一种硅胶按键按压性能测试治具的制作方法

1.本实用新型涉及硅胶按键生产技术领域，特别涉及一种硅胶按键按压性能测试治具。

背景技术：

2.硅胶按键是应用在薄膜键盘中起到弹性支撑及按压导通作用的核心部件，其工作原理为：当按压键帽时，硅胶按键被键帽按压变形对薄膜电路层施压以驱动薄膜电路层内的电极接触点相互接触实现导通，并在按压结束后通过硅胶按键的弹性作用使键帽复位。
3.在硅胶按键生产完成后，为了对比观察按压硅胶按键时不同行程下的按压后状态及极限状态下的崩溃结构，需开制按压硅胶按键的治具进行批量模拟测试。参考图1，目前普遍使用两块平行式的按压治具，将剖切后硅胶按键30贴在下方的下摆板10上，并使用另一块上压板20对准下摆板10上摆放的硅胶按键30进行手动按压，但是该种现有技术的手动按压方式的按压力道难以控制，不同行程的按压崩溃点难以精确模拟，不同行程的按压崩溃点需两人相互配合才能通过omm设备完成截图，对按压的力道和按压控制深度要求比较高，测量时效低。

技术实现要素：

4.为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种硅胶按键按压性能测试治具，包括垂直设置的支撑板，通过轴承座安装在所述支撑板的一侧且垂直设置的机械式千分尺，水平设置且固定连接至所述机械式千分尺下端的上压板，以及水平设置在所述上压板下方的下摆板；
5.还包括设置在通过安装板安装在所述支撑板一侧的数显表头，所述数显表头下侧设置有垂直对应下方上压板的伸缩探针，以用于探测所述上压板的下压行程并通过所述数显表头精确显示。
6.进一步的，所述支撑板的侧部上下滑动设置有滑板，所述上压板安装在所述支撑板的下端侧部，所述机械式千分尺的下端连接至所述滑板的上端，以通过所述机械式千分尺的旋转扭动带动所述滑板沿所述支撑板上下升降滑动，进而带动所述上压板上下升降。
7.进一步的，所述滑板的上端侧部还安装有水平设置的位移板，所述伸缩探针的下端对应所述位移板的上表面，以用于探测所述位移板的下降行程，进而探测出所述上压板的同步行程。
8.进一步的，所述支撑板的侧部垂直设置有对应所述滑板的滑轨，所述滑板的侧部安装有对应所述滑轨的滑块。
9.进一步的，所述支撑板的侧部安装有水平设置并对应所述下摆板的线性导柱，所述下摆板的侧部设置有对应所述线性导柱的线性导套。
10.通过上述技术方案，本实用新型很好的解决了现有技术测量过程中按压力道和行程不好控制问题，对于测量精度提供了保障，一次摆好硅胶按键后可以通过机械式千分尺
精确控制不同的按压行程，提升了测量时效，节省了人力成本。
附图说明
11.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
12.图1为现有技术的硅胶按键按压测试治具示意图；
13.图2为本实用新型的硅胶按键按压性能测试治具立体结构示意图；
14.图3为本实用新型的硅胶按键按压性能测试治具主视结构示意图；
15.图4为本实用新型的硅胶按键按压性能测试治具侧视结构示意图。
16.图中：10.下摆板；11.线性导套；20.上压板；30.硅胶按键；40.支撑板；41.滑板；42.机械式千分尺；43.位移板；44.安装板；45.数显表头；451.伸缩探针；46.轴承座；47.线性导柱。
具体实施方式
17.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
18.参考图2-4，本实用新型提供了一种硅胶按键按压性能测试治具，包括垂直设置的支撑板40，通过轴承座46安装在支撑板40的一侧且垂直设置的机械式千分尺42，上下滑动设置在支撑板40侧部的滑板41，安装在支撑板40下端侧部的上压板20，以及水平设置在上压板20下方的下摆板10，机械式千分尺42的下端连接至滑板41的上端；还包括设置在通过安装板44安装在支撑板40一侧的数显表头45，数显表头45下侧设置有垂直对应下方上压板20的伸缩探针451，以用于探测上压板20的下压行程并通过数显表头45精确显示；其中，支撑板40的侧部安装有水平设置并对应下摆板10的线性导柱47，下摆板10的侧部设置有对应线性导柱47的线性导套11，以确保下摆板10的水平对位移动及精确对应上侧的上压板20。
19.具体的，滑板41的上端侧部还安装有水平设置的位移板43，伸缩探针451的下端对应位移板43的上表面，以用于探测位移板43的下降行程，进而探测出上压板20的同步行程。
20.具体的，支撑板40的侧部垂直设置有对应滑板41的滑轨，滑板41的侧部安装有对应滑轨的滑块。
21.本实用新型应用时，首先将硅胶按键摆放到下摆板20上，通过旋转扭动机械式千分尺42以带动滑板41及上压板20往下移动，当上压板20底面接触到硅胶按键30的顶部以后将数显表头45归零，继续旋转扭动机械式千分尺42，伸缩探针451会通过与位移板43伸缩接触以测量位移板43的下降行程并进而将上压板20向下的移动行程显示到数显表头45上，通过上压板45可将硅胶按键30进行各种行程的精确按压，进而可以精确模拟不同行程下的硅胶按键30按压结构，满足验证测试需求。
22.对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对上述实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

技术特征：

1.一种硅胶按键按压性能测试治具，其特征在于，包括垂直设置的支撑板(40)，通过轴承座(46)安装在所述支撑板(40)的一侧且垂直设置的机械式千分尺(42)，水平设置且固定连接至所述机械式千分尺(42)下端的上压板(20)，以及水平设置在所述上压板(20)下方的下摆板(10)以用于硅胶按键(30)的摆放；还包括设置在通过安装板(44)安装在所述支撑板(40)一侧的数显表头(45)，所述数显表头(45)下侧设置有垂直对应下方上压板(20)的伸缩探针(451)，以用于探测所述上压板(20)的下压行程并通过所述数显表头(45)精确显示。2.根据权利要求1所述的一种硅胶按键按压性能测试治具，其特征在于，所述支撑板(40)的侧部上下滑动设置有滑板(41)，所述上压板(20)安装在所述支撑板(40)的下端侧部，所述机械式千分尺(42)的下端连接至所述滑板(41)的上端，以通过所述机械式千分尺(42)的旋转扭动带动所述滑板(41)沿所述支撑板(40)上下升降滑动，进而带动所述上压板(20)上下升降。3.根据权利要求2所述的一种硅胶按键按压性能测试治具，其特征在于，所述滑板(41)的上端侧部还安装有水平设置的位移板(43)，所述伸缩探针(451)的下端对应所述位移板(43)的上表面，以用于探测所述位移板(43)的下降行程，进而探测出所述上压板(20)的同步行程。4.根据权利要求2或3所述的一种硅胶按键按压性能测试治具，其特征在于，所述支撑板(40)的侧部垂直设置有对应所述滑板(41)的滑轨，所述滑板(41)的侧部安装有对应所述滑轨的滑块。5.根据权利要求1所述的一种硅胶按键按压性能测试治具，其特征在于，所述支撑板(40)的侧部安装有水平设置并对应所述下摆板(10)的线性导柱(47)，所述下摆板(10)的侧部设置有对应所述线性导柱(47)的线性导套(11)。

技术总结

本实用新型公开了一种硅胶按键按压性能测试治具，包括垂直设置的支撑板，通过轴承座安装在所述支撑板的一侧且垂直设置的机械式千分尺，水平设置且固定连接至所述机械式千分尺下端的上压板，以及水平设置在所述上压板下方的下摆板；还包括设置在通过安装板安装在所述支撑板一侧的数显表头，所述数显表头下侧设置有垂直对应下方上压板的伸缩探针，以用于探测所述上压板的下压行程并通过所述数显表头精确显示。本实用新型很好的解决了现有技术测量过程中按压力道和行程不好控制问题，对于测量精度提供了保障，一次摆好硅胶按键后可以通过机械式千分尺精确控制不同的按压行程，提升了测量时效，节省了人力成本。节省了人力成本。节省了人力成本。