掉电保护测试装置及掉电保护测试方法与流程

1.本技术涉及集成电路技术领域，特别涉及一种掉电保护测试装置及掉电保护测试方法。

背景技术：

2.闪存是存储芯片的一种，可以通过特定的程序修改里面的数据。闪存存储器又称闪存，它结合了rom和ram的长处，不仅具备电子可擦除可编程的性能，还可以快速读取数据，使数据不会因为断电而丢失。由于闪存的结构特性，如果在擦除或者写入时系统电源异常掉电，闪存的数据可能会出现丢失或者损坏的情况，甚至对闪存造成物理伤害，因此在使用闪存时往往会设计掉电保护电路。
3.掉电保护电路一般在掉电时才会发挥作用，掉电保护电路的测试也就需要在电源掉电的情况下进行。掉电保护电路的工作原理一般是检测电压掉到某个保护阈值时给出一个保护信号，使得闪存能够在正常工作的状态下立刻退出擦写模式，避免对数据和闪存造成伤害。在测试掉电保护电路性能方面，现有的掉电保护测试方式是将闪存掉电，然后监测二次上电是否可以正常启动。这种测试方式的测试周期较长，二次上电过程中引入的变量也较多，此种掉电性能测试缺乏实时性和准确性。
4.因此，需要一个能模拟多种不同的掉电条件和环境的掉电保护测试方法，缩短测试周期，排除冗余变量影响，减少对芯片通信资源的占用，提升掉电测试过程的稳定性，以实时监测掉电指示信号，便于用户实时确认掉电设计指标。

技术实现要素：

5.本技术实施例提供了一种掉电保护测试装置及掉电保护测试方法，解决了现有闪存掉电保护测试电路占用过多闪存芯片通信资源且容易因为掉电导致掉电保护信号观测失败的问题。
6.第一方面，本技术的一些实施例提供了一种掉电保护测试装置，该装置包括至少两个供电模块、测试控制模块、基准电压模块、至少一个掉电保护模块和引脚模块，其中，至少两个供电模块与测试控制模块、至少一个掉电保护模块和引脚模块连接以进行供电；该测试控制模块与该至少一个掉电保护模块连接，用于检测用户输入的测试控制信号，并基于该测试控制信号确定目标测试模式，以及基于该目标测试模式确定目标电源输入到目标掉电保护模块；该基准电压模块与该目标掉电保护模块连接，用于为目标掉电保护模块提供相应的基准电压；该目标掉电保护模块与该引脚模块连接，用于根据该基准电压和该目标电源确定掉电指示信号，并将该掉电指示信号输出至该引脚模块，完成掉电保护测试。
7.即该掉电保护测试装置通过复用i/o引脚来监测掉电指示信号，使得可以在最终测试阶段完成掉电保护测试，有效提升测试精度，复用i/o引脚可以有效避免占用通信资源，切实节约了制造成本。另外，通过保持掉电测试控制模块和i/o引脚的供电电源一直不掉电，提升了进行掉电保护测试的稳定性。并且，基于该测试控制信号确定目标测试模式，
以及基于该目标测试模式确定目标电源输入到目标掉电保护模块，从而实现模拟多种测试条件，覆盖了大量不同的测试场景，保证了掉电保护测试能够实时、稳定地进行。
8.在一些实施方式中，该测试控制模块包括芯片的一个或多个处理器，其中，该一个或多个处理器用于检测用户输入的测试控制信号，并基于该测试控制信号确定目标测试模式。从而通过测试控制模块使用不同的测试模式对目标掉电保护模块进行掉电保护测试，使用一个或多个处理器高效地模拟多种测试条件，从而在覆盖了大量不同的测试场景的同时，保证了掉电保护测试能够实时、稳定且高效地进行。
9.在一些实施方式中，该装置还包括电源选择模块，并且，该电源选择模块与至少两个供电模块连接，用于根据该目标测试模式从该至少两个供电模块中确定对应的目标电源。在一些实施例中，电源选择模块可以为数据选择器(multiplexer，mux)。
10.在一些实施方式中，该目标掉电保护模块包括比较器单元，并且，该装置还包括开关模块，其中，该开关模块用于在目标测试模式时，闭合以连接至该引脚模块，其中，该开关模块包括场效应管；该比较器单元用于根据该基准电压和该目标电源确定掉电指示信号，并经由该开关模块将该掉电指示信号发送至该引脚模块，其中，该引脚模块包括i/o引脚。以便于在芯片封装后也可以实现对第一掉电指示信号的监测，实现在芯片的最终测试中进行第一掉电保护测试，有效提升测试精度，便于覆盖更多的芯片掉电测试场景。
11.在一些实施方式中，该至少两个供电模块包括第一供电模块和第二供电模块，其中，该第一供电模块包括第一供电单元、第二供电单元和第三供电单元；该第二供电模块包括第四供电单元和第五供电单元。
12.即第一供电模块可以包括3种供电单元、第二供电模块可以包括2种供电单元来支持供电。从而丰富测试条件，便于覆盖更多的芯片掉电测试场景。
13.在一些实施方式中，该目标测试模式包括第一测试模式，并且，对应于第一测试模式，该第一供电单元连接至该第二供电单元、该目标掉电保护模块和该引脚模块以提供第三电源，其中，该第三电源包括系统电源，该第一供电单元包括电源模拟模块，该第二供电单元包括低压差线性稳压器；该第二供电单元连接至该电源选择模块和该测试控制模块以提供第一电源，其中，该第一电源包括core电源；该第三供电单元连接至该电源选择模块以提供第二电源，其中，该第二电源包括模拟电源，其中，该电源选择模块包括数据选择器。
14.即针对core电源掉电的场景，该core电源为用于为芯片内数字电路等供电用的电源，可以由系统电源降压处理后得到core电源，通过测试控制模块控制选择模块选择测试用的电源，实现了灵活控制core电源掉电条件，实时监测core电源掉电测试中的掉电指示信号。
15.在一些实施方式中，该目标测试模式还包括第二测试模式，并且，对应于该第二测试模式，该第四供电单元和该第五供电单元并联连接至该电源选择模块，该第四供电单元提供第四电源，第五供电单元提供第五电源，其中，该第四电源包括系统电源，该第五电源包括备用电源，该第四供电单元包括电源模拟模块；该第四供电单元还连接至该目标掉电保护模块以提供该第四电源。
16.即针对系统电源掉电的场景，通过电源选择模块在系统电源电压值降低至自身90％时切换至备份域电源，减小了掉电后依赖储能单元进行电源切换而导致测试失败的风险。
17.在一些实施方式中，该电源选择模块连接至该引脚模块和该测试控制模块，还用于基于第二测试模式从该第四电源和第五电源中确定目标电源，以为该引脚模块和该测试控制模块提供该目标电源。从而提升了掉电指示信号的测试精度，通过模拟多种测试条件，覆盖了大量不同的测试场景，保证了掉电保护测试能够实时、稳定地进行。
18.第二方面，本技术还提供了一种掉电保护测试方法，应用于包括掉电保护模块的掉电保护测试装置，该方法包括：检测到用户输入的测试控制信号，基于该测试控制信号确定目标测试模式；根据该目标测试模式确定对应的目标电源；根据从基准电压模块获取到的相应的基准电压和该目标电源确定掉电指示信号，并将该掉电指示信号输出至引脚，完成掉电保护测试。
19.即该掉电保护测试方法通过复用i/o引脚来监测掉电指示信号，使得可以在最终测试阶段完成掉电保护测试，有效提升测试精度，复用i/o引脚可以有效避免占用通信资源，切实节约了制造成本。另外，通过保持掉电测试控制模块和i/o引脚的供电电源一直不掉电，提升了进行掉电保护测试的稳定性。
20.在一些实施方式中，该测试控制信号包括第一信号和第二信号，基于该测试控制信号确定目标测试模式，包括以下情形中的任意一项：基于该第一信号确定第一测试模式；基于该第二信号确定第二测试模式。从而丰富测试条件和测试场景，覆盖更多掉电测试场景。
21.在一些实施方式中，该第一测试模式包括对core电源进行掉电保护测试，该第二测试模式包括对系统电源进行掉电保护测试，以使得测试结果更加完备。
22.在一些实施方式中，该根据该目标测试模式确定对应的目标电源，包括：根据第一测试模式从第一电源和第二电源中选出第二电源作为目标电源，其中，该第一电源包括core电源，该第二电源包括模拟电源。
23.在一些实施方式中，该根据从基准电压模块获取到的相应的基准电压和该目标电源确定掉电指示信号，包括：比较第二电源和从基准电压模块获取到的第一基准电压，并基于比较的结果确定该掉电指示信号。
24.可以理解的是，对应于第一测试模式，基准电压模块持续为目标掉电保护模块提供的基准电压为第一基准电压，因此基于第二电源和第一基准电压的比较结果即可确定第一测试模式下的掉电指示信号。
25.在一些实施方式中，该比较第二电源和从基准电压模块获取到的第一基准电压，基于比较的结果确定该掉电指示信号，包括：检测到该比较结果为该第二电源大于等于该第一基准电压时，该掉电指示信号为高电平；检测到该比较结果为该第二电源小于该第一基准电压时，该掉电指示信号为低电平。
26.例如，当第二电源的电压值大于等于第一基准电压的电压值时，得到的比较结果为第二电源未掉电，此时比较器单元输出高电平“1”，也就是输出的第一掉电指示信号为上述高电平“1”；当第二电源的电压值大于等于第一基准电压的电压值时，得到的比较结果为第二电源未掉电，此时比较器单元输出低电平“0”，也就是输出的第一掉电指示信号为上述低电平“0”。
27.在一些实施方式中，该根据该目标测试模式确定对应的目标电源，包括：根据该第二测试模式从第三电源和第四电源中确定目标电源，其中，该第三电源包括系统电源，该第
四电源包括备份电源。
28.可以理解的是，系统电源一般为闪存的整个芯片系统供电，当系统电源的电压值掉电至较低值，测试控制模块和i/o引脚均无法工作，导致用户无法监测到掉电指示信号。通过备份电源，可以避免系统掉电导致的测试失败。
29.在一些实施方式中，该根据该第二测试模式从第三电源和第四电源中确定目标电源，包括：检测到该第三电源掉电至预设电压阈值时，根据该第二测试模式将该第四电源作为目标电源。
30.可以理解，第三电源即为系统电源，在系统电源掉电不多的时候及时识别系统电源产生了掉电，并切换至作为备用电源的第四电源，保证了在系统电源掉电环境中进行掉电保护测试的实时性和可靠性。相较于现有技术仅依赖于储能单元，有效降低了切换电源失败致使测试失败的风险。
31.在一些实施方式中，该根据从基准电压模块获取到的相应的基准电压和该目标电源确定掉电指示信号，包括：比较第四电源和从基准电压模块获取到的第二基准电压，并基于比较的结果确定该掉电指示信号。
32.可以理解的是，对应于第二测试模式，基准电压模块持续为目标掉电保护模块提供的基准电压为第二基准电压，因此基于第四电源和第二基准电压的比较结果即可确定第二测试模式下的掉电指示信号。
33.在一些实施方式中，该比较第四电源和从基准电压模块获取到的第二基准电压，并基于比较的结果确定该掉电指示信号，包括：检测到该比较结果为该第四电源大于等于该第二基准电压时，该掉电指示信号为高电平；检测到该比较结果为该第四电源小于该第二基准电压时，该掉电指示信号为低电平。从而便于用户能够基于掉电指示信号直观了解第四电源是否掉电。
34.第三方面，本技术实施例提供了一种掉电保护测试装置，包括：
35.存储器，用于存储由集成电路的一个或多个处理器执行的指令，以及，
36.处理器，是集成电路的处理器之一，用于执行如上述第一方面及各种可能的实现提供的掉电保护测试方法。
附图说明
37.图1示出了现有的一种芯片掉电保护测试装置；
38.图2示出了现有的一种芯片掉电保护测试系统；
39.图3示出了根据本技术一些实施例提供的一种掉电保护测试装置示意图；
40.图4示出了根据本技术一些实施例提供的应用于掉电保护装置的掉电保护测试方法的流程示意图；
41.图5示出了根据本技术一些实施例提供的另一种掉电保护测试装置示意图；
42.图6示出了根据本技术一些实施例提供的应用于另一种掉电保护装置的方法流程示意图；
43.图7示出了根据本技术一些实施例提供的又一种掉电保护测试装置示意图；
44.图8示出了根据本技术一些实施例提供的一种soc(system on chip，片上系统)的框图。
具体实施方式
45.为了便于理解本技术实施例提供的技术方案，下面相对本技术实施例涉及的一些相关领域术语的含义进行释明。
46.(1)芯片，半导体元件的统称，例如集成电路(integrated circuit，ic)。
47.(2)闪存，是存储芯片的一种，通过特定的程序可以修改里面的数据。
48.(3)掉电，是由于断电、失电、或电的质量达不到要求而导致闪存不能正常工作的现象。
49.(4)带隙基准(bandgap，bg)，用于建立一个与电源和工艺无关，具有确定温度特性的直流电压或者电流，例如为掉电保护测试提供与温度无关的参考电压。
50.(5)数据选择器(multiplexer，mux)，用于在多路数据传送过程中根据需要将其中任意一路数据选出来的电路，例如从多路信号源中选择其中一路信号，以使用该路信号进行后续掉电保护测试。
51.(6)比较器(comparator，cmp)，是将一个模拟电压信号与一个基准电压相比较的电路，比较器的两路输入为模拟信号，输出则为二进制信号0或1。
52.(7)输入/输出引脚(i/o pin)，是从集成电路内部电路引出与外围电路的接线，所有的引脚就构成了这块芯片的接口，在芯片封装后可见，是用于与外部设备进行数据交换的端口。
53.(8)pad，是连接集成电路内部和集成电路封装的接口，在完成封装后不可见。
54.(9)引脚复用，指单一引脚可以用作多种功能，例如引脚a可以用于集成电路内部数据传输和测试数据传输两种功能，则复用了该引脚a。
55.(10)核(core)，是在同一个芯片上的单个处理器。
56.为了使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对本技术实施例所提供的技术方案进行详细的说明。
57.图1示出了现有的一种芯片掉电保护测试装置。该测试装置为包含芯片掉电保护测试电路的芯片，其中，引脚0至9为芯片引脚，a1至a4和b1至b4为引脚的数据传输端口，引脚0对应的是电源接入端口，引脚gnd对应的是电源接地端口。
58.参考图1，为了使得芯片掉电保护电路的测试信号可以引出至芯片外部进行监测，可以增加无需供电的模拟通道pad1和pad2，使得掉电指示信号t1和掉电指示信号t2可以分别从pad1和pad2上引出至芯片外部进行监测。
59.虽然图1所示的芯片掉电保护电路的测试方式较为简便，但是增加了pad的个数，如果有多个信号需要测试，则需要增加多个pad。例如，为了监测掉电指示信号t1和掉电指示信号t2，需要增加pad1和pad2。因为在芯片封装后，测试用的pad不会引出外部引脚，若pad占用了用于设置引脚的空间，在封装后减少了i/o引脚，导致用于芯片通信的i/o引脚减少，致使成本增加。且该pad一般在封装后不会留存实际的i/o引脚，因此只能在芯片封装前的晶圆测试阶段(chip probe，cp)就通过探针扎到pad上对芯片进行性能及功能的测试，无法在封装后的最终测试阶段(final test，ft)测试。由于cp阶段测试治具，例如探针，容易产生漏电和接触电阻，对高精度的信号测量会产生严重影响，通常cp测试仅仅用于基本的连接测试和低速的数字电路测试。显然地，通过增加pad的方式的测试精度低下，可测试项目少，且会占用芯片的通信资源。
60.图2示出了现有的一种芯片掉电保护测试系统。该芯片掉电保护测试系统包括测试模块200、供电模块201、掉电保护模块202和pad204。其中，测试模块200用于给供电模块201发送用于启动掉电保护测试的测试控制信号。供电模块201用于为掉电保护模块202供电，其中，该供电模块201包括第一供电单元011、第二供电单元012和单刀双掷开关单元013。该第一供电单元011可以为用于芯片工作的外接电源，例如电源模拟模块提供的供电电源；第二供电单元012可以为外接备用电源，例如储能单元。掉电保护模块202为掉电保护测试的测试对象，当供电模块201发送的电源产生掉电时，掉电保护模块202会产生掉电保护，输出掉电测试信号给pad204，以便于进行监测。掉电保护模块202包括比较器单元021，比较器单元021用于比较供电模块201输入的电压和基准电压模块203输入的基准电压，得到比较结果，基于比较结果输出掉电指示信号。pad204为用于监测比较器输出的掉电指示信号的端口。
61.在图2所示的应用场景下，掉电保护的测试流程如下：当单刀双掷开关单元013获取到测试模块200发送的测试控制信号时，断开与第一供电单元011的电连接，与第二供电单元012进行连接，并将第二供电单元012的电压输入至掉电保护模块202的比较器单元021中。由于在第一供电单元011的输出电压小于比较器单元021的工作电压时，整个掉电保护测试系统无法工作，因此通过在测试过程中应用第二供电单元012来满足比较器单元021的工作电压。
62.但是，由于该测试过程完全依赖于第二供电单元012的供电性能，当第二供电单元012供电电压不足或供电时间太短时，掉电保护模块测试仍然会失败。
63.综上所述，现有技术的掉电保护测试方案中，一些通过增加pad进行掉电保护测试的方案，会占用芯片通信资源导致成本增加，适用的掉电测试场景也比较单一。另一些通过备用电源进行掉电保护测试的方案，存在较大的失败风险，从而导致掉电信号的测试精度低下，测试场景单一，且无法保证掉电保护测试能够实时、稳定地进行。
64.为解决上述问题，本技术一些实施例提供了一种掉电保护测试装置以及应用于该掉电保护测试装置的掉电保护测试方法。具体地，该掉电保护测试装置通过复用i/o引脚来监测掉电指示信号，使得可以在最终测试阶段完成掉电保护测试，有效提升测试精度，复用i/o引脚可以有效避免占用通信资源，切实节约了制造成本。另外，通过保持掉电测试控制模块和i/o引脚的供电电源一直不掉电，提升了进行掉电保护测试的稳定性。针对不同的测试场景，一方面，本技术针对core电源掉电的场景，该core电源为用于为芯片内数字电路等供电用的电源，可以由系统电源降压处理后得到core电源，通过测试控制模块控制选择模块来确定测试电源，通过灵活控制测试电源掉电条件，对core电源进行掉电情况模拟，从而实时监测core掉电保护模块的掉电指示信号是否正常。另一方面，本技术针对系统电源掉电的场景，通过电源选择模块在系统电源电压值降低至自身90％时切换至备份域电源，减小了掉电后系统电源过低引起芯片无法工作，致使电源切换失败，进而引发测试失败的风险。从而提升了掉电指示信号的测试精度，通过模拟多种测试条件，覆盖了大量不同的测试场景，保证了掉电保护测试能够实时、稳定地进行。
65.可以理解，在本技术的一些实施例中，掉电保护测试装置可以芯片的形式实现掉电保护测试检测，在另外一些实施例中，掉电保护测试装置还可以电路的形式实现掉电保护测试检测，只要能够实现掉电保护测试检测即可，本技术实施例对此不作具体限定。
66.下面结合相关附图对本技术的实施例作进一步地详细描述。
67.实施例1
68.图3示出根据本技术一些实施例提供的一种掉电保护测试装置示意图。
69.如图3所示，掉电保护测试装置包括第一模拟模块301、供电模块302、选择模块303、第一测试控制模块304、第一掉电保护模块305、第一基准电压模块306、第一开关模块307、第一输入/输出模块308、第二模拟电源模块309。其中，第一掉电保护模块305包括第一比较器单元041。
70.示例性地，上述第一模拟模块301连接至供电模块302、第一掉电保护模块305、第一输入/输出模块308来完成供电。上述供电模块302连接至上述第一测试控制模块304和上述选择模块303以进行供电。上述第二模拟电源模块309、供电模块302和第一测试控制模块304连接至选择模块303，上述选择模块303连接至上述第一比较器单元041。上述选择模块303可以基于从上述第一测试控制模块304处获取的第一测试控制信号，从供电模块302提供的第一电源和第二模拟电源模块309提供的第二电源中选择一个电源输出至第一比较器单元041。上述第一基准电压模块306连接至第一比较器单元041来提供第一基准电压。上述第一比较器单元041通过上述第一开关模块307与上述第一输入/输出模块308活动连接，上述第一测试控制模块304与上述第一开关模块307连接。
71.当获取到上述第一测试控制模块304输出的用于指示启动第一电源掉电保护测试的第一测试控制信号时，则上述第一开关模块307闭合，以将第一掉电指示信号复用至上述第一输入/输出模块308。通过复用i/o引脚来监测掉电指示信号，使得可以在最终测试阶段完成掉电保护测试，有效提升测试精度，复用i/o引脚可以有效避免占用通信资源，切实节约了制造成本。另外，通过保持掉电测试控制模块和i/o引脚的供电电源一直不掉电，提升了进行掉电保护测试的稳定性。
72.可以理解，上述第一比较器041和第一基准电压模块306的功能可参考上述描述，在此不再赘述。
73.可以理解，上述第一模拟模块301可以为系统电源输入模块，位于闪存的芯片外部，也可以为系统电源接入端口，可以提供系统电源即可，在此不作具体限制。
74.第一模拟模块301用于为供电模块302、第一掉电保护模块305和第一输入/输出模块308提供系统电源。
75.可以理解，上述系统电源可以用于为整个芯片系统进行供电。供电模块302用于将第一模拟模块301输入的系统电源转化为第一电源，并使用该第一电源为第一测试控制模块304和选择模块303供电。在一些实施例中，供电模块302可以包括低压差线性稳压器(low dropout regulator，ldo)，该第一电源可以为core电源。在此，可以将core电源称为vcore。
76.第一测试控制模块304用于向选择模块303和第一开关模块307发送第一测试控制信号。可以理解的是，第一测试控制模块304可以为数字电路，上述第一测试控制信号为数字信号，用于控制第一掉电保护测试的开始和结束。
77.选择模块303用于基于收到的第一测试控制信号从输入的至少两个电源中选出一个电源进行输出。例如，当向选择模块303输入信号a、信号b、信号c和信号d时，选择模块303可以选择输出任意一个信号，例如可以输出信号a。在一些实施例中，选择模块303可以为数据选择器(multiplexer，mux)。
78.在一些实施例中，选择模块303可以从供电模块302输出的第一电源和第二模拟电源模块309输出的第二电源中选择一个电源输出至第一比较器单元041，以进行第一电源掉电环境下的掉电保护测试。
79.第一掉电保护模块305可以为第一电源掉电环境下的闪存提供掉电保护。可以理解，第一掉电保护模块305为本实施例的测试对象。
80.可以理解，上述core电源在芯片中一般用于为数字电路供电，而第一测试控制模块304就是由core电源供电的。由于第一测试控制模块304为数字电路，因此core电源掉电时，测试控制模块304会因为内部预设的复位程序而复位或者失效，使得测试控制模块304输出的第一测试控制信号无法支持掉电保护测试的测试过程。由此，测试过程中保持core电源稳定不变，通过选择模块303选择上述第二电源来模拟core电源掉电来测试掉电保护模块305是否在core电源掉电的环境中保护了闪存，可以更完善地测试掉电保护模块305的功能和性能。
81.第一开关模块307用于基于获取到的第一测试控制信号，将第一掉电指示信号传输至第一输入/输出模块308。例如，第一开关模块307收到用于指示启动第一掉电保护测试的第一测试控制信号，基于该第一测试控制信号导通与第一输入/输出模块308的电连接，将第一掉电指示信号传输至第一输入/输出模块308。
82.可以理解，上述第一掉电保护测试为应用于第一电源掉电环境中的掉电保护测试。
83.第一输入/输出模块308，用于将第一掉电测试信号输出，以便于监测。在一些实施例中，第一输入/输出模块308即为i/o引脚，以便于在芯片封装后也可以实现对第一掉电指示信号的监测，实现在芯片的最终测试中进行第一掉电保护测试，有效提升测试精度，便于覆盖更多的芯片掉电测试场景。
84.可以理解，将i/o引脚同时用于监测掉电测试信号和数据通信是对该i/o引脚进行了复用。相较于前文所述的增加pad的现有技术，复用i/o引脚可以有效避免占用通信资源，切实节约了制造成本。
85.可以理解的是，i/o引脚输出的电信号可以用任意方式监测，例如可以通过万用表测出i/o引脚上的掉电测试信号，只要能够监测到i/o引脚输出的电信号即可，在此不做限制。
86.结合上述图3根据本技术一些实施例提供的一种掉电保护测试装置，图4根据本技术一些实施例示出了应用于上述掉电保护装置的掉电保护测试方法的流程示意图。
87.如图4所示，该流程所包括的具体步骤如下：
88.401：第一测试控制模块304检测到用户输入的第一电源掉电保护测试指示信号，启动第一电源掉电测试模式。
89.示例性地，第一测试控制模块304可以为数字电路，可以检测用户输入的第一电源掉电保护测试指示信号，启动对应的第一电源掉电测试模式，以针对第一电源的掉电场景进行测试。
90.在一些实施例中，第一电源可以为core电源，第一测试控制模块304可以检测用户输入的core电源掉电保护测试指示信号启动core电源掉电测试模式。
91.402：第一测试控制模块304基于第一电源掉电测试模式发出第一测试控制信号至
选择模块303和第一开关模块307，第一开关模块307基于第一测试控制信号与第一输入/输出模块308建立电连接。
92.示例性地，第一测试控制模块304发出第一测试控制信号至选择模块303和第一开关5模块307，指示选择模块303和第一开关模块307启动第一电源掉电测试，其中，该第一
93.测试控制信号用于指示启动第一电源掉电测试。
94.可以理解的是，在一些实施例中，当未启动第一电源掉电测试时，第一开关模块307可以为断开状态，避免在未启动第一电源掉电测试的时候占用第一输入/输出模块308的通信资源。当启动第一电源掉电测试时，通过第一测试控制信号指示第一开关模块307闭0合，以将第一掉电指示信号复用至第一输入/输出模块308中，例如将第一掉电指示信号
95.复用至i/o引脚中，便于用户在芯片封装后从外部i/o引脚监测第一掉电指示信号。
96.在另一些实施例中，第一测试控制信号还可以用于指示停止第一电源掉电测试，以使得第一开关模块307断开与第一输入/输出模块308的连接，实现对第一电源掉电测试的停止操作。
97.5可以理解的是，上述用户可以为测试人员，上述测试人员拥有管理测试控制模块304的权限。
98.403：选择模块303根据第一测试控制信号将第二电源输出至第一比较器单元041。
99.示例性地，选择模块303可以根据第一测试控制信号启动第一电源掉电测试，由此从
100.第一电源和第二电源中选择出第二电源，并将该第二电源输出至第一比较器单元041，以0便于完成第一电源掉电环境下的掉电保护测试。
101.在一些实施例中，第二电源可以模拟第一电源掉电，并可以配置不同的掉电速度，以覆盖更多的第一电源掉电情况。例如，第二电源可以模拟core电源以小于预设掉电速率阈值的掉电速度进行掉电，用户可以从第一输入/输出模块308监测到的第一掉电指示信
102.号确定第一掉电保护模块305中的第一比较器单元041的比较阈值的设计是否准确。可以5理解的是，上述比较阈值在第一比较器单元041中可以为第一基准电压。由于第一比较器
103.单元041的输出为高电平“1”和低电平“0”两个值，影响输出的因子为作为比较阈值的第一基准电压，因此测试过程中需要监测第一比较器单元041输出的第一掉电指示信号是否在core电源掉电时准确且及时地从高电平转为低电平。
104.此外，第二电源还可以以大于等于预设掉电速率阈值的掉电速度进行掉电，用户可以0从第一输入/输出模块308监测到的第一掉电指示信号，以测试出在第一电源掉电环境下
105.掉电过快第一掉电保护模块305无法及时对闪存进行掉电保护的情况。从而丰富了掉电测试条件，覆盖更多掉电测试场景。
106.可以理解的是，由于第一掉电保护模块305和第一输入/输出模块308有稳定的系统
107.电源供电，因此即使第二电源的电压数值小于第一比较器单元041的工作电压，仍然可以5得到第一掉电指示信号，不会影响到第一比较器单元041的比较处理，也不会影响
到第一
108.输入/输出模块308对第一掉电指示信号的输出处理，保证了第一电源掉电环境下的掉电保护测试的稳定性和成功率。
109.可以理解的是，上述第一掉电保护模块305在未启动第一掉电保护测试的情况下，仍然保持工作，持续保护芯片不被core电源掉电影响。
110.在一些实施例中，在未启动core电源掉电测试时，选择模块303向第一比较器单元041输出core电源，以实时监测core电源是否掉电。
111.404：第一比较器单元041比较第二电源的电压值和第一基准电压模块306输出的第一基准电压的电压值，得到比较结果，基于比较结果确定第一掉电指示信号。
112.示例性地，当第二电源的电压值大于等于第一基准电压的电压值时，得到的比较结果为第二电源未掉电，此时第一比较器单元041输出高电平“1”，也就是输出的第一掉电指示信号为上述高电平“1”；当第二电源的电压值大于等于第一基准电压的电压值时，得到的比较结果为第二电源未掉电，此时第一比较器单元041输出低电平“0”，也就是输出的第一掉电指示信号为上述低电平“0”。
113.示例性地，第一基准电压由第一基准电压模块306输出。在一些实施例中，基准电压模块306可以为带隙基准(bandgap，bg)，以使得产生的第一基准电压不受温度的影响，保证了第一基准电压的稳定性和可靠性。
114.可以理解的是，上述第一基准电压模块306无论是否启动第一掉电保护测试均持续输出第一基准电压，以用于为芯片的正常工作提供第一基准电压。
115.405：第一开关模块307根据第一测试控制信号将第一掉电指示信号发送至对应的第一输入/输出模块308。
116.示例性地，通过第一开关模块307获取第一测试控制信号后，将第一测试控制信号复用至第一输入/输出模块308，便于用户在芯片封装后通过第一输入/输出模块308监测第一掉电指示信号。
117.406：第一输入/输出模块308输出第一掉电指示信号，便于用户在芯片封装后通过第一输入/输出模块308监测第一掉电指示信号。
118.可以理解的是，通过上述步骤401至步骤406的实施流程，本技术实施例提供的掉电保护测试方法，通过系统电源为第一掉电保护模块305和第一输入/输出模块308供电，解决了core电源掉电致使被测掉电保护模块和i/o引脚停止工作无法完成测试的问题。另外，还通过选择器303选择出用于掉电保护测试的电源，丰富了掉电测试条件，覆盖更多掉电测试场景。
119.为了能够测试系统电源掉电的场景，本技术提出了另一种掉电保护测试装置及应用该掉电保护测试装置的方法。下面结合相关附图对该实施例作进一步地详细描述。
120.实施例2
121.图5示出根据本技术一些实施例提供的另一种掉电保护测试装置示意图。
122.如图5所示，该掉电保护测试装置包括第三模拟模块501、第三电源模块502、电源选择模块503、第二掉电保护模块504、第二开关模块505、第二测试控制模块506、第二输入/输出模块507和第二基准电压模块508。
123.示例性地，第三模拟模块501和第三电源模块502分别与电源选择模块503连接。在
一些实施例中，电源选择模块可以从上述第三模拟模块501和第三电源模块502中选出其中一个电源信号进行输出。而第三模拟模块501和第二基准电压模块508均与第二掉电保护模块504中的第二比较器单元042连接，第三模拟模块501为第二比较器单元042供电，第二基准电压模块508为第二比较器单元042提供第二基准电压。第二比较器单元通过第二开关模块505与第二输入/输出模块507活动连接。例如，当第二开关模块505接收到第二测试控制模块506发送的用于指示启动系统掉电保护测试的第二测试控制信号时，第二开关模块505闭合，将第二掉电指示信号从第二比较器单元042处传递至第二输入/输出模块507。通过复用i/o引脚来监测掉电指示信号，使得可以在最终测试阶段完成掉电保护测试，有效提升测试精度，复用i/o引脚可以有效避免占用通信资源，切实节约了制造成本。另外，通过保持掉电测试控制模块和i/o引脚的供电电源一直不掉电，提升了进行掉电保护测试的稳定性。
124.具体地，第三模拟模块501用于为第二掉电保护模块504和电源选择模块503提供系统电源。
125.第三电源模块502用于为电源选择模块503提供第三电源。
126.电源选择模块503用于实时监测第三模拟模块501输出的系统电源，当系统电源小于等于预设掉电阈值时，选择第三电源作为目标电源进行系统电源掉电环境下的掉电保护测试。
127.第二掉电保护模块504可以为系统电源掉电环境下的闪存提供掉电保护。可以理解，第二掉电保护模块504为本实施例的测试对象。第二掉电保护模块504包括第二比较器单元042。该第二比较器单元042的的功能可参考第一比较器单元041，在此不再赘述。
128.第二开关模块505的功能可参考第一开关模块307，在此不再赘述。
129.第二测试控制模块506的功能可参考第一测试控制模块304，在此不再赘述。
130.第二输入/输出模块507的功能可参考第一输入/输出模块308，在此不再赘述。
131.结合上述图5示出的一种掉电保护测试装置，图6示出了根据本技术一些实施例提供的应用于另一种掉电保护装置的方法流程示意图。图6示出的具体步骤如下：
132.601：第二测试控制模块506检测到用户输入的系统电源掉电保护测试指示信号，启动系统电源掉电测试模式。
133.602：第二测试控制模块506发出第二测试控制信号至第二开关模块505，第二开关模块505基于第二测试控制信号与第二输入/输出模块507建立电连接，其中，该第二测试控制信号用于指示启动系统电源掉电测试。
134.上述步骤601和602的执行过程可参考实施例1中的步骤401和402，在此不再赘述。
135.603：电源选择模块503根据系统电源与预设掉电阈值从系统电源和第三电源中选出目标电源，并使用目标电源为第二测试控制模块506和第二输入/输出模块507供电。
136.示例性地，电源选择模块503可以实时监测系统电源的电压值是否大于预设掉电阈值，当系统电源的电压值小于等于预设掉电阈值时，选择第三电源模块502输出的第三电源作为目标电源进行为第二测试控制模块506和第二输入/输出模块507供电。
137.可以理解的是，系统电源一般为闪存的整个芯片系统供电，当系统电源的电压值掉电至较低值，例如其电压值小于第二测试控制模块506和第二输入/输出模块507的工作电压，则第二测试控制模块506和第二输入/输出模块507均无法工作，导致用户无法监测到第二掉电指示信号。为了避免该问题，上述预设掉电阈值可以设置为较高的电压值，例如系
统电源电压值的90％，以使得在系统电源电压刚开始掉电的时候就切换为第三电源，使用第三电源为第二测试控制模块506和第二输入/输出模块507供电。可以理解，在系统电源掉电至系统电压值的90％时芯片仍能正常工作，保证了成功切换系统电源为第三电源，进而保证了在系统电源掉电环境中进行掉电保护测试的实时性和可靠性，相较于图2示例的方案，避免了系统电源掉电过低时导致电源切换失败的风险，有效降低了测试失败的风险。
138.可以理解的是，上述第二掉电保护模块504在未启动第二掉电保护测试的情况下，仍然保持工作，持续保护芯片不被系统电源掉电影响。
139.604：比较器单元042比较目标电源的电压值和第二基准电压模块508输出的第二基准电压的电压值，得到比较结果，基于比较结果确定第二掉电指示信号。
140.上述步骤604的执行过程可参考实施例1中的步骤404，在此不再赘述。
141.可以理解的是，上述第二基准电压模块508无论是否启动第二掉电保护测试均持续输出第二基准电压，以用于为芯片的正常工作提供第二基准电压。
142.605：第二开关模块505根据第二测试控制信号将第二掉电指示信号发送至第二输入/输出模块507。
143.上述步骤605的执行过程可参考实施例1中的步骤405，在此不再赘述。
144.606：第二输入/输出模块507输出第二掉电指示信号。
145.上述步骤606的执行过程可参考实施例1中的步骤406，在此不再赘述。
146.可以理解的是，通过上述步骤601至步骤606的实施流程，本技术实施例提供的掉电保护测试方法，通过设置预设掉电阈值从系统电源或第三电源选择出目标电源，来满足第二测试控制模块506和第二输入/输出模块507的工作电压，解决了系统电源掉电致使测试控制模块和i/o引脚停止工作无法完成掉电保护测试的问题，提升了掉电保护测试的可靠性。
147.在一些实施例中，上述实施例1中的第一基准电压模块306和实施例2中的第二基准电压模块508可以为同一个基准电压模块，上述实施例1中的第一模拟模块301和实施例2中的第三模拟模块501可以为同一个系统电源模块。图7示出了根据本技术一些实施例提供的又一种掉电保护测试装置示意图。
148.参考图7所示，通过基准电压模块700可以为第一比较器单元041持续提供第一基准电压，同时基准电压模块700可以为第二比较器单元042持续提供第二基准电压。而通过系统电源模块701可以为第一掉电保护模块305、第一输入/输出模块308、供电模块302、电源选择模块503、第二掉电保护模块504供电。可以理解的是，上述系统电源模块701可以位于芯片外部，用于为芯片提供系统电源。通过图7所示出的掉电保护测试装置，可以实现core电源掉电环境和系统电源掉电环境下的掉电保护测试，保证了测试的完备性，丰富了测试条件和应用场景，并保证了掉电保护测试的可靠性。
149.图8示出根据本技术一些实施例提供的一种片上系统(system on chip，soc)的框图。在图8中，相似的部件具有同样的附图标记。另外，虚线框是更先进的soc的可选特征。在图8中，soc 1500包括：互连单元1550，其被耦合至处理器1515；系统代理单元1570；总线控制器单元1580；集成存储器控制器单元1540；一组或一个或多个协处理器1520，其可包括集成图形逻辑、图像处理器、音频处理器和视频处理器；闪存单元1530；直接存储器存取(dma)单元1560。在一个实施例中，协处理器1520包括专用处理器，诸如例如网络或通信处理器、
压缩引擎、gpgpu、高吞吐量mic处理器、或嵌入式处理器等等。
150.本技术公开的机制的各实施例可以被实现在硬件、软件、固件或这些实现方法的组合中。本技术的实施例可实现为在可编程系统上执行的计算机程序或程序代码，该可编程系统包括至少一个处理器、存储系统(包括易失性和非易失性存储器和/或存储元件)、至少一个输入设备以及至少一个输出设备。
151.可将程序代码应用于输入指令，以执行本技术描述的各功能并生成输出信息。可以按已知方式将输出信息应用于一个或多个输出设备。为了本技术的目的，处理系统包括具有诸如例如数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、微控制器、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)或微处理器之类的处理器的任何系统。
152.程序代码可以用高级程序化语言或面向对象的编程语言来实现，以便与处理系统通信。在需要时，也可用汇编语言或机器语言来实现程序代码。事实上，本技术中描述的机制不限于任何特定编程语言的范围。在任一情形下，该语言可以是编译语言或解释语言。
153.在一些情况下，所公开的实施例可以以硬件、固件、软件或其任何组合来实现。所公开的实施例还可以被实现为由一个或多个暂时或非暂时性机器可读(例如，计算机可读)存储介质承载或存储在其上的指令，其可以由一个或多个处理器读取和执行。例如，指令可以通过网络或通过其他计算机可读介质分发。因此，机器可读介质可以包括用于以机器(例如，计算机)可读的形式存储或传输信息的任何机制，包括但不限于，软盘、光盘、光碟、只读存储器(cd-roms)、磁光盘、只读存储器(read only memory，rom)、随机存取存储器(random access memory，ram)、可擦除可编程只读存储器(erasable programmable read only memory，eprom)、电可擦除可编程只读存储器(electrically erasable programmable read-only memory，eeprom)、磁卡或光卡、闪存、或用于利用因特网以电、光、声或其他形式的传播信号来传输信息(例如，载波、红外信号数字信号等)的有形的机器可读存储器。因此，机器可读介质包括适合于以机器(例如计算机)可读的形式存储或传输电子指令或信息的任何类型的机器可读介质。
154.在附图中，可以以特定布置和/或顺序示出一些结构或方法特征。然而，应该理解，可能不需要这样的特定布置和/或排序。而是，在一些实施例中，这些特征可以以不同于说明性附图中所示的方式和/或顺序来布置。另外，在特定图中包括结构或方法特征并不意味着暗示在所有实施例中都需要这样的特征，并且在一些实施例中，可以不包括这些特征或者可以与其他特征组合。
155.需要说明的是，本技术各设备实施例中提到的各单元/模块都是逻辑单元/模块，在物理上，一个逻辑单元/模块可以是一个物理单元/模块，也可以是一个物理单元/模块的一部分，还可以以多个物理单元/模块的组合实现，这些逻辑单元/模块本身的物理实现方式并不是最重要的，这些逻辑单元/模块所实现的功能的组合才是解决本技术所提出的技术问题的关键。此外，为了突出本技术的创新部分，本技术上述各设备实施例并没有将与解决本技术所提出的技术问题关系不太密切的单元/模块引入，这并不表明上述设备实施例并不存在其它的单元/模块。
156.需要说明的是，在本专利的示例和说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些
实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
157.虽然通过参照本技术的某些优选实施例，已经对本技术进行了图示和描述，但本领域的普通技术人员应该明白，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本技术的精神和范围。

技术特征：

1.一种掉电保护测试装置，其特征在于，所述装置包括至少两个供电模块、测试控制模块、基准电压模块、至少一个掉电保护模块和引脚模块，其中，所述至少两个供电模块与测试控制模块、至少一个掉电保护模块和引脚模块连接以进行供电；所述测试控制模块与所述至少一个掉电保护模块连接，用于检测用户输入的测试控制信号，并基于所述测试控制信号确定目标测试模式，以及基于所述目标测试模式确定目标电源输入到目标掉电保护模块；所述基准电压模块与所述目标掉电保护模块连接，用于为所述目标掉电保护模块提供相应的基准电压；所述目标掉电保护模块与所述引脚模块连接，用于根据所述基准电压和所述目标电源确定掉电指示信号，并将所述掉电指示信号输出至所述引脚模块，完成掉电保护测试。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试控制模块包括芯片的一个或多个处理器，其中，所述一个或多个处理器用于检测用户输入的测试控制信号，并基于所述测试控制信号确定目标测试模式。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括电源选择模块，并且，所述电源选择模块与所述至少两个供电模块连接，用于根据所述目标测试模式从所述至少两个供电模块中确定对应的目标电源。4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述目标掉电保护模块包括比较器单元，并且，所述装置还包括开关模块，其中，所述开关模块用于在目标测试模式时，闭合以连接至所述引脚模块，其中，所述开关模块包括场效应管；所述比较器单元用于根据所述基准电压和所述目标电源确定掉电指示信号，并经由所述开关模块将所述掉电指示信号发送至所述引脚模块，其中，所述引脚模块包括i/o引脚。5.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述至少两个供电模块包括第一供电模块和第二供电模块，其中，所述第一供电模块包括第一供电单元、第二供电单元和第三供电单元；所述第二供电模块包括第四供电单元和第五供电单元。6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述目标测试模式包括第一测试模式，并且，对应于所述第一测试模式，所述第一供电单元连接至所述第二供电单元、所述目标掉电保护模块和所述引脚模块以提供第三电源，其中，所述第三电源包括系统电源，所述第一供电单元包括电源模拟模块，所述第二供电单元包括低压差线性稳压器；所述第二供电单元连接至所述电源选择模块和所述测试控制模块以提供第一电源，其中，所述第一电源包括core电源；所述第三供电单元连接至所述电源选择模块以提供第二电源，其中，所述第二电源包括模拟电源，其中，所述电源选择模块包括数据选择器。7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述目标测试模式还包括第二测试模式，并且，对应于所述第二测试模式，所述第四供电单元和所述第五供电单元连接至所述电源选
择模块，所述第四供电单元提供第四电源，第五供电单元提供第五电源，其中，所述第四电源包括系统电源，所述第五电源包括备用电源，所述第四供电单元包括电源模拟模块；所述第四供电单元还连接至所述目标掉电保护模块以提供所述第四电源。8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述电源选择模块连接至所述引脚模块和所述测试控制模块，还用于基于第二测试模式从所述第四电源和第五电源中确定目标电源，以为所述引脚模块和所述测试控制模块提供所述目标电源。9.一种掉电保护测试方法，其特征在于，应用于包括掉电保护模块的掉电保护测试装置，所述方法包括：检测到用户输入的测试控制信号，基于所述测试控制信号确定目标测试模式；根据所述目标测试模式确定对应的目标电源；根据从基准电压模块获取到的相应的基准电压和所述目标电源确定掉电指示信号，并将所述掉电指示信号输出至引脚，完成掉电保护测试。10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述测试控制信号包括第一信号和第二信号，基于所述测试控制信号确定目标测试模式，包括以下情形中的任意一项：基于所述第一信号确定第一测试模式；基于所述第二信号确定第二测试模式。11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述第一测试模式包括对core电源进行掉电保护测试，所述第二测试模式包括对系统电源进行掉电保护测试。12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标测试模式确定对应的目标电源，包括：根据第一测试模式从第一电源和第二电源中选出第二电源作为目标电源，其中，所述第一电源包括core电源，所述第二电源包括模拟电源。13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述根据从基准电压模块获取到的相应的基准电压和所述目标电源确定掉电指示信号，包括：比较第二电源和从基准电压模块获取到的第一基准电压，并基于比较的结果确定所述掉电指示信号。14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，所述比较第二电源和从基准电压模块获取到的第一基准电压，基于比较的结果确定所述掉电指示信号，包括：检测到所述比较结果为所述第二电源大于等于所述第一基准电压时，所述掉电指示信号为高电平；检测到所述比较结果为所述第二电源小于所述第一基准电压时，所述掉电指示信号为低电平。15.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标测试模式确定对应的目标电源，包括：根据所述第二测试模式从第三电源和第四电源中确定目标电源，其中，所述第三电源包括系统电源，所述第四电源包括备份电源。16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二测试模式从第三电源和第四电源中确定目标电源，包括：检测到所述第三电源掉电至预设电压阈值时，根据所述第二测试模式将所述第四电源
作为目标电源。17.根据权利要求16所述的方法，其特征在于，所述根据从基准电压模块获取到的相应的基准电压和所述目标电源确定掉电指示信号，包括：比较第四电源和从基准电压模块获取到的第二基准电压，并基于比较的结果确定所述掉电指示信号。18.根据权利要求17所述的方法，其特征在于，所述比较第四电源和从基准电压模块获取到的第二基准电压，并基于比较的结果确定所述掉电指示信号，包括：检测到所述比较结果为所述第四电源大于等于所述第二基准电压时，所述掉电指示信号为高电平；检测到所述比较结果为所述第四电源小于所述第二基准电压时，所述掉电指示信号为低电平。19.一种掉电保护测试装置，其特征在于，包括：存储器，用于存储由集成电路的一个或多个处理器执行的指令，以及，处理器，是集成电路的处理器之一，用于执行权利要求9-18中任意一项所述的掉电保护测试方法。

技术总结

本申请提供一种掉电保护测试装置，该装置包括至少两个供电模块、测试控制模块、基准电压模块、至少一个掉电保护模块和引脚模块，测试控制模块用于检测用户输入的测试控制信号，并基于测试控制信号确定目标测试模式，以及基于目标测试模式确定目标电源输入到目标掉电保护模块；基准电压模块与目标掉电保护模块连接，用于为目标掉电保护模块提供基准电压；目标掉电保护模块用于根据基准电压和目标电源确定掉电指示信号，并将该掉电指示信号输出至引脚模块，完成掉电保护测试。从而有效避免占用通信资源，保证了掉电保护测试能够实时、稳定地进行。定地进行。定地进行。