一种测试方法、测试设备和计算机存储介质与流程

1.本公开涉及半导体技术领域，尤其涉及一种测试方法、测试设备和计算机存储介质。

背景技术：

2.动态随机存取存储器(dynamic random access memory，dram)芯片在工作时，首先发送激活命令(包含行信息)对存储结构中的字线进行行激活，然后再发送读写命令(包含列信息)，选择列选通线(column select line，csl)信号以获取或者写入数据。
3.dram中有大量的csl信号，当正常的列选通线无法正常工作时，就会使用冗余列选通线来维持dram的正常工作。因此，在芯片前期的验证工作中，需要保证冗余列选通线可以正确被访问。

技术实现要素：

4.本公开实施例提供了一种测试方法、测试设备和计算机存储介质。
5.第一方面，本公开实施例提供了一种测试方法，包括：
6.向被测存储块发送测试命令，其中，所述测试命令用于打开所述被测存储块中的预设冗余列选通线；
7.对所述被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；
8.根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果。
9.在一些实施例中，所述向被测存储块发送测试命令，包括：
10.向所述被测存储块发送第一测试命令，所述第一测试命令用于激活所述被测存储块中的目标行地址；
11.向所述被测存储块发送第二测试命令，所述第二测试命令用于指示目标列地址，并根据所述目标列地址打开所述被测存储块中的预设冗余列选通线。
12.在一些实施例中，所述被测存储块至少包括第一控制模块和第二控制模块，其中：
13.在所述目标行地址为所述被测存储块中的非边界行的情况下，所述目标列地址用于打开所述第一控制模块或者所述第二控制模块的预设冗余列选通线；
14.在所述目标行地址为所述被测存储块中的边界行的情况下，所述目标列地址用于打开所述第一控制模块和所述第二控制模块的预设冗余列选通线。
15.在一些实施例中，所述第一测试命令包括激活命令，所述第二测试命令包括读命令或者写命令。
16.在一些实施例中，所述第一控制模块和所述第二控制模块均包括第一预设数量个使能模块，每一个所述使能模块均包括第二预设数量个列选通模块，每一个所述列选通模块均包括第三预设数量个冗余列选通线，所述方法还包括：
17.基于所述第二测试命令，设置所述第二测试命令对应的目标使能模块以及在所述
目标使能模块中的预设冗余列选通线；
18.其中，在所述目标使能模块中，每一个所述列选通模块对所述第二测试命令的响应状态相同。
19.在一些实施例中，所述根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果，包括：
20.若所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线均为相同的冗余列选通线，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线正常；
21.若所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线中存在不同的冗余列选通线，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线存在异常。
22.在一些实施例中，所述根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果，包括：
23.根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定每一个所述使能模块的测试结果；
24.根据每一个所述使能模块的测试结果，确定所述被测存储块的测试结果。
25.在一些实施例中，所述根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定每一个所述使能模块的测试结果，包括：
26.接收所述使能模块中的每一个列选通模块发送的列选通使能信号；
27.根据所述列选通使能信号，确定所述使能模块中处于打开状态的第一目标冗余列选通线，并统计所述第一目标冗余列选通线的数量；
28.将所述第一目标冗余列选通线的数量与所述使能模块对应的预设冗余列选通线的数量进行比较，确定所述使能模块的测试结果。
29.在一些实施例中，所述将所述第一目标冗余列选通线的数量与所述使能模块对应的预设冗余列选通线的数量进行比较，包括：
30.在所述目标行地址为非边界行的情况下，将目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与所述第二预设数量进行比较，将非目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与零进行比较；或者，
31.在所述目标行地址为所述被测存储块中的边界行的情况下，将目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与所述第二预设数量的二倍进行比较；将非目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与零进行比较。
32.在一些实施例中，所述根据所述每一个使能模块的测试结果，确定所述被测存储块的测试结果，包括：
33.若每一个所述使能模块的测试结果均为相同，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线正常；
34.若每一个所述使能模块的测试结果中存在不同，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线存在异常。
35.在一些实施例中，所述方法还包括：
36.将所述目标冗余列选通线对应的存储块信息和存储区域信息进行记录；
37.其中，所述存储区域信息用于表征所述目标行地址是否为边界行。
38.在一些实施例中，在所述确定所述被测存储块中的冗余列选通线存在异常之后，
所述方法还包括：
39.根据所述测试结果，生成错误记录报告。
40.在一些实施例中，在所述确定所述被测存储块中的冗余列选通线存在异常之后，所述方法还包括：
41.对所述被测存储块进行修复处理，并返回执行所述向被测存储块发送测试命令的步骤。
42.在一些实施例中，所述方法还包括：
43.根据每一个所述使能模块中的目标冗余列选通线的数量、所述目标列地址和所述使能模块的位置信息，生成目标测试报告。
44.第二方面，本公开实施例提供了一种测试设备，包括发送单元、检测单元和确定单元，其中：
45.所述发送单元，配置为向被测存储块发送测试命令，其中，所述测试命令用于打开所述被测存储块中的预设冗余列选通线；
46.所述检测单元，配置为对所述被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；
47.所述确定单元，配置为根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果。
48.第三方面，本公开实施例提供了另一种测试设备，包括存储器和处理器，其中，
49.所述存储器，用于存储能够在所述处理器上运行的计算机程序；
50.所述处理器，用于在运行所述计算机程序时，执行如第一方面所述的方法。
51.第四方面，本公开实施例提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被至少一个处理器执行时实现如第一方面所述的方法。
52.本公开实施例提供了一种测试方法、测试设备和计算机存储介质，向被测存储块发送测试命令，其中，测试命令用于打开被测存储块中的预设冗余列选通线；对被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；根据目标冗余列选通线和预设冗余列选通线，确定测试结果。这样，通过打开被测存储块中与测试命令相对应的预设冗余列选通线，然后将被测存储块中实际被打开的目标冗余列选通线与预设冗余列选通线进行比较，从而能够确定被测存储块中的冗余列选通线是否存在异常，实现对芯片中冗余列选通线的功能检测，该方案不仅验证效率高，而且准确率高。
附图说明
53.图1为本公开实施例提供的一种测试方法的流程示意图；
54.图2为本公开实施例提供的一种存储块的组成结构示意图；
55.图3为本公开实施例提供的一种列选通模块的组成结构示意图；
56.图4为本公开实施例提供的另一种测试方法的流程示意图；
57.图5为本公开实施例提供的一种测试设备的组成结构示意图；
58.图6为本公开实施例提供的另一种测试设备的组成结构示意图。
具体实施方式
59.下面将结合本公开实施例中的附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释相关申请，而非对该申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关申请相关的部分。
60.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本公开的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本公开实施例的目的，不是旨在限制本公开。
61.在以下的描述中，涉及到“一些实施例”，其描述了所有可能实施例的子集，但是可以理解，“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集，并且可以在不冲突的情况下相互结合。
62.需要指出，本公开实施例所涉及的术语“第一\第二\第三”仅仅是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二\第三”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序，以使这里描述的本公开实施例能够以除了在这里图示或描述的以外的顺序实施。
63.对本公开实施例进行进一步详细说明之前，先对本公开实施例中涉及的名词和术语进行说明，本公开实施例中涉及的名词和术语适用于如下的解释：
64.动态随机存取存储器(dynamic random access memory，dram)；
65.双倍数据速率(double data rate，ddr)；
66.激活(active，act)；
67.字线(word line，wl)；
68.位线(bit line，wl)；
69.列选通线(column select line，csl)；
70.冗余列选通线/备用列选通线(redundant csl，rcsl)；
71.列(column，col)；
72.列地址(column address，ca)；
73.测试平台(test bench，tb)。
74.dram芯片在工作时，主要首先发送active命令(包含row信息)对存储结构中的wl进行行激活，然后再发送读写命令(包含col信息)，选择csl信号获取或者写入数据。dram中有大量的csl信号，当正常的csl(normal csl)无法正常工作时，会使用rcsl，因此在芯片前期的验证工作中，需要保证rcsl可以正确被访问。
75.基于此，本公开实施例提供了一种测试方法，该方法的基本思想是：向被测存储块发送测试命令，其中，测试命令用于打开被测存储块中的预设冗余列选通线；对被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；根据目标冗余列选通线和预设冗余列选通线，确定测试结果。这样，通过打开被测存储块中与测试命令相对应的预设冗余列选通线，然后将被测存储块中实际被打开的目标冗余列选通线与预设冗余列选通线进行比较，从而能够确定被测存储块中的冗余列选通线是否存在异常，实现对芯片中冗余列选通线的功能检测，该方案不仅验证效率高，而且准确率高。
76.下面将结合附图对本公开各实施例进行详细说明。
77.本公开的一实施例中，参见图1，其示出了本公开实施例提供的一种测试方法的流
程示意图。如图1所示，该方法可以包括：
78.s101：向被测存储块发送测试命令，其中，测试命令用于打开被测存储块中的预设冗余列选通线。
79.需要说明的是，本测试方法可以用于检测芯片中的冗余列选通线能否被成功的访问打开，以确定冗余列选通线的功能是否正常，芯片通常包括一个或者多个存储块(bank)，对于芯片中的每一个存储块，均可以按照本公开实施例提供的测试方法进行测试。这里，以应用于一个被测存储块为例为对本方案的具体实现进行说明。
80.还需要说明的是，该方法可以应用于测试设备，其中，测试设备可以是测试机台等能够对芯片进行检测的设备，但是不限于测试机台，还包括其它能够实现相同功能的设备等。
81.还需要说明的是，在对被测存储块进行测试时，测试设备可以向被测存储块发送测试命令，测试命令和预设冗余列选通线之间具有对应关系，即特定的测试命令对应被测存储块中的一个或多个特定冗余列选通线，将与测试命令对应的特定冗余列选通线记作预设冗余列选通线。这样，由于预设冗余列选通线和测试命令之间具有对应关系，从而可以通过判断实际打开的冗余列选通线与预设冗余列选通线是否一致来确定被测存储块中的冗余列选通线是否存在异常。
82.被测存储块接收到测试命令后，会将测试命令所指示的一个或多个预设冗余列选通线打开。可以理解，预设冗余列选通线的数量小于或者等于被测存储块中的冗余列选通线的总数量(通常是小于)。
83.还需要说明的是，参见图2，其示出了本公开实施例提供的一种存储块的组成结构示意图，如图2所示，存储块20可以包括存储阵列203、第一控制模块201和第二控制模块202，其中：
84.存储阵列203包括至少一行和至少一列；
85.第一控制模块201和第二控制模块202均包括第一预设数量个使能模块，每一个使能模块均包括第二预设数量个列选通模块，每一个列选通模块均包括第三预设数量个冗余列选通线。
86.需要说明的是，在图2中，以第一预设数量为8、第二预设数量为4以及第三预设数量为3进行示例性说明。如图2所示，第一控制模块201(也记作ys_near)和第二控制模块202(也记作ys_far)均包括8个使能模块(也记作region)，其中，虚线框中的第一控制模块201也可以用于表示第二控制模块202的组成，8个使能模块可以包括：使能模块0(region0)、使能模块1(region1)、使能模块2(region2)、使能模块3(region3)、使能模块4(region4)、使能模块5(region5)、使能模块6(region6)和使能模块7(region7)；使能模块i表示第一控制模块201或者第二控制模块202中的任意一个使能模块，使能模块i包括四个列选通模块(也记作rysdec)：列选通模块0(rysdec0)、列选通模块1(rysdec1)、列选通模块2(rysdec2)和列选通模块3(rysdec3)；对于每一个列选通模块而言，均包括三个列选通线：csl0、csl1和csl2。
87.还需要说明的是，在任意一个使能模块中，其中的列选通模块对测试命令的响应状态相同。即在接收到测试命令后，同一个使能模块中的几个列选通模块的行为是一致的，更具体的体现为：每一个列选通模块中的同名列选通线的打开状态(或称使能状态)相同。
88.以图2中的使能模块i为例，如果列选通模块0中的csl0使能，csl1和csl2不使能，则列选通模块1、列选通模块2和列选通模块3也是csl0使能，csl1和csl2不使能，对于csl1使能、csl0和csl2不使能，以及csl2使能、csl0和csl1不使能的情况也是同理，这里不再赘述。
89.这时候，可以根据各模块在被测存储块的位置来给其作初步的简单命名。例如：rcsl_near_region0，该名称表示了在ys_near模块的region0模块内的4个rysdec模块，由于这4个rysdec模块在不同测试命令下的表现行为一致，因此不需要再做细分。
90.在一些实施例中，向被测存储块发送测试命令，可以包括：
91.向被测存储块发送第一测试命令，第一测试命令用于激活被测存储块中的目标行地址；
92.向被测存储块发送第二测试命令，第二测试命令用于指示目标列地址，并根据目标列地址打开被测存储块中的预设冗余列选通线。
93.需要说明的是，测试命令可以包括第一测试命令和第二测试命令，其中，第一测试命令用于进行行寻址，以激活(或称打开)被测存储块中的目标行地址，第一测试命令可以为激活命令，第二测试命令用于进行列寻址，并打开对应的预设冗余列选通线，第二测试命令可以为读命令或者写命令。
94.还需要说明的是，在对被测存储块进行测试时，首先向被测存储块发送激活命令进行行寻址，从而在被测存储块的存储阵列中打开激活命令所指示的行地址，将该行地址记作目标行地址；然后根据目标列地址向被测存储块发送第二测试命令，被测存储块能够将与目标列地址相对应的预设冗余列选通线打开。也就是说，测试命令和预设冗余列选通线之间的对应关系实际上就是目标列地址或者第二测试命令和预设冗余列选通线之间的对应关系。
95.在一些实施例中，该方法还可以包括：
96.基于第二测试命令，设置第二测试命令对应的目标使能模块以及在目标使能模块中的预设冗余列选通线；
97.其中，在目标使能模块中，每一个列选通模块对第二测试命令的响应状态相同。
98.需要说明的是，示例性地，如图2所示，假设某第二测试命令对应4个目标使能模块，分别为：使能模块0、使能模块2、使能模块4和使能模块6，且在这4个目标使能模块中对应的预设冗余列选通线均为csl1，那么在被测存储块接收到该第二测试命令后，会根据该第二测试命令打开使能模块0、使能模块2、使能模块4和使能模块6中的每一个csl1。
99.这样，可以分别设置多个不同的第二测试命令对应的目标使能模块和目标使能模块中的预设冗余列选通线，从而为判断实际打开的冗余列选通线和预设冗余列选通线是否相符提供依据。
100.进一步地，存储阵列中的多行可以分为边界行和非边界行，例如：存储阵列包括第0行至第35行共36行，则第0行和第36行为边界行，其余的行均为非边界行。在一些实施例中，在目标行地址为被测存储块中的非边界行的情况下，目标列地址用于打开第一控制模块或者第二控制模块的预设冗余列选通线；在目标行地址为被测存储块中的边界行的情况下，目标列地址用于打开第一控制模块和第二控制模块的预设冗余列选通线。
101.需要说明的是，如果激活命令打开的是被测存储块中的非边界行，那么第一控制
模块和第二控制模块中只有一者被触发处于工作状态，另一者则不工作，这时候，根据目标列地址，只会打开处于工作状态的一个控制模块中对应的预设冗余列选通线。通常来说，目标行地址距离哪个控制模块近，就由哪个控制模块进行工作；而对于边界行，第一控制模块和第二控制模块均会被触发，两者共同工作，这时候，根据目标列地址，第一控制模块和第二控制模块中对应的冗余列选通线均会被打开。
102.仍以存储阵列包括36行为例，假设第0行为邻近第二控制模块202的边界行，第35行为邻近第一控制模块201的边界行，余下的34行为非边界行。其中，第1行至第17行距离第二控制模块202更近，那么在目标行地址为第1行至第17行中的任意一行时，第二控制模块202处于工作状态，第一控制模块201不工作；同理，第18行至第34行距离第一控制模块201更近，那么在目标行地址为第18行至第34行中的任意一行时，第一控制模块201处于工作状态，第二控制模块202不工作。在目标行地址为第0行或者第35行时，第一控制模块201和第二控制模块202均处于工作状态。
103.还需要说明的是，在激活被测存储块中的目标行地址之后，根据目标列地址向被测存储块发送第二测试命令(读命令或者写命令)，这时候，特定的目标列地址用于打开其对应的特定的使能模块(记作目标使能模块)中特定的冗余列选通线(记作预设冗余列选通线)。可见，测试命令与预设冗余列选通线的对应关系实际上是目标列地址(或者说是第二测试命令)与目标使能模块和目标使能模块中的预设冗余列选通线的对应关系。
104.在一种示例中，以图2所示存储块为例，假设三个目标列地址：第一列地址、第二列地址和第三列地址，并设置第一列地址对应的目标使能模块为每一个使能模块、对应的预设冗余列选通线为目标使能模块中的每一个csl0，设置第二列地址对应的目标使能模块为每一个使能模块、对应的预设冗余列选通线为目标使能模块中的每一个csl1，设置第三列地址对应的目标使能模块为每一个使能模块、对应的预设冗余列选通线为目标使能模块中的每一个csl2。
105.在目标行地址为非边界行的情况下，被测存储块中的第一控制模块或者第二控制模块被触发，在目标行地址为边界行的情况下，被测存储块中的第一控制模块和第二控制模块均会被触发，将被触发的控制模块记作目标控制模块。
106.当接收到第一列地址对应的读命令或者写命令时，目标控制模块的每一个使能模块中的每一个csl0均被打开；当接收到第二列地址对应的读命令或者写命令时，目标控制模块中的每一个使能模块中的每一个csl1均被打开；当接收到第三列地址对应的读命令或者写命令时，目标控制模块中的每一个使能模块中的每一个csl2均被打开。
107.在另一种示例中，仍以图2所示存储块为例，预设了6个目标列地址与目标使能模块和预设冗余列选通线的对应关系，具体如表1所示：
108.表1
[0109][0110][0111]
如表1所示，region0至region7分别表示使能模块0至使能模块7，rys《0》表示cls0的信号值，rys《1》表示cls1的信号值，rys《2》表示cls2的信号值，1表示对应的冗余列选通线被打开，由于使能模块中的四个列选通模块行为一致，所以对于一个使能模块只示出一组rys《0》、rys《1》和rys《2》，或者说只有在一个使能模块中的每个csl0都使能的情况下，rys《0》才为1，对于rys《1》和rys《2》同理；ca4至ca9表示6个目标列地址。
[0112]
当目标列地址为ca4时，对应的目标使能模块为region0、region2、region4和region6，对应的预设冗余列选通线为region0、region2、region4和region6中的csl0；当目标列地址为ca5时，对应的目标使能模块为region0、region2、region4和region6，对应的预
设冗余列选通线为region0、region2、region4和region6中的csl1；当目标列地址为ca6时，对应的目标使能模块为region0、region2、region4和region6，对应的预设冗余列选通线为region0、region2、region4和region6中的csl2；当目标列地址为ca7时，对应的目标使能模块为region1、region3、region5和region7，对应的预设冗余列选通线为region1、region3、region5和region7中的csl0；当目标列地址为ca8时，对应的目标使能模块为region1、region3、region5和region7，对应的预设冗余列选通线为region1、region3、region5和region7中的csl1；当目标列地址为ca9时，对应的目标使能模块为region1、region3、region5和region7，对应的预设冗余列选通线为region1、region3、region5和region7中的csl2。
[0113]
还需要说明的是，如图2所示，在对被测存储块进行测试时，列选通模块会接收冗余启用信号(也称作备份启用信号、redenable信号)和ca解码信号；其中，冗余启用信号表示启用冗余列选通线代替原本可能坏了的列选通线；ca解码信号则是根据目标列地址所对应的读命令或者写命令译码得到的，用于打开与目标列地址对应的预设冗余列选通线。
[0114]
s102：对被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线。
[0115]
s103：根据目标冗余列选通线和预设冗余列选通线，确定测试结果。
[0116]
需要说明的是，被测存储块接收测试命令之后，会根据测试命令打开与测试命令对应的预设冗余列选通线。这样，可以向被测存储块发送若干个目标列地址对应的读命令或者写命令，分别检测在每种目标列地址下，被测存储块中实际使能的冗余列选通线(记作目标冗余列选通线)，将目标冗余列选通线与预设冗余列选通线做对比，确定被测存储块中的冗余列选通线是否存在异常。
[0117]
进一步地，参见图3，其示出了本公开实施例提供的一种列选通模块的组成结构示意图。如图3所示，列选通模块i的使能信号输入端接收冗余启用信号，列选通模块i的ca信号输入端接收的是ca解码信号，列选通模块的输出端输出列选通使能信号csl《2:0》。
[0118]
由于列选通使能信号csl《2:0》的位宽为3，并且在列选通模块i中，每次使能的冗余列选通线只有一根，因此：
[0119]
csl《2:0》＝4(100)表示csl《2》被打开；
[0120]
csl《2:0》＝2(010)表示csl《1》被打开；
[0121]
csl《2:0》＝1(001)表示csl《0》被打开。
[0122]
这样，可以根据每一个列选通模块输出的列选通使能信号来判断具体是哪个冗余列选通线被打开。
[0123]
在一些实施例中，根据目标冗余列选通线和预设冗余列选通线，确定测试结果，可以包括：
[0124]
若目标冗余列选通线和预设冗余列选通线均为相同的冗余列选通线，则确定被测存储块中的冗余列选通线正常；
[0125]
若目标冗余列选通线和预设冗余列选通线中存在不同的冗余列选通线，则确定被测存储块中的冗余列选通线存在异常。
[0126]
需要说明的是，以图2和表1为例，可以分别向被测存储块发送ca4/ca5/ca6/ca7/ca8/ca9对应的读命令或者写命令，并分别检测实际打开的目标冗余列选通线，然后将目标
冗余列选通线与预设冗余列选通线进行对比，判断两者是否一致。
[0127]
例如，当目标列地址为ca4时，按照预设的对应关系，实际打开的冗余列选通线应该为region0、region2、region4和region6中的csl0，如果检测到实际打开的列选通线确实为region0、region2、region4和region6中的csl0，那么说明这几个使能模块中的冗余列选通线可以被正确地访问打开，而如果检测到实际打开的冗余列选通线与预设冗余列选通线不一致，例如：预设冗余列选通线只有部分打开、非预设冗余列选通线部分打开、预设冗余列选通线均不打开等等情况，则说明存在异常的冗余列选通线。
[0128]
还需要说明的是，在对被测存储块中的冗余列选通线进行检测后，还可以按照表1的方式生成检测报告，检测报告可以是以电子形式输出或者打印，从而使得各冗余列选通线的打开情况可视化，进而能够快速定位存在异常的冗余列选通线，避免了人工波形查看的麻烦。
[0129]
在一些实施例中，根据目标冗余列选通线和预设冗余列选通线，确定测试结果，可以包括：
[0130]
根据目标冗余列选通线和预设冗余列选通线，确定每一个使能模块的测试结果；
[0131]
根据每一个使能模块的测试结果，确定被测存储块的测试结果。
[0132]
其中，根据目标冗余列选通线和预设冗余列选通线，确定每一个使能模块的测试结果，包括：
[0133]
接收使能模块中的每一个列选通模块发送的列选通使能信号；
[0134]
根据列选通使能信号，确定使能模块中处于打开状态的第一目标冗余列选通线，并统计第一目标冗余列选通线的数量；
[0135]
将第一目标冗余列选通线的数量与使能模块对应的预设冗余列选通线的数量进行比较，确定使能模块的测试结果。
[0136]
需要说明的是，还可以根据使能模块中打开的冗余列选通线的数量是否符合预期来判断各使能模块中的冗余列选通线是否存在异常。在一个使能模块内，将处于打开状态的冗余列选通线记作第一目标冗余列选通线。
[0137]
以图2和表1为例，如果目标列地址为ca4，那么测试命令指示打开region0、region2、region4和region6中的csl0，在region0、region2、region4和region6的任意一个中，被打开的冗余列选通线的总数应该为4；而如果某一region中实际被打开的列选通线的数量不为4，就说明存在未被打开的冗余列选通线或者被错误打开的冗余列选通线。这样，可以根据使能模块中实际打开的第一目标冗余列选通线的数量和该使能模块中预设冗余列选通线的数量进行比较，确定冗余列选通线是否存在异常。
[0138]
还需要说明的是，由于在目标行地址为非边界行的情况下，第一控制模块和第二控制模块中仅有一者处于工作状态，在目标行地址为边界行的情况下，第一控制模块和第二控制模块均处于工作状态。以图2为例，如果使能模块0为目标使能模块，那么在目标行地址为边界行时，目标使能模块包括的是第一控制模块201和第二控制模块202中的使能模块0。那么，在相同的目标列地址下，边界行对应的预设冗余列选通线的数量为非边界行对应的预设冗余列选通线的数量的2倍。
[0139]
因此，在一些实施例中，将第一目标冗余列选通线的数量与使能模块对应的预设冗余列选通线的数量进行比较，可以包括：
[0140]
在目标行地址为非边界行的情况下，将目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与第二预设数量进行比较，将非目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与零进行比较；或者，
[0141]
在目标行地址为被测存储块中的边界行的情况下，将目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与第二预设数量的二倍进行比较；将非目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与零进行比较。
[0142]
需要说明的是，由于一个列选通模块只有一个冗余列选通线会被打开，一个使能模块包括的列选通模块的数量为第二预设数量，那么一个使能模块中的预设冗余列选通线的数量就是第二预设数量。
[0143]
在目标使能模块中，对于非边界行，直接将目标使能模块中预设冗余列选通线的数量与第一目标冗余列选通信号线的数量进行比较；而对于边界行，则需要将第一目标冗余列选通线的数量的二倍与预设冗余列选通线的数量进行比较；对于非目标使能模块，由于并不存在对应的预设冗余列选通线，即对应的预设冗余列选通线的数量为零，因此，在非目标使能模块中，第一目标冗余列选通线的数量与零作对比。这样，就得到了每一个使能模块的测试结果，并最终据此确定被测存储块中的冗余列选通线是否存在异常。
[0144]
因此，在一些实施例中，根据每一个使能模块的测试结果，确定被测存储块的测试结果，包括：
[0145]
若每一个使能模块的测试结果均为相同，则确定被测存储块中的冗余列选通线正常；
[0146]
若每一个使能模块的测试结果中存在不同，则确定被测存储块中的冗余列选通线存在异常。
[0147]
需要说明的是，按照本公开实施例所提供的测试方法，可以是对被测存储块或者被测存储块所属的芯片进行整体测试，还可以是对某些使能模块或者某些预设冗余列选通线进行局部测试，这里不作具体限定。
[0148]
在一些实施例中，在确定被测存储块中的冗余列选通线存在异常之后，该方法还可以包括：根据测试结果，生成错误记录报告。
[0149]
需要说明的是，当检测到存在异常的冗余列选通线，还可以将存在的异常进行错误记录，生成错误记录报告。
[0150]
其中，错误记录报告可以是电子形式或者打印出的报告，这里不作具体限定。从而还可以将异常情况进行记录，并使得异常部位可视化。
[0151]
在一些实施例中，在确定被测存储块中的冗余列选通线存在异常之后，该方法还可以包括：对被测存储块进行修复处理，并返回执行向被测存储块发送测试命令的步骤。
[0152]
需要说明的是，如果被测存储块中的冗余列选通线存在异常，这时候可以对被测存储块进行修复，然后继续返回继续进行测试，以确定被测存储块中的冗余列选通线是否被成功修复。
[0153]
在一些实施例中，该方法还可以包括：根据每一个使能模块中的目标冗余列选通线的数量、目标列地址和使能模块的位置信息，生成目标测试报告。
[0154]
需要说明的是，根据前述图3以及相关描述，可对列选通模块i的csl信号进行进一步的深度命名，并在列选通模块i输出端输出列选通使能信号csl《2:0》，结合读命令或者写
命令给的ca解码信号，可以打印出类似rcsl_near_region0 csl0 ca4 enable的信息报告，该名称表示在目标列地址的取值为ca4时，第一控制模块(ys_near)中的使能模块0(region0)中的csl0的打开状态。
[0155]
进一步地，还利用脚本对类似的信息进行整理，形成预测试csl的自动检测报告，该报告以csl的位置命名为纵坐标，目标列地址的取值(ca值)为横坐标，使能模块中使能的目标冗余列选通线的数量为计数量(默认情况下为0)，在某一使能模块中，当csl和ca值均相同时，对使能的冗余列选通线的个数进行累计相加，例如当打开某一控制模块时，可以知道使能模块0内的4个列选通模块在不同ca值下的表现行为一致，因此其使能的冗余列选通线的统计数量预估为4。
[0156]
示例性地，结合图2和表1的示例，表2示出了在目标行地址为边界行的情况下得到的部分目标测试报告，表3示出了在目标行地址为非边界行的情况下得到的部分目标测试报告：
[0157]
表2
[0158][0159][0160]
表3
[0161][0162]
其中，rcsl_far_region0csl0，表示第二控制模块(ys_far)的使能模块0(region0)中，在不同ca值下处于打开状态的csl0的数量。对应表2和表3的示例，在编写测试激励时，可以利用row[15]＝0/1分别执行边界行和非边界行(near端和far端)的csl写操作。按照常规理解，只有一个wl打开，对应的rcsl_far_region0csl0应该只有4个冗余列选通线被打开，结果应该如表3所示，而表2出现统计数据为8的原因是业务激活的是边界行里面的wl，此时第一控制模块和第二控制模块都会工作，因此表2的结果出现了叠加的情况。
[0163]
为了能分析这种情况，还可以在目标测试报告中显示被打开的冗余列选通线的存储块信息和存储区域信息。并在测试平台上对在不同ca值下，打开的使能模块和预设冗余列选通线做预测，当实际情况与预测情况不符合时，还可以打印错误报告，使得异常位置可视化。
[0164]
因此，在一些实施例中，该方法还可以包括：
[0165]
将目标冗余列选通线对应的存储块信息和存储区域信息进行记录；
[0166]
其中，存储区域信息用于表征目标行地址是否为边界行。
[0167]
综上所述，本公开实施例涉及数字验证，特别涉及dram中rcsl是否可以正确被访问，可通过自动打印出报告，使得dram打开csl的位置可视化；同时，建立了报错机制，当打开非预设位置的csl时，记录错误报告，可以应用于ddr4/lpddr4/ddr5/lpddr5/ddr6/lpddr6等内存规格的dram芯片。
[0168]
简言之，本实施例的目的在于可以自动检查dram发出write/read列激活命令后，是否能正确打开的rcsl地址，以此代替人工查看波形的方法，并能打印rcsl在不同ca下的使能信息，并通过脚本处理，形成统计的信息表格。
[0169]
本公开实施例提供了一种测试方法，向被测存储块发送测试命令，其中，测试命令用于打开被测存储块中的预设冗余列选通线；对被测存储块中的冗余列选通线进行状态检
测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；根据目标冗余列选通线和预设冗余列选通线，确定测试结果。这样，通过打开被测存储块中与测试命令相对应的预设冗余列选通线，然后将被测存储块中实际被打开的目标冗余列选通线与预设冗余列选通线进行比较，从而能够确定被测存储块中的冗余列选通线是否存在异常，实现对芯片中冗余列选通线的功能检测，该方案不仅验证效率高，而且准确率高；另外，通过生成报告，还可以使得测试结果可视化，避免了人工波形查看的麻烦。
[0170]
本公开的另一实施例中，参见图4，其示出了本公开实施例提供的另一种测试方法的流程示意图。如图4所示，该方法可以包括：
[0171]
s401：基本测试平台的搭建：对电路中的列选通模块进行监测。
[0172]
s402：根据列选通模块在电路中的不同位置对其进行初步命名。
[0173]
需要说明的是，在本公开实施例中，仍以图2所示存储块为例进行描述。首先，需要搭建测试平台(test bench，tb)，监测芯片电路中的列选通模块(rysdec模块)，根据该模块在芯片电路不同位置上的实例化路径，来给其作初步的简单命名。例如：rcsl_near_region0，该名称表示了在ys_near端的region0处的4个rysdec模块，由于这4个rysdec模块在不同ca值下的表现行为一致，因此不需要再做细分。
[0174]
s403：发送write命令(ca值：4-9)，根据由此触发改变的csl信号值进行再次的深度命名，并预设不同ca值下csl的打开情况。
[0175]
当ddr接受write命令后，csl信号会使能，控制位线上的数据与电容上存储数据的交互，保证数据的正常传输。
[0176]
当ddr的一个bank工作时，如果访问的是某些特殊的边界部分或者csl边界部分，即访问的目标行地址为边界行时，两边的ys模块(即ys_far模块和ys_near模块)都会工作；当访问的不是边界部分时，即访问的目标行地址为非边界行时，只有单边的ys模块(ys_near模块或者ys_far模块)会工作。
[0177]
如图2所示，一个ys模块内有8个region模块，每个region模块又有4个rysdec模块，这4个rysdec模块的同名csl信号会被同时触发，比如一个region的csl2信号使能时，其内部的4根csl2信号会同时为高电平。但在不同的ca值下，region的触发信号是不一样的，例如前述的表1所示。
[0178]
在对芯片进行测试时，首先在测试平台中打开控制信号(即冗余启用信号)，使得ddr可以访问rcsl。接着，发送active命令，打开行地址，然后根据以下不同的col地址发送write命令：
[0179]
ca4＝10'b0000010000；
[0180]
ca5＝10'b0000100000；
[0181]
ca6＝10'b0001000000；
[0182]
ca7＝10'b0010000000；
[0183]
ca8＝10'b0100000000；
[0184]
ca9＝10
‘
b1000000000；
[0185]
并预设rysdec模块中rcsl信号(即表1中的rys)在不同ca值下的信号值，其中，预设rcsl信号在不同ca值下的信号值也可以是在搭建测试平台的步骤进行，这里不作具体限定。
[0186]
其中，预设的情况可参照前述表1。
[0187]
s404：判断csl的打开规律是否符合预设。
[0188]
结合表1所示，当rysdec模块的rcsl信号值如下变化时：
[0189]
如果ca＝ca4，那么region0/region2/region4/region6的rys《0》会打开，其余rcsl都保持关闭状态。
[0190]
如果ca＝ca5，那么region0/region2/region4/region6的rys《1》会打开，其余rcsl都保持关闭状态。
[0191]
对于其它的ca值也是同理。
[0192]
如果符合预设，则执行步骤s406，否则，执行步骤s405。
[0193]
s405：报错机制生效，说明在特定ca值下存在不合理的csl打开情况，需要进一步查看波形，确认电路。
[0194]
需要说明的是，如果csl的变化不符合规律，那么tb平台设立的报错机制将会记录错误。
[0195]
这时候，可以生成错误记录报告，以供查看是哪个位置的列选通线出现问题，同时可以结合波形查看，确定芯片中的电路的异常情况，对其进行修复。然后返回步骤s404，继续进行测试。
[0196]
s406：根据打印报告，查看整体csl在不同ca值下的打开情况。
[0197]
需要说明的是，如果csl的打开情况符合预设，那么还可以打印目标测试报告，查看csl在不同ca值下的打开情况。
[0198]
本公开实施例提供了一种测试方法，从中可以看出，通过对芯片主要模块的信号进行检测，并预设合理的行为模式，当芯片实际行为不满足预期时，报错机制就会响应，以此避免了人工波形查看(在某ca值下到底是哪个csl开)的麻烦，大大节约了验证时间，提高验证效率；另外，对使能的csl信号进行报告打印，并通过脚本处理，以表格形式报告芯片全局rcsl的使能情况，使得该项验证任务有了双重保障，而且使得结果可视化、简洁化。
[0199]
本公开的又一实施例中，参见图5，其示出了本公开实施例提供的一种测试设备的组成结构示意图。如图5所示，该测试设备50可以包括发送单元501、检测单元502和确定单元503，其中：
[0200]
发送单元501，配置为向被测存储块发送测试命令，其中，测试命令用于打开被测存储块中的预设冗余列选通线；
[0201]
检测单元502，配置为对被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；
[0202]
确定单元503，配置为根据目标冗余列选通线和预设冗余列选通线，确定测试结果。
[0203]
在一些实施例中，发送单元501，还配置为向被测存储块发送第一测试命令，第一测试命令用于激活被测存储块中的目标行地址；以及向被测存储块发送第二测试命令，第二测试命令用于指示目标列地址，并根据目标列地址打开被测存储块中的预设冗余列选通线。
[0204]
在一些实施例中，被测存储块至少包括第一控制模块和第二控制模块，其中：在目标行地址为被测存储块中的非边界行的情况下，目标列地址用于打开第一控制模块或者第
二控制模块的预设冗余列选通线；在目标行地址为被测存储块中的边界行的情况下，目标列地址用于打开第一控制模块和第二控制模块的预设冗余列选通线。
[0205]
在一些实施例中，第一测试命令包括激活命令，第二测试命令包括读命令或者写命令。
[0206]
在一些实施例中，第一控制模块和第二控制模块均包括第一预设数量个使能模块，每一个使能模块均包括第二预设数量个列选通模块，每一个列选通模块均包括第三预设数量个冗余列选通线；测试设备50还可以包括预设单元504，配置为基于第二测试命令，设置第二测试命令对应的目标使能模块以及在目标使能模块中的预设冗余列选通线；其中，在目标使能模块中，每一个列选通模块对第二测试命令的响应状态相同。
[0207]
在一些实施例中，确定单元503，还配置为若目标冗余列选通线和预设冗余列选通线均为相同的冗余列选通线，则确定被测存储块中的冗余列选通线正常；以及若目标冗余列选通线和预设冗余列选通线中存在不同的冗余列选通线，则确定被测存储块中的冗余列选通线存在异常。
[0208]
在一些实施例中，确定单元503，还配置为根据目标冗余列选通线和预设冗余列选通线，确定每一个使能模块的测试结果；以及根据每一个使能模块的测试结果，确定被测存储块的测试结果。
[0209]
在一些实施例中，确定单元503，还配置为接收使能模块中的每一个列选通模块发送的列选通使能信号；以及根据列选通使能信号，确定使能模块中处于打开状态的第一目标冗余列选通线，并统计第一目标冗余列选通线的数量；以及将第一目标冗余列选通线的数量与使能模块对应的预设冗余列选通线的数量进行比较，确定使能模块的测试结果。
[0210]
在一些实施例中，确定单元503，还配置为在目标行地址为非边界行的情况下，将目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与第二预设数量进行比较，将非目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与零进行比较；或者，在目标行地址为被测存储块中的边界行的情况下，将目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与第二预设数量的二倍进行比较；将非目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与零进行比较。
[0211]
在一些实施例中，确定单元503，还配置为若每一个使能模块的测试结果均为相同，则确定被测存储块中的冗余列选通线正常；以及若每一个使能模块的测试结果中存在不同，则确定被测存储块中的冗余列选通线存在异常。
[0212]
在一些实施例中，测试设备50还可以包括报告单元505，配置为根据测试结果，生成错误记录报告。
[0213]
在一些实施例中，测试设备50还可以包括修复单元506，配置为对被测存储块进行修复处理。
[0214]
在一些实施例中，报告单元505，还配置为根据每一个使能模块中的目标冗余列选通线的数量、目标列地址和使能模块的位置信息，生成目标测试报告。
[0215]
在一些实施例中，报告单元505，还配置为将目标冗余列选通线对应的存储块信息和存储区域信息进行记录；其中，存储区域信息用于表征目标行地址是否为边界行。
[0216]
需要说明的是，本公开实施例提供的测试设备50可以用于实现前述实施例所述的测试方法，对于本公开实施例未披露的细节，请参照前述实施例的描述而理解。
[0217]
可以理解地，在本实施例中，“单元”可以是部分电路、部分处理器、部分程序或软
件等等，当然也可以是模块，还可以是非模块化的。而且在本实施例中的各组成部分可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。
[0218]
所述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并非作为独立的产品进行销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中，基于这样的理解，本实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(read only memory，rom)、随机存取存储器(random access memory，ram)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0219]
因此，本实施例提供了一种计算机存储介质，该计算机存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被至少一个处理器执行时实现前述实施例中任一项所述的方法。
[0220]
基于上述的计算机存储介质，参见图6，其示出了本公开实施例提供的另一种测试设备50的组成结构示意图。如图6所示，可以包括：通信接口601、存储器602和处理器603；各个组件通过总线系统604耦合在一起。可理解，总线系统604用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统604除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见，在图6中将各种总线都标为总线系统604。其中，通信接口601，用于在与其他外部网元之间进行收发信息过程中，信号的接收和发送；
[0221]
存储器602，用于存储能够在处理器603上运行的计算机程序；
[0222]
处理器603，用于在运行所述计算机程序时，执行：
[0223]
向被测存储块发送测试命令，其中，测试命令用于打开被测存储块中的预设冗余列选通线；
[0224]
对被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；
[0225]
根据目标冗余列选通线和预设冗余列选通线，确定测试结果。
[0226]
可以理解，本公开实施例中的存储器602可以是易失性存储器或非易失性存储器，或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(read-only memory，rom)、可编程只读存储器(programmable rom，prom)、可擦除可编程只读存储器(erasable prom，eprom)、电可擦除可编程只读存储器(electrically eprom，eeprom)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(random access memory，ram)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的ram可用，例如静态随机存取存储器(static ram，sram)、dram、同步动态随机存取存储器(synchronous dram，sdram)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(double data rate sdram，ddrsdram)、增强型同步动态随机存取存储器(enhanced sdram，esdram)、同步链动态随机存取存储器(synchronous link dram，sldram)和直接内存总线随机存取存储器(direct rambus ram，drram)。本文描述的系统和方法的存储器602旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
[0227]
而处理器603可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上
述方法的各步骤可以通过处理器603中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器603可以是通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现场可编程门阵列(field programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本公开实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本公开实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器602，处理器603读取存储器602中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。
[0228]
可以理解的是，本文描述的这些实施例可以用硬件、软件、固件、中间件、微码或其组合来实现。对于硬件实现，处理单元可以实现在一个或多个专用集成电路(application specific integrated circuits，asic)、数字信号处理器(digital signal processing，dsp)、数字信号处理设备(dsp device，dspd)、可编程逻辑设备(programmable logic device，pld)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)、通用处理器、控制器、微控制器、微处理器、用于执行本公开所述功能的其它电子单元或其组合中。
[0229]
对于软件实现，可通过执行本文所述功能的模块(例如过程、函数等)来实现本文所述的技术。软件代码可存储在存储器中并通过处理器执行。存储器可以在处理器中或在处理器外部实现。
[0230]
可选地，作为另一个实施例，处理器603还配置为在运行所述计算机程序时，执行前述实施例中任一项所述的方法。
[0231]
本公开实施例提供了一种测试设备，在该测试设备中，能够确定被测存储块中的冗余列选通线是否存在异常，实现对芯片中冗余列选通线的功能检测，不仅验证效率高，而且准确率高。
[0232]
以上所述，仅为本公开的较佳实施例而已，并非用于限定本公开的保护范围。
[0233]
需要说明的是，在本公开中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
[0234]
上述本公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
[0235]
本公开所提供的几个方法实施例中所揭露的方法，在不冲突的情况下可以任意组合，得到新的方法实施例。
[0236]
本公开所提供的几个产品实施例中所揭露的特征，在不冲突的情况下可以任意组合，得到新的产品实施例。
[0237]
本公开所提供的几个方法或设备实施例中所揭露的特征，在不冲突的情况下可以任意组合，得到新的方法实施例或设备实施例。
[0238]
以上所述，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，任何
熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

技术特征：

1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：向被测存储块发送测试命令，其中，所述测试命令用于打开所述被测存储块中的预设冗余列选通线；对所述被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述向被测存储块发送测试命令，包括：向所述被测存储块发送第一测试命令，所述第一测试命令用于激活所述被测存储块中的目标行地址；向所述被测存储块发送第二测试命令，所述第二测试命令用于指示目标列地址，并根据所述目标列地址打开所述被测存储块中的预设冗余列选通线。3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述被测存储块至少包括第一控制模块和第二控制模块，其中：在所述目标行地址为所述被测存储块中的非边界行的情况下，所述目标列地址用于打开所述第一控制模块或者所述第二控制模块的预设冗余列选通线；在所述目标行地址为所述被测存储块中的边界行的情况下，所述目标列地址用于打开所述第一控制模块和所述第二控制模块的预设冗余列选通线。4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述第一测试命令包括激活命令，所述第二测试命令包括读命令或者写命令。5.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述第一控制模块和所述第二控制模块均包括第一预设数量个使能模块，每一个所述使能模块均包括第二预设数量个列选通模块，每一个所述列选通模块均包括第三预设数量个冗余列选通线，所述方法还包括：基于所述第二测试命令，设置所述第二测试命令对应的目标使能模块以及在所述目标使能模块中的预设冗余列选通线；其中，在所述目标使能模块中，每一个所述列选通模块对所述第二测试命令的响应状态相同。6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果，包括：若所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线均为相同的冗余列选通线，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线正常；若所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线中存在不同的冗余列选通线，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线存在异常。7.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果，包括：根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定每一个所述使能模块的测试结果；根据每一个所述使能模块的测试结果，确定所述被测存储块的测试结果。8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述目标冗余列选通线和所
述预设冗余列选通线，确定每一个所述使能模块的测试结果，包括：接收所述使能模块中的每一个列选通模块发送的列选通使能信号；根据所述列选通使能信号，确定所述使能模块中处于打开状态的第一目标冗余列选通线，并统计所述第一目标冗余列选通线的数量；将所述第一目标冗余列选通线的数量与所述使能模块对应的预设冗余列选通线的数量进行比较，确定所述使能模块的测试结果。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述将所述第一目标冗余列选通线的数量与所述使能模块对应的预设冗余列选通线的数量进行比较，包括：在所述目标行地址为非边界行的情况下，将目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与所述第二预设数量进行比较，将非目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与零进行比较；或者，在所述目标行地址为所述被测存储块中的边界行的情况下，将目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与所述第二预设数量的二倍进行比较；将非目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与零进行比较。10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据每一个所述使能模块的测试结果，确定所述被测存储块的测试结果，包括：若每一个所述使能模块的测试结果均为相同，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线正常；若每一个所述使能模块的测试结果中存在不同，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线存在异常。11.根据权利要求10所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：将所述目标冗余列选通线对应的存储块信息和存储区域信息进行记录；其中，所述存储区域信息用于表征所述目标行地址是否为边界行。12.根据权利要求7至11任一项所述的测试方法，其特征在于，在所述确定所述被测存储块中的冗余列选通线存在异常之后，所述方法还包括：根据所述测试结果，生成错误记录报告。13.根据权利要求7至11任一项所述的测试方法，其特征在于，在所述确定所述被测存储块中的冗余列选通线存在异常之后，所述方法还包括：对所述被测存储块进行修复处理，并返回执行所述向被测存储块发送测试命令的步骤。14.根据权利要求7至11任一项所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：根据每一个所述使能模块中的目标冗余列选通线的数量、所述目标列地址和所述使能模块的位置信息，生成目标测试报告。15.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括发送单元、检测单元和确定单元，其中：所述发送单元，配置为向被测存储块发送测试命令，其中，所述测试命令用于打开所述被测存储块中的预设冗余列选通线；所述检测单元，配置为对所述被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；
所述确定单元，配置为根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果。16.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括存储器和处理器，其中，所述存储器，用于存储能够在所述处理器上运行的计算机程序；所述处理器，用于在运行所述计算机程序时，执行如权利要求1至14中任一项所述的方法。17.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被至少一个处理器执行时实现如权利要求1至14中任一项所述的方法。

技术总结

本公开实施例提供了一种测试方法、测试设备和计算机存储介质，该方法包括：向被测存储块发送测试命令，其中，测试命令用于打开被测存储块中的预设冗余列选通线；对被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；根据目标冗余列选通线和预设冗余列选通线，确定测试结果。这样，通过打开被测存储块中与测试命令相对应的预设冗余列选通线，然后将被测存储块中实际被打开的目标冗余列选通线与预设冗余列选通线进行比较，从而能够确定被测存储块中的冗余列选通线是否存在异常，进而实现对芯片的功能测试。进而实现对芯片的功能测试。进而实现对芯片的功能测试。