，首先需要降低核心芯片的生产成本。测试费用是生产成本的重要组成，其中测试平台的成本直接影响测试费用。本文着重叙述如何用低成本测试平台（v50）实现高成本测试平台（J750）的功能，进而实现测试成本的降低。

【关键词】电子产品；芯片；测试平台（V50，J750）；成本降低

1.引言

随着半导体测试技术的不断发展以及对测试成本降低需求的不断提升，各种低成本测试平台出现并逐渐取代高成本的测试平台的功能。本文通过VQ1710B高精度声卡芯片的测试程序开发过程，详细叙述了如何用低成本测试平台（V50）实现高成本测试平台（J750）的功能，进而实现测试成本的降

低。

2.VQ1710B芯片介绍

2.1 封装管角图（见图1）2.2 主要功能

支持44.1K/48K/96K/192KHz DAC独立采样率

内置高品质耳麦扩音器支持高品质差分输入CD音频信号

ADC路径中的HPF可切断直流电

支持EAPD(External Amplifier Power Down) 3.J750和V50测试平台介绍3.1 J750测试平台

J750是一款高性能SoC测试平台，可以很好的满足各种Soc的测试要求。但是设备的成本较高，根据配置不同，价格一般在300K-500K美金。其主要特性如下：

512 OR 1024 I/O Channels configura-tion.

100MHz full formatted(unmultiplex-ed)drive and receive

Independent per pin levels and timing

图1 VQ1710B芯片封装管角图

图2 J750 外观图图3 V50 外观图

图4 整体测试方案示意图图5 8channel.v 功能项测试结构图

-33-

/2012.06

256 global time sets，32 per pin edge sets

6 edges per pin up to 50MHz，and 4 edges per pin up to 100MHz

3.2 V50测试平台介绍

V50是惠瑞杰旗下的一款多功能测试平台，可以测试数字类产品（测试频率低于50HZ），模拟类产品以及混合信号类产品，是中低端测试平台中性价比非常高的一款测试机，根据配置不同，价格一般在70K-150K 美金。其主要特性如下：

Channel count：64 channels per logic board

Maximum 256 channels for one system Parallelism：maximum 8-site

Scalability：different kinds of the board can

Signal Docking：256 channel cable mount

4.芯片功能测试项

判断一颗芯片是良品还是不良品，都是

透过检测其功能项来进行判断。如果所有的功能项均测试合格，则该芯片为良品。若有一项不通过，则为不良品。该芯片的功能测试项见表1。

由于文章篇幅的关系，以下着重介绍V50如何实现DA_PATH下的8Channel.v功能项（表一中的第10项）的测试。该功能测试项主要是检测该声卡芯片8个音频输入输出通道通道是否正常。

5.V50测试方案

5.1 整体测试方案示意图（见图4）5.2 DA_PATH之8channel.v功能项测试结构图（见图5）

在测试该功能项之前，V50测试平台会通过测试程序将芯片上Poat A–H 8个音频输入输出通道通道打开，并且输入频率为1KHZ，振幅为±2V的正弦波，然后对输出波形进行采集，比较。

6.软件实现

6.1 软件流程图（见图6）6.2 软件程序（C语言）

***********以下为检测PortA通道的子程序***************

@@PLAN DA_PORT_A

SITE_SEQUENCE=OFF；

DISABLE_BY_MARK_NO=NULL； S_SETUP_FILE=c：\set.dat； REMARK=DA_PORT_A； DC_INIT()； CLEAR_CONT()；

LOGIC_CLOSE_DPS_OUTPUT_RELAY(1，ON)；

LOGIC_CLOSE_DPS_OUTPUT_RELAY(2，ON)；// V50初始化

LOGIC_FORCE_DPS(1，2.97V，100MA，-100MA，E1，I7，VI_MODE)；

LOGIC_FORCE_DPS(2，4.5V，100MA， -100MA，E1，I7，VI_MODE)；// 开启芯片工作电压

LOGIC_CLOSE_PE_RELAY(DIGITAL_PINS)； LOGIC_SET_DRV_LEVEL(DIGITAL_PINS， 3.3V， 0.0V， VR0)；

LOGIC_SET_CMP_LEVEL(DIGITAL_PINS， 1.485V， 1.485V， VR0)；// V50测试管角设置

LOGIC_CLOSE_USER_RELAY("29，24")；// 开通PortA通道

WAIT(1MS)； V50MesgToClient(DA_PORT_A)；

RUN_PATTERN(B1_8CH_1121：start，B1_8CH_1121：end，1，5)；//设置芯片工作模式并启动测试

V50MesgToClient(MSG_START_RE-CORD)；// 记录，处理测试数据

WAIT(10MS)；Sleep(1)；

int R1 = V50GetViaResult( )； GB[1] = R1；

PRINT_LOG(GB2，GB2)；// 调用比较软件，输出测试结果（Pass or Fail）

CONDITION IF_FAIL

REJECT_BIN=14；//根据测试结果，进行好坏品归类

@@END_PLAN

****************************************

7.结束语

通过本案的方案，测试平台的购置成本至少降低50%以上，大大缩减了测试成本。同时希望更多的低成本平台可以实现更多高成本平台的功能，通过测试设备成本降低的方式缩减测试费用，从而降低产品成本，最终惠及终端用户。

参考文献

[1]刘恩科，朱秉升.半导体物理学[M].西安：西安交通大学出版社,1998.

[2]朱正涌.半导体集成电路[M].北京：清华大学出版社,2001.

[3]李亚伯.数字电路与系统[M].北京：电子工业出版社,2001.

[4]王毓银.数字电路逻辑设计[M].北京：高等教育出版社,1999.

[5]曹培栋，亢宝位.微电子技术基础[M].北京：电子工业出版社,2001

表1 芯片功能测试项列表

图6 软件流程图

本文发布于:2024-09-20 13:55:01，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://www.17tex.com/tex/2/88722.html

上一篇：根治性放射及术后放射对妇

下一篇：IGBT参数辨识及其有效性验证79675

标签：测试成本芯片平台降低进行通道

留言与评论（共有 0 条评论）