一种存储器测试系统及其使用方法与流程

1.本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种存储器测试系统及其使用方法。

背景技术：

2.在电子领域，存储器的使用越来越广，存储器的质量品质也越来越重要，测试储存器的装置、设备或系统也陆续的出现了。
3.但是，现有的存储器的容量越来越大，比如手机上的内存从以前的几百兆到现在内存已经有上百g了，为了更好地测试存储器，一般需要对存储器的所有容量进行测试，这样测试存储器的速率就会越来越慢，加上存储器的市场需求量越来越大，现有的存储器测试系统或装置已经无法满足市场需求。

技术实现要素：

4.为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种存储器测试系统，其能提高测试存储器的效率；本发明的目的之二在于提供上述存储器测试系统的使用方法。
5.本发明的目的之一采用以下技术方案实现：一种存储器测试系统，包括主控单元、具有片选功能的信号发生检测单元、具有多路i/o口的驱动输出检测单元、老化测试单元和dps电源单元，所述主控单元与所述信号发生检测单元信号连接，所述信号发生检测单元与所述驱动输出检测单元信号连接，所述驱动输出检测单元与所述老化测试单元信号连接，所述dps电源单元分别与所述信号发生检测单元和所述老化测试单元电性连接。
6.优选的，所述主控单元包括mcu芯片。
7.优选的，所述信号发生检测单元包括具有片选功能的fpga芯片、eprom芯片以及用于存储数据和地址的ddr2芯片，所述fpga芯片分别与所述eprom芯片和所述ddr2芯片信号连接。
8.优选的，所述fpga芯片包括ram模块、mcu接口、驱动控制器和存储控制器，所述mcu接口分别与所述ram模块、所述驱动控制器和存储控制器信号连接，所述存储控制器与所述驱动控制器信号连接。
9.优选的，所述老化测试单元包括多个用于插接老化板的夹具。
10.优选的，所述存储器测试系统还包括网络通信单元，所述网络通信单元与所述主控单元信号连接。
11.本发明的目的之二采用以下技术方案实现：一种上述任一项所述的存储器测试系统的使用方法，包括步骤：步骤a：通过所述主控单元、所述信号发生检测单元和所述驱动输出检测单元实现分批次测试待测存储器；步骤b：通过调节所述主控单元、所述信号发生检测单元和所述dps电源单元而实现电
压步进法来测试待测存储器；步骤c：根据所述步骤a和所述步骤b进行多次循环测试，记录循环信息和故障信息。
12.进一步地，所述步骤c具体包括：步骤c1、对待测存储器进行格式化，并检查输入指令0xff，每次测试时使所述驱动输出检测单元的部分i/o口进入工作状态；步骤c2、把待测存储器分批次输入测试程序，并进入测试状态和记录测试信息；步骤c3、重复步骤c1和c2直到10万次，其中每1万次使用一次电压步进法进行测试；步骤c4、完后步骤c3后，进行检查复位。
13.进一步地，所述电压步进法为：在-2v~+2v的测试电压范围内，以每次增加20mv的电源进行测试。
14.进一步地，所述的使用方法还包括步骤d：通过所述步骤c中的故障信号来对被测存储器进行质量品质分析，所述质量品质分析包括对质量品质的优良进行分析和对故障信息进行分析。
15.相比现有技术，本发明的有益效果在于：本存储器测试系统设置有具有片选功能的信号发生检测单元和具有多路i/o口的驱动输出检测单元，该信号发生检测单元能自动分批次地选择待测存储器，在测试时就可以在所述老化测试单元上一次性安装很多的待测存储器，而不用在测试完后又反复地安装待测存储器，而减少测试时间；所述驱动输出检测单元具有多路i/o口，而可以同时输出大量的测试信号，从而提高测试效率。
附图说明
16.图1为本发明的存储器测试系统的流程示意图；图2为本发明的fpga芯片的流程示意图；图3为本发明的存储器测试系统的使用方法的流程图；图4为本发明的步骤c的流程图。
具体实施方式
17.为了能够更清楚地理解本发明的具体技术方案、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。
18.在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“横向”、“纵向”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
19.如图1-2所示，本发明公开了一种存储器测试系统，包括主控单元、具有片选功能的信号发生检测单元、具有多路i/o口的驱动输出检测单元、老化测试单元和dps电源单元，所述主控单元与所述信号发生检测单元信号连接，所述信号发生检测单元与所述驱动输出检测单元信号连接，所述驱动输出检测单元与所述老化测试单元信号连接，所述dps电源单
元分别与所述信号发生检测单元和所述老化测试单元电性连接。
20.本存储器测试系统设置有具有片选功能的信号发生检测单元和具有多路i/o口的驱动输出检测单元，该信号发生检测单元能自动分批次地选择待测存储器，在测试时就可以在所述老化测试单元上一次性安装很多的待测存储器，而不用在测试完后又反复地安装待测存储器，而减少测试时间；所述驱动输出检测单元具有多路i/o口，而可以同时输出大量的测试信号，从而提高测试效率。可以理解地，本存储器测试系统也可以测试与储存器相类似的芯片。
21.其中，所述信号发生检测单元能产生测试信号，并且能通过芯片的片选功能，每次选择所述驱动输出检测单元的部分i/o口传输测试信号。所述驱动输出检测单元包括多个具有多个i/o口的器件，所述驱动输出检测单元可包括rs-232接口和驱动器芯片，其中每一路i/o口均可电性连接一块待测储存器（如图1中的a1-d4中的任意一块，实际测试中待测储存器的个数比图1中的多），这样就可以实现分批次地测试老化板上的待测存储器，例如，分批次测试：第一次测试待测储存器a1、a2、a3和a4，第二次测试待测储存器b1-b4，第三次测试待测储存器c1-c4，第四次测试待测储存器d1-d4。可以理解地，如果待测储存器上设置有片选端，也可以通过待测储存器上的片选端来选择每次要测试的存储器。
22.其中，所述主控单元包括mcu芯片和pc，该mcu芯片可采用arm7的16位控制器，该16位控制器通过数据总线对所述信号发生检测单元进行控制和信息输入输出，该mcu芯片包括通讯接口，该通讯接口可采用rs-232。所述dps电源单元主要起供电的作用，也能改变电源的频率、波形和大小。
23.在一种优选的实施方式中，如图1-2所示，所述信号发生检测单元包括具有片选功能的fpga芯片、eprom芯片以及用于存储数据和地址的ddr2芯片，所述fpga芯片分别与所述eprom芯片和所述ddr2芯片信号连接。所述fpga芯片包括ram模块、mcu接口、驱动控制器和存储控制器，所述mcu接口分别与所述ram模块、所述驱动控制器和存储控制器信号连接，所述存储控制器与所述驱动控制器信号连接。
24.在上述实施方式中，所述fpga芯片能进行测试信号和片选信号的输出，并检测驱动输出检测单元的输出信号，所述eprom芯片可以储存一些有关测试的程序代码，比如储存器的读写程序；所述ddr2芯片能储存测试地址和测试数据，该测试地址可包括被测存储器的位置信息，该测试数据主要指被测存储器测试后的理想数据。如图2所示，具体地，所述fpga芯片中的ram模块能存储相关命令和配置信息，所述ram模块与所述主控单元电性连接，其中的相关命令和配置信息由主控单元生成或设置；所述mcu接口能接收ram模块的数据命令，根据数据命令控制循环程序、生成片选信号和上传测试信息；所述存储控制器能控制所述ddr2芯片，并读写所述ddr2芯片内的测试数据。所述驱动控制器能读取所述存储控制器的测试数据，也能读取被测储存器测试后的实际数据，并对所述实际数据与所述理想数据进行对比判断一致性，得出测试结果（一般理想数据与实际数据越一致，测试结果越好），再把所述测试结果上传给所述主控单元。
25.如图2所示，在另一种优选的实施方式中，所述驱动输出检测单元包括具有多路i/o口的驱动检测比较器。所述老化测试单元包括多个用于插接老化板的夹具。所述存储器测试系统还包括网络通信单元，所述网络通信单元与所述主控单元信号连接。
26.其中，所述驱动检测比较器可为芯片max489ecpd，该max489ecpd可与所述驱动输
出检测单元中的rs-232接口很好地配合连接，该驱动检测比较器还可以对检测信息进行对比或比较而确定检测信息的正误，当检测信息错误时，可以把检测信息回传给所述信号发生检测单元，该驱动检测比较器还可以对检测信息进行驱动输出，该驱动输出包括对信号的放大、转换和输送，该驱动检测比较器的i/o口可多达64路，就可以电性连接多块待测储存器。所述老化板上可以设置多个待测储存器，所述老化板上可以设置连接i/o口的端口、夹具和加热待测存储器的加热丝。所述网络通信单元可采用tcp/ip协议与所述主控单元信号连接，而利于远程传输测试信息和命令。
27.如图3所示，本发明还公开了一种所述的存储器测试系统的使用方法，包括步骤：步骤a：通过所述主控单元、所述信号发生检测单元和所述驱动输出检测单元实现分批次测试待测存储器；在所述步骤a中，所述主控单元主要起发生指令和设置参数的作用；所述信号发生检测单元可以通过fpga芯片实现片选功能而实现分批次测试待测储存器；所述驱动输出检测单元设置有多个i/o口,能与多个待测储存器进行电性连接，并能驱动、检测和放大测试信号。
28.步骤b：通过调节所述主控单元、所述信号发生检测单元和所述dps电源单元而实现电压步进法来测试待测存储器；具体地，所述电压步进法为：在-2v~+2v的测试电压范围内，以每次增加20mv的电源进行测试。
29.其中，通过所述电压步进法就可以测试出，不同的电压对被测存储器的影响，而可以检测出那些在过高或过低电压中就会出现问题的待测芯片。所述dps电源单元包括可控电源，该可控电源可以给所述信号发生检测单元和所述老化测试单元供电，也可以控制电源的输出。所述dps电源也可以输入一个高电平（vih或vil）给所述老化测试单元，再通过所述驱动输出检测单元检测所述老化测试单元所输出的电平（voh或vol），来测试所述待测存储器的通电性能。步骤c：根据所述步骤a和所述步骤b进行多次循环测试，记录循环信息和故障信息。
30.其中，在步骤c中，通过多次循环测试，能更好地发现有问题的待测存储器，通过所述循环信息和故障信息也能很好地分析不良待测存储器出现问题的原因。而且可以满足有些大容量（例如几百g的内存芯片）的待测存储器的测试要求，一般大容量的待测存储器需要对每个地址空间进行测试，所以要测试很多次，通过所述步骤c的多次循环测试就能满足测试要求。
31.如图1所示，所述的使用方法还包括步骤d：通过所述步骤c中的故障信号来对被测存储器进行质量品质分析，所述质量品质分析包括对质量品质的优良进行分析和对故障信息进行分析。
32.其中，通过所述质量品质分析可以对测试后的存储器进行质量优良的分类，比如分成优品、合格品和不良品，对不良品的故障信息进行分析，利于得出产生不良品的原因。具体地，可以通过pc软件对不良品进行分析，比如分析不良品在什么电压环境下容易出现故障，而可以得出不良品的耐温环境，如果耐温环境过低，就可能是不良品的部件不耐高温所导致的，从而利于改进不良品。
33.如图4所示，所述步骤c具体包括：步骤c1、对待测存储器进行格式化，并检查输入指令0xff，每次测试时使所述驱动输出
检测单元的部分i/o口进入工作状态；在所述步骤c1中，对待测存储器进行格式化可以防止待测测存储器原有的数据对测试数据造成混淆，指令0xff（11111111）可以每次测试时使部分i/o口为高电平，而进入工作状态传输测试数据。
34.步骤c2、把待测存储器分批次输入测试程序，并进入测试状态和记录测试信息；比如在所述步骤c2中，所述测试程序可为：ckb: odd page 0xaaaaaaaa55555555; even page 0x55555555aaaaaaaa;ckbba: odd page 0x55555555aaaaaaaa; even page 0xaaaaaaaa55555555;步骤c3、重复步骤c1和c2直到10万次，其中每1万次使用一次电压步进法进行测试；其中，10万次循环测试可以满足绝大多数的存储器的测试要求，当然测试的循环次数可以通过所述主控单元进行设置。
35.步骤c4、完后步骤c3后，进行检查复位。
36.其中，检查复位包括对待测存储器进行格式化，利于对测试好的待测存储器进行复位和下机包装。
37.综述，本存储器测试系统利用所述所述信号发生检测单元的片选功能，每次选择所述驱动输出检测单元的部分i/o口传输测试信号，而达到分批次测试待测存储器的目的，可以减少测试时间。另外，其使用方法通过输入和擦除程序进行测试，而可以实现多次循环测试，能满足大部分存储器的测试要求。
38.以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中的描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

技术特征：

1.一种存储器测试系统，其特征在于，包括主控单元、具有片选功能的信号发生检测单元、具有多路i/o口的驱动输出检测单元、老化测试单元和dps电源单元，所述主控单元与所述信号发生检测单元信号连接，所述信号发生检测单元与所述驱动输出检测单元信号连接，所述驱动输出检测单元与所述老化测试单元信号连接，所述dps电源单元分别与所述信号发生检测单元和所述老化测试单元电性连接。2.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述主控单元包括mcu芯片。3.根据权利要求2所述的存储器测试系统，其特征在于，所述信号发生检测单元包括具有片选功能的fpga芯片、eprom芯片以及用于存储数据和地址的ddr2芯片，所述fpga芯片分别与所述eprom芯片和所述ddr2芯片信号连接。4.根据权利要求3所述的存储器测试系统，其特征在于，所述fpga芯片包括ram模块、mcu接口、驱动控制器和存储控制器，所述mcu接口分别与所述ram模块、所述驱动控制器和存储控制器信号连接，所述存储控制器与所述驱动控制器信号连接。5.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述老化测试单元包括多个用于插接老化板的夹具。6.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述存储器测试系统还包括网络通信单元，所述网络通信单元与所述主控单元信号连接。7.一种权利要求1-6中任一项所述的存储器测试系统的使用方法，其特征在于，包括步骤：步骤a：通过所述主控单元、所述信号发生检测单元和所述驱动输出检测单元实现分批次测试待测存储器；步骤b：通过调节所述主控单元、所述信号发生检测单元和所述dps电源单元而实现电压步进法来测试待测存储器；步骤c：根据所述步骤a和所述步骤b进行多次循环测试，记录循环信息和故障信息。8.根据权利要求7所述的存储器测试系统的使用方法，其特征在于，所述步骤c具体包括：步骤c1、对待测存储器进行格式化，并检查输入指令0xff，每次测试时使所述驱动输出检测单元的部分i/o口进入工作状态；步骤c2、把待测存储器分批次输入测试程序，并进入测试状态和记录测试信息；步骤c3、重复步骤c1和c2直到10万次，其中每1万次使用一次电压步进法进行测试；步骤c4、完后步骤c3后，进行检查复位。9.根据权利要求8所述的存储器测试系统的使用方法，其特征在于，所述电压步进法为：在-2v~+2v的测试电压范围内，以每次增加20mv的电源进行测试。10.根据权利要求9所述的存储器测试系统的使用方法，其特征在于，所述的使用方法还包括步骤d：通过所述故障信号来对被测存储器进行质量品质分析，所述质量品质分析包括对质量品质的优良进行分析和对故障信息进行分析。

技术总结

本发明公开了一种存储器测试系统，包括主控单元、信号发生检测单元、驱动输出检测单元、老化测试单元和DPS电源单元，主控单元与信号发生检测单元信号连接，信号发生检测单元与驱动输出检测单元信号连接，驱动输出检测单元与老化测试单元信号连接，DPS电源单元分别与信号发生检测单元和老化测试单元电性连接。其还公开了存储器测试系统的使用方法，步骤A：通过主控单元、信号发生检测单元和驱动输出检测单元实现分批次测试待测存储器；步骤B：通过调节主控单元、信号发生检测单元和DPS电源单元而实现电压步进法来测试待测存储器；步骤C：根据步骤A和步骤B进行多次循环测试，记录循环信息和故障信息。其能提高测试存储器的效率。其能提高测试存储器的效率。其能提高测试存储器的效率。